JPH05199993A - 検眼装置 - Google Patents
検眼装置Info
- Publication number
- JPH05199993A JPH05199993A JP4038583A JP3858392A JPH05199993A JP H05199993 A JPH05199993 A JP H05199993A JP 4038583 A JP4038583 A JP 4038583A JP 3858392 A JP3858392 A JP 3858392A JP H05199993 A JPH05199993 A JP H05199993A
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- JP
- Japan
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- light
- eye
- splitting member
- reflected
- intensity
- Prior art date
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- Pending
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- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 非接触で眼軸長を測定する。
【構成】 電源１によって強度変調がかけられた光束を
発する光源２から被検眼Ｅに至る光路O1上には、レンズ
３、光分割部材４が配設され、光分割部材４の後方には
結像レンズ５、瞳と略共役な位置には絞り６、ホトダイ
オード７が配設されている。角膜Ecと眼底Erの反射光は
重ね合わされて合成光としてホトダイオード７で検出さ
れ、この検出信号から眼軸長が算出される。
発する光源２から被検眼Ｅに至る光路O1上には、レンズ
３、光分割部材４が配設され、光分割部材４の後方には
結像レンズ５、瞳と略共役な位置には絞り６、ホトダイ
オード７が配設されている。角膜Ecと眼底Erの反射光は
重ね合わされて合成光としてホトダイオード７で検出さ
れ、この検出信号から眼軸長が算出される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、眼科医院等で使用され
る検眼装置に関するものである。
る検眼装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光学的に眼軸長を測定する方法として、
被検眼にコヒーレント光を入射し、角膜反射光を干渉さ
せ、入射光の周波数を変化させたときの干渉縞の変化か
ら、眼軸長を求める手法が従来から提案されている。
被検眼にコヒーレント光を入射し、角膜反射光を干渉さ
せ、入射光の周波数を変化させたときの干渉縞の変化か
ら、眼軸長を求める手法が従来から提案されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例では、眼底反射が拡散反射であって、非コヒーレン
ト成分が発生する。これが結果としてノイズとなって干
渉縞のコントラストが低下し、精度の高い測定が困難と
なる。
来例では、眼底反射が拡散反射であって、非コヒーレン
ト成分が発生する。これが結果としてノイズとなって干
渉縞のコントラストが低下し、精度の高い測定が困難と
なる。
【０００４】本発明の目的は、上述の欠点を解消し、高
精度の眼軸長測定が可能な検眼装置を提供することにあ
る。
精度の眼軸長測定が可能な検眼装置を提供することにあ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る検眼装置は、強度変調した入射光束を
被検眼に投影する投影系と、被検眼角膜及び眼底の反射
光の合成光を受光する受光系と、該受光系における合成
光の受光信号の強度分布により眼軸長を求める測定手段
とを有することを特徴とするものである。
めの本発明に係る検眼装置は、強度変調した入射光束を
被検眼に投影する投影系と、被検眼角膜及び眼底の反射
光の合成光を受光する受光系と、該受光系における合成
光の受光信号の強度分布により眼軸長を求める測定手段
とを有することを特徴とするものである。
【０００６】
【作用】上述の構成を有する検眼装置は、受光信号の強
度分布を解析して眼軸長を算出する。
度分布を解析して眼軸長を算出する。
【０００７】
【実施例】本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明
する。図１は検眼装置を眼軸長計として応用した第１の
実施例の構成図である。電源１によって強度変調される
構成のレーザーダイオード等の光源２から被検眼Ｅに至
る光路O1上には、光束を平行にするレンズ３、光分割部
材４が配置されている。光分割部材４の後方には、被検
眼Ｅの反射光束を結像させる結像レンズ５、結像レンズ
５に関して眼底Erと共役な位置には絞り６、ホトダイオ
ード７が配設され、ホトダイオード７の信号は信号処理
器８によって処理されるようになっている。
する。図１は検眼装置を眼軸長計として応用した第１の
実施例の構成図である。電源１によって強度変調される
構成のレーザーダイオード等の光源２から被検眼Ｅに至
る光路O1上には、光束を平行にするレンズ３、光分割部
材４が配置されている。光分割部材４の後方には、被検
眼Ｅの反射光束を結像させる結像レンズ５、結像レンズ
５に関して眼底Erと共役な位置には絞り６、ホトダイオ
ード７が配設され、ホトダイオード７の信号は信号処理
器８によって処理されるようになっている。
【０００８】光源２から発光し５００ＭＨｚ〜１ＧＨｚ
程度に強度変調された光束は、レンズ３を透過し、光分
割部材４により反射されて被検眼Ｅに到達する。光束の
一部は角膜Ecで鏡面反射され、 残りは眼底Erに達し散乱
される。散乱光の一部は角膜反射光と共に光分割部材
４、結像レンズ５、光分割部材１６を透過しホトダイオ
ード７で受光される。
程度に強度変調された光束は、レンズ３を透過し、光分
割部材４により反射されて被検眼Ｅに到達する。光束の
一部は角膜Ecで鏡面反射され、 残りは眼底Erに達し散乱
される。散乱光の一部は角膜反射光と共に光分割部材
４、結像レンズ５、光分割部材１６を透過しホトダイオ
ード７で受光される。
【０００９】図２は変調光ａ、反射光ｂ、ホトダイオー
ド７における受信信号ｃの強度Ｉと時間ｔの関係の説明
図であり、縦軸は強度Ｉ、横軸は時間ｔである。光源２
が発する変調光ａは、強度が正弦波形を成すように変調
され、被検眼Ｅからの反射光ｂは、角膜Ecにおける角膜
反射光b1と、眼底Erにおける眼底反射光b2の重ね合わせ
になる。眼底反射光b2は角膜反射光b1に比べて、角膜Ec
と眼底Erの距離である眼軸長の２倍だけ光路長が長いた
め位相が遅れている。ホトダイオード７での受信信号ｃ
は２つの反射光の合成光である。この合成光の受光量強
度分布は２つの反射光の位相差に依存するので、受光量
強度分布を解析することによって眼軸長を算出すること
ができる。
ド７における受信信号ｃの強度Ｉと時間ｔの関係の説明
図であり、縦軸は強度Ｉ、横軸は時間ｔである。光源２
が発する変調光ａは、強度が正弦波形を成すように変調
され、被検眼Ｅからの反射光ｂは、角膜Ecにおける角膜
反射光b1と、眼底Erにおける眼底反射光b2の重ね合わせ
になる。眼底反射光b2は角膜反射光b1に比べて、角膜Ec
と眼底Erの距離である眼軸長の２倍だけ光路長が長いた
め位相が遅れている。ホトダイオード７での受信信号ｃ
は２つの反射光の合成光である。この合成光の受光量強
度分布は２つの反射光の位相差に依存するので、受光量
強度分布を解析することによって眼軸長を算出すること
ができる。
【００１０】図３は屈折計に上述の眼軸長計を組込んだ
第２の実施例の構成図である。なお、第１の実施例と同
一部材は同一符号で示している。屈折計用の光源１１か
ら被検眼Ｅに至る光路O2上には、レンズ１２、被検眼Ｅ
の瞳位置と共役な位置に配置された中心開口絞り１３、
穴開きミラー１４、光分割部材１５、光分割部材１６、
対物レンズ１７が設けられている。穴開きミラー１４の
反射方向の光路O3上には、瞳と略共役な位置に設けら
れ、６個の孔部を有する６孔絞り１８、６個の小プリズ
ムから成るくさびプリズム１９、結像レンズ２０、ホト
センサ２１が順次に配置されていて、６つの光束の受光
位置から被検眼Ｅの屈折値が求められるようにされてい
る。また、光分割部材１５の反射方向には、第１の実施
例による眼軸長計が配置され、光分割部材１６の反射方
向には光路方向に可動の視度レンズ２２、視線誘導視標
２３、背景光源２４から成る視標系が配設されている。
第２の実施例の構成図である。なお、第１の実施例と同
一部材は同一符号で示している。屈折計用の光源１１か
ら被検眼Ｅに至る光路O2上には、レンズ１２、被検眼Ｅ
の瞳位置と共役な位置に配置された中心開口絞り１３、
穴開きミラー１４、光分割部材１５、光分割部材１６、
対物レンズ１７が設けられている。穴開きミラー１４の
反射方向の光路O3上には、瞳と略共役な位置に設けら
れ、６個の孔部を有する６孔絞り１８、６個の小プリズ
ムから成るくさびプリズム１９、結像レンズ２０、ホト
センサ２１が順次に配置されていて、６つの光束の受光
位置から被検眼Ｅの屈折値が求められるようにされてい
る。また、光分割部材１５の反射方向には、第１の実施
例による眼軸長計が配置され、光分割部材１６の反射方
向には光路方向に可動の視度レンズ２２、視線誘導視標
２３、背景光源２４から成る視標系が配設されている。
【００１１】被検者が所定の位置に位置すると、背景光
源２４を発光し、被検者の視力に合わせて視度レンズ２
２を動作させ視点を誘導する。光源２を発光させると、
光束は光分割部材４、光分割部材１５によって反射さ
れ、光分割部材１６、対物レンズ１７を経て被検眼Ｅに
達する。眼底Er及び角膜Ecの反射光は対物レンズ１７、
光分割部材１６、光分割部材１５、光分割部材４、結像
レンズ５、絞り６を経てホトダイオード７で受光され、
第１の実施例と同様に被検眼Ｅの眼軸長が測定される。
源２４を発光し、被検者の視力に合わせて視度レンズ２
２を動作させ視点を誘導する。光源２を発光させると、
光束は光分割部材４、光分割部材１５によって反射さ
れ、光分割部材１６、対物レンズ１７を経て被検眼Ｅに
達する。眼底Er及び角膜Ecの反射光は対物レンズ１７、
光分割部材１６、光分割部材１５、光分割部材４、結像
レンズ５、絞り６を経てホトダイオード７で受光され、
第１の実施例と同様に被検眼Ｅの眼軸長が測定される。
【００１２】光源１１を発光させると、光束は光路O2を
経て被検眼Ｅに到達し、眼底Erの反射光は光路O2を戻
り、穴開きミラー１４で反射されて光路O3に入り、６孔
絞り１８、くさびプリズム１９、結像レンズ２０を経
て、ホトセンサ２１上に６個の眼底反射像が結像され、
これらの反射像の位置関係から眼屈折値が求められる。
この場合には、眼軸長の測定と眼屈折値の測定が同時に
行えるため、眼屈折値を眼軸要素と屈折要素に分けて評
価、分析することが可能となる。
経て被検眼Ｅに到達し、眼底Erの反射光は光路O2を戻
り、穴開きミラー１４で反射されて光路O3に入り、６孔
絞り１８、くさびプリズム１９、結像レンズ２０を経
て、ホトセンサ２１上に６個の眼底反射像が結像され、
これらの反射像の位置関係から眼屈折値が求められる。
この場合には、眼軸長の測定と眼屈折値の測定が同時に
行えるため、眼屈折値を眼軸要素と屈折要素に分けて評
価、分析することが可能となる。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る検眼装
置は、変調した受光光束の強度変化から眼軸長を求めて
いるため、コヒーレント光を用いなくても眼軸長を測定
することが可能であり、散乱光の精度への影響を低く抑
えることができる。また、非接触測定のため測定に危険
が伴うことがない。
置は、変調した受光光束の強度変化から眼軸長を求めて
いるため、コヒーレント光を用いなくても眼軸長を測定
することが可能であり、散乱光の精度への影響を低く抑
えることができる。また、非接触測定のため測定に危険
が伴うことがない。
【図１】第１の実施例の構成図である。
【図２】時間的に強度変調された信号の説明図である。
【図３】第２の実施例の構成図である。
１ 電源 ２、１１、２４ 光源 ４、１５ 光分割部材 ７ ホトダイオード ８ 信号処理器
Claims (1)
- 【請求項１】 強度変調した入射光束を被検眼に投影す
る投影系と、被検眼角膜及び眼底の反射光の合成光を受
光する受光系と、該受光系における合成光の受光信号の
強度分布により眼軸長を求める測定手段とを有すること
を特徴とする検眼装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4038583A JPH05199993A (ja) | 1992-01-29 | 1992-01-29 | 検眼装置 |
| US07/917,429 US5280313A (en) | 1991-07-25 | 1992-07-23 | Ophthalmic measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4038583A JPH05199993A (ja) | 1992-01-29 | 1992-01-29 | 検眼装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05199993A true JPH05199993A (ja) | 1993-08-10 |
Family
ID=12529317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4038583A Pending JPH05199993A (ja) | 1991-07-25 | 1992-01-29 | 検眼装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05199993A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002531205A (ja) * | 1998-12-10 | 2002-09-24 | カール ツァイス イェナ ゲーエムベーハー | 眼内レンズの計算に好適な、眼の軸方向長さ及び／又は角膜の曲率及び／又は前房深さを非接触的に測定するためのシステム及び方法 |
-
1992
- 1992-01-29 JP JP4038583A patent/JPH05199993A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002531205A (ja) * | 1998-12-10 | 2002-09-24 | カール ツァイス イェナ ゲーエムベーハー | 眼内レンズの計算に好適な、眼の軸方向長さ及び／又は角膜の曲率及び／又は前房深さを非接触的に測定するためのシステム及び方法 |
| JP2011098220A (ja) * | 1998-12-10 | 2011-05-19 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 眼内レンズの計算に好適な、眼の軸方向長さ及び／又は角膜の曲率及び／又は前房深さを非接触的に測定するためのシステム及び方法 |
| JP4769923B2 (ja) * | 1998-12-10 | 2011-09-07 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 眼内レンズの計算に好適な、眼の軸方向長さ及び／又は角膜の曲率及び／又は前房深さを非接触的に測定するための一体化装置 |
| JP2013006068A (ja) * | 1998-12-10 | 2013-01-10 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 眼内レンズの計算に好適な、眼の軸方向長さ及び／又は角膜の曲率及び／又は前房深さを非接触的に測定するためのシステム及び方法 |
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