JPH05158575A - クロックスキュー観測システム - Google Patents

クロックスキュー観測システム

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Publication number
JPH05158575A
JPH05158575A JP3349086A JP34908691A JPH05158575A JP H05158575 A JPH05158575 A JP H05158575A JP 3349086 A JP3349086 A JP 3349086A JP 34908691 A JP34908691 A JP 34908691A JP H05158575 A JPH05158575 A JP H05158575A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
skew
clock skew
signal
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP3349086A
Other languages
English (en)
Inventor
Izuyuki Uehara
出之 上原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3349086A priority Critical patent/JPH05158575A/ja
Publication of JPH05158575A publication Critical patent/JPH05158575A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 クロックスキューの調整を容易ならしめる。 【構成】 遅延時間が調整可能なディレイライン8〜1
0を設ける。これらディレイラインを介してクロック発
振器11から分配されたクロック信号CLA、CLB、CLC
の論理レベルを排他的論理和回路30、31で比較す
る。この比較回路の比較出力クロックスキュー観測用コ
ネクタの端子32、33から導出する。 【効果】 1本のプローブで波形が観測でき、ディレイ
ラインの遅延時間を調整すれば、クロックスキューが容
易に調整できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明はクロックスキュー観測システムに
関し、特に同期式クロックで動作する処理装置における
クロックスキューの調整のための観測システムに関す
る。
【0002】
【従来技術】一般に、同期式クロックで動作する処理装
置では、1つの発振器から生成されたクロック信号を処
理装置内で共通に使用するのが普通である。従って1つ
の発振源から全ての回路に供給するため、処理装置が大
きくなればなる程、クロック信号の分配については、何
段もの分配バッファを通して供給されることになる。こ
のとき分配回路を同種のバッファで構成し、分配線長を
各々等しくしたとしてもバッファ素子間のばらつきや、
配線経路の特性差等により最終的に供給されるクロック
信号には、位相差が生じることになる。
【0003】また、処理装置の性能を向上するために
は、クロックサイクルを短くしなければならず、装置内
のクロック信号で動作する回路間の遅延時間は非常に厳
しくなってくる。
【0004】このため、最終的に供給されるクロック信
号の位相が異なると実質的な遅延時間にばらつきが生じ
ることになり回路設計がしずらいので、クロック信号を
独立に位相調整できるようにしておき、クロック信号の
位相差(クロックスキュー)の調整を行うのが一般的で
あった。
【0005】このクロックスキューの調整方法は従来、
最終的に供給されるクロック分配回路の出力に観測用の
タイプを予め立てておいたり、また観測用のコネクタを
設けておく等の手段によって各々の最終的に供給される
クロック信号をオシロスコープ等によって波形観測し、
目視で比較することによって調整する手法が採られてい
た。
【0006】しかし、上述した従来の手法では、1回の
スキュー調整について2本以上のクロック信号を入力せ
ねばならず、カード(基板)内でタップが立てられてい
る場合等は、観測用のプローブをカード内まで引回して
接続しなければならないという欠点があった。
【0007】また、各々の観測用プローブにも特性差が
あるためプローブ間のスキュー調整を予め行っておかね
ばならない。加えて観測ポイントが何ケ所もある場合を
考えると、クロックスキューの調整が大変煩雑で面倒で
あり、時間がかかるという欠点があった。
【0008】
【発明の目的】本発明は上述した従来の欠点を解決する
ためになされたものであり、その目的はクロックスキュ
ーの調整を容易ならしめるクロックスキュー観測システ
ムを提供することである。
【0009】
【発明の構成】本発明によるクロックスキュー観測シス
テムは、クロック発振器から夫々クロックスキュー調整
用遅延素子を介して分配された第1及び第2のクロック
信号のクロックスキューを観測するクロックスキュー観
測システムであって、前記第1及び第2のクロック信号
の論理レベルを比較する比較回路と、前記比較回路の比
較出力を導出するクロックスキュー観測用端子とを有す
ることを特徴とする。
【0010】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0011】図1は本発明によるクロックスキュー観測
システムの一実施例の構成を示すブロック図である。図
において、発振器11を含むクロック生成部はカード1
上に存在し、発振器11の出力信号CLK はクロック分配
バッファ15、16及び17に入力され各々の出力信号
CL10〜12はディレイライン(遅延素子)8、9及び10
に入力される。
【0012】ディレイライン8、9及び10は各々独立
に位相調整可能となっており、クロック信号CL10〜12を
遅らせたり、早めたりすることができる。これらディレ
イライン8、9、10の出力信号は、クロック分配バッ
ファ18、19、20に入力され、これらの出力信号CL
20、CL21、CL22は各々カード2、3、4に分配される。
【0013】カード2、3、4内ではクロック信号CL2
0、CL21、CL22が各々クロック分配バッファ21、2
2、23に入力されるとともに、それらの出力信号CL3
0、CL31、CL32がカード5、6、7に分配されている。
このカード5、6、7では最終段のクロック分配バッフ
ァ24、26、28にクロック信号CL30、CL31、CL32が
入力され、各々の出力信号CL40、CL41、CL42がフリップ
フロップ(F/F)12、13、14に入力されること
になる。
【0014】以上が本実施例のシステムのクロック信号
の分配経路である。
【0015】次に、本例におけるクロックスキューの調
整回路について説明する。
【0016】最終段のクロック分配バッファ24、2
6、28と同種のバッファで構成されたクロックバッフ
ァ25,27、29の入力信号として、クロック信号CL
30、CL31、CL32が、クロック分配バッファ24、26、
28への入力信号と並列に各々入力される。そして、各
々のクロックバッファ25、27、29の出力信号CL
A、CLB、CLCはカード1に送出される。
【0017】カード1では排他的論理和回路30、31
が存在する。各々の入力信号として、クロック信号CLA
及びCLB、クロック信号CLA及びCLCが入力される。排
他的論理和回路30、31の出力信号CLD、CLEはカー
ド1のコネクタの端子32、33に夫々導出される。
【0018】クロックスキューの調整はこれらコネクタ
の端子32、33の出力波形を観測することにより行わ
れる。
【0019】次にカード5と6との間のクロックスキュ
ーの調整方法について図2を参照して説明する。
【0020】まず、クロック信号CLAとCLBとのデュー
ティが同じで、スキューが0の場合は、図2(a)に示
されているように観測信号CLDは論理0レベルとして出
力される。
【0021】ここで、クロック信号CLAとCLBとのデュ
ーティが同じでスキューがある場合は、同図(b)に示
されているように論理1レベルの波形の山が観測信号CL
Dの1クロックサイクル内に3つ出力される。したがっ
て、このときは、出力が論理0レベルになるようにディ
レイライン8又は9を調整すれば良い。
【0022】また、クロック信号CLAとCLBとが途中の
バッファの特性等によりデューティが異なり、スキュー
が0の場合は、同図(c)に示されているように論理1
レベルの波形の山が観測信号CLDの1クロックサイクル
内に1つだけ出力される。
【0023】ここで、クロック信号CLAとCLBとのデュ
ーティが異なり、スキューがある場合は、同図(d)に
示されているように1レベルの波形の山が観測信号CLD
の1クロックサイクル内に3つ出力される。したがっ
て、このときは論理1レベルの波形の山が1クロックサ
イクル内に1つだけになるようにディレイライン8又は
9を調整すれば良い。
【0024】以上により、いずれの場合でも観測信号CL
Dの出力波形が論理0レベルかあるいは、論理1レベル
の波形の山が1つだけになるようにディレイライン8、
9と調整することによりクロックスキューを0にするこ
とができる。
【0025】カード5と7との間のクロックスキューに
ついても出力信号CLEを観測し、ディレイライン10を
調整することにより同様にスキュー調整ができる。
【0026】この結果、カード5、6及び7のフリップ
フロップ12、13及び14のスキュー調整ができるこ
とになる。
【0027】なお、観測ラインのスキューを小さくする
ために、バッファ24と25、バッファ26と27、バ
ッファ28と29を夫々同一チップ内のバッファで実現
することにより、よりスキューの誤差を小さくすること
ができる。また、同様にクロック観測信号CLD及びCL
E、クロック信号CLA、CLB及びCLCの配線長を等しく
することでスキューの誤差を小さくすることができる。
さらにまた、排他的論理和回路の代りに、コンパレータ
を利用した比較回路を用いても良いことは明らかであ
る。
【0028】つまり、本発明では論理レベルを比較する
回路を設け、さらにその比較結果を1つの端子に導出し
ているため、1本のプローブで波形が観測でき、クロッ
クスキューの調整が容易になるのである。クロック信号
がより多数に分配されている場合でも同様に調整でき
る。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、2ケ所の
クロックスキューを調整する場合でも1本のプローブに
よりスキュー調整が可能であり、また、3ケ所以上のス
キュー調整を行う場合でも1枚のカードを観測すれば良
く、スキュー調整の手間及び時間が大幅に削減されると
ともに、精度の高いスキュー調整が可能となるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例によるクロックスキュー観測シ
ステムの構成を示すブロック図である。
【図2】図1中の観測点における信号波形図である。
【符号の説明】
1〜 7 カード 8〜10 ディレイライン 11 発振器 12〜14 フリップフロップ 15〜20 バッファ 30,31 排他的論理和 32,33 端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロック発振器から夫々クロックスキュ
    ー調整用遅延素子を介して分配された第1及び第2のク
    ロック信号のクロックスキューを観測するクロックスキ
    ュー観測システムであって、前記第1及び第2のクロッ
    ク信号の論理レベルを比較する比較回路と、前記比較回
    路の比較出力を導出するクロックスキュー観測用端子と
    を有することを特徴とするクロックスキュー観測システ
    ム。
JP3349086A 1991-12-05 1991-12-05 クロックスキュー観測システム Pending JPH05158575A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3349086A JPH05158575A (ja) 1991-12-05 1991-12-05 クロックスキュー観測システム

Applications Claiming Priority (1)

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JP3349086A JPH05158575A (ja) 1991-12-05 1991-12-05 クロックスキュー観測システム

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JPH05158575A true JPH05158575A (ja) 1993-06-25

Family

ID=18401400

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JP3349086A Pending JPH05158575A (ja) 1991-12-05 1991-12-05 クロックスキュー観測システム

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JP (1) JPH05158575A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5442776A (en) * 1994-06-30 1995-08-15 International Business Machines, Corp. Electronically tuneable computer clocking system and method of electronically tuning distribution lines of a computer clocking system
JP2000089849A (ja) * 1998-09-09 2000-03-31 Nec Corp クロックスキュー調整回路および該調整回路を備えた大規模集積回路
WO2003036313A1 (fr) * 2001-10-25 2003-05-01 Advantest Corporation Appareil et procede de mesure de deplacement lateral d'horloge
JP2017220063A (ja) * 2016-06-08 2017-12-14 キヤノン株式会社 半導体集積回路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5442776A (en) * 1994-06-30 1995-08-15 International Business Machines, Corp. Electronically tuneable computer clocking system and method of electronically tuning distribution lines of a computer clocking system
JP2000089849A (ja) * 1998-09-09 2000-03-31 Nec Corp クロックスキュー調整回路および該調整回路を備えた大規模集積回路
WO2003036313A1 (fr) * 2001-10-25 2003-05-01 Advantest Corporation Appareil et procede de mesure de deplacement lateral d'horloge
US6737852B2 (en) 2001-10-25 2004-05-18 Advantest Corporation Clock skew measuring apparatus and method
JP2017220063A (ja) * 2016-06-08 2017-12-14 キヤノン株式会社 半導体集積回路

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