JPH05188127A - 光ビーム検出方式 - Google Patents

光ビーム検出方式

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JPH05188127A
JPH05188127A JP239192A JP239192A JPH05188127A JP H05188127 A JPH05188127 A JP H05188127A JP 239192 A JP239192 A JP 239192A JP 239192 A JP239192 A JP 239192A JP H05188127 A JPH05188127 A JP H05188127A
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polarized light
linearly polarized
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JP239192A
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Miyao Shiina
宮雄 椎名
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 宇宙光通信等に於ける光ビームの検出方式に
関し、追尾検出時の角度分解能を向上させることを目的
とする。 【構成】 受信したガスウビーム光を楕円直線偏光に変
換し、この楕円直線偏光を互いに直交する十字光に変換
すると共に一方及び他方の楕円直線偏光を順次選択し一
定振幅で周期的に捜査した後、追尾検出時にはその光強
度変調を受けた楕円直線偏光を液晶マスクに設けた長方
形スリットを通過させて光検出し、この検出した信号の
内の二つの成分の比を取る事により受信光のX軸又はY
軸上の位置遍倚を求める様に構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ビーム検出方式に関
し、特に宇宙光通信等に於ける光ビームの追尾モードに
於ける光ビーム検出方式に関するものである。
【0002】宇宙光通信に於ける高精度の光ビーム制御
技術は、光リンク形成の為の基盤技術の一つである。宇
宙での光通信はまだ実証されてはいないが、近年、宇宙
光通信の実現を目指した研究開発が鋭意進められてい
る。
【0003】この様な宇宙光通信に於いて相手衛星から
発するビーコン光の検出は、相手衛星を光学的に捕捉・
追尾して光リンクを形成するために不可欠であり、光ビ
ーム制御技術の要の技術となっている。
【0004】
【従来の技術】研究段階ではあるが従来より研究されて
いるビーコン光の検出方式としては、精度は粗くてよい
が広い範囲で相手衛星を捕まえる必要がある捕捉検出モ
ード時には2次元CCDで行い、視野は狭くて良いが1
μrad以下という高精度の角度検出が求められる追尾
検出モード時には4象限APDによる検出器で行い、結
果として多検出器による直接検波方式が提案されてい
る。
【0005】しかしながら、この種の検出方式では、感
度、チャネル間クロストーク、チャネル間感度差ドリフ
ト、及び分割による不感帯等、高感度、高分解能検出系
としての実現を阻害する要因を含んでいた。
【0006】この様な要因を解決する為、本出願人は、
特願平62−332207号(捕捉・追尾方法)を既に
出願している。
【0007】この捕捉・追尾方法に於いては、ビーコン
光を受信する逆望遠系と、この逆望遠系からの出力光を
互いに直交する十字光に変換する光学系と、この光学系
から出力された十字光にマスクを掛けて光検出を行う光
検出系統とを備えたものであり、捕捉検出時には、逆望
遠系に含まれる液晶マスクを時系列的に駆動制御して複
数のマスクパターンを発生し、このマスクパターンを光
軸回りに段階的に回転させることにより結果として微弱
な対象の捕捉と光軸からの二次元位置のオフセット量
(位置偏倚)が求められることになる。
【0008】そして、これを光学系及び光検出系を経由
してジンバル機構(図示せず)に送り、ジンバル機構を
調整してビーコン光への大まかなポジショニングを行っ
ている。
【0009】又、追尾検出時に於いては、上記の逆望遠
系に於ける液晶マスクは常に透明にしておき、光学系か
ら得られる十字光が光検出系の液晶マスク上に入力する
と、上記の様に捕捉モードによって大まかな位置合わせ
が完了しているので、十字光は座標原点から少しだけず
れた位置に来る事になるが、この十字光を液晶マスクを
駆動制御してX軸、Y軸方向にそれぞれスリット状のマ
スクパターンを生成し、更にこれらのスリット状のマス
クパターンを周期的に一軸方向に操作する事により光検
出系の出力信号を演算処理し、以て上記の十字光の座標
原点からの2次元オフセット量が求められる。
【0010】そして、このオフセット量がゼロとなる様
に追尾系のジンバル機構を駆動制御すればビーコン光は
常に光軸中心にポジショニングされることとなる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】この様な本出願人によ
る捕捉・追尾方法は、捕捉検出時には良好な結果が得ら
れるが、追尾検出時には、光検出系に於ける液晶マスク
にX軸及びY軸方向のスリット状のマスクパターンを生
成し、且つこのマスクパターンを周期的に操作した場合
の角度分解能が画素サイズの制約から悪くなってしまう
と言う問題点があった。
【0012】従って本発明は、追尾検出時の角度分解能
を向上させることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】図1は上記の目的を達成
するための本発明に係る光ビーム検出方式の構成原理を
示したもので、受信したガウスビーム光を楕円状の直線
偏光に変換する偏光変換手段1と、該楕円直線偏光を互
いに直交する十字光に変換すると共に該十字光の一方及
び他方の楕円直線偏光を順次出力する楕円偏光選択手段
2と、該楕円直線偏光を一定振幅で周期的に走査する光
強度変調手段3と、捕捉検出時には複数のマスクパター
ンを生成すると共に追尾検出時には該光強度変調を受け
た楕円直線偏光を検出するように対応した長方形スリッ
トを形成する液晶マスク4と、該液晶マスク4を通過し
た光信号を検出する光検出器5と、該光検出器5で検出
した信号の内の2つの成分の比を取ることにより該受信
光の各X軸又はY軸の位置偏倚を求める演算手段6とを
備えている。
【0014】また本発明では、上記の楕円直線偏光選択
手段2を、偏光ビームスプリッタと、該偏光ビームスプ
リッタの一方の出力光であるP偏光成分を開閉する第1
のシャッタと、該偏光ビームスプリッタの他方の出力光
であるS偏光成分を開閉する第2のシャッタと、該第2
のシャッタからの該S偏光成分を90°回転させるイメ
ージローテータと、該イメージローテータからの該S偏
光成分を元のS偏光位相に戻す2分の1波長板と、該第
1のシャッタからの該P偏光成分と該2分の1波長板か
らのS偏光成分とを合成する偏光ビームスプリッタとで
構成することができる。
【0015】更に本発明では、上記の第1及び第2のシ
ャッタを、該十字光の内の一方の楕円直線偏光を切替選
択できるように制御し、該液晶マスク4の長方形スリッ
トが該楕円直線偏光に対応して変形できるようにするこ
とができる。
【0016】更に本発明では、光強度変調手段3を、該
第1及び第2のシャッタの選択に合わせて超音波偏向器
を一定周波数により走査制御し、演算手段6を該検出信
号を基本波成分と2倍波成分とに分離し、該基本波成分
を該一定周波数により同期検波して第1の位置遍倚を求
め、該2倍波成分を整流して第2の位置遍倚を求め、両
位置遍倚の比から該受信光のX軸又はY軸位置遍倚を求
めるようにしてもよい。
【0017】
【作用】図1に示す本発明に係る光ビーム検出方式に於
いては、まず受信した円形のガウスビーム光を偏光変換
手段1が楕円直線偏光に変換し、この楕円直線偏光を楕
円偏光選択手段2に於いて互いに直交する十字光に変換
すると共にこの十字光の一方及び他方の楕円直線偏光を
順次選択して出力する。
【0018】この選択された楕円直線偏光は、光強度変
調手段3に於いて一定振幅で周期的に操作されて液晶マ
スク4に送られる。
【0019】この液晶マスク4は捕捉選出時には複数の
マスクパターンを生成して従来と同様の動作を行うが、
追尾検出時には光強度変調手段3により光強度変調を受
けた楕円直線偏光を検出する為の対応した長方形のスリ
ットを形成し、この長方形スリットを通過した光信号が
光検出器5に於いて検出され、この検出された信号が演
算手段6に送られる事により、演算手段6では光検出信
号の内の2つの成分の比をとる事により受信光のX軸又
はY軸上の位置遍倚(オフセット量)が求められる。
【0020】この様して本発明では、追尾検出時に液晶
マスクをX軸方向又はY軸方向の長方形スリットに駆動
するだけで良く、楕円直線偏光の操作は光強度変調手段
3によって行われるので、結果として液晶マスク4から
得られる光信号の検出感度が良くなるという利点があ
る。
【0021】
【実施例】図2は本発明に係る光ビーム検出方式の実施
例を示したブロック図であり、この実施例では偏光変換
手段1がアナモフィックプリズム11とλ/4(λは波
長)波長板とで構成されており、楕円偏光選択手段2
は、λ/4波長板12からの出力光の内のP偏光成分を
透過させS偏光成分を反射させる偏光ビームスプリッタ
21と、この偏光ビームスプリッタ21からのP偏光成
分を阻止するシャッタ22と、偏光ビームスプリッタ2
1からのS偏光成分を反射するミラー23と、このミラ
ー23の反射光を阻止するS偏光シャッタ24と、この
シャッタ24からのS偏光成分を90°回転させるイメ
ージローテータ25と、このイメージローテータ25の
出力光を反射させるミラー26と、このミラー26の反
射光を180°ずらしてS偏光成分の元の位相に戻すた
めのλ/2波長板27と、シャッタ22からの出力光を
透過させλ/2波長板27からの出力光を反射させる偏
光ビームスプリッタ28とで構成されている。
【0022】更に光強度変調手段3は、偏光ビームスプ
リッタ28の出力光の内のP偏光成分のみを偏向させる
P偏向器31と、S偏光成分のみを偏向させるS偏向器
32と、これらの偏向器31,32の出力光を集光させ
る集光レンズ33とで構成されている。
【0023】この様な実施例の動作に於いては、まず受
信光はアナモフィックプリズム11で円形ビームから楕
円形ビームに変形され、更にλ/4波長板12により円
偏光から直線偏光に変換されて楕円直線偏光として偏光
ビームスプリッタ21に送られる。尚、円形ビームのま
までもよいが、楕円形スリットビーム状光に変換した方
が検出軸方向の分離がよくなり、位置検出感度も高くな
る。
【0024】偏光ビームスプリッタ21では入力光をP
偏光成分とS偏光成分とに分離し、P偏光成分はシャッ
タ22に送られ、S偏光成分はミラー23で反射されて
シャッタ24に送られる様になっている。そしてシャッ
タ22,24が開いている時には、シャッタ22からの
出力光は偏光ビームスプリッタ28に送られるが、シャ
ッタ24からの出力光はイメージローテータ25で90
°回転させられ、更にミラー26で反射した後、λ/2
波長板27でS偏光の元の位相に戻されてから偏光ビー
ムスプリッタ28に送られてシャッタ22からのP偏光
成分と合成されて出力される。
【0025】従って、シャッタ22及び24が開かれて
いる時には図3に示す様な十字光が出力されることとな
る。
【0026】この十字光は光強度変調手段3に於ける偏
向器31,32に送られるが、これらの偏向器31及び
32は両方が動作するのでは無く、P偏光シャッタ22
が動作してP偏光成分が阻止される時にはS偏向器32
のみが動作し、反対にS偏光シャッタ24が動作してS
偏光成分が阻止される時にはP偏向器31のみが動作す
る様になっている。
【0027】この偏向器31,32を含む光強度変調手
段の実施例が図4に示されており、この実施例では図を
簡略化するために偏向器(超音波偏向器)としてP偏向
器31又はS偏向器32のいずれか一方を示しており、
この超音波偏向器は発振周波数fm を有する発振器36
からの出力信号によりVCO(電圧制御発振器)35及
び増幅器34を経由して制御される様になっており、こ
の実施例では図示の様にX軸方向に走査振幅ms で走査
周波数fm が所望の値となる様にVCO35の入力電圧
の振幅と周波数とを制御することにより超音波偏向器3
1(32)はX軸方向に振幅ms 、周波数fm で正弦波
状に走査され、偏光ビームスプリッタ28からの十字光
の内の一方の楕円直線偏光成分を走査して光ビーム中心
までのX軸方向の位置ずれを検出しようとするものであ
る。
【0028】従って、X軸方向の位置ずれが、十字光中
のP偏光のみをシャッタ22から出力させP偏向器31
で偏向させることにより検出できると仮定すれば、Y軸
方向の位置ずれは十字光中のS偏光のみをシャッタ24
から出力させS偏向器32で偏向させることにより検出
されることとなる。
【0029】この様にして超音波偏向器31(32)及
び集光レンズ33を通過した光ビームは液晶マスク4に
送られるが、図4に示した液晶マスクの実施例は追尾モ
ード時の液晶マスクを示しており、この追尾モードの前
段階として実行される捕捉モード時の液晶マスク4に関
しては図5に示されており、この捕捉検出モードは本発
明の趣旨ではないため以下に簡単に説明する。
【0030】まず、液晶マスク4は図5(1) に示す様に
X軸パターンとY軸パターンとがあり、これらのマスク
パターンはM系列を用いて作成する。次数nとすると、
n −1のガロア体GF(2)の既約多項式(図5(2)
(a) 参照)から、一つの1次元パターンが決定される。
これを対応する座標軸上で1素子ごとに巡回移動させれ
は、その周期に等しい127通りの位置に対する最適な
差異をもつパターンが生成できる(図5(2) (b) 参
照)。
【0031】X軸方向のパターンを〔Wix〕で表せば、
その切り換えにより、 〔Iim〕=〔Wix〕×〔Iis〕 の光強度変調を受けることになる。ただし、i=1〜
N、入射光〔Iis〕=N×1、出射光〔Iim〕=N×
1、〔WiX〕=N×Nのマトリクスである。
【0032】また、〔Iim〕は光検出器5で検波すれば
求まるので、X軸上の入射光強度成分は、 〔Iis〕=〔Wix-1×〔Iim〕 となり、ビーム中心座標は、 i=(Σi×Iis)/ΣIisから算出できる。又、Y軸
方向も同様にして求めることが出来る。
【0033】この様にして従来と同様の捕捉検出モード
を実行した後、本発明の特徴である追尾モードに於ける
検出を行うが、この時の液晶マスク4の実施例が図4に
示されており、この実施例では液晶マスク4はY方向に
長方形になったスリット40を透明とし、斜線部分を不
透明とする様に液晶マスク駆動回路41及び42によっ
て駆動制御される様になっており、この長方形スリット
40は偏光ビームスプリッタ28からの十字光のうちの
選択されたP偏光成分又はS偏光成分の楕円直線偏光の
楕円方向に対応したものとなっている。
【0034】この様な液晶マスク4のパターンに於い
て、長方形スリット40の近傍で偏光ビームスプリッタ
28からの楕円直線偏光を超音波偏光器31(32)に
よりX軸方向に走査振幅ms 、走査周波数fm で正弦波
状に振らせたとすると、この時の長方形スリット40か
らの透過光強度は図6の関数で示される。
【0035】尚、追尾分解能を1μrad以下にするた
めには、捕捉検出時の分解能も考慮すると、ダイナミッ
クレンジ200:1が必要であり、液晶マスク4により
作成されるスリット幅を30μmとすれば、0.15μ
mのビーム位置検出分解能を必要とする。衛星移動速度
がほぼ0.2μrad/msであるから、偏向器31
(32)の走査周波数fm は1khz 以上であることが必
要である。
【0036】従ってスリット40の中心は光ビーム中心
とのX軸上(又はY軸上)の位置遍倚(オフセット量)
をdとした時、光ビームを上記の様に正弦波状に振らせ
る事によって同図に示す様に光空間変調を受けること
になる。そして、この透過光を光検出器5で検出し、演
算手段6で位置遍倚dを算出することとなる。
【0037】尚、図6に示した位置偏倚dはP偏光成分
又はS偏光成分によるX軸又はY軸上のずれを示したも
のであり、両偏光成分によるX軸成分及びY軸成分の両
方の位置偏倚dを求めることにより受信光の中心のずれ
が求められることとなる。
【0038】図7は演算手段6の実施例を示したもの
で、光検出器5で検出された検出信号はバンドパスフィ
ルタ61及び62に送られ、バンドパスフィルタ61の
出力信号は整流回路63とローパスフィルタ65とA/
D変換器67とを経てCPU69に送られると共に、バ
ンドパスフィルタ62の出力信号は同期検波回路64と
ローパスフィルタ66とA/D変換器68とを経てCP
U69に送られる様になっている。
【0039】そして、バンドパスフィルタ62は光検出
器5の出力信号の内の基本波成分の内の基本波成分のみ
を取り出し、バンドパスフィルタ62は2倍波を抽出す
る様に設定されており、但し基本波の場合には光ビーム
の正負符号が付いた位置遍倚が必要である為、同期検波
回路64が用いられ、且つこの同期検波回路が図4に示
した発振器36からの出力信号(周波数fm )の出力信
号により制御される様になっている。一方,2倍波の場
合には正負符号付信号は不要であるので、整流回路63
が用いられている。尚、ローパスフィルター65,66
は不要な雑音成分を除去する為のものであり、これらの
出力信号はA/D変換器67,68でディジタル信号に
変換されてCPU69で演算処理されることとなる。
【0040】この場合、上記の様に捜査振幅をms 、ス
リット40の中心とビーム中心との位置遍倚をdとすれ
ば、変調信号に関して次式が得られる。
【0041】
【数1】
【0042】即ち、A/D変換器67及び68から出力
されるV2fm 及びVf m が出力され、d≦ms の関係か
らVf m はdに比例し、V2fm は概ね平坦な特性となる
ので、これらの比V(d)=Vfm /V2fm を光ビーム
の遍倚信号とすれば、検出系全体の感度の時間的変動を
除去したX軸又はY軸上の位置ずれ検出信号が得られる
こととなる。
【0043】
【発明の効果】以上述べた様に本発明に係る光ビーム検
出方式によれば、受信したガスウビーム光を楕円直線偏
光に変換し、この楕円直線偏光を互いに直交する十字光
に変換すると共に一方及び他方の楕円直線偏光を順次選
択し一定振幅で周期的に捜査した後、追尾検出時にはそ
の光強度変調を受けた楕円直線偏光を液晶マスクに設け
た長方形スリットを通過させて光検出し、この検出した
信号の内の二つの成分の比を取る事により受信光のX軸
又はY軸上の位置遍倚を求める様に構成したので、検出
系を構成する偏向器や液晶マスクなどの主要光学素子を
X軸、Y軸それぞれに配列する必要が無く共用化させる
ことが出来ると共に液晶マスクにビーム位置検出の機能
を持たせた事になり、光ビーム制御の為の多検出器は不
要となる。
【0044】また、受信光を円形ビームから楕円ビーム
に変換しこれに合わせて液晶マスクを長方形スリット状
に構成するので検出軸方向の分離がよくなり位置検出感
度が高くなると言う利点が生ずる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光ビーム検出方式の原理構成ブロ
ック図である。
【図2】本発明に係る光ビーム検出方式の実施例を示し
たブロック図である。
【図3】本発明で用いられる十字光の像を示した図であ
る。
【図4】光強度変調手段及び液晶マスクの実施例(追尾
モード時)を示したブロック図である。
【図5】捕捉検出モードを説明する為の図である。
【図6】追尾モード時の光検出器の出力波形図である。
【図7】演算手段の実施例を示したブロック図である。
【符号の説明】 1 偏向変換手段 2 楕円偏光選択手段 3 光強度変調手段 4 液晶マスク 5 光検出器 6 演算手段 図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 受信したガウスビーム光を楕円状の直線
    偏光に変換する偏光変換手段(1) と、 該楕円直線偏光を互いに直交する十字光に変換すると共
    に該十字光の一方及び他方の楕円直線偏光を順次出力す
    る楕円偏光選択手段(2) と、 該楕円直線偏光を一定振幅で周期的に走査する光強度変
    調手段(3) と、 捕捉検出時には複数のマスクパターンを生成すると共に
    追尾検出時には該光強度変調を受けた楕円直線偏光を検
    出するように対応した長方形スリットを形成する液晶マ
    スク(4) と、 該液晶マスク(4) を通過した光信号を検出する光検出器
    (5) と、 該光検出器(5) で検出した信号の内の2つの成分の比を
    取ることにより該受信光の各X軸又はY軸の位置偏倚を
    求める演算手段(6) と、 を備えたことを特徴とする光ビーム検出方式。
  2. 【請求項2】 該楕円偏光選択手段(2) が、偏光ビーム
    スプリッタと、該偏光ビームスプリッタの一方の出力光
    であるP偏光成分を開閉する第1のシャッタと、該偏光
    ビームスプリッタの他方の出力光であるS偏光成分を開
    閉する第2のシャッタと、該第2のシャッタからの該S
    偏光成分を90°回転させるイメージローテータと、該
    イメージローテータからの該S偏光成分を元のS偏光位
    相に戻す2分の1波長板と、該第1のシャッタからの該
    P偏光成分と該2分の1波長板からのS偏光成分とを合
    成する偏光ビームスプリッタとを備えていることを特徴
    とした請求項1に記載の光ビーム検出方式。
  3. 【請求項3】 該第1及び第2のシャッタが該十字光の
    内の一方の楕円直線偏光を切替選択できるように制御さ
    れ、該液晶マスク(4) の長方形スリットが該楕円直線偏
    光に対応して変形できるようになっていることを特徴と
    した請求項2に記載の光ビーム検出方式。
  4. 【請求項4】 該光強度変調手段(3) が、該第1及び第
    2のシャッタの選択に合わせて超音波偏向器を一定周波
    数により走査制御し、該演算手段(6) が該検出信号を基
    本波成分と2倍波成分とに分離し、該基本波成分を該一
    定周波数により同期検波して第1の位置遍倚を求め、該
    2倍波成分を整流して第2の位置遍倚を求め、両位置遍
    倚の比から該受信光のX軸又はY軸位置遍倚を求めるこ
    とを特徴とした請求項1乃至3のいずれかに記載の光ビ
    ーム検出方式。
JP239192A 1992-01-09 1992-01-09 光ビーム検出方式 Withdrawn JPH05188127A (ja)

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