JPS6136366B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6136366B2 JPS6136366B2 JP53061618A JP6161878A JPS6136366B2 JP S6136366 B2 JPS6136366 B2 JP S6136366B2 JP 53061618 A JP53061618 A JP 53061618A JP 6161878 A JP6161878 A JP 6161878A JP S6136366 B2 JPS6136366 B2 JP S6136366B2
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- Japan
- Prior art keywords
- transformer
- bushing
- capacitor
- capacitance
- voltage
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Description
【発明の詳細な説明】
本考案はブツシング形計器用変圧器の調整方法
に関する。
に関する。
コンデンサブツシングの静電容量を用いたブツ
シング形計器用変圧器において、従来はコンデン
サブツシングと変圧器部分を組合わせて調整をし
ていた。すなわち第１図において、コンデンサブ
ツシング１の主コンデンサの静電容量C1と分圧
コンデンサの静電容量C2は既に定まつているた
め、これに変圧器部分を組合わせて回路電圧E1
を加え、所定の出力電圧E2が得られるように変
圧器２およびリアクトル３の調整を行なつてい
た。
シング形計器用変圧器において、従来はコンデン
サブツシングと変圧器部分を組合わせて調整をし
ていた。すなわち第１図において、コンデンサブ
ツシング１の主コンデンサの静電容量C1と分圧
コンデンサの静電容量C2は既に定まつているた
め、これに変圧器部分を組合わせて回路電圧E1
を加え、所定の出力電圧E2が得られるように変
圧器２およびリアクトル３の調整を行なつてい
た。
しかし、このように組合わせて調整するために
は、大形のコンデンサブツシングを試験装置のあ
る場所に運搬する必要があり、特にブツシングと
変圧器部分の製造者が異なる場合は運搬が一層困
難であり、運送中にブツシングが破損するような
おそれも生じる。
は、大形のコンデンサブツシングを試験装置のあ
る場所に運搬する必要があり、特にブツシングと
変圧器部分の製造者が異なる場合は運搬が一層困
難であり、運送中にブツシングが破損するような
おそれも生じる。
本発明はこの欠点を解消するためになされたも
ので、ブツシングと変圧器部分とを組合せること
なく、等価回路を用いて完全な調整が行なわれる
ようにしたものである。以下、その詳細を説明す
る。
ので、ブツシングと変圧器部分とを組合せること
なく、等価回路を用いて完全な調整が行なわれる
ようにしたものである。以下、その詳細を説明す
る。
第１図の回路をテブナンの定理を用いて変形す
ると、第２図に示すような等価回路が得られる。
ると、第２図に示すような等価回路が得られる。
ここで
ｅ＝E1・Ｃ１／Ｃ１＋Ｃ２ ……(1)
である。よつて、C1／（C1＋C2）なる分圧比が求
められば、上記(1)式よりｅが求められ、第２図の
等価回路を用いて変圧器２およびリアクトル３の
調整を行なうことができる。
められば、上記(1)式よりｅが求められ、第２図の
等価回路を用いて変圧器２およびリアクトル３の
調整を行なうことができる。
しかし、コンデンサブツシング１の静電容量は
一般にC1≪C2であり、実際にC1，C2を測定する
と、特にC1は小さいためその測定値には誤差が
大きく、正確な値を得ることは困難である。よつ
て、主コンデンサと分圧コンデンサの各静電容量
C1，C2を測定し、この実測値からC1／（C1＋
C2）を算出しても、正確な分圧値は求められな
い。
一般にC1≪C2であり、実際にC1，C2を測定する
と、特にC1は小さいためその測定値には誤差が
大きく、正確な値を得ることは困難である。よつ
て、主コンデンサと分圧コンデンサの各静電容量
C1，C2を測定し、この実測値からC1／（C1＋
C2）を算出しても、正確な分圧値は求められな
い。
本発明においてはこの点を考慮し、C1，C2の
個々の測定値からC1／（C1＋C2）を求める代り
に、これをコンデンサブツシング１の分圧比とし
て求め、この分圧比を用いて第２図に示した等価
回路によつて変圧器およびリアクトルの調整を行
なうものである。なお等価回路中に挿入するC1
＋C2にはコンデンサブツシングのC1，C2を測定
し、これに等しい容量のコンデンサを用いるが、
前述したようにC1≪C2であるため、C1の測定値
に多小の誤差があつても、C1＋C2には大きな誤
差は生じない。
個々の測定値からC1／（C1＋C2）を求める代り
に、これをコンデンサブツシング１の分圧比とし
て求め、この分圧比を用いて第２図に示した等価
回路によつて変圧器およびリアクトルの調整を行
なうものである。なお等価回路中に挿入するC1
＋C2にはコンデンサブツシングのC1，C2を測定
し、これに等しい容量のコンデンサを用いるが、
前述したようにC1≪C2であるため、C1の測定値
に多小の誤差があつても、C1＋C2には大きな誤
差は生じない。
次に、コンデンサブツシングの分圧比の測定方
法について説明する。
法について説明する。
コンデンサブツシング１は第３図の模式断面図
に示すように、中心導体１ａと分圧端子１ｂの間
に主コンデンサの静電容量C1が、分圧端子１ｂ
と接地端子１ｃの間に分圧コンデンサの静電容量
C2がそれぞれ形成されている。これを第４図に
示すように、シールド線４，５，６を用いてデケ
ード変圧器７，交流検流計８に接続し、交流電源
９より交流電流を加え、デケード変圧器７の摺動
子７ａの位置を調整して交流検流計８の振れが零
となるようにする。この場合、図示のようにシー
ルド線４，５，６の外被（シールド）と、デケー
ド変圧器７および交流検流計８のシールドとをデ
ケード変圧器７の摺動子７ａと交流検流計８の接
続線に接続すると共に接地する。
に示すように、中心導体１ａと分圧端子１ｂの間
に主コンデンサの静電容量C1が、分圧端子１ｂ
と接地端子１ｃの間に分圧コンデンサの静電容量
C2がそれぞれ形成されている。これを第４図に
示すように、シールド線４，５，６を用いてデケ
ード変圧器７，交流検流計８に接続し、交流電源
９より交流電流を加え、デケード変圧器７の摺動
子７ａの位置を調整して交流検流計８の振れが零
となるようにする。この場合、図示のようにシー
ルド線４，５，６の外被（シールド）と、デケー
ド変圧器７および交流検流計８のシールドとをデ
ケード変圧器７の摺動子７ａと交流検流計８の接
続線に接続すると共に接地する。
第５図は、この場合のシールド線の外被と心線
間の静電容量Ｃs1，Ｃs2，Ｃs3、およびシールド
線間の漂遊静電容量Ｃs4，Ｃs5を示し、さらに第
６図の各部の静電容量Ｃs1〜Ｃs3がデケード変圧
器７の巻線N1，N2および交流検流計８に並列に
加わつた状態を模式的に示す。
間の静電容量Ｃs1，Ｃs2，Ｃs3、およびシールド
線間の漂遊静電容量Ｃs4，Ｃs5を示し、さらに第
６図の各部の静電容量Ｃs1〜Ｃs3がデケード変圧
器７の巻線N1，N2および交流検流計８に並列に
加わつた状態を模式的に示す。
すなわち、デケード変圧器７の摺動子７ａの位
置を調整して交流検流計８の振れが零となつたと
きは図示のＡ，Ｂ点は互いに同電位で、かつ接地
電位となる。従つて、Ｃs2は図示のように交流検
流計８に並列接続されたことになり、その感度を
わずかに低下させる程度で、測定上の誤差にはな
らない。
置を調整して交流検流計８の振れが零となつたと
きは図示のＡ，Ｂ点は互いに同電位で、かつ接地
電位となる。従つて、Ｃs2は図示のように交流検
流計８に並列接続されたことになり、その感度を
わずかに低下させる程度で、測定上の誤差にはな
らない。
また、Ｃs1，Ｃs3はそれぞれ巻線N1，N2に並列
に加わるが、せいぜい数百PH程度であり、デケー
ド変圧器７の出力インピーダンスに比べて非常に
小さく、ほとんど測定上の誤差とはならない。
に加わるが、せいぜい数百PH程度であり、デケー
ド変圧器７の出力インピーダンスに比べて非常に
小さく、ほとんど測定上の誤差とはならない。
さらに、Ｃs4，Ｃs5は同一接地電位間の静電容
量であり、測定には影響しない。ただし、接続線
にシールド線を用いない場合はＣs4はC1に、Ｃs5
はC2にそれぞれ並列に加わり、分圧比に誤差を
生じることになる。すなわち、コンデンサブツシ
ングの静電容量C1は数百pF程度の小さいもので
あるため、Ｃs4が数pFないし数＋pF程度でも分
圧比に影響する。なおC2はC1に比べて１桁以上
大きいので、Ｃs5による影響は少ない。
量であり、測定には影響しない。ただし、接続線
にシールド線を用いない場合はＣs4はC1に、Ｃs5
はC2にそれぞれ並列に加わり、分圧比に誤差を
生じることになる。すなわち、コンデンサブツシ
ングの静電容量C1は数百pF程度の小さいもので
あるため、Ｃs4が数pFないし数＋pF程度でも分
圧比に影響する。なおC2はC1に比べて１桁以上
大きいので、Ｃs5による影響は少ない。
このようにして、交流検流計８の振れが零とな
つたときは C1：C2＝N1：N2 であり、デケード変圧器の巻回数N1，N2より Ｃ１／Ｃ１＋Ｃ２＝Ｎ１／Ｎ１＋Ｎ２ ……(2) として分圧比を算出することができる。
つたときは C1：C2＝N1：N2 であり、デケード変圧器の巻回数N1，N2より Ｃ１／Ｃ１＋Ｃ２＝Ｎ１／Ｎ１＋Ｎ２ ……(2) として分圧比を算出することができる。
次いで、前記(1)式に示したように、得られた分
圧比C1／（C1＋C2）に回路電圧E1を乗じて電圧ｅ
を求め、前記第２図の等価回路を用いて変圧器お
よびリアクトルの調整を行なうことができる。
圧比C1／（C1＋C2）に回路電圧E1を乗じて電圧ｅ
を求め、前記第２図の等価回路を用いて変圧器お
よびリアクトルの調整を行なうことができる。
このように、本発明においては、コンデンサブ
ツシングについて主コンデンサと分圧コンンデン
サの各静電容量C1，C2を測定すると共に分圧比
C1／（C1＋C2）を求めたのち、等価回路によつて
変圧器およびリアクトルの調整を行なうもので、
従来のように変圧器部分にコンデンサブツシング
を組合わせる必要はなく、容易に行なうことがで
きる。また、分圧比の測定に際しては接続線とし
てシールド線を用い、各部の接地を適当に行なう
ことによつて線間容量等が誤差に加わるおそれを
なくし、零位法によつて正確な測定を行なうこと
ができる。
ツシングについて主コンデンサと分圧コンンデン
サの各静電容量C1，C2を測定すると共に分圧比
C1／（C1＋C2）を求めたのち、等価回路によつて
変圧器およびリアクトルの調整を行なうもので、
従来のように変圧器部分にコンデンサブツシング
を組合わせる必要はなく、容易に行なうことがで
きる。また、分圧比の測定に際しては接続線とし
てシールド線を用い、各部の接地を適当に行なう
ことによつて線間容量等が誤差に加わるおそれを
なくし、零位法によつて正確な測定を行なうこと
ができる。
以上説明したように、本発明によりブツシング
形計器用変圧器の調整を容易かつ正確に行なうこ
とができ、その効果は大きいものである。
形計器用変圧器の調整を容易かつ正確に行なうこ
とができ、その効果は大きいものである。
なお、本発明はガスブツシング内に形成された
静電容量を用いて構成されたブツシング形計器用
変圧器にも適用できるのは勿論である。
静電容量を用いて構成されたブツシング形計器用
変圧器にも適用できるのは勿論である。
第１図はブツシング形計器用変圧器の原理的構
成を示す回路図、第２図はその等価回路図、第３
図はコンデンサブツシングの構成を示す模式断面
図、第４図はコンデンサブツシングの分圧比を測
定するための構成を示す回路図、第５図は第４図
において各部分に漂遊容量が付加される状態を示
す説明図、第６図は漂遊容量を回路に組入れて示
した模式回路図である。 １……コンデンサブツシング、２……変圧器、
３……リアクトル、４，５，６……シールド線、
７……デケード変圧器、８……交流検流計。
成を示す回路図、第２図はその等価回路図、第３
図はコンデンサブツシングの構成を示す模式断面
図、第４図はコンデンサブツシングの分圧比を測
定するための構成を示す回路図、第５図は第４図
において各部分に漂遊容量が付加される状態を示
す説明図、第６図は漂遊容量を回路に組入れて示
した模式回路図である。 １……コンデンサブツシング、２……変圧器、
３……リアクトル、４，５，６……シールド線、
７……デケード変圧器、８……交流検流計。
Claims (1)
- １ ブツシング内に形成された主コンデンサと分
圧コンデンサの互いに直列接続された静電容量を
用いてなるブツシング形計器用変圧器において、
上記互いに直列接続された静電容量にシールド線
を介して接続したデケード変圧器と、１端が上記
静電容量の直列接続点にシールド線を介して接続
され、他端が上記デケート変圧器の摺動子に接続
線を介して接続した交流検流計とを具備し、上記
接続線と各シールド線の外被およびデケード変圧
器のシールドを互いに接続し接地してなる回路に
より上記直列接続された静電容量による分圧比を
測定し、上記の分圧比に基づいて上記分圧コンデ
ンサに接続すべき変圧器とリアクトルの調整を行
なうことを特徴とするブツシング形計器用変圧器
の調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6161878A JPS54153231A (en) | 1978-05-25 | 1978-05-25 | Adjusting method of bushing type potential transformer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6161878A JPS54153231A (en) | 1978-05-25 | 1978-05-25 | Adjusting method of bushing type potential transformer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54153231A JPS54153231A (en) | 1979-12-03 |
| JPS6136366B2 true JPS6136366B2 (ja) | 1986-08-18 |
Family
ID=13176334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6161878A Granted JPS54153231A (en) | 1978-05-25 | 1978-05-25 | Adjusting method of bushing type potential transformer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54153231A (ja) |
-
1978
- 1978-05-25 JP JP6161878A patent/JPS54153231A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54153231A (en) | 1979-12-03 |
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