JPH05148644A - スパツタリング装置 - Google Patents

スパツタリング装置

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JPH05148644A
JPH05148644A JP33609791A JP33609791A JPH05148644A JP H05148644 A JPH05148644 A JP H05148644A JP 33609791 A JP33609791 A JP 33609791A JP 33609791 A JP33609791 A JP 33609791A JP H05148644 A JPH05148644 A JP H05148644A
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Abstract

(57)【要約】 【構成】カソード2a,2bの各々に、互いに位相をず
らした周波数100kHz以下の交流電源1a,1bに
よる電圧、または、入り切りのタイミングを互いにずら
した断続的な直流電圧を印加する。 【効果】アーキングを低減できるため、大電力を安定的
に印加でき、高速成膜が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はスパッタリング装置に関
するものである。特に、アーキングを防止して高速で高
品質の成膜を行なうことができるスパッタリング装置を
提供するものである。
【0002】
【従来の技術】直流スパッタリング(以下、スパッタリ
ングを単にスパッタということがある)用のカソードは
異常放電の問題を解決しなければ高速に、高品質の成膜
を行なうことができない。カソード周辺で起きる異常放
電はいろいろな原因によるが、ターゲット材表面に堆積
あるいは発生した微小な面積の絶縁物に電荷が蓄積さ
れ、それが周辺の被成膜基板、アノード電極、真空室内
壁、あるいはターゲット表面など電位的に対極した部位
に向かって一時的にアーク放電を引き起こす種類の異常
放電(以下、アーキングという。)によるものが多い。
【0003】アーキングは、特に反応性スパッタにより
導電性のターゲット材から絶縁体の生成物が生ずる場合
などに多く発生する。アーキングが発生するとスパッタ
に有効なグロー放電を安定に持続することができなくな
り、成膜速度が著しく不安定になり、均一な品質の成膜
を行なうことができなくなり、場合によってはアーク放
電によって膜が形成される基板に損傷を与える等の弊害
を及ぼす。従来これを回避する手法としては、13.5
6MHzの高周波電力を使用する方法がよく行なわれて
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、より大
きな電力を投入してより高速に高品質の成膜を行なうと
いう目的から考えた場合、13.56MHzの高周波電
源を用いたスパッタ装置は出力10KW以上の電源が大
がかりになり高価になること、高圧、大電流のインピー
ダンスマッチング回路が必要になること等の理由から実
現が困難であった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、前述のアーキ
ングの発生を低減するため、真空室内に近接して配置し
た少なくとも2個のカソードを備えたスパッタリング装
置において、これらのカソードのそれぞれに、互いに位
相をずらした周波数100kHz以下の交流電圧を印加
するカソードと同数の交流電源、または、上記カソード
のそれぞれに、入り切りのタイミングを互いにずらした
断続的な直流電圧を印加するカソードと同数の直流電
源、または、上記カソードのうち少なくとも1つのカソ
ードに周波数100kHz以下の交流電圧を印加するカ
ソードと同数の交流電源、および他のカソードに該交流
電圧の周波数に同期して断続的に直流電圧を印加するカ
ソードと同数の直流電源を設けたことを特徴とするスパ
ッタリング装置を提供するものである。
【0006】また、本発明は、真空室内に近接して配置
した少なくとも2個のカソードのうち少なくとも1つの
カソードに周波数100kHz以下の交流電圧あるいは
断続的な直流電圧を印加するカソードと同数の電源、お
よび他のカソードに非断続的な直流電圧を印加するカソ
ードと同数の電源を設けたことを特徴とするスパッタリ
ング装置を提供するものである。
【0007】さらにまた本発明は、真空室内に配置した
カソード周辺にプラズマを供給可能なプラズマガンと、
周波数100kHz以下の交流電圧あるいは断続的な直
流電圧をカソードに印加する電源とを設けたことを特徴
とするスパッタリング装置を提供するものである。
【0008】スパッタリングは、負電位に保たれたター
ゲット材が固着されたカソードにプラズマ中の正に帯電
したガスイオンが衝突しターゲット材の構成原子を叩き
だすことにより行なわれる。この時、ターゲット表面上
に堆積、あるいは発生した微小な面積の絶縁物が存在す
ると、ガスイオンはそこに蓄積し絶縁物は正の電位をも
ちターゲット表面に電位差が発生する。これがアーキン
グの引き金となる。
【0009】アーキングを抑止するには、この絶縁物の
帯電を防止すればよく、そのためにターゲット電位を一
時的にゼロないし正にして絶縁物の帯電を中和すればよ
い。即ち、ターゲット近傍にあるプラズマ中の電子を引
き寄せれば良いわけで、そのためには、交流電圧あるい
は断続的な直流電圧を印加しスパッタリングを行なえる
ようにすればよい。
【0010】そこで本発明者は、電源の設計上、安価で
比較的大出力が得やすく、インピーダンスマッチングが
変圧器でも行なえるなど、簡単にカソードに大電力を投
入しやすい100kHz以下の周波数の電源、あるいは
最近の大電流、高速スイッチングトランジスタ回路技術
により実現可能な、最高数十μ秒の速度で断続的に出力
を入り切りできる直流電源を用いたスパッタ装置を発明
した。
【0011】通常このような低い周波数の交流電圧で
は、自己バイアスが発生しないので放電が持続せず、安
定したスパッタリングができないとされていた。そこで
カソードを少なくとも2個近接して配置し、どれか1つ
のカソードが正の電圧あるいはゼロになった時に、他の
カソードが負になって放電を持続するようにした。
【0012】これにより正あるいはゼロの電位のカソー
ドは、ターゲット材表面の絶縁物の中和を、負の電位に
なったもう一方のカソードが起こしているプラズマ中の
電子により行なうことができる。
【0013】以上の作用を2本のカソード間で交互に行
ないながらスパッタリングを行ない、アーキングを低減
することに成功した。また、上記のスパッタ法は、従来
の直流スパッタの問題である絶縁物の残存による異物の
生成を防止できる作用もある。
【0014】図1は本発明の一実施例を説明する構成図
である。1a,1bは交流電源で、互いに位相を180
°ずらした周波数100kHz以下の交流電圧を発生す
るものである。2a,2bはカソード、3は交流電源に
より発生するプラズマ、4はスパッタリングにより薄膜
が形成される基体である。図1はカソードが2つ、電源
が2つの例であるが、これに限らずカソードを3つ以
上、電源もカソードと同数とすることもできる。カソー
ドがn個あるときは、交流電圧の位相は(360°/
n)ずつずらせばよい。
【0015】カソードの電位が正になった時、絶縁物の
電位を中和する作用は一瞬のうちに行なわれるので、交
流電圧に代えて、図2のような出力波形の断続的な直流
電圧を印加してもアーキング低減の効果は同等である。
この場合は、カソードが負になっている時間が交流電圧
よりも長いためスパッタリングをより効率的に行なうこ
とができる。更に、カソード電位を正にしなくても、図
3のように一時的に電位をゼロにすることでも同様な効
果がある。図2および図3において、5、7は一方のカ
ソードに印加する電圧、6、8は他方のカソードに印加
する電圧を示す。
【0016】以上のように、交流電源のみ、または、断
続的な直流電源のみ、を用いる他に、これらを組み合わ
せて、カソードのうち少なくとも1つに100kHz以
下の交流電圧を印加する交流電源および他のカソードに
この交流電圧の周波数に同期して断続的に直流電圧を印
加する直流電源を用いてもよい。
【0017】また、直流放電でも、スパッタリングを開
始してからターゲット材の表面上に絶縁物が発生するま
では、数分の時間がかかるので、前述のように交流電源
や断続的な出力が可能な直流電源を2台用意しなくて
も、図4のように片側の電源9を非断続的直流電源とし
てプラズマを持続させるとともに、他方の電源10を1
00kHz以下の交流電源または断続的直流電源とし、
一定時間経過後、電源とカソードの接続の切換えをくり
返す手段11(「電源10とカソード12、電源9とカ
ソード13が接続された状態」と「電源10とカソード
13、電源9とカソード12が接続された状態」とを交
互にくり返す手段)を付加することでも本発明の作用を
実現することができる。
【0018】図4のような場合で、電源とカソードの接
続の切り換えをしないと、非断続的直流電源を印加して
いるカソードの方はアーキング低減効果は得られにくい
が、100kHz以下の交流電源または断続的直流電源
を印加した方のカソードは十分にアーキングが低減さ
れ、安定したスパッタリングが持続する。これは、1つ
のカソードのみを用いた場合に、100kHz程度の低
周波電圧では安定したスパッタリングが不可能であるの
に対して、大きなメリットである。
【0019】本発明の効果を充分に発揮するには、カソ
ードを少なくとも2個以上近接して配置し片側のカソー
ドが発生するプラズマがもう一方のカソードに届いてい
ることが重要な構成要件である。それには回転カソード
を採用することが有効である。
【0020】回転カソードは、通常のプレーナーマグネ
トロンカソードと比較して、冷却効率が高いため大きな
電力を投入可能で成膜速度を高速化できることや、ター
ゲット材の使用効率が高いこと等の利点を持っているこ
とは、米国特許第4356073号、第4422916
号、特表昭58−500174号、特開昭60−590
67号等により知られている。
【0021】また、回転カソードはプレーナー型と同等
の操作電力で使用する場合カソード全体を小型にできる
ので、従来1個のプレーナーマグネトロンカソードを装
着した位置に回転カソードを隣接して2個設置すること
もできる。更に、回転カソード14内のプラズマ収束用
の磁石(磁界発生手段)15を図5のように角度を付け
て配置し、プラズマ16を効率よく他方のカソード周辺
に届かせることも有効である。
【0022】また、カソードを複数個近接して配置しな
くても、カソード電位が正ないしゼロになった時にプラ
ズマがカソード近傍に存在していれば本発明の効果はあ
るので、カソード近傍にプラズマガンなどの手段により
発生したプラズマを導くことでも実現可能である。この
場合、勿論カソードを複数用いることもできるし、プレ
ーナ型カソード、回転カソードのどちらでも使用可能で
ある。
【0023】また、マグネトロンの外側の磁石を内側よ
り強くするいわゆるアンバランストマグネトロンの手法
を用い、プラズマがより相手方のターゲット表面および
基板表面に広がるようにすることも、上記の作用を効果
的に行なうのに有効である。
【0024】
【実施例】
[実施例1]近接して2個配置した回転カソードに2個
の交流電源からそれぞれ位相を180゜ずらした交流電
圧を印加して反応性スパッタを行なった。ターゲット材
はAlを2〜3%添加したSiである。導入ガスとして
ArとO2を1:1の比で混合したガスを用い、反応生
成物としてAlドープSiO2 ができるようにした。放
電中の圧力は、2.0×10-3Torrに保った。周波
数は50kHz、電圧は400Vで投入した電力は1本
当たり10kWであった。この時、1秒間当たりに発生
したアーキングの平均回数はどちらのカソードでも1本
当たり約0.01回であった。
【0025】[比較例1]実施例1と同様の回転カソー
ドに同じ条件で非断続的直流電圧を同時に印加し、1本
当たり10kWの電力を投入した。この時、1秒間当た
りに発生したアーキングの平均回数はどちらのカソード
でも1本当たり約10回であった。
【0026】[実施例2]実施例1と同様の回転カソー
ドに、図3に示すような互いにタイミングをずらした直
流電圧(−600V、印加時間9m秒、非印加時間1m
秒のくり返し)を印加した。投入電力は1本あたり10
kWとした。それ以外は実施例1と同様とした。その結
果アーキングは低減され、実施例1と同様の効果が得ら
れた。
【0027】[実施例3]実施例1と同様の回転カソー
ドの一方に50kHzの交流電圧、他方のカソードにこ
れに同期する断続的な直流電圧をそれぞれ印加した。投
入電力はカソード1本当たり10kWとした。これ以外
は実施例1と同様とした。その結果アーキングは低減さ
れ、実施例1と同様の効果が得られた。
【0028】[実施例4]実施例1と同様な、近接して
2個配置した回転カソードの一方に直流電圧を印加し、
もう一方の回転カソードに周波数50kHzの交流電圧
を印加し、反応性スパッタを行った。投入した電力は双
方とも10kWで、ターゲット材、導入ガスの種類、放
電中の圧力は実施例1と同様とした。アーキングの平均
回数は、直流を印加した回転ターゲットが、1秒当り約
10回で双方とも直流を印加したときと同じであった
が、交流電圧を印加した方は、それ自身のターゲット材
上で発生したアーキングは約0.01回で、安定したス
パッタが持続し、実施例1と同様な効果が確認できた。
【0029】[比較例2]実施例4と同様の回転カソー
ドを1個のみ使用し、このカソードに50kHzの交流
電圧を印加して、10kWの電力を投入した以外は、そ
の他は実施例4と同様とした。50kHzの交流電圧を
印加しても、安定したスパッタリングが不可能だった。
【0030】[実施例5]実施例4と同様の回転カソー
ドを用いて、各々実施例4と同様の直流電圧及び交流電
圧を印加したが、図4のような切換え手段を用いて5分
ごとに電源を入れ替えてカソードに電圧を印加した。そ
の結果アーキングは低減され、1秒当りのアーキングの
発生回数はどちらのカソードでも約0.01回であり、
実施例1と同様の効果が得られた。
【0031】[実施例6]実施例1の回転カソードを1
本のみ使用し、周波数50kHzの交流電圧を印加し、
それに隣接して配置したアーク放電を利用したプラズマ
ガンからカソード近傍にプラズマ流を導入した。ターゲ
ット材、導入ガスの種類、放電中の圧力は実施例1と同
様とした。交流電力は10kW、プラズマガンは約60
V、100Aとした。このときでもアーキング低減の効
果は実施例1と同じであった。
【0032】[比較例3]実施例6の交流電圧のかわり
に10kWの直流電圧とした。これ以外は、実施例6と
同様とした。その結果、アーキングの平均回数は1秒間
当り約10回であった。
【0033】
【発明の効果】本発明によるスパッタリング装置では、
反応性スパッタを行うような場合でもアーキングの発生
頻度を低減することができ、より多くの電力を安定して
カソードに投入することができるので、成膜能力の高い
装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明する構成図
【図2】本発明で用いる断続的な直流電源の一例の出力
波形を示すグラフ
【図3】本発明で用いる断続的な直流電源の一例の出力
波形を示すグラフ
【図4】本発明の他の実施例を説明する構成図
【図5】本発明の他の実施例を説明する構成図
【符号の説明】
1a,1b:互いに位相をずらした100kHz以下の
交流電源 2a,2b:カソード 3:プラズマ 4:薄膜が形成される基体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小島 啓安 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社中央研究所内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空室内に近接して配置した少なくとも2
    個のカソードを備えたスパッタリング装置において、こ
    れらのカソードのそれぞれに、互いに位相をずらした周
    波数100kHz以下の交流電圧を印加するカソードと
    同数の交流電源、または、上記カソードのそれぞれに、
    入り切りのタイミングを互いにずらした断続的な直流電
    圧を印加するカソードと同数の直流電源、または、上記
    カソードのうち少なくとも1つのカソードに周波数10
    0kHz以下の交流電圧を印加するカソードと同数の交
    流電源、および他のカソードに該交流電圧の周波数に同
    期して断続的に直流電圧を印加するカソードと同数の直
    流電源を設けたことを特徴とするスパッタリング装置。
  2. 【請求項2】真空室内に近接して配置した少なくとも2
    個のカソードのうち少なくとも1つのカソードに周波数
    100kHz以下の交流電圧あるいは断続的な直流電圧
    を印加するカソードと同数の電源、および他のカソード
    に非断続的な直流電圧を印加するカソードと同数の電源
    を設けたことを特徴とするスパッタリング装置。
  3. 【請求項3】請求項2のスパッタリング装置において、
    一定時間経過後それらのカソードと印加電圧の接続を切
    換える手段を設けたことを特徴とするスパッタリング装
    置。
  4. 【請求項4】真空室内に配置したカソード周辺にプラズ
    マを供給可能なプラズマガンと、周波数100kHz以
    下の交流電圧あるいは断続的な直流電圧をカソードに印
    加する電源とを設けたことを特徴とするスパッタリング
    装置。
  5. 【請求項5】カソードとして、回転カソードを用いたこ
    とを特徴とする請求項1〜4いずれか1項のスパッタリ
    ング装置。
  6. 【請求項6】カソードとして回転カソードを設け、少な
    くとも2個の回転カソード内のプラズマ収束用の磁界発
    生手段を相互に角度を付けて配置し、少なくとも一方の
    カソードが発生するプラズマが他のカソード周辺にも届
    くようにしたことを特徴とする請求項1〜3いずれか1
    項のスパッタリング装置。
  7. 【請求項7】断続的な直流電圧として、電圧がゼロにな
    る時間が、電圧を印加する時間よりも短い電圧波形の直
    流電圧を使用することを特徴とする請求項1〜6のいず
    れか1項のスパッタリング装置。
  8. 【請求項8】断続的な直流電圧として、電圧が正になる
    時間が、負の電圧を印加する時間よりも短い電圧波形の
    直流電圧を使用することを特徴とする請求項1〜6いず
    れか1項のスパッタリング装置。
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