JP2556921Y2 - 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 - Google Patents
光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置Info
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- JP2556921Y2 JP2556921Y2 JP6150991U JP6150991U JP2556921Y2 JP 2556921 Y2 JP2556921 Y2 JP 2556921Y2 JP 6150991 U JP6150991 U JP 6150991U JP 6150991 U JP6150991 U JP 6150991U JP 2556921 Y2 JP2556921 Y2 JP 2556921Y2
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、光時間領域リフレク
トメータを使用した広ダイナミック・レンジの反射減衰
量測定が可能な反射減衰量測定装置に関する。
トメータを使用した広ダイナミック・レンジの反射減衰
量測定が可能な反射減衰量測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光時間領域リフレクトメータを使用した
反射減衰量測定装置の従来例を図１を参照して説明す
る。図１において、５は検査されるべき光ファイバであ
る。この光ファイバ５には、方向性結合器３のポート１
から方向性結合器３およびそのポート２、光コネクタ４
を介してレーザ・ダイオード２により発生せしめられる
レーザ・パルス光が送り込まれる。そして、検査される
べき光ファイバ５からフレネル反射およびレイリイ後方
散乱された光は、光コネクタ４、方向性結合器３のポー
ト２からび方向性結合器３およびそのポート３を介して
アバランシェ・ホトダイオード６に入射される。ホトダ
イオード６において光電変換された電流信号は電流電圧
変換器７により電圧信号に変換され、次いで増幅器１
０、アナログ・ディジタル変換器１１、加算器１２、Ｃ
ＰＵ１３を介して記憶装置１４および表示器１５に記
憶、表示される。ところで、光時間領域リフレクトメー
タにおいて、光ファイバ５に送り込まれるレーザ・パル
ス光の内のフレネル反射光の光反射減衰量（ＯＲＬ）は
次式の通りのものである。
反射減衰量測定装置の従来例を図１を参照して説明す
る。図１において、５は検査されるべき光ファイバであ
る。この光ファイバ５には、方向性結合器３のポート１
から方向性結合器３およびそのポート２、光コネクタ４
を介してレーザ・ダイオード２により発生せしめられる
レーザ・パルス光が送り込まれる。そして、検査される
べき光ファイバ５からフレネル反射およびレイリイ後方
散乱された光は、光コネクタ４、方向性結合器３のポー
ト２からび方向性結合器３およびそのポート３を介して
アバランシェ・ホトダイオード６に入射される。ホトダ
イオード６において光電変換された電流信号は電流電圧
変換器７により電圧信号に変換され、次いで増幅器１
０、アナログ・ディジタル変換器１１、加算器１２、Ｃ
ＰＵ１３を介して記憶装置１４および表示器１５に記
憶、表示される。ところで、光時間領域リフレクトメー
タにおいて、光ファイバ５に送り込まれるレーザ・パル
ス光の内のフレネル反射光の光反射減衰量（ＯＲＬ）は
次式の通りのものである。
【０００３】 ＯＲＬ（ｄＢ）＝ＢＳ−１０Log10 （１０0.2H−１） 但し、ＢＳ：光ファイバ後方散乱係数（レーザ・パルス
光の波長λ＝１. ３μm 、パルス幅＝１μs として、Ｂ
Ｓ＝４９ｄＢ） Ｈ ：フレネル反射光と後方散乱光のレベル差
光の波長λ＝１. ３μm 、パルス幅＝１μs として、Ｂ
Ｓ＝４９ｄＢ） Ｈ ：フレネル反射光と後方散乱光のレベル差
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】ここで、例えばＯＲＬ
＝１４（ｄＢ）が検出されたものとする。これはフレネ
ル反射光と後方散乱光のレベル差ＨがＯＴＤＲ管１５面
上においてＨ＝１７．５ｄＢであることを意味してお
り、ＡＰＤ６に対する入力レベル差として見ると、これ
は３５ｄＢということになる（ＯＲＬの式にＯＲＬ＝１
４を代入し、１４＝４９−１０Log10 （１０0.2H−１）
の式から、Ｈ＝１７．５）。これらのレベル差は、何れ
にしても大き過ぎる。ところで、アバランシェ・ホトダ
イオード６は低レベルの光入射時においてはリニアな入
出力特性を示して低レベルの光電変換に好適なものでは
あるが、高レベルの光入力時においてはその電流出力は
飽和するに到り、３５ｄＢという広ダイナミック・レン
ジの変換には耐えられない。増幅器７も、同様に、３５
ｄＢという広ダイナミック・レンジの増幅には耐えられ
ない。
＝１４（ｄＢ）が検出されたものとする。これはフレネ
ル反射光と後方散乱光のレベル差ＨがＯＴＤＲ管１５面
上においてＨ＝１７．５ｄＢであることを意味してお
り、ＡＰＤ６に対する入力レベル差として見ると、これ
は３５ｄＢということになる（ＯＲＬの式にＯＲＬ＝１
４を代入し、１４＝４９−１０Log10 （１０0.2H−１）
の式から、Ｈ＝１７．５）。これらのレベル差は、何れ
にしても大き過ぎる。ところで、アバランシェ・ホトダ
イオード６は低レベルの光入射時においてはリニアな入
出力特性を示して低レベルの光電変換に好適なものでは
あるが、高レベルの光入力時においてはその電流出力は
飽和するに到り、３５ｄＢという広ダイナミック・レン
ジの変換には耐えられない。増幅器７も、同様に、３５
ｄＢという広ダイナミック・レンジの増幅には耐えられ
ない。
【０００５】この考案は、上述の通りの欠点、問題を解
消した光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰
量測定装置を提供しようとするものである。
消した光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰
量測定装置を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】光時間領域リフレクトメ
ータを使用した反射減衰量測定装置において、反射光を
等分するホトカプラを具備し、ホトカプラの出力を受光
する光電変換素子としてアバランシェ・ホトダイオード
およびPINホトダイオードを具備し、アバランシェ・ホ
トダイオードおよびPIN ホトダイオードの出力電流信号
を切り替え出力するマルチプレクサを具備せしめて、広
ダイナミック・レンジの反射減衰量測定を可能とした。
ータを使用した反射減衰量測定装置において、反射光を
等分するホトカプラを具備し、ホトカプラの出力を受光
する光電変換素子としてアバランシェ・ホトダイオード
およびPINホトダイオードを具備し、アバランシェ・ホ
トダイオードおよびPIN ホトダイオードの出力電流信号
を切り替え出力するマルチプレクサを具備せしめて、広
ダイナミック・レンジの反射減衰量測定を可能とした。
【０００７】
【実施例】この考案の実施例を図２を参照して説明す
る。図１、２において共通する参照数字は互いに同一の
部品を示すものとする。光ファイバ５には、方向性結合
器３のポート１から方向性結合器３およびそのポート
２、光コネクタ４を介してレーザ・ダイオード２により
発生せしめられるレーザ・パルス光が送り込まれ、そし
て、検査されるべき光ファイバ５からフレネル反射およ
びレイリイ後方散乱された光が、光コネクタ４、方向性
結合器３のポート２からび方向性結合器３およびそのポ
ート３を介して送り出されてくるところ迄は、この考案
も従来例と同様である。この考案はこのポート３に１:
１ホトカプラ８を接続し、ここにおいて方向性結合器３
から送り出される反射光出力を１: １に等分、分岐す
る。分岐された反射光出力の内の一方は従来例と同様に
アバランシェ・ホトダイオード６に入射させる一方、分
岐された反射光出力の内の他方はPIN ホトダイオード
６’に入射する。ここで、アバランシェ・ホトダイオー
ド６は低レベルの光入射時においてリニアな入出力特性
を示して低レベルの光電変換に好適であり、PIN ホトダ
イオード６’は逆に高レベルの光入力時においてリニア
な入出力特性を示して高レベルの光電変換に好適であ
る。アバランシェ・ホトダイオード６、PIN ホトダイオ
ード６’において光電変換された電流信号は、電流電圧
変換器７、７’においてそれぞれ電圧信号に変換され、
マルチプレクサ９を介して増幅器１０に切り替え供給さ
れる。増幅器１０において増幅された電圧信号は次い
で、アナログ・ディジタル変換器１１、加算器１２、Ｃ
ＰＵ１３を介して記憶装置１４および表示器１５に記
憶、表示される。
る。図１、２において共通する参照数字は互いに同一の
部品を示すものとする。光ファイバ５には、方向性結合
器３のポート１から方向性結合器３およびそのポート
２、光コネクタ４を介してレーザ・ダイオード２により
発生せしめられるレーザ・パルス光が送り込まれ、そし
て、検査されるべき光ファイバ５からフレネル反射およ
びレイリイ後方散乱された光が、光コネクタ４、方向性
結合器３のポート２からび方向性結合器３およびそのポ
ート３を介して送り出されてくるところ迄は、この考案
も従来例と同様である。この考案はこのポート３に１:
１ホトカプラ８を接続し、ここにおいて方向性結合器３
から送り出される反射光出力を１: １に等分、分岐す
る。分岐された反射光出力の内の一方は従来例と同様に
アバランシェ・ホトダイオード６に入射させる一方、分
岐された反射光出力の内の他方はPIN ホトダイオード
６’に入射する。ここで、アバランシェ・ホトダイオー
ド６は低レベルの光入射時においてリニアな入出力特性
を示して低レベルの光電変換に好適であり、PIN ホトダ
イオード６’は逆に高レベルの光入力時においてリニア
な入出力特性を示して高レベルの光電変換に好適であ
る。アバランシェ・ホトダイオード６、PIN ホトダイオ
ード６’において光電変換された電流信号は、電流電圧
変換器７、７’においてそれぞれ電圧信号に変換され、
マルチプレクサ９を介して増幅器１０に切り替え供給さ
れる。増幅器１０において増幅された電圧信号は次い
で、アナログ・ディジタル変換器１１、加算器１２、Ｃ
ＰＵ１３を介して記憶装置１４および表示器１５に記
憶、表示される。
【０００８】この考案の光時間領域リフレクトメータを
使用した反射減衰量測定装置は、低レベルの後方散乱光
についての測定と、高レベルのフレネル反射光について
の測定とを別に２回に分けて実施する。ここで、低レベ
ルの後方散乱光についての測定はアバランシェ・ホトダ
イオード６とこれに対応した増幅器７とを介して実施
し、高レベルのフレネル反射光についての測定はPINホ
トダイオード６’とこれに対応した増幅器７’とを介し
て実施するものであることは言うまでもなく、これら増
幅器の出力はマルチプレクサ９により切り替えられて、
増幅器１０以降の信号処理、記憶、表示装置に送り込ま
れる。これら両測定間の利得の差は記憶装置１４に記憶
しておき、これにより校正を行なう。
使用した反射減衰量測定装置は、低レベルの後方散乱光
についての測定と、高レベルのフレネル反射光について
の測定とを別に２回に分けて実施する。ここで、低レベ
ルの後方散乱光についての測定はアバランシェ・ホトダ
イオード６とこれに対応した増幅器７とを介して実施
し、高レベルのフレネル反射光についての測定はPINホ
トダイオード６’とこれに対応した増幅器７’とを介し
て実施するものであることは言うまでもなく、これら増
幅器の出力はマルチプレクサ９により切り替えられて、
増幅器１０以降の信号処理、記憶、表示装置に送り込ま
れる。これら両測定間の利得の差は記憶装置１４に記憶
しておき、これにより校正を行なう。
【０００９】
【考案の効果】光時間領域リフレクトメータは、そもそ
も低レベルの後方散乱光についての測定を実施するため
のものであり、高レベルのフレネル反射光についての測
定には向かない。しかし、低レベルの後方散乱光につい
ての測定と、高レベルのフレネル反射光についての測定
とを別に２回に分けて実施することとし、低レベルの後
方散乱光についての測定はアバランシェ・ホトダイオー
ド６とこれに対応した増幅器７とを介して実施し、高レ
ベルのフレネル反射光についての測定はPIN ホトダイオ
ード６’とこれに対応した増幅器７’とを介して実施す
ることにより、広ダイナミック・レンジの反射減衰量測
定が可能となった。
も低レベルの後方散乱光についての測定を実施するため
のものであり、高レベルのフレネル反射光についての測
定には向かない。しかし、低レベルの後方散乱光につい
ての測定と、高レベルのフレネル反射光についての測定
とを別に２回に分けて実施することとし、低レベルの後
方散乱光についての測定はアバランシェ・ホトダイオー
ド６とこれに対応した増幅器７とを介して実施し、高レ
ベルのフレネル反射光についての測定はPIN ホトダイオ
ード６’とこれに対応した増幅器７’とを介して実施す
ることにより、広ダイナミック・レンジの反射減衰量測
定が可能となった。
【図１】光時間領域リフレクトメータを使用した反射減
衰量測定装置の従来例を示す図
衰量測定装置の従来例を示す図
【図２】この考案の光時間領域リフレクトメータを使用
した反射減衰量測定装置を示す図。
した反射減衰量測定装置を示す図。
【符号の説明】 ６ アバランシェ・ホトダイオード ６’ PINホトダイオード ８ ホトカプラ ９ マルチプレクサ
Claims (1)
- 【請求項１】 反射光を等分するホトカプラを具備し、
ホトカプラの出力を受光する光電変換素子としてアバラ
ンシェ・ホトダイオードおよびPIN ホトダイオードを具
備し、アバランシェ・ホトダイオードおよびPIN ホトダ
イオードの出力電流信号を切り替え出力するマルチプレ
クサを具備することを特徴とする光時間領域リフレクト
メータを使用した反射減衰量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6150991U JP2556921Y2 (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6150991U JP2556921Y2 (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0514882U JPH0514882U (ja) | 1993-02-26 |
| JP2556921Y2 true JP2556921Y2 (ja) | 1997-12-08 |
Family
ID=13173133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6150991U Expired - Fee Related JP2556921Y2 (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 光時間領域リフレクトメータを使用した反射減衰量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2556921Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011007618A (ja) * | 2009-06-25 | 2011-01-13 | Anritsu Corp | 光パルス試験装置 |
| JP2011013136A (ja) * | 2009-07-03 | 2011-01-20 | Anritsu Corp | 光パルス試験装置 |
| JP7320022B2 (ja) * | 2021-04-22 | 2023-08-02 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
-
1991
- 1991-08-05 JP JP6150991U patent/JP2556921Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0514882U (ja) | 1993-02-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970701 |
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