JPH05150458A - 支持体の上に構造を写真平板的に製造するための方法 - Google Patents

支持体の上に構造を写真平板的に製造するための方法

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JPH05150458A
JPH05150458A JP3298081A JP29808191A JPH05150458A JP H05150458 A JPH05150458 A JP H05150458A JP 3298081 A JP3298081 A JP 3298081A JP 29808191 A JP29808191 A JP 29808191A JP H05150458 A JPH05150458 A JP H05150458A
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JP
Japan
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exposure
support
exposed
cover film
executed
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Pending
Application number
JP3298081A
Other languages
English (en)
Inventor
Rainer Wieland
ライナー・ヴアイラント
Wilfried Houben
ヴイルフリート・ホウベン
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Vodafone GmbH
Original Assignee
Mannesmann AG
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/38Treatment before imagewise removal, e.g. prebaking

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
  • Ink Jet (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明の課題は、構造の側縁の急峻性を高く
することにある。この課題は、意図する構造形成に対応
するドライレジストフィルムを有する支持体が短時間に
わたり露光され、次いで支持体が迅速に加熱されること
により解決される。 【構成】 本発明は、支持体がドライレジストフィルム
を有する、例えばインキジェットプリンタのインキジェ
ットヘッドにおいてインキ供給チャネルの構造を製造す
るためのある支持体の上に構造を写真平板的に製造する
方法に関する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、支持体がドライレジス
トフィルムを有する、例えばインキジェットプリンタの
インキジェットヘッドにおいてインキ供給チャネルの構
造を製造するためのある支持体の上に構造を写真平板的
に製造する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】基板等の支持体の上に構造を製造するこ
とは、特にインキ印字ヘッドの場合のようにできるだけ
小さくするためにチャネル又はチャネルの間に位置する
ウェブが密に隣接している場合には高い精度を必要とす
る。構造の製造はスクリーン印刷技術又はエッチング技
術により行われることが可能である。しかしこれによ
り、所要の高い精度が常に保証されるわけではない。特
に、高い分解能を得るために、意図する構造の側縁が非
常に急峻である場合には保証されない。
【0003】支持体の上に構造を製造するための方法と
して写真平板的方法も公知である。この方法では、ドラ
イレジストフィルムを有する支持体が設けられ、ドライ
レジストフィルムにおける、現像後に隆起部となる個
所、すなわちインキ印字ヘッドにおいてはインキチャネ
ルの間の残存領域を形成する個所が露光される。ドライ
レジストフィルムにおける露光されない領域は粘性の塊
であり、この塊は通常は保護用カバーフィルムで被覆さ
れている。このような構造体を露光すると、保護用カバ
ーフィルムにより光の一部が偏向され、従って現像後に
形成される側縁は支持体の表面に対してただ近似的に垂
直にすぎない。これに対する改善は保護用カバーフィル
ムを除去しておくと得られる。何故ならばこの場合には
光の散乱が僅かであるからである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】構造の側縁の急峻性を
再度改善することが可能であるように前記の構造体すな
わちレジストが装着されている支持体を処理することに
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記課題は本発明によ
り、意図する構造形成に対応するドライレジストフィル
ムを有する支持体が短時間にわたり露光され、次いで支
持体が迅速に加熱されることにより解決される。
【0006】短時間の露光と迅速な加熱とにより、後に
形成される側縁が凹状になることが回避され、これによ
り急峻な側縁が得られる。ほぼ垂直な側縁は、露光が、
フィルタリングされた光により行われることにより得ら
れる。この場合、光の波長はドライレジストのスペクト
ル感度に整合される。露光後約60秒経過してからウェ
ーハが約80−150°Cにまで約20から6秒の間に
わたり加熱されると好適であることが分かった。この場
合、ドライレジストフィルムの厚さは約50μmであ
る。更に、赤外線照射又は熱板により加熱が行われると
好適であることが分かった。
【0007】ドライレジストフィルムは基本的に保護用
カバーフィルムを有する。レジストは、露光されていな
い状態では粘性を有するので、保護用カバーフィルムは
非常に強力にレジストに付着する。その結果、カバーフ
ィルムを剥がす際に、露光されないレジストの端縁領域
が持ち上げられる。これは当然望ましいことではない。
改善は、ウェーハが露光前に保護用カバーフィルムを装
着されていることと、ウェーハの端縁領域が使用面を除
いて事前露光されることと、次いで保護用カバーフィル
ムが剥がされることにより得られる。ドライレジストフ
ィルムの表面から露光装置までの間隔を正確に調整する
ために、端縁の露光の他に端縁領域の中の選択されてい
る点が露光されると好適である。これらの点は、露光装
置のための載置点として用いられる。
【0008】
【実施例】それぞれのステップを示す図1から図7は、
片側にドライレジストフィルム2及び保護用カバーフィ
ルム3を有するシリコン基板1を示す。図3にはマスク
5を有する露光装置4が示されている。図3のステップ
では端縁領域が露光される。この露光のステップに続く
図4のステップでは保護用カバーフィルムの剥がされ
る。次のステップではインキチャネルが実際に製造され
る。インキチャネルを製造するために、図5に示されて
いるこのステップで露光装置6及びマスク7による別の
露光が行われる。このステップに図6のステップが続
く。このステップでは赤外線照射装置8による加熱が行
われる。これに続く図7のステップでは現像が行われ
る。現像後には、露光された領域は残り、露光されなか
った領域は洗い落とされる。次いで、現像残留物を除去
するために反応性イオンエッチングによる事後洗浄を行
うことも可能である。
【0009】図8及び図9は、従来の技術による構造の
製造を示す。ドライレジストフィルム10及び保護用カ
バーフィルム11を有する基板12は、マスク13を有
する露光装置を介して露光される。光線の走行は矢印に
より示されている。結果として、図9のチャネル構造が
得られる。側縁は凹状で丸みを帯びて形成され、従って
平均約80μmのチャネル幅が得られる。図10におい
て、保護用カバーフィルムが露光の前にインキチャネル
構造形成のために除去される。これにより、レジスト1
0に当たる光は偏向されず、従って図11の構造が得ら
れる。平均のチャネル幅は約60μmである。側縁は図
8及び図9の場合より直線状である。
【0010】本発明により短時間の露光と、これに続く
迅速な加熱が行われる場合には図12の構造が得られ
る。図13のほぼ垂直の側縁は、露光がフィルタにより
行われると得られる。この場合に平均のチャネル幅は僅
か30μmである。図14にはウェーハが示されてい
る。このウェーハの端縁領域14は事前露光されてい
る。この図は、前述の図5に対応する。端縁領域の露光
により、レジストを変形せずに保護用カバーフィルムを
簡単に剥がすことが可能になる。端縁領域14の中に
は、多数の基板15から成るウェーハの使用面がある。
端縁を露光すると同時に点16、17、18が露光され
る。これらの点は、露光装置の載置台を形成する。露光
装置の近接ボールは載置台に密接している。これらの点
は露光後に端縁領域と同様に硬質であるので、ウェーハ
と露光装置との間の平面的補償が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】インキジェットプリンタにおけるインキチャネ
ルの写真平板的製造の原理図である。
【図2】インキジェットプリンタにおけるインキチャネ
ルの写真平板的製造の原理図である。
【図3】インキジェットプリンタにおけるインキチャネ
ルの写真平板的製造の原理図である。
【図4】インキジェットプリンタにおけるインキチャネ
ルの写真平板的製造の原理図である。
【図5】インキジェットプリンタにおけるインキチャネ
ルの写真平板的製造の原理図である。
【図6】インキジェットプリンタにおけるインキチャネ
ルの写真平板的製造の原理図である。
【図7】インキジェットプリンタにおけるインキチャネ
ルの写真平板的製造の原理図である。
【図8】1つの方法でのインキチャネルの構造形成の原
理図である。
【図9】別の1つの方法でのインキチャネルの構造形成
の原理図である。
【図10】別の1つの方法でのインキチャネルの構造形
成の原理図である。
【図11】別の1つの方法でのインキチャネルの構造形
成の原理図である。
【図12】別の1つの方法でのインキチャネルの構造形
成の原理図である。
【図13】別の1つの方法でのインキチャネルの構造形
成の原理図である。
【図14】端縁の露光の原理図である。
【符号の説明】
1 シリコン基板 2 ドライレジストフィルム 3 保護用カバーフィルム 4 露光装置 5 マスク 6 露光装置 7 マスク 8 露光された領域 10 ドライレジストフィルム 11 保護用カバーフィルム 12 基板 13 マスク 14 端縁領域 15 基板 16、17、18 点

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 支持体がドライレジストフィルムを有す
    る、例えばインキジェットプリンタのインキジェットヘ
    ッドにおいてインキ供給チャネルの構造を製造するため
    である支持体の上に構造を写真平板的に製造する方法に
    おいて、意図する構造形成に対応するドライレジストフ
    ィルムを有する支持体が短時間にわたり露光され、次い
    で支持体が迅速に加熱されることを特徴とする支持体の
    上に構造を写真平板的に製 する方法。
  2. 【請求項2】 露光が、フィルタリングされた光により
    行われることを特徴とする請求項1に記載の支持体の上
    に構造を写真平板的に製造する方法。
  3. 【請求項3】 露光後約60秒経過してからウェーハが
    約80−150°Cにまで約20から6秒の間にわたり
    加熱されることを特徴とする請求項1に記載の支持体の
    上に構造を写真平板的に製造する方法。
  4. 【請求項4】 赤外線照射又は熱板により加熱が行われ
    ることを特徴とする請求項3に記載の支持体の上に構造
    を写真平板的に製造する方法。
  5. 【請求項5】 ウェーハが露光前に保護用カバーフィル
    ムを装着されていることと、ウェーハの端縁領域が使用
    面を除いて事前露光されることと、次いで保護用カバー
    フィルムが剥がされることを特徴とする請求項1に記載
    の支持体の上に構造を写真平板的に製造する方法。
  6. 【請求項6】 端縁の露光の他に端縁領域の中の選択さ
    れている点が露光されることを特徴とする請求項5に記
    載の支持体の上に構造を写真平板的に製造する方法。
JP3298081A 1990-10-19 1991-10-18 支持体の上に構造を写真平板的に製造するための方法 Pending JPH05150458A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4033294A DE4033294A1 (de) 1990-10-19 1990-10-19 Verfahren zur fotolithographischen herstellung von strukturen auf einem traeger
DE4033294.2 1990-10-19

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JPH05150458A true JPH05150458A (ja) 1993-06-18

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ID=6416668

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DE4033294A1 (de) 1992-04-23
US5302495A (en) 1994-04-12

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