JPH05172875A - 電子素子測定装置 - Google Patents
電子素子測定装置Info
- Publication number
- JPH05172875A JPH05172875A JP35492091A JP35492091A JPH05172875A JP H05172875 A JPH05172875 A JP H05172875A JP 35492091 A JP35492091 A JP 35492091A JP 35492091 A JP35492091 A JP 35492091A JP H05172875 A JPH05172875 A JP H05172875A
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- Japan
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- terminal
- terminal pair
- pair
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Abstract
(57)【要約】
【目的】３端子対測定装置でも４端子対標準器を直接測
定できるようにした。 【構成】１つの端子対２８を追加した。
定できるようにした。 【構成】１つの端子対２８を追加した。
Description
【０００１】
【発明の技術分野】本発明は電子素子の測定装置に関
し、特に３端子対測定器の４端子対校正に関する。但し
本明細書で言う３端子対測定器とは、従来４端子測定器
と呼称されているものと基本動作は等価なもので、３つ
の端子対を用いて実現されている。
し、特に３端子対測定器の４端子対校正に関する。但し
本明細書で言う３端子対測定器とは、従来４端子測定器
と呼称されているものと基本動作は等価なもので、３つ
の端子対を用いて実現されている。
【０００２】
【従来技術とその問題点】従来技術における３端子対測
定では図１の測定装置１０において端子対１８を有しな
い。端子対１２、１４、１６、１８は一般に外被と芯線
を対とする同軸構造である。端子対１４、１６の外被同
志は接続されており、測定装置１０の回路グランドに接
続される。端子対１４、１６の芯線間の電圧が差動測定
される。信号源４０としては直流または交流電圧源４２
と電流計４４の直列接続を回路グランドに接地して用い
ることができる。もちろん電流源であってもよい。ケー
ブル２２、２４、２６も同軸構造であり、それらの一方
の端子はそれぞれ端子対１２、１４、１６に接続され、
他方の端子は被測定素子３０の端子３２、３４に接続さ
れる。被測定素子側でケーブル２２、２４の芯線は被測
定素子３０の一方の端子３２に接続され、ケーブル２２
の外被とケーブル２６の芯線とは被測定素子３０の他方
の端子３４に接続され、かつケーブル２４、２６の外被
は被測定素子３０にできるだけ隣接したところで互いに
接続される。
定では図１の測定装置１０において端子対１８を有しな
い。端子対１２、１４、１６、１８は一般に外被と芯線
を対とする同軸構造である。端子対１４、１６の外被同
志は接続されており、測定装置１０の回路グランドに接
続される。端子対１４、１６の芯線間の電圧が差動測定
される。信号源４０としては直流または交流電圧源４２
と電流計４４の直列接続を回路グランドに接地して用い
ることができる。もちろん電流源であってもよい。ケー
ブル２２、２４、２６も同軸構造であり、それらの一方
の端子はそれぞれ端子対１２、１４、１６に接続され、
他方の端子は被測定素子３０の端子３２、３４に接続さ
れる。被測定素子側でケーブル２２、２４の芯線は被測
定素子３０の一方の端子３２に接続され、ケーブル２２
の外被とケーブル２６の芯線とは被測定素子３０の他方
の端子３４に接続され、かつケーブル２４、２６の外被
は被測定素子３０にできるだけ隣接したところで互いに
接続される。
【０００３】測定装置１０の信号源４０は端子対１２の
芯線１２２と外被１２４に接続され、被測定素子３０に
信号電流を供給する。また、信号源４０は制御計算手段
６０に信号電流値を送信する。電圧測定手段５０は、一
般に差動電圧計として構成され、端子対１４、１６の芯
線１４２、１６２間の電圧を測定し、その測定値を制御
計算手段６０に送信する。
芯線１２２と外被１２４に接続され、被測定素子３０に
信号電流を供給する。また、信号源４０は制御計算手段
６０に信号電流値を送信する。電圧測定手段５０は、一
般に差動電圧計として構成され、端子対１４、１６の芯
線１４２、１６２間の電圧を測定し、その測定値を制御
計算手段６０に送信する。
【０００４】制御計算手段は計算機を含む構成が一般的
であるが、本発明に関連しては、前記信号電流値（Ｉ）
と測定電圧値（Ｖ）を受信し、それらから被測定電子素
子の複素インピーダンスＺ（＝Ｖ／Ｉ）等を求める機
能、既知の標準素子を用いて測定器の校正を行い、また
測定値の補正を行う機能等を有する。これら制御計算手
段６０の機能性能については周知であるので説明を省略
する。また端子対１２、１４、１６の芯線と外被はバラ
ンを形成するように磁性コア１２６、１４６、１６６が
それぞれ装荷される。このような測定方式は被測定電子
素子のインピーダンスが低い場合賞用される。
であるが、本発明に関連しては、前記信号電流値（Ｉ）
と測定電圧値（Ｖ）を受信し、それらから被測定電子素
子の複素インピーダンスＺ（＝Ｖ／Ｉ）等を求める機
能、既知の標準素子を用いて測定器の校正を行い、また
測定値の補正を行う機能等を有する。これら制御計算手
段６０の機能性能については周知であるので説明を省略
する。また端子対１２、１４、１６の芯線と外被はバラ
ンを形成するように磁性コア１２６、１４６、１６６が
それぞれ装荷される。このような測定方式は被測定電子
素子のインピーダンスが低い場合賞用される。
【０００５】さて、このような測定方式に対し、４端子
対測定方式として知られる電子素子の測定方式が広く普
及している。４端子対測定方式の測定器には例えば横河
・ヒューレット・パッカード株式会社から市販されてい
るＨＰ４２９２ＡＬＦインピーダンス・アナライザなど
多くの測定器が含まれる。それに従って４端子対測定器
の構成用標準器が整備されており、それらを３端子対測
定でも有効に利用すれば、標準器の種類を少くすること
が可能となる。それに伴って、標準器の開発が効率的に
なり、従ってより高度な標準器を開発することが容易と
なるので、測定器の高度化にも役立つ。それらの標準器
としては前記横河・ヒューレット・パッカード株式会社
から市販されているＨＰ１６３８０Ａ、ＨＰ１６３８０
Ｃ標準コンデンサ・セットやＨＰ１６０７４Ａ校正用Ｒ
−Ｌスタンダードがある。
対測定方式として知られる電子素子の測定方式が広く普
及している。４端子対測定方式の測定器には例えば横河
・ヒューレット・パッカード株式会社から市販されてい
るＨＰ４２９２ＡＬＦインピーダンス・アナライザなど
多くの測定器が含まれる。それに従って４端子対測定器
の構成用標準器が整備されており、それらを３端子対測
定でも有効に利用すれば、標準器の種類を少くすること
が可能となる。それに伴って、標準器の開発が効率的に
なり、従ってより高度な標準器を開発することが容易と
なるので、測定器の高度化にも役立つ。それらの標準器
としては前記横河・ヒューレット・パッカード株式会社
から市販されているＨＰ１６３８０Ａ、ＨＰ１６３８０
Ｃ標準コンデンサ・セットやＨＰ１６０７４Ａ校正用Ｒ
−Ｌスタンダードがある。
【０００６】４端子対標準器８０は図２に示すように、
４つの端子対８２、８４、８６、８８を有し、それらの
外被は一体化されており、その内部に標準素子９０を格
納している。端子対８２、８４の芯線は標準素子９０の
一方の端子９２に接続され、端子対８６、８８の芯線は
標準素子９０の他方の端子９４に接続される。また標準
器８０は絶縁体から成るケース１００に収納することも
よくおこなわれる。従来技術の３端子対測定器で４端子
対標準器９０を測定するには、３本の同軸ケーブルを用
意し、端子対１２、１４、１６と端子対８２、８４、８
６を接続し、端子対５８を短絡成端しなければならな
い。これは、一般に端子対１２、１４、１６や端子対８
２、８４、８６、８８がそれぞれ同一平面上に配置され
るのが普通であるからである。前述のように、従来の３
端子対測定装置で４端子対標準器を測定するのは大変面
倒であり、使用ケーブルによる校正精度の劣化もある。
４つの端子対８２、８４、８６、８８を有し、それらの
外被は一体化されており、その内部に標準素子９０を格
納している。端子対８２、８４の芯線は標準素子９０の
一方の端子９２に接続され、端子対８６、８８の芯線は
標準素子９０の他方の端子９４に接続される。また標準
器８０は絶縁体から成るケース１００に収納することも
よくおこなわれる。従来技術の３端子対測定器で４端子
対標準器９０を測定するには、３本の同軸ケーブルを用
意し、端子対１２、１４、１６と端子対８２、８４、８
６を接続し、端子対５８を短絡成端しなければならな
い。これは、一般に端子対１２、１４、１６や端子対８
２、８４、８６、８８がそれぞれ同一平面上に配置され
るのが普通であるからである。前述のように、従来の３
端子対測定装置で４端子対標準器を測定するのは大変面
倒であり、使用ケーブルによる校正精度の劣化もある。
【０００７】
【発明の目的】従って本発明の目的は３端子対測定装置
に短絡端子対を設け、上記の欠点を解消することにあ
る。
に短絡端子対を設け、上記の欠点を解消することにあ
る。
【０００８】
【発明の概要】前記目的を達成するため、測定装置に新
たに第４の端子対を設けて、４端子対標準器が直接測定
できるように配列した。
たに第４の端子対を設けて、４端子対標準器が直接測定
できるように配列した。
【０００９】
【発明の実施例】図１が本発明の一実施例の電子素子測
定装置１０であり、従来技術の３端子対測定装置に対し
て、新たに端子対２８が設けられている。端子対２８は
短絡端子対でその芯線と外被が短絡されている。本発明
の測定装置１０により、校正のため４端子対標準器８０
を測定するときは、端子対２２、２４、２６、２８がそ
れぞれの端子対８２、８４、８６、８８にそれぞれ接続
され、それらの外被同志、芯線同志が導通する。
定装置１０であり、従来技術の３端子対測定装置に対し
て、新たに端子対２８が設けられている。端子対２８は
短絡端子対でその芯線と外被が短絡されている。本発明
の測定装置１０により、校正のため４端子対標準器８０
を測定するときは、端子対２２、２４、２６、２８がそ
れぞれの端子対８２、８４、８６、８８にそれぞれ接続
され、それらの外被同志、芯線同志が導通する。
【００１０】測定時図１においてケーブル２２の外被と
端子３４を接続する配線を点“Ｘ”で切断して、ケーブ
ル２８と端子対１８とによって短絡する構成も考えられ
るが、該配線のインピーダンスが上昇し、電圧計５０に
コモンモードを生ずるので好ましくない。また外部磁界
による起電力の発生による電圧計の誤差を軽減するた
め、ケーブル２４、２６をツイストするなどは周知であ
る。
端子３４を接続する配線を点“Ｘ”で切断して、ケーブ
ル２８と端子対１８とによって短絡する構成も考えられ
るが、該配線のインピーダンスが上昇し、電圧計５０に
コモンモードを生ずるので好ましくない。また外部磁界
による起電力の発生による電圧計の誤差を軽減するた
め、ケーブル２４、２６をツイストするなどは周知であ
る。
【００１１】
【発明の効果】前記に詳述したように、本発明の実施に
より、３端子対測定装置の校正に４端子対標準器が直接
用いうるので、使用に便にる他標準器の種類を低減する
ことが可能となる。また、前記において被測定素子３０
は二端子素子としたが、一般に４端子素子としてもよ
い。例えば、変成器の場合ケーブル２２の芯線と外被間
に一次巻線を接続し、ケーブル２４、２６の芯線間に二
次巻線を接続すれば、相互インダクタンスが求められ
る。
より、３端子対測定装置の校正に４端子対標準器が直接
用いうるので、使用に便にる他標準器の種類を低減する
ことが可能となる。また、前記において被測定素子３０
は二端子素子としたが、一般に４端子素子としてもよ
い。例えば、変成器の場合ケーブル２２の芯線と外被間
に一次巻線を接続し、ケーブル２４、２６の芯線間に二
次巻線を接続すれば、相互インダクタンスが求められ
る。
【図１】本発明の一実施例の電子素子測定装置の概略回
路図である。
路図である。
【図２】４端子対標準器の概略回路図である。
１０：電子素子測定装置 ２２、２４、２６、２８：端子対 ４０：信号源 ５０：電圧測定装置 ６０：制御計算手段 ８０：４端子標準器 ９０：標準素子
Claims (2)
- 【請求項１】信号源が接続された第１の端子対と電圧計
が接続された第２、第３の端子対と短絡された端子対か
ら成る第４の端子対と前記信号源の出力電流値と前記電
圧計の測定電圧値とから被測定電子素子のインピーダン
スを決定する計算手段とを備えた電子素子測定装置。 - 【請求項２】前記被測定電子素子に４端子対標準素子を
用いて、前記決定の校正をおこなう機能を前記測定手段
に付加して成る請求項１記載の電子素子測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03354920A JP3102709B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | 電子素子測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03354920A JP3102709B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | 電子素子測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05172875A true JPH05172875A (ja) | 1993-07-13 |
| JP3102709B2 JP3102709B2 (ja) | 2000-10-23 |
Family
ID=18440799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03354920A Expired - Fee Related JP3102709B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | 電子素子測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3102709B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021149774A1 (ja) * | 2020-01-24 | 2021-07-29 | 株式会社デンソー | 電池測定装置 |
| JP2021117221A (ja) * | 2020-01-24 | 2021-08-10 | 株式会社デンソー | 電池測定装置 |
-
1991
- 1991-12-20 JP JP03354920A patent/JP3102709B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021149774A1 (ja) * | 2020-01-24 | 2021-07-29 | 株式会社デンソー | 電池測定装置 |
| JP2021117221A (ja) * | 2020-01-24 | 2021-08-10 | 株式会社デンソー | 電池測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3102709B2 (ja) | 2000-10-23 |
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