JPH05174410A

JPH05174410A - 光ヘッド用スライダー

Info

Publication number: JPH05174410A
Application number: JP3343434A
Authority: JP
Inventors: Masahiro Okumura; 雅弘奥村; Hidekazu Shigeyoshi; 秀和重吉; Mikio Yamauchi; 幹夫山内; Hiroo Ukita; 宏生浮田; Hiroshi Nakada; 宏中田
Original assignee: Kyocera Corp; Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Kyocera Corp; Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 1991-12-25
Filing date: 1991-12-25
Publication date: 1993-07-13
Anticipated expiration: 2014-07-26
Also published as: JP2922698B2

Abstract

(57)【要約】【構成】光ヘッド用スライダーを、気孔率０．３％以下
の窒化アルミニウム質セラミックスで形成し、ＡＢＳ面
のボイド占有率を０．３〜１．５％とする。【効果】半導体レーザから発せられる熱を逃がすことが
でき、かつ光ディスクとスライダ−の付着、接触による
ダメージの発生を抑えることが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置に組み
込まれる光ヘッド用スライダーに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、大容量の記憶媒体として光ディス
ク装置が用いられているが、このような光ディスク装置
（媒体可変型）のヘッド部の構造は図３に示すようにな
っていた。

【０００３】まず、半導体レーザ３７から発せられた光
は、コリメータレンズ３６により平行な光に変換され、
光アイソレータ３８を通り、対物レンズ３２で集光され
て光ディスク基板３１の記録層３０に達する。そして、
記録層３０で反射された光は、再び光アイソレータ３８
を通過する際に反射して光検出器３５に送られるように
なっていた。なお、上記光アイソレータ３８は、偏光ビ
ームスプリッタ３４とλ／４波長板３３からなり、入射
光と反射光を効率よく分離するものである。

【０００４】しかし、図３に示すような光ヘッドは、記
録層３０から対物レンズ３２までの距離が約２．５ｍｍ
あり、また光学部品、機構部品が数十個有るため、寸法
が大きく重いものであった。

【０００５】そこで、小形の光ヘッドとして、図４に示
す近接型光ヘッドが開発されている。これは、半導体レ
ーザ４２と光ディスク基板４１の記録面４０が複合共振
系を構成し、記録面４０の反射率の大小で半導体レーザ
４２をスイッチングさせ、その光出力を光検出器４３で
受光するというものである。そして、これらの半導体レ
ーザ４２と光検出器４３をスライダー（不図示）に取り
つけて、従来の磁気ヘッドと類似の構造としてある。な
お、この近接型光ヘッドでは、半導体レーザ４２の光ビ
ームは直近での広がりが小さいため、従来の磁気ヘッド
のように記録面４０との距離を１μｍ以下と小さくする
必要がなく、装置信頼性の高いものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、図４に示す
近接型光ヘッドにおいて、スライダーの材質として従来
の磁気ヘッドと同様のセラミックスを用いたのでは、熱
伝導率が低いため、半導体レーザ４２より発せられる熱
を逃がすことが困難であり、長時間使用時の発振安定性
が悪くなり、誤動作を生じる恐れがあるという問題点が
あった。

【０００７】また、光ディスクの場合、磁気ディスクに
見られるようなテクスチャ加工（溝加工）がされていな
いため、駆動開始時や終了時に光ヘッドを構成するスラ
イダーのＡＢＳ（ＡｉｒＢｅａｒｉｎｇＳｕｒｆａ
ｃｅ）面と光ディスクとの付着が発生し、光ディスクに
ダメージが発生するという問題があった。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記に鑑みて本発明は、
光ヘッド用スライダーを、気孔率が０．３％以下の窒化
アルミニウム質セラミックスで形成したものであり、さ
らにはＡＢＳ面のボイド占有率を０．３〜１．５％の範
囲としたものである。

【０００９】

【作用】本発明によれば、極めて熱伝導率の高い窒化ア
ルミニウム質セラミックスを用いたため放熱性に優れ、
半導体レーザの発振安定性を高められる。また、ＡＢＳ
面のボイド占有率を適度な範囲としてあるため、光ディ
スクに吸着することなく、ダメージを与えにくくするこ
とができる。

【００１０】

【実施例】以下、本発明実施例の光ヘッド用スライダー
を図によって説明する。

【００１１】図１に斜視図を示すように、本発明のスラ
イダー１０は窒化アルミニウム質セラミックスからなる
略直方体であり、端面に電極取り出し用のメタライズ層
１１を形成し、このメタライズ層１１上に半導体レーザ
および光検出器のチップ１２を取りつけてある。また、
スライダー１０の上面にはアーム（不図示）へ取付ける
ための凹部１３を備えている。さらに、図２に示すよう
に、スライダー１０の下面は、溝部２２、テーパ部２１
を備えたＡＢＳ面２０となっている。

【００１２】このスライダー１０を不図示のアームに取
りつけておいて、回転する光ディスク上の所定位置に移
動させれば、上記ＡＢＳ面２０の形状によってスライダ
ー１０は、光ディスクから浮上するようになる。そし
て、チップ１２によって光ビームを照射、検出すること
によって情報の読み出しを行うことができる。

【００１３】なお、上記スライダー１０を構成する窒化
アルミニウム質セラミックスとは、窒化アルミニウム
（ＡｌＮ）を主成分とし、焼結助剤としてＣａ、Ｙなど
の周期律表第２ａ族、３ａ族元素の酸化物、フッ化物等
を添加してなる原料を所定形状に成形し、焼成したもの
であり、熱伝導率が極めて高い焼結体である。そのた
め、本発明のスライダー１０は、半導体レーザに発生し
た熱を逃がしやすく、半導体レーザの性能を安定させる
ことができる。

【００１４】また、高い熱伝導率を維持するためには窒
化アルミニウム質セラミックスの気孔率が重要であり、
気孔率が０．３％より高いと熱伝導率が１５０Ｗ／ｍ・
Ｋより低くなり、放熱性が悪くなってしまう。したがっ
て、スライダー１０を構成する窒化アルミニウム質セラ
ミックスの気孔率は０．３％以下のものがよい。

【００１５】また、スライダー１０のＡＢＳ面２０は、
平坦度０．３μｍ以下の極めて平坦な面となっている
が、その表面には、気孔や結晶脱粒によるボイドが存在
する。そして、このボイド占有率が１．５％より高いと
光ディスクに傷をつけやすくなり、一方ボイド占有率が
０．３％より低いとスライダー１０が光ディスクに吸着
して傷を付けやすくなる。したがって、スライダー１０
のＡＢＳ面２０の表面のボイド占有率は０．３〜１．５
％がよく、好ましくは０．４〜１．２％がよい。

【００１６】なお、ここでボイド占有率とは、一定面積
中におけるボイド面積の占める割合のことであり、画像
処理装置によって測定することができる。また、上記気
孔率やボイド占有率は、窒化アルミニウム質セラミック
スの焼成条件によって、自由にコントロールすることが
できる。

【００１７】実験例１図１に示す光ヘッド用スライダーを試作した。本発明実
施例として、さまざまな気孔率を有する窒化アルミニウ
ム質セラミックスを用い、比較例として、ＳｉＣを主成
分とする炭化珪素質セラミックスやサファイヤ（単結晶
アルミナ）を用いた。それぞれについて、光ディスク装
置に組み込み、回転数３６００ｒｐｍにて連続再生動作
試験を行い、半導体レーザの発振安定性の確認を行っ
た。評価は半導体レーザの発振閾値電流が初期の値の
１．２倍になるまでの時間にて評価した。

【００１８】結果は表１に示すように、Ｎｏ．４、５の
ものでは、熱伝導率が低いことから放熱性が悪く、半導
体レーザの発振安定性が悪かった。また、Ｎｏ．３に示
すように、窒化アルミニウム質セラミックスを用いたも
のでも気孔率が０．３％より高いと、放熱性が悪く、半
導体レーザの発振安定性が悪かった。

【００１９】これらに対し、Ｎｏ．１、２の気孔率０．
３％以下の窒化アルミニウム質セラミックスを用いたも
のは、熱伝導率が高いことから放熱性に優れ、実用上満
足できる連続発振時間が得られた。

【００２０】

【表１】

【００２１】実験例２次に、上記と同じ材質を用いて、スライダー１０のＡＢ
Ｓ面２０のボイド占有率の異なるものを用意し、光ディ
スク装置に組み込んで、ＣＳＳ（ＣｏｎｔａｃｔＳｔａ
ｒｔ／Ｓｔｏｐ）テストを行った。評価としてＣＳＳ回
数１０，０００回後における光ディスク表面を顕微鏡で
観察し、傷のあるものを×、無いものを○とした。な
お、ボイド占有率は、画像処理装置（ルーゼックス）に
よって測定した。

【００２２】結果は表２に示すように、材質、気孔率に
係わらず、ＡＢＳ面のボイド占有率によって、光ディス
クに与える傷の有無が決定されることがわかる。そし
て、ボイド占有率が１．５％より大きいもの（Ｎｏ．３
〜５）は、光ディスクに傷が発生した。一方ボイド占有
率が０．３％より小さいもの（Ｎｏ．８、９）は、スラ
イダーが光ディスクに吸着しやすく、そのために傷が発
生した。

【００２３】これらに対し、ボイド占有率が０．３〜
１．５％のもの（Ｎｏ．１、２）は、適度にボイドが存
在するため、光ディスクと吸着することがなくダメージ
を与えにくくできることがわかる。

【００２４】

【表２】

【００２５】

【発明の効果】このように、本発明によれば、光ヘッド
用スライダーを、気孔率０．３％以下の窒化アルミニウ
ム質セラミックスで形成したことによって、半導体レー
ザから発生する熱を逃がすことができるため、半導体レ
ーザの発振安定性を高めることができ、長時間使用して
も誤動作などを生じる恐れがなくなる。またスライダー
のＡＢＳ面のボイド占有率を０．３〜１．５％とするこ
とによって、光ディスクとの付着、接触によるダメージ
の発生を抑えることができるなどの効果を奏することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明実施例に係る光ヘッド用スライダーを示
す斜視図である。

【図２】図１中のＡ矢視図である。

【図３】従来の光ヘッドを示す概略図である。

【図４】近接型の光ヘッドを示す概略図である。

【符号の説明】

１０・・スライダー１１・・メタライズ層１２・・チップ２０・・ＡＢＳ面２１・・テーパ部２２・・溝部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者山内幹夫東京都中央区八重洲２丁目３番14号京セラ株式会社東京八重洲事業所内 (72)発明者浮田宏生東京都千代田区内幸町１丁目１番６号日本電信電話株式会社内 (72)発明者中田宏東京都千代田区内幸町１丁目１番６号日本電信電話株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】気孔率が０．３％以下の窒化アルミニウム
質セラミックスで形成したことを特徴とする光ヘッド用
スライダー。