JPH0514197Y2 - - Google Patents
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- JPH0514197Y2 JPH0514197Y2 JP1986008658U JP865886U JPH0514197Y2 JP H0514197 Y2 JPH0514197 Y2 JP H0514197Y2 JP 1986008658 U JP1986008658 U JP 1986008658U JP 865886 U JP865886 U JP 865886U JP H0514197 Y2 JPH0514197 Y2 JP H0514197Y2
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- JP
- Japan
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- gas
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- flow path
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- inlet
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- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 2
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- 239000007789 gas Substances 0.000 description 129
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は水晶発振式の水分計、アンモニア計又
はNO2計などのように、表面に感応膜をもつ水
晶振動子の重量変化に基いて試料濃度を測定する
装置に関するものである。
はNO2計などのように、表面に感応膜をもつ水
晶振動子の重量変化に基いて試料濃度を測定する
装置に関するものである。
(従来の技術)
水晶発振式の水分計を例にして説明すると、水
晶振動子はその重量増加により発振周波数が減少
する。水晶振動子表面に感湿膜をコーテイングす
ると、この感湿膜に吸着する水分量(重さ)によ
り発振周波数が変化する。乾燥ガスと試料ガスを
交互に流し、そのときの周波数の差を求めること
により試料ガス中の水分濃度を測定することがで
きる。
晶振動子はその重量増加により発振周波数が減少
する。水晶振動子表面に感湿膜をコーテイングす
ると、この感湿膜に吸着する水分量(重さ)によ
り発振周波数が変化する。乾燥ガスと試料ガスを
交互に流し、そのときの周波数の差を求めること
により試料ガス中の水分濃度を測定することがで
きる。
第3図に従来の水分計の流路を示す。
試料ガス入口1より導入されたガスは2個の流
路に分岐される。一方の流路は試料ガスラインと
なり、試料ガス用ニードル弁3−3を経て電磁弁
5−3へ導びかれる。他の流路は除湿器2を経て
さらに2個の流路に分岐される。分岐後の一方の
流路は乾燥ガスラインとなり、乾燥ガス用ニード
ル弁3−1を経て電磁弁5−1へ導かれる。分岐
後の他方の流路は校正ガスラインとなり、校正ガ
ス用ニードル弁3−2、パーメシヨン式の水分発
生器4を経て電磁弁5−2へ導かれる。各電磁弁
5−1,5−2,5−3の一方の出口は測定セル
6に接続され、各電磁弁5−1,5−2,5−3
の他方の出口はバイパス出口10に接続されてい
る。7はセンサ、8は流量計、9はガス排出口で
ある。
路に分岐される。一方の流路は試料ガスラインと
なり、試料ガス用ニードル弁3−3を経て電磁弁
5−3へ導びかれる。他の流路は除湿器2を経て
さらに2個の流路に分岐される。分岐後の一方の
流路は乾燥ガスラインとなり、乾燥ガス用ニード
ル弁3−1を経て電磁弁5−1へ導かれる。分岐
後の他方の流路は校正ガスラインとなり、校正ガ
ス用ニードル弁3−2、パーメシヨン式の水分発
生器4を経て電磁弁5−2へ導かれる。各電磁弁
5−1,5−2,5−3の一方の出口は測定セル
6に接続され、各電磁弁5−1,5−2,5−3
の他方の出口はバイパス出口10に接続されてい
る。7はセンサ、8は流量計、9はガス排出口で
ある。
3個の電磁弁5−1,5−2,5−3を一定の
サイクルで切り換え、測定セル6へ導入するガス
を選択する。すなわち、試料ガス濃度測定のとき
は電磁弁5−1と電磁弁5−3を交互に切り換え
て乾燥ガスラインと試料ガスラインを交互に測定
セル6へ接続する。校正用ガス濃度測定のときは
電磁弁5−1と電磁弁5−2を交互に切り換えて
乾燥ガスラインと校正ガスラインを交互に測定セ
ル6へ接続する。そして、選択されなかつたガス
はバイパス出口10から排出される。
サイクルで切り換え、測定セル6へ導入するガス
を選択する。すなわち、試料ガス濃度測定のとき
は電磁弁5−1と電磁弁5−3を交互に切り換え
て乾燥ガスラインと試料ガスラインを交互に測定
セル6へ接続する。校正用ガス濃度測定のときは
電磁弁5−1と電磁弁5−2を交互に切り換えて
乾燥ガスラインと校正ガスラインを交互に測定セ
ル6へ接続する。そして、選択されなかつたガス
はバイパス出口10から排出される。
(考案が解決しようとする問題点)
第3図のような水分計には次のような問題点が
ある。
ある。
(1) 構成が複雑なため、センサ7を直接試料ガス
ラインに設けられない。したがつて、試料ガス
入口1から試料ガスラインまでの配管が必要で
あり、この配管での時間遅れが生じる。水分は
吸着能力が強いため脱着に時間を要し、応答が
遅れる。
ラインに設けられない。したがつて、試料ガス
入口1から試料ガスラインまでの配管が必要で
あり、この配管での時間遅れが生じる。水分は
吸着能力が強いため脱着に時間を要し、応答が
遅れる。
(2) 各ガスラインとも常にガスを流しておく必要
があるため、採取する試料流量が多い。例え
ば、1本のガスライン当り400c.c./分のガス流
量を必要とすれば、3本のガスラインでは1200
c.c./分のガス流量を必要とする。
があるため、採取する試料流量が多い。例え
ば、1本のガスライン当り400c.c./分のガス流
量を必要とすれば、3本のガスラインでは1200
c.c./分のガス流量を必要とする。
(3) 有毒で危険なガスを測定する場合、構成が複
雑なため漏れなどの生じる危険性が増すととも
に、上記(2)でも述べたように試料流量が多いた
め、その後処理が問題になる。
雑なため漏れなどの生じる危険性が増すととも
に、上記(2)でも述べたように試料流量が多いた
め、その後処理が問題になる。
以上のような問題点は、水分計だけに限らず、
アンモニア計やNO2計でも同様に存在する。
アンモニア計やNO2計でも同様に存在する。
本考案は、ゼロガス(試料成分を除去したガ
ス)と試料ガスを交互に流す水晶発振式測定装置
において、構造を簡単にすることによつて試料ガ
ス入口からセンサまでの時間遅れを極少にし、構
成部分を減らしてコスト低下と漏れなどから生じ
る危険性を少なくし、外部へ排出するガスをなく
して後処理の問題を解消することを目的とするも
のである。
ス)と試料ガスを交互に流す水晶発振式測定装置
において、構造を簡単にすることによつて試料ガ
ス入口からセンサまでの時間遅れを極少にし、構
成部分を減らしてコスト低下と漏れなどから生じ
る危険性を少なくし、外部へ排出するガスをなく
して後処理の問題を解消することを目的とするも
のである。
(問題点を解決するための手段)
実施例を示す第1図及び第2図を参照して説明
すると、本考案の水晶発振式測定装置は、水晶振
動子表面に感応膜をもつセンサ14が測定セル入
口と測定セル出口との間を結ぶ測定セル内流路に
沿つて配置されている測定セル13を有し、乾燥
ガス入口16及び試料ガスライン24に面した試
料ガス入口11とを測定セル入口側に有し、測定
セル出口側にガス出口15を有し、試料ガス入口
11とガス出口15との間には測定セル内流路に
並列で測定セル内流路よりも流路抵抗の小さいバ
イパス流路12を有するセル部と、吸引ポンプ1
7を有しガス出口15に接続された吸引流路と、
試料ガスライン24に戻る戻り流路Aと、試料成
分除去手段23を有し乾燥ガス入口16につなが
る循環流路Bと、吸引流路を戻り流路Aと循環流
路Bとに切り換えて接続する切換え弁19と、校
正ガス出口を測定セル13の入口近傍にもつ校正
ガスライン26とを備えている。
すると、本考案の水晶発振式測定装置は、水晶振
動子表面に感応膜をもつセンサ14が測定セル入
口と測定セル出口との間を結ぶ測定セル内流路に
沿つて配置されている測定セル13を有し、乾燥
ガス入口16及び試料ガスライン24に面した試
料ガス入口11とを測定セル入口側に有し、測定
セル出口側にガス出口15を有し、試料ガス入口
11とガス出口15との間には測定セル内流路に
並列で測定セル内流路よりも流路抵抗の小さいバ
イパス流路12を有するセル部と、吸引ポンプ1
7を有しガス出口15に接続された吸引流路と、
試料ガスライン24に戻る戻り流路Aと、試料成
分除去手段23を有し乾燥ガス入口16につなが
る循環流路Bと、吸引流路を戻り流路Aと循環流
路Bとに切り換えて接続する切換え弁19と、校
正ガス出口を測定セル13の入口近傍にもつ校正
ガスライン26とを備えている。
(実施例)
第1図は本考案を水分計に適用した一実施例の
流路を示す図であり、鎖線から右側部分が測定セ
ル部分である。第2図は同実施例における測定セ
ル部分を示す断面図である。
流路を示す図であり、鎖線から右側部分が測定セ
ル部分である。第2図は同実施例における測定セ
ル部分を示す断面図である。
測定セル部分は第2図に示されるように、フラ
ンジ28により試料ガスライン24内に挿入され
るように構成されている。
ンジ28により試料ガスライン24内に挿入され
るように構成されている。
11は試料ガス入口であり、試料ガスライン2
4内に位置している。27は試料ガス入口11に
設けられたフイルタである。
4内に位置している。27は試料ガス入口11に
設けられたフイルタである。
15は測定セル部分からポンプ17につながる
ガス出口、16は除湿器23から測定セル部分へ
乾燥ガスを循環させるガス入口である。
ガス出口、16は除湿器23から測定セル部分へ
乾燥ガスを循環させるガス入口である。
試料ガス入口11とガス出口15の間には測定
セル13が設けられ、測定セル13内にはセンサ
14が設けられている。センサ14は水晶振動子
の表面に感応膜を被覆したものである。25はセ
ンサ14に接続されているプリアンプである。
セル13が設けられ、測定セル13内にはセンサ
14が設けられている。センサ14は水晶振動子
の表面に感応膜を被覆したものである。25はセ
ンサ14に接続されているプリアンプである。
試料ガス入口11とガス出口15の間にはま
た、測定セル13に並列に測定セル13よりも流
路抵抗の小さいバイパス流路12が設けられてい
る。
た、測定セル13に並列に測定セル13よりも流
路抵抗の小さいバイパス流路12が設けられてい
る。
測定セル部分のガス出口15の下流には吸引ポ
ンプ17が設けられており、ポンプ17の下流に
は流量計18を経て切換え電磁弁19が設けられ
ている。切換え電磁弁19の一方の出口は、試料
ガス用ニードル弁21を経てガス排出口22から
元の試料ガスライン24へ通じる流路Aに接続さ
れている。切換え電磁弁19の他方の出口は、乾
燥ガス用ニードル弁20及び除湿器23を経て測
定セル部分のガス入口16につながる循環流路B
を構成している。
ンプ17が設けられており、ポンプ17の下流に
は流量計18を経て切換え電磁弁19が設けられ
ている。切換え電磁弁19の一方の出口は、試料
ガス用ニードル弁21を経てガス排出口22から
元の試料ガスライン24へ通じる流路Aに接続さ
れている。切換え電磁弁19の他方の出口は、乾
燥ガス用ニードル弁20及び除湿器23を経て測
定セル部分のガス入口16につながる循環流路B
を構成している。
破線で示された流路26は校正用ガス流路であ
り、その校正ガス出口は測定セル13の入口近傍
に設けられている。校正ガス測定時に、校正用ガ
ス流路26からは一定濃度に調節された校正ガス
が一定流量で供給される。そのため、校正ガス測
定時、湿つたガスがガス排出口22から試料ガス
ライン24へ戻されることになる。短時間でもこ
れが許されない場合は、試料ガス用ニードル弁2
1とガス排出口22との間に切換え用電磁弁を設
け、この電磁弁で校正時のガスを試料ガスライン
24へ戻さないで、外部へ排出するようにすれば
よい。
り、その校正ガス出口は測定セル13の入口近傍
に設けられている。校正ガス測定時に、校正用ガ
ス流路26からは一定濃度に調節された校正ガス
が一定流量で供給される。そのため、校正ガス測
定時、湿つたガスがガス排出口22から試料ガス
ライン24へ戻されることになる。短時間でもこ
れが許されない場合は、試料ガス用ニードル弁2
1とガス排出口22との間に切換え用電磁弁を設
け、この電磁弁で校正時のガスを試料ガスライン
24へ戻さないで、外部へ排出するようにすれば
よい。
フランジ部28にはプリアンプ25を設ける。
このプリアンプ25は発振、比較及び波形整形な
どの回路からなり、別置の信号処理部と接続され
る。
このプリアンプ25は発振、比較及び波形整形な
どの回路からなり、別置の信号処理部と接続され
る。
測定セル部13は、ヒータと温度検出素子(例
えばサーミスタ)(図示していない)とにより恒
温に温度制御されるのが望ましい。
えばサーミスタ)(図示していない)とにより恒
温に温度制御されるのが望ましい。
次に本実施例の動作について説明する。
この水分計は従来の水分計と同様に試料ガスと
乾燥ガスを交互に測定セルに流し、その時の周波
数の差から水分濃度を測定する。
乾燥ガスを交互に測定セルに流し、その時の周波
数の差から水分濃度を測定する。
試料ガス測定時
切換え電磁弁19は流路A側に接続される。試
料ガスは試料ガス入口11からポンプ17により
吸引される。その途中に設けられたセンサ14を
含む測定セル13により、この時の周波数を測定
する。ポンプ17からのガスは流量計18を通り
電磁弁19で流路Aが選択され、試料ガス用ニー
ドル弁21を経てガス排出口22から元の試料ガ
スライン24に戻される。
料ガスは試料ガス入口11からポンプ17により
吸引される。その途中に設けられたセンサ14を
含む測定セル13により、この時の周波数を測定
する。ポンプ17からのガスは流量計18を通り
電磁弁19で流路Aが選択され、試料ガス用ニー
ドル弁21を経てガス排出口22から元の試料ガ
スライン24に戻される。
乾燥ガス測定時
切換え電磁弁19は循環流路B側に接続され
る。
る。
ポンプ17から吐出された試料ガスは流量計1
8を通り、電磁弁19で循環流路Bが選択され、
乾燥ガス用ニードル弁20を経て除湿器23に導
かれる。ここで試料ガスが乾燥され、ガス入口1
6を経てセンサ14を含む測定セル13に導かれ
る。測定セル13によりこの時の周波数を測定す
る。
8を通り、電磁弁19で循環流路Bが選択され、
乾燥ガス用ニードル弁20を経て除湿器23に導
かれる。ここで試料ガスが乾燥され、ガス入口1
6を経てセンサ14を含む測定セル13に導かれ
る。測定セル13によりこの時の周波数を測定す
る。
乾燥ガス測定時のガスラインは試料ガス入口1
1の一箇所を除けば、閉流路(循環流路)になつ
ている。したがつて、試料ガス入口11からの拡
散によるガスの入れ換わりを除けば、乾燥ガスは
循環するだけである。
1の一箇所を除けば、閉流路(循環流路)になつ
ている。したがつて、試料ガス入口11からの拡
散によるガスの入れ換わりを除けば、乾燥ガスは
循環するだけである。
校正ガス測定時
切換え電磁弁19は流路A側に接続され、校正
用ガス流路26から校正ガスが供給される。ポン
プ17の吸引流量に相当する校正ガスが供給され
ることにより、センサ14には校正ガスのみが流
れる。
用ガス流路26から校正ガスが供給される。ポン
プ17の吸引流量に相当する校正ガスが供給され
ることにより、センサ14には校正ガスのみが流
れる。
測定セル13と並列に測定セル13内の流路よ
りも流路抵抗の小さいバイパス流路12を設けて
いるが、これは乾燥ガス測定時及び校正ガス測定
時に、試料ガス入口11からの拡散により試料ガ
スが侵入しても、この侵入ガスは試料ガス入口1
1により近くて流路抵抗の小さいバイパス流路1
2を通り、センサ14には乾燥ガス又は校正ガス
のみを流すためである。また、試料ガス測定時、
除塵のため設けたフイルタ27等による応答遅れ
や、試料ガスと乾燥ガスの置換による応答遅れを
少なくするため、両ガスの流量を多くする必要が
あるが、それらのガスの大部分をバイパスさせる
ことにより、ガス流量を多くすることに伴なう流
速の負荷(干渉)をセンサ14に与えないためで
ある。
りも流路抵抗の小さいバイパス流路12を設けて
いるが、これは乾燥ガス測定時及び校正ガス測定
時に、試料ガス入口11からの拡散により試料ガ
スが侵入しても、この侵入ガスは試料ガス入口1
1により近くて流路抵抗の小さいバイパス流路1
2を通り、センサ14には乾燥ガス又は校正ガス
のみを流すためである。また、試料ガス測定時、
除塵のため設けたフイルタ27等による応答遅れ
や、試料ガスと乾燥ガスの置換による応答遅れを
少なくするため、両ガスの流量を多くする必要が
あるが、それらのガスの大部分をバイパスさせる
ことにより、ガス流量を多くすることに伴なう流
速の負荷(干渉)をセンサ14に与えないためで
ある。
試料ガス濃度測定のときは切換え電磁弁19を
交互に切り換える。校正ガス濃度測定のときは切
換え電磁弁19を交互に切り換えるとともに、切
換え電磁弁19を流路A側に切り換えたときは校
正ガス用流路26から校正ガスを供給し、切換え
電磁弁19を循環流路B側に切り換えたときは校
正ガスの供給を停止する。
交互に切り換える。校正ガス濃度測定のときは切
換え電磁弁19を交互に切り換えるとともに、切
換え電磁弁19を流路A側に切り換えたときは校
正ガス用流路26から校正ガスを供給し、切換え
電磁弁19を循環流路B側に切り換えたときは校
正ガスの供給を停止する。
第2図に示されているように、測定セル部分を
フランジ方式で形成すると、測定セル部分を試料
ガスライン24に直接挿入できる型式の水晶発振
式水分計が得られる。
フランジ方式で形成すると、測定セル部分を試料
ガスライン24に直接挿入できる型式の水晶発振
式水分計が得られる。
また、分析部と信号処理部を分割すると、危険
なガスの近くで作業をしなくてもすむようにな
る。
なガスの近くで作業をしなくてもすむようにな
る。
本考案の測定装置は、実施例に例示の水分計に
限らず、水晶振動子を用い、ゼロガスと試料ガス
を交互に流す方式の測定装置であれば、アンモニ
ア計やNO2計などにも同様にして適用すること
ができる。
限らず、水晶振動子を用い、ゼロガスと試料ガス
を交互に流す方式の測定装置であれば、アンモニ
ア計やNO2計などにも同様にして適用すること
ができる。
(考案の効果)
本考案の測定装置では次のような効果を達成す
ることができる。
ることができる。
(1) 構造が簡単になるので、サンプリングのため
の配管や構成部分などによる時間遅れが小さく
なる。特に、試料ガスラインへ直接挿入できる
ものにすれば、その効果は顕著である。
の配管や構成部分などによる時間遅れが小さく
なる。特に、試料ガスラインへ直接挿入できる
ものにすれば、その効果は顕著である。
(2) 構成部分が減る。したがつて、コスト低下を
図ることができるとともに、接続箇所が減り、
漏れなどから生じる危険も少なくなり、性能や
安全性も向上する。
図ることができるとともに、接続箇所が減り、
漏れなどから生じる危険も少なくなり、性能や
安全性も向上する。
(3) 外部へ排出するガスをなくし、後処理の問題
を解消することができる。
を解消することができる。
(4) 乾燥ガスが循環するため、除湿剤(例えばモ
レキユラシーブ)などの試料成分除去手段の寿
命が長くなる。
レキユラシーブ)などの試料成分除去手段の寿
命が長くなる。
第1図は一実施例の流路を示す概略図、第2図
は同実施例における測定セル部分を示す断面図、
第3図は従来の水分計を示す概略図である。 11……試料ガス入口、12……バイパス流
路、13……測定セル、14……センサ、17…
…ポンプ、19……切換え電磁弁、24……試料
ガスライン。
は同実施例における測定セル部分を示す断面図、
第3図は従来の水分計を示す概略図である。 11……試料ガス入口、12……バイパス流
路、13……測定セル、14……センサ、17…
…ポンプ、19……切換え電磁弁、24……試料
ガスライン。
Claims (1)
- 水晶振動子表面に感応膜をもつセンサが測定セ
ル入口と測定セル出口との間を結ぶ測定セル内流
路に沿つて配置されている測定セルを有し、乾燥
ガス入口及び試料ガスラインに面した試料ガス入
口とを測定セル入口側に有し、測定セル出口側に
ガス出口を有し、前記試料ガス入口と前記ガス出
口との間には前記測定セル内流路に並列で前記測
定セル内流路よりも流路抵抗の小さいバイパス流
路を有するセル部と、吸引ポンプを有し前記ガス
出口に接続された吸引流路と、前記試料ガスライ
ンに戻る戻り流路と、試料成分除去手段を有し前
記乾燥ガス入口につながる循環流路と、前記吸引
流路を前記戻り流路と前記循環流路とに切り換え
て接続する切換え弁と、校正ガス出口を測定セル
入口近傍にもつ校正ガスラインと、を備えた水晶
発振式測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986008658U JPH0514197Y2 (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986008658U JPH0514197Y2 (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62121545U JPS62121545U (ja) | 1987-08-01 |
JPH0514197Y2 true JPH0514197Y2 (ja) | 1993-04-15 |
Family
ID=30793240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986008658U Expired - Lifetime JPH0514197Y2 (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0514197Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2022137438A1 (ja) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940238A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-05 | Shimadzu Corp | 水晶発振式水分分析システム |
-
1986
- 1986-01-23 JP JP1986008658U patent/JPH0514197Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940238A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-05 | Shimadzu Corp | 水晶発振式水分分析システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62121545U (ja) | 1987-08-01 |
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