JPH0514947U - 高圧プローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 二重のスイッチ手段とテストピン露出手段と
の３つの安全にかかわる手段を一体の絶縁体の外筐に組
込み、両手を使い、その結果無理のない操作ができて安
全で、しかも使い勝手の良い高圧プローブを提供するも
のである。 【構成】 テストピン４を露出可能に収容するテストピ
ンカバー部３と、テストピン４を露出・収容自在に案内
する部材５と、テストピン用の復帰ばね７と、テストピ
ンカバー部３と一体の絶縁材料で形成された把持部８
と、案内部材５を介してテストピン４を操作する操作レ
バー１０と、操作レバー１０に関連して設けられる第１
スイッチ手段１２と、第１スイッチ手段１２とは直列
で、外部から別個に操作可能な第２スイッチ手段１５と
を具備した高圧プローブ。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、高圧プローブに関し、詳しくは、電気製品等における絶縁体の耐電 圧値を測定するために耐圧試験器に附属して使用される高圧プローブに関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、家電用等の電気製品等においては、特にその筐体を構成している金属部 の表面と電源トランス等に接続される入力ラインとの間に十分な絶縁性が保たれ ているか否かを示す耐電圧値を安全性確保のために試験することが義務付けされ ており、かかる試験のために高電圧を発生する耐圧試験器に接続されて人手によ り保持され、耐電圧値の測定に携わるものとして高圧測定用のプローブが知られ ている。

【０００３】 なお、かかる耐電圧値は各国ごとに安全規格として定められているが、いずれ にせよ、耐圧試験器では数ＫＶという高電圧が発生する。そこで、このような高 電圧を印加するために人手によって保持される高圧プローブとしては、操作者に 感電等の事故が発生する危険のないようにする必要があり、安全操作が保証され るような構造が要求されている。また、イギリス等では家電製品に２４０Ｖとい った高い電源電圧が使用されるので、その電源入力ラインと筐体表面部との間に は高度の耐電圧特性を有する構造が求められており、かかる耐電圧性の確認のた めに使用される高圧プローブでは特に一層の安全性が確保されなければならぬ。

【０００４】 図４は、このような用途に使用されてきた従来の高圧プローブの一例を示す。 ここで、１００はその高圧プローブ、１０１は高圧プローブ１００のホルダ部、 １０２はホルダ部１０１に取付けられ、内部にテストピン１０３を格納・露出自 在に保持するテストピンカバー部、１０４はテストピンカバー部１０２の外部に 取付けられた引金部である。なお、ホルダ部１０１およびテストピンカバー部１ ０２，引金部１０４等は絶縁体で形成されると共に、テストピン１０３にはコー ド１０５が電気的に接続されていて、このコード１０５はホルダ部１０１内を経 て外部に導かれ、その端部にはテストピン１０３と不図示の耐圧試験器との間の オン・オフを制御するための作動スイッチ１０６が設けられている。

【０００５】 このように構成された高圧プローブ１００では、その作動スイッチ１０６がプ ローブ本体とは別に設けられていて、取扱者は高圧プローブ１００のホルダ部１ ０１を把持した状態で指先を引金部１０４にかけ、不図示のばねに抗してテスト ピンカバー部１０２を矢印Ａ方向に引くことによりテストピン１０３をテストピ ンカバー部１０２の先端部から露出させることができる。そこでこの状態でテス トの対象となる家電機器の検査部分にピン１０３を接続させた上、他方の手なり 足先なりで作動スイッチ１０６を矢印Ｂ方向に操作して“オン”となしテスト回 路をクローズとすることで不図示の耐圧試験器により耐電圧値を測定することが できる。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、このような従来の高圧プローブでは、テストピン１０３を露出 させるための操作と、テスト回路をクローズしテストピン１０３を介して高電圧 を印加する操作とを分けて行うことにより、テストピン１０３を露出させただけ の状態では作動スイッチ１０６を操作しない限り安全が保たれるようにしている ものの、その操作順序が間違えられたりした場合、露出されたテストピン１０３ に誤って人体が接触すると感電するという危険がある。また、テストピン露出手 段と作動スイッチとが別体であるために、テスト時の動作が制約されて使い勝手 が悪い上、上記のような誤動作を起し易い。

【０００７】 本考案の目的は、上述したような従来の問題に着目し、その解決を図るべく、 二重のスイッチ手段を具え、しかもこれらのスイッチ手段とテストピン露出手段 との３つの安全にかかわる手段を一体の絶縁体の外筐に組込み、従来より一層安 全で、しかも取扱者にとって使い勝手の良い高圧プローブを提供することにある 。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

かかる目的を達成するために、本考案は、絶縁物体の耐電圧値を測定する耐圧 試験器に所属して使用され、前記絶縁物体に高電圧を印加するためのテストピン と、該テストピンと前記耐圧試験器との間に設けられ、測定回路のオン・オフが 可能なスイッチ手段とを有する高圧プローブにおいて、前記テストピンを露出可 能に収容する筒状のテストピンカバー部と、前記テストピンの端部を前記テスト ピンカバー部内に保持し、前記テストピンを露出・収容自在に案内するピン案内 部材と、前記テストピンを収容位置に復帰させるための復帰ばねと、絶縁材料で 前記テストピンカバー部と一体に形成され、人手によって掌握可能な把持部と、 該把持部に回動自在に支持されると共に、当該把持部と共に握持されることによ り回動され、前記ピン案内部材を介して前記テストピンを前記復帰ばねのばね力 に抗して露出させるピン操作レバーと、当該ピン操作レバーに関連して設けられ 、その回動動作による前記テストピンの露出完了状態でのみ“オン”の状態に付 勢可能な第１スイッチ手段と、前記第１スイッチ手段とは直列に配線され、前記 把持部にかかわりのない位置に配設された第２スイッチ手段とを具備したことを 特徴とするものである。

【０００９】

【作用】

本考案によれば、耐圧試験時に、把持部を片手で握持することにより、ピン操 作レバーを回動させて、ピン案内部材を介し、テストピンを復帰ばねに抗して露 出位置に移動させることができる。そして、テストピンが露出状態となると、第 １スイッチ手段がピン操作レバーの回動位置に関連して付勢可能状態となるので 、これを容易に付勢して“オン”の状態とすることができ、さらにこの状態で第 ２スイッチ手段を外部から別の手で操作することにより初めて測定回路がクロー ズされて高電圧の印加が可能な状態となる。以上述べたように、本考案の高圧プ ローブでは測定までに無理のない３段階の動作が必要であり、それによって誤動 作による感電等の危険を防止することができる。また両手を使うことにより、片 手が誤って高電圧部に触れる危険がない。

【００１０】

【実施例】

以下に、図面を参照しつつ、本考案の実施例を具体的に説明する。

【００１１】 図１は本考案の一実施例を示す。図において、その（Ａ）は本考案による高圧 プローブの外観を、また（Ｂ）はその内部構造をそれぞれ未操作の状態で示して いる。ここで、１は本考案によるピストル型の高圧プローブ、２はその一体化さ れた外筐、３はテストピンカバー部、４はテストピンカバー部３の先端に設けら れたピン保持孔３Ａに端部が引込まれた状態に保持されるテストピン、５はテス トピン４の後端を支持した状態でテストピンカバー部３に沿って図の（Ｂ）に示 すように矢印Ｃ方向に移動自在に保たれるピン案内部材である。

【００１２】 なお、ピン案内部材５はばね掛止部６との間に張架された復帰ばね７により未 操作時には（Ｂ）に示すようにテストピン４をピン保持孔３Ａから十分内部に引 き込んだ状態に保つ。また、８は把持部、９は引金部、１０は把持部８の引金部 ９近傍に設けられた支持ピン１１の周りに回動可能に支持されるテストピン操作 レバーである。ここでレバー１０はその上端部がピン案内部材５の後端に形成さ れているテーパ部５Ａに摺動可能に当接されていて、復帰ばね７のばね力により 、矢印Ｄ方向に回動され引金部９近傍の外筐壁内部に向けて偏倚された状態に保 たれる。

【００１３】 さらにまた、１２はピン操作レバー１０に取付けられた第１スイッチ手段とし ての第１マイクロスイッチ、１３は引金部９に配設され弾性体で形成された第１ マイクロスイッチ１２用の第１押ボタン、１４は外筐２の頂部に配設した弾性体 による第２押ボタン、１５はこの第２押ボタン１４の押下によって投入される第 ２スイッチ手段としての第２マイクロスイッチである。なお、本実施例では、全 体の外筐２に成形加工が比較的容易で耐衝撃性等においても優れ、耐電圧性の高 いＡＢＳ樹脂を用いて形成し、ピン案内部材５等には機械的性質、特に絶縁，摺 動性の点で安心できるアセタール樹脂を使用した。さらにまた、第１押ボタン１ ３や第２押ボタン１４はアセタール樹脂によって成形したが、これらの材料はい ずれも上記の樹脂系に限定されるものではない。

【００１４】 ついで、このように構成した高圧プローブ１による耐圧試験時の操作について 、図２および図３を参照しながら説明する。図２において、（Ａ）は未操作時に おけるテストピン４，操作レバー１０とこれに装着されている第１マイクロスイ ッチ１２および第１押ボタン１３の相対位置を示している。すなわち、この状態 ではピン案内部材５は復帰ばね７のばね力によって先に図１で示した如くテスト ピン４をテストピンカバー部３内に収納した状態に保つ。また、操作レバー１０ はその保持する第１マイクロスイッチ１２を第１押ボタン１３から離隔した位置 に保つ。

【００１５】 そこで、操作時には、まず、把持部８を片手で握持することにより図３の（Ａ ），（Ｂ）および図２の（Ｂ）に示すように操作レバー１０を矢印Ｄ′方向に回 動させ、その先端をピン案内部材５のテーパ部５Ａに沿って摺動させつつ、ピン 案内部材５を復帰ばね７のばね力に抗して矢印Ｅ方向に移動させ、テストピン４ を図３に示すようにピン保持孔３Ａから突出させることができる。しかし、この ように取扱者の手掌によって把持部８が握持されただけの状態では図２の（Ｂ） に示すように第１マイクロスイッチ１２と第１押ボタン１３とは近接状態に保た れるが未だ接触はしていない。そこで、この状態となったときに握持している手 の人差指等で第１押ボタン１３を操作することにより初めて第１マイクロスイッ チ１２を“オン”の状態とすることができる。また、仮に第１押ボタン１３の方 を先に操作していたとしても図２の（Ｂ）に示すようなテストピン４の突出状態 とならない限り、第１マイクロスイッチ１２がオンとなることはない。

【００１６】 なお、ここで、第１マイクロスイッチ１２と第２マイクロスイッチ１５とはテ スト回路において直列に配設されるもので、この双方のマイクロスイッチが“オ ン”とならない限り閉回路が構成されることはない。従って、これまでに述べて きたように双方のスイッチが“オン”とならない限り、仮に露出されたテストピ ン４に誤って人体が触れたとしても感電するような虞はない。かくして、図３の （Ａ）に示すように、他方の手先で第２押ボタン１４を矢印Ｆ方向に押下するこ とにより初めて第２マイクロスイッチ１５を“オン”となして安全に耐圧試験を 実施することができる。

【００１７】 以上説明したように、本考案は、２つのスイッチ手段の操作によらなければ試 験回路が閉回路にならず、しかもその第１のスイッチ手段はテストピンの突出が 確認された状態でのみその操作を可能とするもので、また、テストピンを突出状 態としない限り、仮にどのスイッチが誤操作されたとしても試験回路が開成され ることはなく、安心して操作ができ、高い安全性が得られるものである。

【００１８】 なお、以上に述べた実施例では、操作レバー１０に第１マイクロスイッチ１２ を装着し、引金部に第１押ボタン１３を設けたが、要は操作レバー１０によりテ ストピン４を突出状態としたときにのみ第１スイッチ手段を付勢することができ るように構成すればよい。そこで、例えば操作レバー１０の第１段の握持動作で テストピンを突出させ、続く第２段の握持動作でテストピン４を突出状態に保持 させたまま、第１スイッチ手段を例えば筐体２の一部により駆動させるように構 成することも可能である。

【００１９】

【考案の効果】

以上説明してきたように、本考案によれば、テストピンを露出可能に収容する 筒状のテストピンカバー部と、前記テストピンの端部を前記テストピンカバー部 内に保持し、前記テストピンを露出・収容自在に案内するピン案内部材と、前記 テストピンを収容位置に復帰させるための復帰ばねと、絶縁材料で前記テストピ ンカバー部と一体に形成され、人手によって掌握可能な把持部と、該把持部に回 動自在に支持されると共に、当該把持部と共に握持されることにより回動され、 前記ピン案内部材を介して前記テストピンを前記復帰ばねのばね力に抗して露出 させるピン操作レバーと、当該ピン操作レバーに関連して設けられ、その回動動 作による前記テストピンの露出完了状態でのみ“オン”の状態に付勢可能な第１ スイッチ手段と、前記第１スイッチ手段とは直列に配線され、前記把持部にかか わりのない位置に配設された第２スイッチ手段とを具備したので、試験用の回路 を閉回路とするには第１および第２のスイッチ手段を“オン”とする必要があり 、しかもそのうち第１のスイッチ手段はテストピンの完全な露出が行われない限 り付勢されず、またその付勢動作はテストピンを露出させるための握持動作に関 連して行われるもので、これらを不自然や無理のない一連の動作として行うこと ができ、その上、さらに他方の手先で第２のスイッチ手段を付勢するという第三 段目の操作が要求されるため、誤操作による感電の虞がなく安心して容易に操作 できる信頼性の高い高圧プローブを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例をその外観の側面図（Ａ），
および内面透視図（Ｂ）の２態様でそれぞれ示す構成図
である。

【図２】本考案高圧プローブによるテストピン露出動作
の説明図である。

【図３】本考案高圧プローブによるテストピン露出状態
をその側面図（Ａ）および内面透視図（Ｂ）の２態様で
それぞれ示す説明図である。

【図４】従来例による構成をその操作状態と共に示す説
明図である。

【符号の説明】

１ 高圧プローブ ２ 外筐 ３ テストピンカバー部 ３Ａ ピン保持孔 ４ テストピン ５ ピン案内部材 ５Ａ テーパ部 ７ 復帰ばね ８ 把持部 ９ 引金部 １０ ピン操作レバー １２ 第１マイクロスイッチ １３ 第１押ボタン １４ 第２押ボタン １５ 第２マイクロスイッチ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 絶縁物体の耐電圧値を測定する耐圧試験
   器に所属して使用され、前記絶縁物体に高電圧を印加す
   るためのテストピンと、該テストピンと前記耐圧試験器
   との間に設けられ、測定回路のオン・オフが可能なスイ
   ッチ手段とを有する高圧プローブにおいて、 前記テストピンを露出可能に収容する筒状のテストピン
   カバー部と、 前記テストピンの端部を前記テストピンカバー部内に保
   持し、前記テストピンを露出・収容自在に案内するピン
   案内部材と、 前記テストピンを収容位置に復帰させるための復帰ばね
   と、 絶縁材料で前記テストピンカバー部と一体に形成され、
   人手によって掌握可能な把持部と、 該把持部に回動自在に支持されると共に、当該把持部と
   共に握持されることにより回動され、前記ピン案内部材
   を介して前記テストピンを前記復帰ばねのばね力に抗し
   て露出させるピン操作レバーと、 当該ピン操作レバーに関連して設けられ、その回動動作
   による前記テストピンの露出完了状態でのみ“オン”の
   状態に付勢可能な第１スイッチ手段と、 前記第１スイッチ手段とは直列に配線され、前記把持部
   にかかわりのない位置に配設された第２スイッチ手段と
   を具備したことを特徴とする高圧プローブ。