JPH0514391A - Ａｔｍ交換機の通話路導通試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明はＡＴＭ交換機の通話路導通試験方式に
関し，ＡＴＭ交換機の通話路試験の処理を簡単にすると
共にハードウェア量を少なくすることを目的とする。 【構成】通話路の前段に発メッセージ処理部を，後段に
着メッセージ処理部を備え，発メッセージ処理部と着メ
ッセージ処理部のそれぞれの入力側に試験メッセージを
挿入する手段を，出力側に試験メッセージを抽出する手
段を備えたコネクションレス情報を交換処理するＡＴＭ
交換機の通話路導通試験方式である。導通試験用のメッ
セージに特定の宛先と試験を表すＶＣＩ値を設定したセ
ルを発メッセージ処理部の前段の挿入手段から入力し，
発メッセージ処理部で試験対象のルートを表すＶＣＩに
変換し，対応するルートの着メッセージ処理部でこの導
通試験用のセルのＶＣＩ値を試験用ＶＣＩ値に変換して
抽出するよう構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はコネクションレス情報を
交換処理する機能を有するＡＴＭ交換機の通話路導通試
験方式に関する。

【０００２】近年，ＢＩＳＤＮ（Brad band Integrated
Services Digital Network)用の交換方式としてＡＴＭ
（Asynchronous Transfer Mode) 方式の交換機が実用化
に向けて盛んに研究されている。このＡＴＭ方式では情
報を一定長（通常５３オクテット）のセルという単位で
転送して交換が行われる。

【０００３】ＡＴＭ網では通常，コネクションオリエン
テッドで処理が行われるが，コネクションレス通信もサ
ポートするための機構を備えており，このような機能を
備えたＡＴＭ交換機の通話路の導通試験をすることが望
まれている。

【０００４】

【従来の技術】図６は従来例の原理説明図である。図６
において，５０は加入者と接続された入力ハイウェイに
設けられ，コネクションレス・メッセージをサポートす
るための発メッセージ処理手段，５１は試験セル挿入手
段，５２は試験セル発生手段，５３はＶＣＩ（Virtual
Channel Identifire) によりセルの交換を行うＡＴＭ交
換通話路，５４は試験セル抽出手段，５５は試験セル受
信手段，５６は前記発メッセージ処理手段５０に対応し
て出力ハイウェイ（加入者に接続）に設けられ，コネク
ションレス・メッセージをサポートするための着メッセ
ージ処理手段，５７はＡＴＭ交換通話路のパス設定等を
制御する通話路制御部，５８は交換機全体の呼レベルで
の管理を行う呼処理部である。

【０００５】ＡＴＭ交換機における一般的なコネクショ
ンオリエンテッドの接続処理を説明する。この場合，発
呼側の加入者は制御チャネルを用いて交換機に対し宛先
情報（接続相手）の加入者を表示して接続要求を行う
と，交換機は，宛先の情報を用いて相手が空き状態かを
判別し，空きの時発呼側加入者から宛先加入者までの網
内の接続路を設定する（ルーティングする）。

【０００６】その後，発呼側からのセル化されたメッセ
ージは交換機の通話路の設定されたルートを介して相手
側まで転送される。この場合，加入者が送出したセルに
含まれたＶＣＩ（バーチャル・チャネル識別情報）は，
ＡＴＭ交換通話路において設定されたルートを通るパス
に対応するＶＣＩに変換され，通話路の出力側で相手加
入者のＶＣＩに変換されて相手加入者が接続する出力ハ
イウェイへ送出される。

【０００７】このようなコネクションオリエンテッドの
接続の他に，相手加入者までの接続路を予め設定せず
に，送信側（発呼側）加入者が送信するメッセージが発
生する毎にメッセージを網に投入すると，その都度ルー
ティングが行われて相手側に送信されるコネクションレ
ス通信がある。

【０００８】コネクションレス通信の動作を図６により
説明すると，発呼側から送られるコネクションレスのセ
ル化メッセージ（１つのメッセージは複数個のセルに分
解される場合が多い）には，宛先情報（ＤＡという：De
stination Address)と発呼加入者のＶＣＩが各メッセー
ジ毎に付加されており，この宛先情報を識別してＡＴＭ
交換通話路５３におけるルーティングの判断情報である
ＶＣＩの書き換えを行う。

【０００９】各発メッセージ処理手段５０は，メッセー
ジを構成する各セルのＶＣＩ（加入者を識別するＶＣ
Ｉ）を，呼処理部５８から指定されたＶＣＩに変換して
ＡＴＭ交換通話路５３に入力する。ＡＴＭ交換通話路５
３は通話路制御部５７により制御され，各入力セルのＶ
ＣＩを識別してどの出力ハイウェイに出力するかの制御
を行う。ＡＴＭ交換通話路５３の出力は着メッセージ処
理手段５６に入力し，宛先の加入者のＶＣＩに変換が行
われる。

【００１０】この発メッセージ処理手段５０の機能は，
試験メッセージ発生部５０１から発生した試験メッセー
ジを試験メッセージ監視部５０２で監視することにより
正常に動作しているか監視される。同様に，着メッセー
ジ処理手段５６も試験メッセージ発生部５６０と試験メ
ッセージ監視部５６１により機能の正常性が監視され
る。

【００１１】上記のようなコネクションレス情報がＡＴ
Ｍ交換通話路５３において正常に通過するか否かを試験
する必要がある。そのため，試験セル発生手段５２，試
験セル挿入手段がＡＴＭ交換通話路５３の入力側に設け
られ，試験セル抽出手段５４，試験セル受信手段５５が
出力側に設けられている。

【００１２】試験セル発生手段５２は，目的とする出力
ハイウェイで未使用のＶＣＩを割当て，試験セルを発生
する。なお，呼処理部５８は，この試験セル発生手段５
２が動作する前に，前記の割当てられた未使用のＶＣＩ
のセルがＡＴＭ交換通話路５３内の所望のルートを通る
ように設定する。

【００１３】こうして試験セルはＡＴＭ交換通話路５３
の所望のルートを通して割当てられた出力ハイウェイに
出力される。出力されたセルは，各出力ハイウェイに対
応して設けられた試験セル抽出手段５４の中の決められ
た１つに出力される。出力ハイウェイ上に設けられた試
験セル抽出手段５４は，予め試験セル用に割当てられた
未使用のＶＣＩが付加されたセルを取り込み，試験セル
受信手段５５でセルを受信する。呼処理部５８は，試験
セル発生手段５２で発生した試験セルと試験セル受信手
段５５で受信した試験セルを比較してＡＴＭ通話路内を
正しいルートで通過し正常に送受できることを確認す
る。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】上記した従来例の方式
では，ＡＴＭ交換機の通話路の導通試験をするために通
話路の全入出力ハイウェイに試験セルの発生及び監視手
段が必要であると共に，試験セルであることを識別する
ために試験対象ルートで未使用のＶＣＩを割当てなけれ
ばならないという制限があった。すなわち，未使用のＶ
ＣＩを検出して，割当てるための処理が必要であった。

【００１５】発メッセージ処理手段５０と着メッセージ
処理手段５６の機能を監視する機構と，ＡＴＭ交換通話
路を試験する機構とをそれぞれ設ける必要があるために
ハードウェア量が多くなるという問題があった。

【００１６】本発明はＡＴＭ交換機の通話路試験の処理
を簡単にすると共にハードウェア量を少なくすることが
できるＡＴＭ交換機の通話路導通試験方式を提供するこ
とを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理構成
図である。図１において，１は発側装置，２は着側装
置，３はＡＴＭ交換通話路，４は呼処理部である。発側
装置１と着側装置２の，１０，２０は制御部，１１，２
１は試験メッセージ発生部，１２，２２は試験セル挿入
部，１３は発メッセージ処理部，２３は着メッセージ処
理部，１４，２４は試験セル抽出部，１５，２５は試験
メッセージ受信部である。

【００１８】本発明は，発側の発メッセージ処理部と着
側の着メッセージ処理部の機能の正常性を確認する機構
を用いてＡＴＭ交換通話路の試験を可能にするものであ
る。

【００１９】

【作用】図１において，発側装置１及び着側装置２にお
いてそれぞれ発メッセージ処理部１３，着メッセージ処
理部２３の機能の正常性を確認する場合，試験メッセー
ジ発生部１１，２１から試験メッセージとして特定の実
在しない（実際の通話路のパスの制御に使用しない）Ｄ
Ａ（宛先アドレス）を持ち，試験セルであることを表す
ＶＣＩを持つセルを発生する。各試験セルはそれぞれ試
験セル挿入部１２，２２からそれぞれ入力ハイウェイ，
出力ハイウェイに挿入される。

【００２０】ＡＴＭ交換通話路３の試験は，呼処理部４
の制御により発側装置１の制御部１０に対し通話路試験
を指示すると，通話路試験用の試験メッセージが試験メ
ッセージ発生部１１から発生する。この場合，メッセー
ジをセル化する時に，セルに付加するＶＣＩは試験メッ
セージを表示する値とし，ＤＡ（宛先）としては，実際
にＤＡとして存在しない値を割当てる。

【００２１】この試験セルを試験セル挿入部１２から入
力ハイウェイに挿入すると，発メッセージ処理部１３に
おいて，セルに含まれるＤＡとＶＣＩを識別して通話路
試験用のセルとあることが検出される。すると発メッセ
ージ処理部１３は，その試験セルのＶＣＩ値をＡＴＭ交
換通話路３で試験をしようとしているルート（パス）に
割当てられたＶＣＩ値に変換し，ＤＡはそのままで出力
する。

【００２２】この通話路試験用のセルは試験セル抽出部
１４に入力するが，そのＶＣＩ値が試験セルを表示して
いないのでそのまま通過してＡＴＭ交換通話路３に入力
する。ＡＴＭ交換通話路３は，そのセルをセルに含まれ
たＶＣＩ値に対応したルートへ切替えて転送して，着側
装置２のルートに接続した出力ハイウェイに送り出す。

【００２３】このセルは着側装置２の試験セル挿入部２
２を通過して着メッセージ処理部２３に到達すると，着
メッセージ処理部２３は，当該セルのＤＡ（宛先）を識
別することにより通話路試験用セルであることが分かる
と，そのＶＣＩを試験用セルであることを表示する値に
変換して出力する。このセルが試験セル抽出部２４に入
力すると，セルに含まれたＶＣＩの値が試験セルを表示
しているので，このセルを抽出して試験メッセージ受信
部２５に入力する。試験メッセージ受信部２５で受信し
たセルにより構成する試験メッセージは制御部２０を介
して呼処理部４に供給される。呼処理部４は発側装置１
から発生した試験メッセージと着側装置２で受信した試
験メッセージを比較してＡＴＭ交換通話路３が正常か否
かを判定する。

【００２４】発側装置１と着側装置２のそれぞれに設け
られた発メッセージ処理部１３と着メッセージ処理部２
３を監視する試験は，従来と同様に実行される。すなわ
ち，発側装置１では，試験メッセージ発生部１１からＶ
ＣＩとして試験メッセージを表示する値を割当てると共
に，ＤＡ（宛先）として実際に使用されない値を設定す
る（上記通話路試験用メッセージのＤＡと異なる値）。

【００２５】このメッセージのセルは，発メッセージ処
理部１３でこのセルのＶＣＩの値及びＤＡにより発メッ
セージ処理部の試験用セルであることを識別すると，Ｖ
ＣＩの値は試験を表示する値のままで出力する。このセ
ルが試験セル抽出部１４に入力すると，そのＶＣＩによ
り試験セルであることが検出されるので，そのセルは抽
出されて試験メッセージ受信部１５に供給される。

【００２６】制御部１０は受信したセルにより構成する
メッセージと試験メッセージ発生部１１で発生したメッ
セージを比較して発メッセージ処理部の正常動作を確認
する。着側装置２でも，着メッセージ処理部２３の正常
動作を発側装置１と同様の機能を持つ試験メッセージ発
生部２１，試験セル挿入部２２，試験セル抽出部２４及
び試験メッセージ受信部２５の動作及び制御部２０の制
御により実現する。

【００２７】

【実施例】図２は実施例の構成図，図３はメッセージの
各レイヤにおけるフォーマットを示す図，図４は発・着
メッセージ処理部の構成図，図５は発メッセージ処理部
のルーティング部の構成図である。

【００２８】図２において，符号１〜４は図１の同一符
号の装置に対応し，１は発側サーバ，２は着側サーバ，
３はＡＴＭ交換通話路，４は呼処理部である。また，発
側サーバ１と着側サーバ２内の，１０，２０はサーバ制
御部，１１，２１は試験メッセージ発生部，１２，２２
はセル多重化部（ＭＵＸで表示，図１の試験セル挿入部
１２，２２に対応），１３は発メッセージ処理部，２３
は着メッセージ処理部，１４０，１４１及び２４０，２
４１はアドレスフィルタ（ＡＦで表示）であり指定され
たＶＣＩを抽出する機能を備える。また，１５，２５は
試験メッセージ受信部，３０は通話路制御部，４は呼処
理部である。

【００２９】最初にメッセージの各レイヤにおけるフォ
ーマットを図３により説明する。加入者間で送受される
メッセージは図３の上段に示すようにレイヤ３（Ｌ３と
称される）に相当し，メッセージの先頭（右側）にＬ３
ヘッダ（Header) ，その後に送信すべき情報であるＬ３
情報，後部にＬ３トレイラ(Trailer )が順次配置された
構成である。このＬ３のメッセージは，ＡＴＭにより伝
送する際にアダプテーション層のレイヤ２（Ｌ２）に変
換される。

【００３０】このＬ２のフォーマットは，図３の中段に
示すように，Ｌ３のメッセージを先頭から順次一定長
（例えば４４バイト）のブロックに分割して，各ブロッ
クに対して，先頭にアダプテーション層の処理に使用す
るＬ２ヘッダ（例えば，２バイト）を新たに付加すると
共に後部にＬ２トレイラ（例えば，２バイト）が付加さ
れ，この例ではＬ２の各ブロックは４４バイト長にな
る。

【００３１】次に，Ｌ２において作成された各ブロック
を元にレイヤ１（Ｌ１）のセルが形成され，セルフォー
マットは図３の下段に示す構成である。すなわち，Ｌ２
の各ブロックの先頭にＬ１のヘッダが付加され（例え
ば，５バイト），ヘッダの後はＬ２のブロックがそのま
ま配置されて，Ｌ１のセルとなり，この例では，Ｌ１の
セル（ＡＴＭセル）の長さは５３バイトとなる。

【００３２】図３に示すフォーマットにおいて，コネク
ションレスのメッセージを送出する場合，Ｌ２における
アダプテーション層のブロック化を介して，Ｌ１のセル
化が行われる。この場合，加入者から交換機へ入力され
る場合は，Ｌ３の各セルには各加入者側で設定したＶＣ
Ｉがヘッダに付与されており，交換機ではセル化された
メッセージの先頭のセルに含まれた宛先アドレス（Ｄ
Ａ）を検出して，宛先へ転送するルートを選択（ルーテ
ィング）し，選択されたルートに対応するＶＣＩを図３
のレイヤ１のセルフォーマットに示すように各セルのＬ
１ヘッダ内に書き込む（元のＶＣＩを変更する）。

【００３３】図２の実施例の構成は上記のようなフォー
マットを使用するメッセージのセルを交換すると共に通
話路導通試験を実行する。実施例の動作を説明すると，
加入者より入力するコネクションレスのメッセージはセ
ル化されて発側サーバ１に入力して，セル多重化部１２
を介して発メッセージ処理部１３に入力する。ここで宛
先アドレス（ＤＡ）を識別してルーティングされ対応す
るＶＣＩに変換され，通常のセルはアドレスフィルタＡ
Ｆ１４０を介して通話路３で交換され，対応する宛先の
着側サーバ２に入力する。この中の着メッセージ処理部
２３でセルのＶＣＩが相手加入者のＶＣＩに変換されて
送出される。

【００３４】発メッセージ処理部１３と，着メッセージ
処理部２３の機能を監視する場合は，サーバ制御部１
０，２０の制御により試験メッセージ発生部１１，試験
メッセージ発生部２１から監視用のメッセージをセル化
して従来と同様に送出すると，セル多重化部１２，２２
から各メッセージ処理部１３，２３に入力し，ここでそ
れぞれのＶＣＩ値を特定の監視用の値に変換して出力す
る。このセルは，アドレスフィルタ１４１，２４１にお
いて検出されて試験メッセージ受信部１５，２５に入力
する。

【００３５】図２における通話路３の導通試験の動作を
説明する。呼処理部４からの指示によりサーバ制御部１
０が通話路導通試験を行うため試験メッセージ発生部１
１を駆動する。試験メッセージ発生部１１は，試験メッ
セージのセルとして発メッセージ処理部１３を試験する
ために割り当てられたＶＣＩ（例えば，オール“０”）
を持ち，宛先アドレス（ＤＡ）として使用しない番号を
設定した試験メッセージを発生する。例えば，通常の宛
先アドレス（ＤＡ）は番号を２進化１０進数値（４ビッ
ト）の複数桁で表し，各桁の数値は００００〜１００１
の範囲内であるのに対し，各桁の４ビットの値をオール
“１”とする。

【００３６】この試験メッセージはセル多重化部１２か
ら発メッセージ処理部１３に入力する。 通話路導通試
験を行う時，呼処理部４から導通試験の対象となるルー
ト（パス）がサーバ制御部１０に指示されており，発メ
ッセージ処理部１３は，通話路導通試験用のメッセージ
のセル（上記特定のＤＡにより識別できる）が入力する
とサーバ制御部１０は，そのメッセージのセルのＶＣＩ
を試験対象となる宛先（特定の出側ハイウェイ）に到る
通話路パスのＶＣＩに変換する。

【００３７】変換されたＶＣＩを持つ導通試験用メッセ
ージのセルは，一般の通信用のセルと同様のＶＣＩを持
つのでアドレスフィルタ１４０を通過し，通話路３に入
力する。通話路３は呼処理部４から指示された通話路制
御部３０の制御により各入力側のハイウェイのセルをＶ
ＣＩに応じたパスを形成して宛先の出力側のハイウェイ
に転送する。

【００３８】セルは出力側のハイウェイに接続する着側
サーバ２に入力すると，セル多重化部２２を通り着メッ
セージ処理部２３に供給される。サーバ制御部２０は，
呼処理部４から予め導通試験の対象となるパスが指示さ
れ，そのパスのＶＣＩが着メッセージ処理部２３に供給
されている。

【００３９】この着メッセージ処理部２３では，上記し
た不使用の宛先アドレス（ＤＡ）を持つセル（導通試験
用メッセージのセル）が入力すると，そのＶＣＩを試験
メッセージ・セルに割り当てられたＶＣＩ（オール
“０”）に書き換えて送出する。アドレスフィルタ（Ａ
Ｆ）２４１は，試験メッセージのセルを取り込み，試験
メッセージ受信部２５でこのセルを受信する。

【００４０】呼処理部４は，着側サーバ２で受信した試
験メッセージと発側サーバ１で送信した試験メッセージ
を比較することにより，指定した通話路における導通動
作の正常性をチェックすることができる。

【００４１】図４に発・着メッセージ処理部の構成を示
し，図５に発メッセージ処理部のルーティング部の構成
を示す。図４のＡ．は発メッセージ処理部，Ｂ．は着メ
ッセージ処理部の構成である。

【００４２】発メッセージ処理部１３は，プロトコル終
端部１３０で，加入者側から入力する情報のプロトコル
を終端し，ルーティング部１３１でメッセージのセルを
通話路にルーティングするためのＶＣＩの付与を行い，
その出力は通話路へのプロトコル終端部１３５から通話
路へ出力される。

【００４３】この発メッセージ処理部のルーティング部
１３１の機構を図５により説明する。入力する試験メッ
セージの先頭のセルの，情報フィールドにはＬ３のヘッ
ダ（図３参照）が格納されており，このセルがＤＡ判別
部１３２に入力するとセル中のＤＡ（宛先アドレス）が
判別される。一方，ＶＣＩ変換テーブル１３４の内容は
サーバ制御部（図２の１０）より書き込まれている。通
話路の導通試験の場合，上記したように不使用のＤＡが
予め試験メッセージ発生部（図２の１１）から付与され
ており，サーバ制御部からＶＣＩ変換テーブル１３４
に，このＤＡに対応するＶＣＩとして試験の対象となる
ルートのＶＣＩが書き込まれている。

【００４４】ＤＡ判別部１３２で判別したＤＡによりＶ
ＣＩ変換テーブル１３４を参照すると，対応するＶＣＩ
が読み出され，そのＶＣＩはＶＣＩ付与部１３３に供給
されて当該セルのヘッダ（Ｌ１ヘッダ）内のＶＣＩとし
て書き込まれる（元のＶＣＩが変換される）。こうし
て，通話路導通試験用メッセージのセルのＶＣＩが変換
される。

【００４５】次に図４のＢ．の着メッセージ処理部は，
発メッセージ処理部と同様に，プロトコル終端部２３０
から入力するセルがルーティング部２３１に入力する
と，着アドレス判別部２３２において加入者側のどの端
末が着信先かを識別する。この判別により着側アドレス
が分かると，そのアドレスによりＶＣＩ変換テーブル２
３４を参照する。このテーブル２３４は，上記の発メッ
セージ処理部のＶＣＩ変換テーブル１３４と同様の構成
であり，着側のアドレスに対応するＶＣＩが書き込まれ
ているので，そのＶＣＩを取り出すと，ＶＣＩ付与部２
３３に供給すると，セルの元のＶＣＩと異なるＶＣＩが
付与される。

【００４６】通話路導通試験メッセージの先頭のセルに
は着側アドレス（Ｌ１セルの情報フィールドに含まれた
Ｌ３のヘッダに入っている）として上記したように不使
用の宛先アドレスＤＡが含まれており，着アドレス判別
部２３２でこれを判別する。ＶＣＩ変換テーブル２３４
には，サーバ制御部（図２の２０）から予めこのアドレ
スに対応して試験用セルのＶＣＩ（オール“０”）を書
き込まれており，着アドレス判別部２３２からの判別し
た宛先アドレスＤＡにより参照すると，試験用セルのＶ
ＣＩが取り出され，ＶＣＩ付与部２３３においてこのＶ
ＣＩ（オール“０”）が試験セルに対して付与される。

【００４７】上記の実施例の構成では，試験メッセージ
発生部や試験メッセージ受信部は，各ハイウェイ毎に設
けられているが，共通の試験メッセージ発生部と試験メ
ッセージ受信部を設け，呼処理部からの指示により試験
対象ルートの入出力ハイウェイへセル化メッセージを挿
入・抽出することによりハード量を減らすことができ
る。

【００４８】

【発明の効果】本発明によればコネクションレス情報を
収容するＡＴＭ網において発・着のメッセージ処理部の
試験装置を用いてＡＴＭ交換通話路の導通試験を行うこ
とができるため通話路専用の試験装置を設ける必要がな
くなり，ハードウェア構成を簡易にすることができる。
試験対象ルートに予めパスが設定されているＶＣＩがあ
ればそのＶＣＩを試験セル用に用いることができるた
め，従来のように試験セル用に空きのＶＣＩを探して新
たなパスを設定する必要がなくなり試験を簡単に実行で
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理構成図である。

【図２】実施例の構成図である。

【図３】メッセージの各レイヤにおけるフォーマットを
示す図である。

【図４】発・着メッセージ処理部の構成図である。

【図５】発メッセージ処理部のルーティング部の構成図
である。

【図６】従来例の説明図である。

【符号の説明】

１ 発側装置 ２ 着側装置 ３ ＡＴＭ交換通話路 ４ 呼処理部 １０，２０ 制御部 １１，２１ 試験メッセージ発生部 １２，２２ 試験セル挿入部 １３ 発メッセージ処理部 ２３ 着メッセージ処理部 １４，２４ 試験セル抽出部 １５，２５ 試験メッセージ受信部

フロントページの続き (72)発明者 川崎 健 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 黒柳 智司 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 通話路の前段にセル化された可変長メッ
   セージの宛先アドレスを解析して通話路のルーティング
   を行う発メッセージ処理部を，後段に加入者へのルーテ
   ィングを行う着メッセージ処理部を備え，入力するセル
   のＶＣＩ値に応じて前記発メッセージ処理部と着メッセ
   ージ処理部間で交換する通話路を備え，前記発メッセー
   ジ処理部と着メッセージ処理部のそれぞれの入力側に試
   験メッセージを挿入する手段を，出力側に試験メッセー
   ジを抽出する手段を備えたコネクションレス情報を交換
   処理するＡＴＭ交換機の通話路導通試験方式において，
   通話路の導通試験用のメッセージに特定の宛先を含み，
   試験を表すＶＣＩ値を設定したセル化メッセージを前記
   発メッセージ処理部の前段の挿入手段に入力し，発メッ
   セージ処理部は該セルを検出すると試験対象のルートを
   表すＶＣＩに変換して通話路に入力し， 対応するルートの着メッセージ処理部は，通話路から出
   力された前記導通試験用のセルのＶＣＩ値を試験用ＶＣ
   Ｉ値に変換し， 前記着メッセージ処理部の後段の試験メッセージの抽出
   手段は前記試験用ＶＣＩ値を持つセルを抽出することを
   特徴とするＡＴＭ交換機の通話路導通試験方式。
2. 【請求項２】 請求項１において， 通話路導通試験用のセル化試験メッセージ発生部を各入
   力ハイウェイに対し共通に設け，セル化試験メッセージ
   受信部を各出力ハイウェイに対し共通に設け，試験対象
   通話路に接続する発メッセージ処理部の前段の挿入手段
   から前記セル化試験メッセージ発生部のセル化試験メッ
   セージを挿入し， 試験対象通話路の出力ハイウェイの着メッセージ処理部
   の後段の抽出手段から前記セル化試験メッセージ受信部
   へセル化試験メッセージを抽出することを特徴とするＡ
   ＴＭ交換機の通話路導通試験方式。