JPH0515091Y2 - - Google Patents
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- JPH0515091Y2 JPH0515091Y2 JP5004386U JP5004386U JPH0515091Y2 JP H0515091 Y2 JPH0515091 Y2 JP H0515091Y2 JP 5004386 U JP5004386 U JP 5004386U JP 5004386 U JP5004386 U JP 5004386U JP H0515091 Y2 JPH0515091 Y2 JP H0515091Y2
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- 239000000460 chlorine Substances 0.000 claims description 16
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
本考案は、遊離有効塩素を測定する無試薬形の
残留塩素計に係り、特にその検出精度を向上させ
た残留塩素計の改良に関する。
残留塩素計に係り、特にその検出精度を向上させ
た残留塩素計の改良に関する。
＜従来の技術＞
遊離有効塩素（HClO，ClO-）を含む被検水中
に微少電極の金からなる回転電極と比較的広面積
の銀からなる対極を入れ両電極間に外部から電圧
をかけると、遊離有効塩素は電解還元されて第２
図に示すようなポーラログラムを与える。
に微少電極の金からなる回転電極と比較的広面積
の銀からなる対極を入れ両電極間に外部から電圧
をかけると、遊離有効塩素は電解還元されて第２
図に示すようなポーラログラムを与える。
第２図に示すように加電圧を上げていくと電流
は増加するが、ある点に達すると加電圧を上げて
も電流値の変らないプラトー特性を示す。このプ
ラトー部分の電流は拡散電流Iiと呼ばれ、遊離有
効塩素の濃度に比例する。プラトー部分より加電
圧を増加すると結合形有効塩素（NH2Cl，
NHCl2等）に対応した電流となる。
は増加するが、ある点に達すると加電圧を上げて
も電流値の変らないプラトー特性を示す。このプ
ラトー部分の電流は拡散電流Iiと呼ばれ、遊離有
効塩素の濃度に比例する。プラトー部分より加電
圧を増加すると結合形有効塩素（NH2Cl，
NHCl2等）に対応した電流となる。
従つて、加電圧を適当に選定し濃度以外の条件
を一定にして拡散電流を測定することにより遊離
有効塩素の濃度を知ることができる。
を一定にして拡散電流を測定することにより遊離
有効塩素の濃度を知ることができる。
第３図はプラトー部を拡大して示した拡大図で
ある。図に示すように加電圧EDを一定としても
濃度に比例した拡散電流Iiとはならないが、拡散
電流に対して所定の勾配（−0.05μV／μA）を持
つ加電圧EDを印加させると点線で示したように
濃度と拡散電流とが比例する。
ある。図に示すように加電圧EDを一定としても
濃度に比例した拡散電流Iiとはならないが、拡散
電流に対して所定の勾配（−0.05μV／μA）を持
つ加電圧EDを印加させると点線で示したように
濃度と拡散電流とが比例する。
そこで、以上の点を考慮して構成した従来の残
留塩素計を第４図に示す。
留塩素計を第４図に示す。
液槽１０は流入槽１１、中間槽１２、測定槽１
３、流出槽１４、溢流槽１５などに分離されてい
る。被検液Qiは流入槽１１に取入れられオーバフ
ローした被検液Qiの一部の被検液Qpは溢流槽１
５から溢流されその他は中間槽１１を介して測定
槽１３の下部からガラスビーズ１６を通して測定
槽１３に流入される。測定槽１３には対極１７と
回転電極１８が挿入されており、更に回転電極１
８はガラスビーズ１６の中にも挿入され、これに
より回転電極１８が洗浄される。測定が終了され
た被検液Qi′は流出槽１４を介して放出される。
３、流出槽１４、溢流槽１５などに分離されてい
る。被検液Qiは流入槽１１に取入れられオーバフ
ローした被検液Qiの一部の被検液Qpは溢流槽１
５から溢流されその他は中間槽１１を介して測定
槽１３の下部からガラスビーズ１６を通して測定
槽１３に流入される。測定槽１３には対極１７と
回転電極１８が挿入されており、更に回転電極１
８はガラスビーズ１６の中にも挿入され、これに
より回転電極１８が洗浄される。測定が終了され
た被検液Qi′は流出槽１４を介して放出される。
回転電極１８と対極１７の間に流れる拡散電流
Iiは電流変換器１９に入力され、例えば出力電流
Ip（４〜20mA）に変換されて負荷RLに出力され
る。この出力電流Ipは遊離有効塩素の濃度に比例
した値となる。
Iiは電流変換器１９に入力され、例えば出力電流
Ip（４〜20mA）に変換されて負荷RLに出力され
る。この出力電流Ipは遊離有効塩素の濃度に比例
した値となる。
一方、拡散電流Iiは加電圧回路２０にも流され
共通電位点COMに対して拡散電流Iiに比例した加
電圧EDを対極１７に与える。加電圧回路２０は
電流／電圧変換回路として構成される。演算増幅
器Qlの反転入力端（−）と出力端の間には抵抗Rl
が接続され、この出力端と共通電位点COMとの
間にはポテンシヨメータRVが接続されている。
ポテンシヨメータRVの中点は演算増幅器Qlの非
反転入力端（＋）と接続され、これを調節するこ
とにより加電圧EDへの電圧変換率が決定される。
なお、抵抗Rlに並列に挿入されているツエナダイ
オードDZは加電圧EDが所定の範囲を越えないよ
うに防止するためのものである。
共通電位点COMに対して拡散電流Iiに比例した加
電圧EDを対極１７に与える。加電圧回路２０は
電流／電圧変換回路として構成される。演算増幅
器Qlの反転入力端（−）と出力端の間には抵抗Rl
が接続され、この出力端と共通電位点COMとの
間にはポテンシヨメータRVが接続されている。
ポテンシヨメータRVの中点は演算増幅器Qlの非
反転入力端（＋）と接続され、これを調節するこ
とにより加電圧EDへの電圧変換率が決定される。
なお、抵抗Rlに並列に挿入されているツエナダイ
オードDZは加電圧EDが所定の範囲を越えないよ
うに防止するためのものである。
以上の如くして第３図に点線で示すように加電
圧EDが拡散電流Iiに対応して変えられている。
圧EDが拡散電流Iiに対応して変えられている。
＜考案が解決しようとする問題点＞
しかしながら、この様な従来の残留塩素計は例
えば第５図のポーラログラムに示すように被検液
の導電率が低下するとプラトー領域が加電圧の低
い方向に移動するなど導電率の影響を受け、更に
第６図に示すように被検液のPHが変化すると指
示感度が変化するのでPH依存性の少ない範囲で
しか使えないという問題がある。
えば第５図のポーラログラムに示すように被検液
の導電率が低下するとプラトー領域が加電圧の低
い方向に移動するなど導電率の影響を受け、更に
第６図に示すように被検液のPHが変化すると指
示感度が変化するのでPH依存性の少ない範囲で
しか使えないという問題がある。
＜問題点を解決するための手段＞
この考案は以上の問題点を解決するため、被検
液に浸漬された回転電極と対極間に流れる拡散電
流に加電圧を印加する電圧印加手段と、被検液に
浸漬された導電率センサからの導電率信号が入力
されあらかじめ決められた加電圧対導電率曲線群
のプラトーの中心に加電圧の固定値と補償率とが
来るように加電圧の設定をする電圧設定手段と、
PH値と拡散電流値に対応した補正濃度表を有し
被検液に浸漬されたPHセンサからのPH信号と
拡散電流とが入力され補正濃度表を用いて濃度補
正をする補正演算手段とを具備するようにしたも
のである。
液に浸漬された回転電極と対極間に流れる拡散電
流に加電圧を印加する電圧印加手段と、被検液に
浸漬された導電率センサからの導電率信号が入力
されあらかじめ決められた加電圧対導電率曲線群
のプラトーの中心に加電圧の固定値と補償率とが
来るように加電圧の設定をする電圧設定手段と、
PH値と拡散電流値に対応した補正濃度表を有し
被検液に浸漬されたPHセンサからのPH信号と
拡散電流とが入力され補正濃度表を用いて濃度補
正をする補正演算手段とを具備するようにしたも
のである。
＜作用＞
加電圧を導電率センサからの導電率信号によつ
て変更し最適の固定値と補償率となるように設定
し、更に被検液のPH値に対しても補正するよう
にして残留塩素を正しく測定できるようにする。
て変更し最適の固定値と補償率となるように設定
し、更に被検液のPH値に対しても補正するよう
にして残留塩素を正しく測定できるようにする。
＜実施例＞
以下、本考案の実施例について図面に基づき説
明する。第１図は本考案の一実施例を示す構成図
である。尚、従来技術と同一の機能を有する部分
には同一の符号を付し適宜にその説明を省略す
る。
明する。第１図は本考案の一実施例を示す構成図
である。尚、従来技術と同一の機能を有する部分
には同一の符号を付し適宜にその説明を省略す
る。
被検液Qfの流入槽１１にはPHセンサ２１と導
電率センサ２２とが浸漬されている。導電率回路
２３は導電率センサ２２からの信号を受け被検液
Qfの導電率に対応した導電率信号VCに変換する。
電率センサ２２とが浸漬されている。導電率回路
２３は導電率センサ２２からの信号を受け被検液
Qfの導電率に対応した導電率信号VCに変換する。
２４は電圧設定回路であり、各種導電率に対し
て対極１７に印加すべき加電圧の固定値Ebと補
償率Ｒが設定されており、導電率回路２３からの
導電率信号VCが入力され、対応する加電圧ED1を
出力する。固定値Ebと補償率Ｒは、例えば第５
図に示すように導電率によつてそのプラトー領域
が変化するので、導電率にかかわらずプラトー領
域の中心に加電圧Ebが来るような固定値Ebと補
償率Ｒが入力された導電率信号VCによつて選択
される。
て対極１７に印加すべき加電圧の固定値Ebと補
償率Ｒが設定されており、導電率回路２３からの
導電率信号VCが入力され、対応する加電圧ED1を
出力する。固定値Ebと補償率Ｒは、例えば第５
図に示すように導電率によつてそのプラトー領域
が変化するので、導電率にかかわらずプラトー領
域の中心に加電圧Ebが来るような固定値Ebと補
償率Ｒが入力された導電率信号VCによつて選択
される。
電圧設定回路２４で設定された加電圧ED1は電
圧印加手段としてのボルテージフオロワー２５を
介してインピーダンス変換され対極１７に印加さ
れる。
圧印加手段としてのボルテージフオロワー２５を
介してインピーダンス変換され対極１７に印加さ
れる。
対極１７と回転電極１８との間に流れる拡散電
流Iiは電流／電圧変換器２６で電圧信号Viに変換
され、補正演算回路２７の入力の一端に印加され
る。補正演算回路２７の入力の他端にはPHセン
サ２１からPH信号VPが入力される。
流Iiは電流／電圧変換器２６で電圧信号Viに変換
され、補正演算回路２７の入力の一端に印加され
る。補正演算回路２７の入力の他端にはPHセン
サ２１からPH信号VPが入力される。
補正演算回路２７は例えば第６図において指示
値Ipを拡散電流Iiで置き換えたようなPH値と拡散
電流値に対応した補正濃度表を有しており、入力
された拡散電流IiとPH信号VPに対応してPH補正
を行ない出力端２８に濃度信号Ip1を出力する。
値Ipを拡散電流Iiで置き換えたようなPH値と拡散
電流値に対応した補正濃度表を有しており、入力
された拡散電流IiとPH信号VPに対応してPH補正
を行ない出力端２８に濃度信号Ip1を出力する。
なお、以上の説明では電圧設定回路２４および
補正演算回路２７はアナログ回路を前提として説
明したが、これ等はマイクロコンピユータを用い
たデジタル処理をすることもできる。
補正演算回路２７はアナログ回路を前提として説
明したが、これ等はマイクロコンピユータを用い
たデジタル処理をすることもできる。
＜考案の効果＞
以上、実施例と共に具体的に説明した様に本考
案によれば、PH値と導電率に対する補正をした
濃度信号を出力するようにしたので、残塩を正確
に測定することができ、更にPHの広い範囲にも
応用できる。
案によれば、PH値と導電率に対する補正をした
濃度信号を出力するようにしたので、残塩を正確
に測定することができ、更にPHの広い範囲にも
応用できる。
第１図は本考案の一実施例を示す構成図、第２
図は加電圧対電流の特性を示す特性図、第３図は
第２図におけるプラトー部を拡大して示した拡大
図、第４図は従来の残留塩素計の構成を示す構成
図、第５図は導電率の影響を示す特性図、第６図
PHの影響を示す特性図である。 １０……液槽、１３……測定槽、１７……対
極、１８……回転電極、１９……電流変換器、２
０……加電圧回路、２１……PHセンサ、２２…
…導電率センサ、２３……導電率回路、２４……
電圧設定回路、２７……補正演算回路。
図は加電圧対電流の特性を示す特性図、第３図は
第２図におけるプラトー部を拡大して示した拡大
図、第４図は従来の残留塩素計の構成を示す構成
図、第５図は導電率の影響を示す特性図、第６図
PHの影響を示す特性図である。 １０……液槽、１３……測定槽、１７……対
極、１８……回転電極、１９……電流変換器、２
０……加電圧回路、２１……PHセンサ、２２…
…導電率センサ、２３……導電率回路、２４……
電圧設定回路、２７……補正演算回路。
Claims (1)
- 被検液に浸漬された回転電極と対極間に流れる
拡散電流に加電圧を印加する電圧印加手段と、前
記被検液に浸漬された導電率センサからの導電率
信号が入力されあらかじめ決められた加電圧対導
電率曲線群のプラトーの中心に前記加電圧の固定
値と補償率とが来るように加電圧の設定をする電
圧設定手段と、PH値と拡散電流値に対応した補
正濃度表を有し前記被検液に浸漬されたPHセン
サからのPH信号と前記拡散電流とが入力され前
記補正濃度表を用いて濃度補正をする補正演算手
段とを具備することを特徴とする残留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5004386U JPH0515091Y2 (ja) | 1986-04-03 | 1986-04-03 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5004386U JPH0515091Y2 (ja) | 1986-04-03 | 1986-04-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62162662U JPS62162662U (ja) | 1987-10-16 |
| JPH0515091Y2 true JPH0515091Y2 (ja) | 1993-04-21 |
Family
ID=30873034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5004386U Expired - Lifetime JPH0515091Y2 (ja) | 1986-04-03 | 1986-04-03 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0515091Y2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2596034Y2 (ja) * | 1991-09-30 | 1999-06-07 | 横河電機株式会社 | 残留塩素計 |
| JP2586983Y2 (ja) * | 1991-11-14 | 1998-12-14 | 横河電機株式会社 | 結合型有効塩素対策形無試薬形遊離塩素計 |
| JP4463405B2 (ja) * | 2000-09-20 | 2010-05-19 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 酸化還元電流測定装置のセンサ及び酸化還元電流測定装置 |
| JP4530203B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2010-08-25 | 株式会社タニタ | 酸化還元電位計 |
| JP4530205B2 (ja) * | 2004-06-23 | 2010-08-25 | 株式会社タニタ | ポーラログラフ式濃度計 |
| JP5305021B2 (ja) * | 2009-01-16 | 2013-10-02 | 横河電機株式会社 | 残留塩素計 |
| JP7093005B2 (ja) * | 2018-06-29 | 2022-06-29 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 無試薬式全有効塩素測定装置とその校正方法および無試薬式全有効塩素測定方法 |
-
1986
- 1986-04-03 JP JP5004386U patent/JPH0515091Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62162662U (ja) | 1987-10-16 |
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