JPH0519325A - カメラの露出制御装置 - Google Patents
カメラの露出制御装置Info
- Publication number
- JPH0519325A JPH0519325A JP16837791A JP16837791A JPH0519325A JP H0519325 A JPH0519325 A JP H0519325A JP 16837791 A JP16837791 A JP 16837791A JP 16837791 A JP16837791 A JP 16837791A JP H0519325 A JPH0519325 A JP H0519325A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- subject
- current value
- output
- exposure
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 反射式露出計と赤外アクティブ式測距装置を
有するカメラにおいて、被写体の反射率に左右されずに
適正露出を得る。 【構成】 ＰＳＤ５から出力される第１電流値Ｉ1 と第
２電流値Ｉ2 を加算回路１４で処理して（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）
を、比演算回路１５でＩ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）をそれぞれ
求め、これらから演算制御回路７で被写体反射率ρを求
める。この反射率ρにより、ＥＥ用測光素子８で受光し
た測光データを演算制御回路７で補正して被写体反射率
に左右されない適正露出量を求める。
有するカメラにおいて、被写体の反射率に左右されずに
適正露出を得る。 【構成】 ＰＳＤ５から出力される第１電流値Ｉ1 と第
２電流値Ｉ2 を加算回路１４で処理して（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）
を、比演算回路１５でＩ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）をそれぞれ
求め、これらから演算制御回路７で被写体反射率ρを求
める。この反射率ρにより、ＥＥ用測光素子８で受光し
た測光データを演算制御回路７で補正して被写体反射率
に左右されない適正露出量を求める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はカメラの露出制御装置、
詳しくは反射式露出計とアクティブ式ＡＦ（オートフォ
ーカス）機構を合わせ有する所謂コンパクトカメラの露
出制御装置に関する。
詳しくは反射式露出計とアクティブ式ＡＦ（オートフォ
ーカス）機構を合わせ有する所謂コンパクトカメラの露
出制御装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、露出制御，合焦制御を自動的に行
うことのできる所謂コンパクトカメラにおける露出制御
は、被写体からの反射光をシリコンフォトダイオード等
の受光素子で受光して光電変換する反射式露出計で被写
体輝度を求めることにより適正露出量を演算して行って
いる。
うことのできる所謂コンパクトカメラにおける露出制御
は、被写体からの反射光をシリコンフォトダイオード等
の受光素子で受光して光電変換する反射式露出計で被写
体輝度を求めることにより適正露出量を演算して行って
いる。
【０００３】また、上記コンパクトカメラにおける合焦
制御は、被写体へのパルス光投光手段と、このパルス光
の被写体からの反射光を受光し、被写体距離に応じて第
１電流値と第２電流値とを出力する半導体位置検出素子
とを各別に設け、上記パルス光投光手段から投光した赤
外光ビームの反射光の入射角度から三角測距の原理を利
用して被写体距離を求める赤外アクティブ方式が多用さ
れている。
制御は、被写体へのパルス光投光手段と、このパルス光
の被写体からの反射光を受光し、被写体距離に応じて第
１電流値と第２電流値とを出力する半導体位置検出素子
とを各別に設け、上記パルス光投光手段から投光した赤
外光ビームの反射光の入射角度から三角測距の原理を利
用して被写体距離を求める赤外アクティブ方式が多用さ
れている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、被写体から
の反射光を測光して算出される、従来の反射式露出計に
おける露出値は、被写体の光反射率をほぼ一定と仮定す
ることにより形成されている。具体的には、一般の被写
体に見られる最も高い反射率９０％と最も低い反射率３
％との幾何平均である１８％付近の平均反射率を想定し
て露出値を算出するように設計されている。
の反射光を測光して算出される、従来の反射式露出計に
おける露出値は、被写体の光反射率をほぼ一定と仮定す
ることにより形成されている。具体的には、一般の被写
体に見られる最も高い反射率９０％と最も低い反射率３
％との幾何平均である１８％付近の平均反射率を想定し
て露出値を算出するように設計されている。
【０００５】従って、例えば反射率が１８％より低い黒
っぽい被写体を反射式露出計で測光すると、測光値は実
際より低輝度を示すことになるから、このような被写体
を測光して得られた露出値は適正露出に対して露出オー
バーになってしまう。一方、反射率が１８％より高い白
っぽい被写体では逆に露出アンダになってしまう。つま
り、反射式露出計では同じ照度で被写体が照明されてい
ても、被写体の反射率によって反射光が変化するため適
正露出が得られなかった。
っぽい被写体を反射式露出計で測光すると、測光値は実
際より低輝度を示すことになるから、このような被写体
を測光して得られた露出値は適正露出に対して露出オー
バーになってしまう。一方、反射率が１８％より高い白
っぽい被写体では逆に露出アンダになってしまう。つま
り、反射式露出計では同じ照度で被写体が照明されてい
ても、被写体の反射率によって反射光が変化するため適
正露出が得られなかった。
【０００６】そこで、本発明の目的は、上記問題点を解
消し、反射式露出計と赤外アクティブ式ＡＦ装置を有す
るカメラにおいて、被写体の反射率に左右されずに適正
露出を得ることのできるカメラの露出制御装置を提供す
るにある。
消し、反射式露出計と赤外アクティブ式ＡＦ装置を有す
るカメラにおいて、被写体の反射率に左右されずに適正
露出を得ることのできるカメラの露出制御装置を提供す
るにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段および作用】本発明のカメ
ラの露出制御装置は、被写体輝度測光手段と、上記測光
手段出力に基づき作動する露出制御手段と、被写体への
パルス光投光手段と、このパルス光の被写体からの反射
光を受光し、被写体距離に応じて第１電流値と第２電流
値とを出力する半導体位置検出素子と、を有したカメラ
において、上記第１電流値と第２電流値とを加算する加
算手段と、上記第１電流値と第２電流値との比を演算す
る比演算手段と、上記加算手段出力と比演算手段出力と
に基づいて被写体反射率を演算する反射率演算手段とを
設け、上記反射率演算手段出力に基づき上記測光手段出
力もしくは露出制御手段の作動量を補正するようにした
ことを特徴とする。
ラの露出制御装置は、被写体輝度測光手段と、上記測光
手段出力に基づき作動する露出制御手段と、被写体への
パルス光投光手段と、このパルス光の被写体からの反射
光を受光し、被写体距離に応じて第１電流値と第２電流
値とを出力する半導体位置検出素子と、を有したカメラ
において、上記第１電流値と第２電流値とを加算する加
算手段と、上記第１電流値と第２電流値との比を演算す
る比演算手段と、上記加算手段出力と比演算手段出力と
に基づいて被写体反射率を演算する反射率演算手段とを
設け、上記反射率演算手段出力に基づき上記測光手段出
力もしくは露出制御手段の作動量を補正するようにした
ことを特徴とする。
【０００８】
【作用】このカメラの露出制御装置では、本来測距用の
半導体位置検出素子の光電流中の第１電流値Ｉ1 と第２
電流値Ｉ2 との比Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を、比演算手段
で演算し、被写体距離ｄの逆数を求める。一方、加算手
段で演算した第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 との和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は、被写体距離ｄの逆数と被写体反射率
に比例する。そこで、上記Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）で求め
た被写体距離ｄの逆数と、上記（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）とから逆
に、反射率演算手段で被写体反射率を求めることがで
き、この反射率に応じて露出値を補正する。
半導体位置検出素子の光電流中の第１電流値Ｉ1 と第２
電流値Ｉ2 との比Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を、比演算手段
で演算し、被写体距離ｄの逆数を求める。一方、加算手
段で演算した第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 との和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は、被写体距離ｄの逆数と被写体反射率
に比例する。そこで、上記Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）で求め
た被写体距離ｄの逆数と、上記（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）とから逆
に、反射率演算手段で被写体反射率を求めることがで
き、この反射率に応じて露出値を補正する。
【０００９】
【実施例】以下、図示の実施例によって本発明を説明す
る。図１は、本発明に係るカメラの露出制御装置の構成
ブロック図であるが、この露出制御装置を説明するに先
立ち、一般的に知られているアクティブ式ＡＦカメラの
距離検出装置の要部の構成を、図２のブロック図によっ
て説明する。
る。図１は、本発明に係るカメラの露出制御装置の構成
ブロック図であるが、この露出制御装置を説明するに先
立ち、一般的に知られているアクティブ式ＡＦカメラの
距離検出装置の要部の構成を、図２のブロック図によっ
て説明する。
【００１０】この図２に示すように、被写体へのパルス
光投光手段である赤外発光ダイオード（以下、ＩＲＥＤ
と呼称する）１で発光した赤外光は、投光レンズ２で集
光されて被写体３に向けて照射され、その反射光は受光
レンズ４により半導体素子からなる周知の半導体位置検
出素子（以下、ＰＳＤと略記する）５上に結像される。
このＰＳＤ５はその結像位置に応じて第１の光電流Ｉ
1 及び第２の光電流Ｉ2 が分流され、この分流する第
１，第２の光電流Ｉ1およびＩ2 はＡＦ用ＩＣ６に供給
される。このＡＦ用ＩＣ６は、ＩＲＥＤ駆動用トランジ
スタ１Ａを介し上記ＩＲＥＤ１をパルス駆動すると共
に、上記ＰＳＤ５からの第１，第２の光電流Ｉ1 ，Ｉ2
に基づく測距データをＣＰＵを含む演算制御回路７に供
給する。
光投光手段である赤外発光ダイオード（以下、ＩＲＥＤ
と呼称する）１で発光した赤外光は、投光レンズ２で集
光されて被写体３に向けて照射され、その反射光は受光
レンズ４により半導体素子からなる周知の半導体位置検
出素子（以下、ＰＳＤと略記する）５上に結像される。
このＰＳＤ５はその結像位置に応じて第１の光電流Ｉ
1 及び第２の光電流Ｉ2 が分流され、この分流する第
１，第２の光電流Ｉ1およびＩ2 はＡＦ用ＩＣ６に供給
される。このＡＦ用ＩＣ６は、ＩＲＥＤ駆動用トランジ
スタ１Ａを介し上記ＩＲＥＤ１をパルス駆動すると共
に、上記ＰＳＤ５からの第１，第２の光電流Ｉ1 ，Ｉ2
に基づく測距データをＣＰＵを含む演算制御回路７に供
給する。
【００１１】一方、被写体の明るさを電気信号に変換す
る露出制御（以下、ＥＥと略記する）用受光素子８は、
測光回路９と組み合わされて適正露出を制御する。また
上記演算制御回路７は、このカメラ全体の動作シーケン
スを司り、シャッタの開口時間や、ピント調節用のレン
ズを駆動するための演算等も行なうものである。そし
て、この演算制御回路７はレリーズ釦２０の押下に応動
してシャッタ１２の動作を制御すると共に、ドライバ１
０によってフィルム巻き上げおよびレンズ繰り出しを行
なう動力源となるモータ１１を駆動するようになってい
る。
る露出制御（以下、ＥＥと略記する）用受光素子８は、
測光回路９と組み合わされて適正露出を制御する。また
上記演算制御回路７は、このカメラ全体の動作シーケン
スを司り、シャッタの開口時間や、ピント調節用のレン
ズを駆動するための演算等も行なうものである。そし
て、この演算制御回路７はレリーズ釦２０の押下に応動
してシャッタ１２の動作を制御すると共に、ドライバ１
０によってフィルム巻き上げおよびレンズ繰り出しを行
なう動力源となるモータ１１を駆動するようになってい
る。
【００１２】図１は、本発明の一実施例を示すカメラの
露出制御装置の構成を示したもので、この図１におい
て、ＩＲＥＤ１，ＩＲＥＤドライバ１Ａ，ＰＳＤ５，投
光レンズ２，受光レンズ４，演算制御回路７，ＥＥ用受
光素子８，測光回路９，ドライバ１０，モータ１１，シ
ャッタ１２等は上記図２に示したものと同様に構成され
ている。
露出制御装置の構成を示したもので、この図１におい
て、ＩＲＥＤ１，ＩＲＥＤドライバ１Ａ，ＰＳＤ５，投
光レンズ２，受光レンズ４，演算制御回路７，ＥＥ用受
光素子８，測光回路９，ドライバ１０，モータ１１，シ
ャッタ１２等は上記図２に示したものと同様に構成され
ている。
【００１３】上記ＰＳＤ５の第１，第２の光電流出力Ｉ
1 ，Ｉ2 は、それぞれ低入力インピーダンスのプリアン
プ１２，１３によって定常光によるＤＣ電流成分を分離
され、その各出力は加算回路１４と比演算回路１５とに
それぞれ入力される。そして、加算回路１４によって加
算された第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 の加算電流
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が第１積分回路１６に入力せられ、ここ
で所定回数の積分動作が行われる。
1 ，Ｉ2 は、それぞれ低入力インピーダンスのプリアン
プ１２，１３によって定常光によるＤＣ電流成分を分離
され、その各出力は加算回路１４と比演算回路１５とに
それぞれ入力される。そして、加算回路１４によって加
算された第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 の加算電流
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が第１積分回路１６に入力せられ、ここ
で所定回数の積分動作が行われる。
【００１４】また、比演算回路１５は両電流Ｉ1 ，Ｉ2
の比演算Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を行い、その出力を第２
積分回路１７に入力し、ここで所定回数の積分動作を行
う。この積分動作によって、被写体に向けてＩＲＥＤ１
が複数回発光し、その反射光を受けて出力された第１，
第２の光電流Ｉ1 ，Ｉ2 に含まれているランダムノイズ
は、そのたびに相殺され積分効果が発揮される。
の比演算Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を行い、その出力を第２
積分回路１７に入力し、ここで所定回数の積分動作を行
う。この積分動作によって、被写体に向けてＩＲＥＤ１
が複数回発光し、その反射光を受けて出力された第１，
第２の光電流Ｉ1 ，Ｉ2 に含まれているランダムノイズ
は、そのたびに相殺され積分効果が発揮される。
【００１５】次いで、第１積分回路１６から出力された
第１信号と第２積分回路１７から出力された第２信号と
が出力回路１８を介してＣＰＵからなる演算制御回路７
に入力される。なお、タイミング回路１９は、ＩＲＥＤ
１と第１，第２積分回路１６，１７の各動作タイミング
を設定する。
第１信号と第２積分回路１７から出力された第２信号と
が出力回路１８を介してＣＰＵからなる演算制御回路７
に入力される。なお、タイミング回路１９は、ＩＲＥＤ
１と第１，第２積分回路１６，１７の各動作タイミング
を設定する。
【００１６】このように構成された本実施例における露
出制御動作を次に説明する。先づ本実施例の動作原理を
説明するが、順序として上記ＰＳＤ５によって被写体距
離を測距する赤外光投射式三角測距の動作原理を上記図
１，２により説明する。
出制御動作を次に説明する。先づ本実施例の動作原理を
説明するが、順序として上記ＰＳＤ５によって被写体距
離を測距する赤外光投射式三角測距の動作原理を上記図
１，２により説明する。
【００１７】受光レンズ４の光軸をＰＳＤ５の中心線に
一致させてこれを原点としたとき、反射光の入射位置を
ｘ、投光レンズ２と受光レンズ４との主点間距離、すな
わち、基線長をｓ、受光レンズ４の焦点距離をｆ0 とす
れば、被写体距離ｄは、 ｄ＝ｓ・ｆ0 ／ｘ …………（１） で与えられる。
一致させてこれを原点としたとき、反射光の入射位置を
ｘ、投光レンズ２と受光レンズ４との主点間距離、すな
わち、基線長をｓ、受光レンズ４の焦点距離をｆ0 とす
れば、被写体距離ｄは、 ｄ＝ｓ・ｆ0 ／ｘ …………（１） で与えられる。
【００１８】ＩＲＥＤ１による被写体の反射光によりＰ
ＳＤ５で発生する光電流中の第１電流値Ｉ1 ，第２電流
値Ｉ2 は共に反射光強度に比例するが、光電流比Ｉ1 ／
Ｉ2は反射光強度には依存せず、入射光位置ｘのみで決
定される。そこで、ＰＳＤ５の全長をｔとすれば、 Ｉ1 ／Ｉ2 ＝（ｔ／２＋ｘ）／（ｔ／２−ｘ） となる。上式に（１）式を代入すれば、
ＳＤ５で発生する光電流中の第１電流値Ｉ1 ，第２電流
値Ｉ2 は共に反射光強度に比例するが、光電流比Ｉ1 ／
Ｉ2は反射光強度には依存せず、入射光位置ｘのみで決
定される。そこで、ＰＳＤ５の全長をｔとすれば、 Ｉ1 ／Ｉ2 ＝（ｔ／２＋ｘ）／（ｔ／２−ｘ） となる。上式に（１）式を代入すれば、
【００１９】
【数１】
【００２０】となるから、ＰＳＤ５の光電流比Ｉ1 ／Ｉ
2 が求まれば、被写体距離ｄが一義的に決定されること
になる。
2 が求まれば、被写体距離ｄが一義的に決定されること
になる。
【００２１】上式（２）を変形すると、
【００２２】
【数２】
【００２３】となり、第１電流値Ｉ1 および第２電流値
Ｉ2 が十分大きい近距離においては、この（３）式より
高精度で距離情報ｄを求めることができる。即ち、被写
体距離の逆数１／ｄは
Ｉ2 が十分大きい近距離においては、この（３）式より
高精度で距離情報ｄを求めることができる。即ち、被写
体距離の逆数１／ｄは
【００２４】
【数３】
【００２５】で与えられる。上記が、ＰＳＤ５で得られ
る第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 との比演算出力Ｉ1
／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）から被写体距離ｄの逆数を求める手段
の説明である。次に第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 と
の和、つまり加算出力（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）から被写体距離ｄ
の逆数を求める手段を説明する。
る第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 との比演算出力Ｉ1
／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）から被写体距離ｄの逆数を求める手段
の説明である。次に第１電流値Ｉ1 と第２電流値Ｉ2 と
の和、つまり加算出力（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）から被写体距離ｄ
の逆数を求める手段を説明する。
【００２６】ＩＲＥＤ１による被写体の反射光によりＰ
ＳＤ５で発生する第１，第２の光電流Ｉ1 ，Ｉ2 は、共
に反射光強度に比例するから、光拡散の原理から被写体
の反射率をρ比例定数をＧとすると、被写体距離ｄの逆
数は
ＳＤ５で発生する第１，第２の光電流Ｉ1 ，Ｉ2 は、共
に反射光強度に比例するから、光拡散の原理から被写体
の反射率をρ比例定数をＧとすると、被写体距離ｄの逆
数は
【００２７】
【数４】
【００２８】で与えられる。
【００２９】さて、上記（４）式による第２積分回路１
７の出力と、上記（５）式による第１積分回路１６の出
力とから、以下の様な演算式により被写体反射率ρを求
めることができる。
７の出力と、上記（５）式による第１積分回路１６の出
力とから、以下の様な演算式により被写体反射率ρを求
めることができる。
【００３０】
【数５】
【００３１】ここで、被写体輝度Ｌ［cd/m2 ］検出方法
について述べる。ＥＥ用受光素子８には被写体輝度Ｌに
比例した光電流Ｉ0 が流れるから、比例定数をＨとすれ
ば被写体輝度Ｌは、 Ｌ＝Ｈ×Ｉ0 …………（７） という式で表わすことができる。測光回路９では上記
（７）式の両辺を２を底とする対数にとるから下式が得
られる。
について述べる。ＥＥ用受光素子８には被写体輝度Ｌに
比例した光電流Ｉ0 が流れるから、比例定数をＨとすれ
ば被写体輝度Ｌは、 Ｌ＝Ｈ×Ｉ0 …………（７） という式で表わすことができる。測光回路９では上記
（７）式の両辺を２を底とする対数にとるから下式が得
られる。
【００３２】Ｌog2 Ｌ＝Ｌog2 Ｈ＋Ｌog2 Ｉ0 ここで、Ｌog2 ＬをＢv と定義すると、 ＢＶ＝Ｌog2 Ｈ＋Ｌog2 Ｉ0 …………（８） になる。即ち、光電流Ｉ0 を対数圧縮してＬv とし、こ
れをＡ／Ｄ変換して演算制御回路７に伝達する。
れをＡ／Ｄ変換して演算制御回路７に伝達する。
【００３３】次に、被写体輝度Ｌv と被写体反射率ρか
ら適正露出を求める方法を考える。適正露出に関する関
係式は、周知のように
ら適正露出を求める方法を考える。適正露出に関する関
係式は、周知のように
【００３４】
【数６】
【００３５】で与えられる。ここに、Ｆ：撮影レンズの
Ｆナンバ ｔ：露出時間［sex ］ Ｓ：フィルムのＩＳＯ感度［1/sec ］ Ｌ：被写体輝度［cd/m2 ］ Ｅ：被写体照度［lx］ Ｋ：反射式露出定数［cd/m2 ］ Ｃ：入射式露出定数［lx］ さて、反射率がρの均等拡散反射面の輝度と照度の関係
は、円周率をπとすれば Ｅ＝Ｌ・π／ρ …………（１０） で与えられるから、上記（９）（１０）式より
Ｆナンバ ｔ：露出時間［sex ］ Ｓ：フィルムのＩＳＯ感度［1/sec ］ Ｌ：被写体輝度［cd/m2 ］ Ｅ：被写体照度［lx］ Ｋ：反射式露出定数［cd/m2 ］ Ｃ：入射式露出定数［lx］ さて、反射率がρの均等拡散反射面の輝度と照度の関係
は、円周率をπとすれば Ｅ＝Ｌ・π／ρ …………（１０） で与えられるから、上記（９）（１０）式より
【００３６】
【数７】
【００３７】となる。上式をアペックスの関係式にする
ために両辺を２を底とする対数をとると、露光量Ｅv
は、
ために両辺を２を底とする対数をとると、露光量Ｅv
は、
【００３８】
【数８】
【００３９】となる。上記（１２）式の各項を以下のよ
うに定義する。
うに定義する。
【００４０】Ａv ＝Ｌog2 Ｆ2 Ｔv ＝Ｌog2 （１／ｔ） Ｓv ＝Ｌog2 （ 0.3×Ｓ） Ｂv ＝Ｌog2 Ｌ ρv ＝Ｌog2 （１／ρ） Ｎv ＝Ｌog2 （π／Ｃ）＋Ｌog2 （１／ 0.3） なお、上記各式中の 0.3は、ＩＳＯ 100をＳv ＝５にす
るための定数である。上記各式のような置換を行えば露
光量Ｅv は Ｅv ＝Ａv ＋Ｔv ＝Ｓv ＋Ｂv ＋ρv ＋Ｎv ………（１３） となる。この場合、Ｉ0 はＥＥ受光素子８の光電流、Ｉ
1 ，Ｉ2はＰＳＤ５の第１，第２電流値なので、
るための定数である。上記各式のような置換を行えば露
光量Ｅv は Ｅv ＝Ａv ＋Ｔv ＝Ｓv ＋Ｂv ＋ρv ＋Ｎv ………（１３） となる。この場合、Ｉ0 はＥＥ受光素子８の光電流、Ｉ
1 ，Ｉ2はＰＳＤ５の第１，第２電流値なので、
【００４１】
【数９】
【００４２】になる。つまり前記（６）式によりＰＳＤ
５の光電流Ｉ1 ，Ｉ2 を演算すれば、演算制御回路７内
の反射率演算手段によって被写体の反射率ρを求めるこ
とができる。そして、ＥＥ受光素子８の光電流Ｉ0 を、
（８）式により測光回路９で演算すれば、被写体輝度を
求めることができ、これを演算制御回路７に伝達する。
すると、演算制御回路７は、内蔵された露出制御手段に
より、上記Ｂv,ρ，Ｓv の値から測光回路出力もしくは
露光制御手段の作動量を補正する。従って、適正露出Ｅ
v または、Ａv とＴv の組み合わせを求めることがで
き、これに基づいてシャッタ１２を制御することにな
る。
５の光電流Ｉ1 ，Ｉ2 を演算すれば、演算制御回路７内
の反射率演算手段によって被写体の反射率ρを求めるこ
とができる。そして、ＥＥ受光素子８の光電流Ｉ0 を、
（８）式により測光回路９で演算すれば、被写体輝度を
求めることができ、これを演算制御回路７に伝達する。
すると、演算制御回路７は、内蔵された露出制御手段に
より、上記Ｂv,ρ，Ｓv の値から測光回路出力もしくは
露光制御手段の作動量を補正する。従って、適正露出Ｅ
v または、Ａv とＴv の組み合わせを求めることがで
き、これに基づいてシャッタ１２を制御することにな
る。
【００４３】図３は、本実施例における露出制御動作の
フローチャートで、この処理フローがスタートすると、
レリーズ釦２０（図２参照）が押下されるまで待機し
（ステップＳ１）、レリーズ釦２０が押下されると、積
分回数を格納する変数ｎを初期リセットする（ステップ
Ｓ２）。
フローチャートで、この処理フローがスタートすると、
レリーズ釦２０（図２参照）が押下されるまで待機し
（ステップＳ１）、レリーズ釦２０が押下されると、積
分回数を格納する変数ｎを初期リセットする（ステップ
Ｓ２）。
【００４４】演算制御回路７の出力ポートＯＰ１をアク
ティブ”Ｈ”にすると（ステップＳ３）、タイミング回
路１９（図１参照）が作動し、ドライバ１Ａを介してＩ
ＲＥＤ１の投光動作が開始されると共に、第１の積分回
路１６および第２の積分回路１７がオンされる。そし
て、被写体からの反射光に基づく第１電流値Ｉ1 と第２
電流値Ｉ2 との加算結果、および第１電流値と第２電流
値との比演算結果をそれぞれ 100μｓに亘って積分し
（ステップＳ４）、 100μｓ経過すると上記出力ポート
ＯＰ１がノンアクティブ”Ｌ”になって（ステップＳ
５）、第１回目の積分動作が停止される。
ティブ”Ｈ”にすると（ステップＳ３）、タイミング回
路１９（図１参照）が作動し、ドライバ１Ａを介してＩ
ＲＥＤ１の投光動作が開始されると共に、第１の積分回
路１６および第２の積分回路１７がオンされる。そし
て、被写体からの反射光に基づく第１電流値Ｉ1 と第２
電流値Ｉ2 との加算結果、および第１電流値と第２電流
値との比演算結果をそれぞれ 100μｓに亘って積分し
（ステップＳ４）、 100μｓ経過すると上記出力ポート
ＯＰ１がノンアクティブ”Ｌ”になって（ステップＳ
５）、第１回目の積分動作が停止される。
【００４５】次に、インターバル時間 400μｓ待機した
後（ステップＳ６）、積分回数ｎを＋１インクリメント
する（ステップＳ７）。そして、投光回数従って積分回
数ｎが２０回に達したか否かをチェックし（ステップＳ
８）、この場合第１回目の投光並びに積分動作なので、
上記ステップＳ３に戻って上記ステップＳ３〜Ｓ８を繰
返し実行する。
後（ステップＳ６）、積分回数ｎを＋１インクリメント
する（ステップＳ７）。そして、投光回数従って積分回
数ｎが２０回に達したか否かをチェックし（ステップＳ
８）、この場合第１回目の投光並びに積分動作なので、
上記ステップＳ３に戻って上記ステップＳ３〜Ｓ８を繰
返し実行する。
【００４６】投光回数従って、積分回数ｎが２０回行わ
れると、ステップＳ９に進み、演算制御回路７の出力ポ
ートＯＰ２を”Ｌ”にし、出力回路１８に対して第１積
分回路１６の加算値の積分結果を出力するように指示す
る。この第１積分回路出力は上記演算制御回路７のＡ／
Ｄ変換可能な入力ポートＩＰ１より読み込まれ（ステッ
プＳ１０）、同回路７でデジタルデータに変換される。
れると、ステップＳ９に進み、演算制御回路７の出力ポ
ートＯＰ２を”Ｌ”にし、出力回路１８に対して第１積
分回路１６の加算値の積分結果を出力するように指示す
る。この第１積分回路出力は上記演算制御回路７のＡ／
Ｄ変換可能な入力ポートＩＰ１より読み込まれ（ステッ
プＳ１０）、同回路７でデジタルデータに変換される。
【００４７】次に、上記演算制御回路７の出力ポートＯ
Ｐ２を”Ｈ”にして（ステップＳ１１）出力回路１８に
対し第２積分回路１７の比演算値の積分結果を出力する
ように指示する。この第２積分回路出力は、上記と同様
に、演算制御回路７の入力ポートＩＰ１より読み込まれ
る（ステップＳ１２）。上記第１，第２の各積分回路出
力が読込まれると、その後演算制御回路７の出力ポート
ＯＰ２は”Ｌ”に戻される。（ステップＳ１３）。
Ｐ２を”Ｈ”にして（ステップＳ１１）出力回路１８に
対し第２積分回路１７の比演算値の積分結果を出力する
ように指示する。この第２積分回路出力は、上記と同様
に、演算制御回路７の入力ポートＩＰ１より読み込まれ
る（ステップＳ１２）。上記第１，第２の各積分回路出
力が読込まれると、その後演算制御回路７の出力ポート
ＯＰ２は”Ｌ”に戻される。（ステップＳ１３）。
【００４８】上記和演算および比演算の積分結果の各情
報より前記（６）式に示した演算を行って反射率ρを求
める（ステップＳ１４）。次に、演算制御回路７のＡ／
Ｄ変換可能な入力ポートＩＰ２より測光回路９からのＢ
v 情報を読み込む（ステップＳ１５）。
報より前記（６）式に示した演算を行って反射率ρを求
める（ステップＳ１４）。次に、演算制御回路７のＡ／
Ｄ変換可能な入力ポートＩＰ２より測光回路９からのＢ
v 情報を読み込む（ステップＳ１５）。
【００４９】このＢv 情報と、図示しないＳv 設定回路
で設定されたＳv 情報と、上記反射率ρとから適正露出
となるＥv 値を求め（ステップＳ１６）、これに基づい
て演算制御回路７はその出力ポートＯＰ３よりシャッタ
１２のシャッタ制御を行う（ステップＳ１７）。
で設定されたＳv 情報と、上記反射率ρとから適正露出
となるＥv 値を求め（ステップＳ１６）、これに基づい
て演算制御回路７はその出力ポートＯＰ３よりシャッタ
１２のシャッタ制御を行う（ステップＳ１７）。
【００５０】なお、上記ステップＳ８における積分回数
ｎは２０回に限定されず、任意に設定可能なこと勿論で
ある。また、積分時間，インターバル時間についても同
様である。
ｎは２０回に限定されず、任意に設定可能なこと勿論で
ある。また、積分時間，インターバル時間についても同
様である。
【００５１】上記実施例によれば、ＰＳＤ５の第１，第
２電流値Ｉ1 ，Ｉ2 の加算出力，比演算出力から被写体
反射率を求め、これにより露出量を補正しているので、
被写体反射率に左右されずに適正な露出が行える。しか
も、上記加算出力と比演算出力とは、赤外アクティブ方
式の測距装置で必然的に得られるものなので、新規に回
路を追加する必要がない。且つ、上記加算出力と比演算
出力とは、複数回路積分されるので、ノイズの影響を受
けることなく正確な露出制御が行える。
２電流値Ｉ1 ，Ｉ2 の加算出力，比演算出力から被写体
反射率を求め、これにより露出量を補正しているので、
被写体反射率に左右されずに適正な露出が行える。しか
も、上記加算出力と比演算出力とは、赤外アクティブ方
式の測距装置で必然的に得られるものなので、新規に回
路を追加する必要がない。且つ、上記加算出力と比演算
出力とは、複数回路積分されるので、ノイズの影響を受
けることなく正確な露出制御が行える。
【００５２】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、反射
式露出計で測光し、赤外アクティブ方式で測距する所謂
コンパクトカメラにおいて、赤外アクティブ方式の測距
装置で必然的に得られる加算出力および比演算出力か
ら、反射率演算手段で被写体反射率を演算し、該反射率
に基づいて測光手段出力もしくは露光制御手段の作動量
を補正するようにしたので、被写体の反射率に左右され
ずに適正露出を得られるという顕著な効果が発揮され
る。
式露出計で測光し、赤外アクティブ方式で測距する所謂
コンパクトカメラにおいて、赤外アクティブ方式の測距
装置で必然的に得られる加算出力および比演算出力か
ら、反射率演算手段で被写体反射率を演算し、該反射率
に基づいて測光手段出力もしくは露光制御手段の作動量
を補正するようにしたので、被写体の反射率に左右され
ずに適正露出を得られるという顕著な効果が発揮され
る。
【図１】本発明の一実施例を示すカメラの露出制御装置
の構成ブロック図。
の構成ブロック図。
【図２】アクティブ式ＡＦカメラにおける測距の要部構
成図。
成図。
【図３】本実施例における露出制御動作のフローチャー
ト。
ト。
１…ＩＲＥＤ（パルス光投光手段） １Ａ…ドライバ（パルス光投光手段） ５…ＰＳＤ（半導体位置検出素子） ７…演算制御回路（露出制御手段、反射率演算手段） ９…測光回路（被写体輝度測光手段） １４…加算回路（加算手段） １５…比演算回路（比演算手段） Ｉ1 …第１電流値 Ｉ2 …第２電流値
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 被写体輝度測光手段と、 上記測光手段出力に基づき作動する露出制御手段と、 被写体へのパルス光投光手段と、 このパルス光の被写体からの反射光を受光し、被写体距
離に応じて第１電流値と第２電流値とを出力する半導体
位置検出素子と、 を有したカメラにおいて、 上記第１電流値と第２電流値とを加算する加算手段と、 上記第１電流値と第２電流値との比を演算する比演算手
段と、 上記加算手段出力と比演算手段出力とに基づいて被写体
反射率を演算する反射率演算手段と、 を設け、上記反射率演算手段出力に基づき上記測光手段
出力もしくは露出制御手段の作動量を補正するようにし
たことを特徴とするカメラの露出制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16837791A JPH0519325A (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | カメラの露出制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16837791A JPH0519325A (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | カメラの露出制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0519325A true JPH0519325A (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=15866975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16837791A Withdrawn JPH0519325A (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | カメラの露出制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0519325A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8817171B2 (en) | 2006-09-14 | 2014-08-26 | Casio Computer Co., Ltd. | Imaging apparatus with automatic exposure adjusting function |
-
1991
- 1991-07-09 JP JP16837791A patent/JPH0519325A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8817171B2 (en) | 2006-09-14 | 2014-08-26 | Casio Computer Co., Ltd. | Imaging apparatus with automatic exposure adjusting function |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0151819B2 (ja) | ||
| JP2926597B2 (ja) | カメラの自動調光制御装置 | |
| US20030063907A1 (en) | Camera | |
| JP2001091988A (ja) | 閃光制御装置 | |
| JPH08334678A (ja) | 測距装置 | |
| JPH0519325A (ja) | カメラの露出制御装置 | |
| JPH02100027A (ja) | 被写体輝度の測定方法 | |
| JP3120956B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP4453121B2 (ja) | 撮影システム | |
| JP2638607B2 (ja) | 測距装置 | |
| JPH095611A (ja) | 測距装置 | |
| JP3001013B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP2882627B2 (ja) | カメラの多点測距装置 | |
| JP2000330001A (ja) | 測距装置 | |
| JP2731159B2 (ja) | カメラの多点測距装置 | |
| JP3012581B2 (ja) | カメラの多点測距装置 | |
| JP3140491B2 (ja) | 自動合焦装置 | |
| JP3297497B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP2942593B2 (ja) | 被写体距離検出装置 | |
| JPH08334679A (ja) | 測距装置 | |
| JP3080862B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP3253681B2 (ja) | カメラの測距装置 | |
| JP2002318412A (ja) | 閃光制御装置及びカメラ | |
| JPH095617A (ja) | 測距装置 | |
| JP3442445B2 (ja) | 測距装置を有するカメラ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981008 |