JPH0514882U - 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 - Google Patents
光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置Info
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- JPH0514882U JPH0514882U JP6150991U JP6150991U JPH0514882U JP H0514882 U JPH0514882 U JP H0514882U JP 6150991 U JP6150991 U JP 6150991U JP 6150991 U JP6150991 U JP 6150991U JP H0514882 U JPH0514882 U JP H0514882U
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 広ダイナミック・レンジの反射減衰量測定が
可能な光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰
量測定装置を提供する。 【構成】 光時間領域リフレクトメータを使用した反射
減衰量測定装置において、反射光を等分するホトカプラ
8を具備し、ホトカプラ8の出力を受光する光電変換素
子としてアバランシェ・ホトダイオード6およびPIN ホ
トダイオード6′を具備し、アバランシェ・ホトダイオ
ード6およびPIN ホトダイオード6′の出力電流信号を
切り替え出力するマルチプレクサ9を具備せしめて、広
ダイナミック・レンジの反射減衰量測定を可能とした。
可能な光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰
量測定装置を提供する。 【構成】 光時間領域リフレクトメータを使用した反射
減衰量測定装置において、反射光を等分するホトカプラ
8を具備し、ホトカプラ8の出力を受光する光電変換素
子としてアバランシェ・ホトダイオード6およびPIN ホ
トダイオード6′を具備し、アバランシェ・ホトダイオ
ード6およびPIN ホトダイオード6′の出力電流信号を
切り替え出力するマルチプレクサ9を具備せしめて、広
ダイナミック・レンジの反射減衰量測定を可能とした。
Description
【0001】
この考案は、光時間領域リフレクトメータを使用した広ダイナミック・レンジ の反射減衰量測定が可能な反射減衰量測定装置に関する。
【0002】
光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置の従来例を図1を 参照して説明する。図1において、5は検査されるべき光ファイバである。この 光ファイバ5には、方向性結合器3のポート1から方向性結合器3およびそのポ ート2、光コネクタ4を介してレーザ・ダイオード2により発生せしめられるレ ーザ・パルス光が送り込まれる。そして、検査されるべき光ファイバ5からフレ ネル反射およびレイリイ後方散乱された光は、光コネクタ4、方向性結合器3の ポート2からび方向性結合器3およびそのポート3を介してアバランシェ・ホト ダイオード6に入射される。ホトダイオード6において光電変換された電流信号 は電流電圧変換器7により電圧信号に変換され、次いで増幅器10、アナログ・ ディジタル変換器11、加算器12、CPU13を介して記憶装置14および表 示器15に記憶、表示される。ところで、光時間領域リフレクトメータにおいて 、光ファイバ5に送り込まれるレーザ・パルス光の内のフレネル反射光の光反射 減衰量(ORL)は次式の通りのものである。
【0003】 ORL(dB)=BS−10Log10 (100.2H−1) 但し、BS:光ファイバ後方散乱係数(レーザ・パルス光の波長λ=1. 3μ m 、パルス幅=1μs として、BS=49dB) H :フレネル反射光と後方散乱光のレベル差
【0004】
ここで、例えばORL=14(dB)が検出されたものとする。これはフレネ ル反射光と後方散乱光のレベル差HがOTDR管15面上においてH=17.5 dBであることを意味しており、APD6に対する入力レベル差として見ると、 これは35dBということになる(ORLの式にORL=14を代入し、14= 49−10Log10 (100.2H−1)の式から、H=17.5)。これらのレベル 差は、何れにしても大き過ぎる。ところで、アバランシェ・ホトダイオード6は 低レベルの光入射時においてはリニアな入出力特性を示して低レベルの光電変換 に好適なものではあるが、高レベルの光入力時においてはその電流出力は飽和す るに到り、35dBという広ダイナミック・レンジの変換には耐えられない。増 幅器7も、同様に、35dBという広ダイナミック・レンジの増幅には耐えられ ない。
【0005】 この考案は、上述の通りの欠点、問題を解消した光時間領域リフレクトメータ を使用した反射減衰量測定装置を提供しようとするものである。
【0006】
光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置において、反射光 を等分するホトカプラを具備し、ホトカプラの出力を受光する光電変換素子とし てアバランシェ・ホトダイオードおよびPINホトダイオードを具備し、アバラン シェ・ホトダイオードおよびPIN ホトダイオードの出力電流信号を切り替え出力 するマルチプレクサを具備せしめて、広ダイナミック・レンジの反射減衰量測定 を可能とした。
【0007】
この考案の実施例を図2を参照して説明する。図1、2において共通する参照 数字は互いに同一の部品を示すものとする。光ファイバ5には、方向性結合器3 のポート1から方向性結合器3およびそのポート2、光コネクタ4を介してレー ザ・ダイオード2により発生せしめられるレーザ・パルス光が送り込まれ、そし て、検査されるべき光ファイバ5からフレネル反射およびレイリイ後方散乱され た光が、光コネクタ4、方向性結合器3のポート2からび方向性結合器3および そのポート3を介して送り出されてくるところ迄は、この考案も従来例と同様で ある。この考案はこのポート3に1: 1ホトカプラ8を接続し、ここにおいて方 向性結合器3から送り出される反射光出力を1: 1に等分、分岐する。分岐され た反射光出力の内の一方は従来例と同様にアバランシェ・ホトダイオード6に入 射させる一方、分岐された反射光出力の内の他方はPIN ホトダイオード6’に入 射する。ここで、アバランシェ・ホトダイオード6は低レベルの光入射時におい てリニアな入出力特性を示して低レベルの光電変換に好適であり、PIN ホトダイ オード6’は逆に高レベルの光入力時においてリニアな入出力特性を示して高レ ベルの光電変換に好適である。アバランシェ・ホトダイオード6、PIN ホトダイ オード6’において光電変換された電流信号は、電流電圧変換器7、7’におい てそれぞれ電圧信号に変換され、マルチプレクサ9を介して増幅器10に切り替 え供給される。増幅器10において増幅された電圧信号は次いで、アナログ・デ ィジタル変換器11、加算器12、CPU13を介して記憶装置14および表示 器15に記憶、表示される。
【0008】 この考案の光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置は、低 レベルの後方散乱光についての測定と、高レベルのフレネル反射光についての測 定とを別に2回に分けて実施する。ここで、低レベルの後方散乱光についての測 定はアバランシェ・ホトダイオード6とこれに対応した増幅器7とを介して実施 し、高レベルのフレネル反射光についての測定はPINホトダイオード6’とこれ に対応した増幅器7’とを介して実施するものであることは言うまでもなく、こ れら増幅器の出力はマルチプレクサ9により切り替えられて、増幅器10以降の 信号処理、記憶、表示装置に送り込まれる。これら両測定間の利得の差は記憶装 置14に記憶しておき、これにより校正を行なう。
【0009】
光時間領域リフレクトメータは、そもそも低レベルの後方散乱光についての測 定を実施するためのものであり、高レベルのフレネル反射光についての測定には 向かない。しかし、低レベルの後方散乱光についての測定と、高レベルのフレネ ル反射光についての測定とを別に2回に分けて実施することとし、低レベルの後 方散乱光についての測定はアバランシェ・ホトダイオード6とこれに対応した増 幅器7とを介して実施し、高レベルのフレネル反射光についての測定はPIN ホト ダイオード6’とこれに対応した増幅器7’とを介して実施することにより、広 ダイナミック・レンジの反射減衰量測定が可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】光時間領域リフレクトメータを使用した反射減
衰量測定装置の従来例を示す図
衰量測定装置の従来例を示す図
【図2】この考案の光時間領域リフレクトメータを使用
した反射減衰量測定装置を示す図。
した反射減衰量測定装置を示す図。
6 アバランシェ・ホトダイオード 6’ PINホトダイオード 8 ホトカプラ 9 マルチプレクサ
Claims (1)
- 【請求項1】 反射光を等分するホトカプラを具備し、
ホトカプラの出力を受光する光電変換素子としてアバラ
ンシェ・ホトダイオードおよびPIN ホトダイオードを具
備し、アバランシェ・ホトダイオードおよびPIN ホトダ
イオードの出力電流信号を切り替え出力するマルチプレ
クサを具備することを特徴とする光時間領域リフレクト
メータを使用した反射減衰量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6150991U JP2556921Y2 (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6150991U JP2556921Y2 (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0514882U true JPH0514882U (ja) | 1993-02-26 |
JP2556921Y2 JP2556921Y2 (ja) | 1997-12-08 |
Family
ID=13173133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6150991U Expired - Fee Related JP2556921Y2 (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2556921Y2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011007618A (ja) * | 2009-06-25 | 2011-01-13 | Anritsu Corp | 光パルス試験装置 |
JP2011013136A (ja) * | 2009-07-03 | 2011-01-20 | Anritsu Corp | 光パルス試験装置 |
JP2022167096A (ja) * | 2021-04-22 | 2022-11-04 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
-
1991
- 1991-08-05 JP JP6150991U patent/JP2556921Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011007618A (ja) * | 2009-06-25 | 2011-01-13 | Anritsu Corp | 光パルス試験装置 |
JP2011013136A (ja) * | 2009-07-03 | 2011-01-20 | Anritsu Corp | 光パルス試験装置 |
JP2022167096A (ja) * | 2021-04-22 | 2022-11-04 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2556921Y2 (ja) | 1997-12-08 |
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