JPH05129270A - 洗浄装置 - Google Patents

洗浄装置

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JPH05129270A
JPH05129270A JP28516491A JP28516491A JPH05129270A JP H05129270 A JPH05129270 A JP H05129270A JP 28516491 A JP28516491 A JP 28516491A JP 28516491 A JP28516491 A JP 28516491A JP H05129270 A JPH05129270 A JP H05129270A
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JP
Japan
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cleaning
wafer
cleaned
treatment
tank
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Withdrawn
Application number
JP28516491A
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English (en)
Inventor
Eiji Yamaguchi
永司 山口
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 従来に較べて良好な洗浄処理を実施すること
ができるとともに、薬液を加熱して行う洗浄処理に対し
ても対応することのできる洗浄装置を提供する。 【構成】 ローダ5上に載置されたウエハキャリア60
内の半導体ウエハを回転搬送アーム9によって受け取
り、洗浄処理槽10、11、水中ローダ7に順次搬送
し、洗浄処理ユニット2による洗浄処理を実施する。同
様に、洗浄処理ユニット3による洗浄処理を実施する。
しかる後、水中ローダ8によって、半導体ウエハを洗浄
処理ユニット4に移送し、回転搬送アーム15によっ
て、乾燥処理槽17に搬送する。また、回転搬送アーム
15のウエハフォークを洗浄・乾燥機構16内に挿入し
て洗浄・乾燥を実施し、アンローダ6にアンロードす
る。アンモニア処理を行う洗浄処理槽11および塩酸処
理を行う洗浄処理槽13の排気管には、トラップ機構が
設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、被洗浄物例えば半導体ウエハ
を自動的に洗浄する洗浄装置として、材質例えばテフロ
ン等から構成されたウエハキャリア内に複数枚(例えば
25枚)収容された半導体ウエハを、ウエハキャリアごと
搬送し、洗浄液槽およびリンス液槽等に順次浸漬して洗
浄するよう構成された洗浄装置が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年半
導体デバイスは高集積化される傾向にあり、その回路パ
ターンは益々微細化されつつある。ところが、上述した
従来の洗浄装置では、半導体ウエハとともにウエハキャ
リアを洗浄液槽等に浸漬するので、ウエハキャリアによ
る洗浄液等の汚染、例えばウエハキャリアを構成するテ
フロンからの汚染物質の溶出等が問題となる。
【0004】また、洗浄装置において例えばアンモニア
過水処理や塩酸処理過水を行う場合、これらの薬液を加
熱して洗浄処理を行う場合がある。このような場合、こ
れらの薬液から蒸気が発生するため、この蒸気が外部に
漏洩して悪影響を与えたり、排気管内で蒸気が冷やされ
て凝結し、排気管内に溜まって排気流量が低下してしま
う等の問題が発生する。
【0005】本発明は、かかる従来の事情に対処してな
されたもので、排気ダクト内でのミストの結露を防ぎ、
また、本装置の使用者の排気処理装置の長寿命化を提
し、良好な洗浄処理を実施することができるとともに、
薬液を加熱して行う洗浄処理に対しても対応することの
できる洗浄装置を提供しようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明の洗浄装
置は、被洗浄物を洗浄するための洗浄処理槽およびこの
洗浄処理槽を収容する洗浄処理室とを備えた複数の洗浄
機構と、前記洗浄処理槽毎に設けられ、前記被洗浄物を
支持して洗浄を実施する洗浄用支持手段と、前記被洗浄
物を支持し、搬送して前記洗浄用支持手段にロード・ア
ンロードする搬送用支持手段と、前記洗浄処理室から排
気するための排気管を備えた排気機構と、前記排気管に
介挿され、該排気管内を流通する排気気体を冷却して、
この排気気体中の液体成分を捕集するトラップ機構とを
具備したことを特徴とする。
【0007】
【作用】上記構成の本発明の洗浄装置では、被洗浄物を
支持して洗浄を実施する洗浄用支持手段が各洗浄処理槽
毎に設けられており、搬送用支持手段によってこれらの
洗浄用支持手段に被洗浄物をロード・アンロードして被
洗浄物の洗浄処理を実施するので、ウエハキャリア等を
用いずに、半導体ウエハ等の被洗浄物を洗浄することが
できる。したがって、従来に較べて良好な洗浄処理を実
施することができる。
【0008】また、洗浄処理槽が洗浄処理室内に収容さ
れており、この洗浄処理室から排気するための排気管を
備えた排気機構および排気管内を流通する排気気体を冷
却して、この排気気体中の液体成分を捕集するトラップ
機構を備えている。したがって、薬液を加熱して洗浄処
理を行う場合でも、蒸気が外部に漏洩して悪影響を与え
たり、凝結した液体が排気管内に溜まって排気流量が低
下する等の問題が発生することなく、洗浄処理を実施す
ることができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明を半導体ウエハの洗浄処理を行
う洗浄装置に適用した一実施例を図面を参照して説明す
る。
【0010】図1に示すように、本実施例の洗浄装置1
は、直線上に配列された3 つの洗浄処理ユニット2、
3、4を組み合わせて構成されており、搬入側の洗浄処
理ユニット2にはローダ5が、搬出側の洗浄処理ユニッ
ト4にはアンローダ6がそれぞれ設けられている。ま
た、洗浄処理ユニット2と洗浄処理ユニット3との間、
および洗浄処理ユニット3と洗浄処理ユニット4との間
には、これらのいずれかのユニットに含まれる水中ロー
ダ7、8が設けられている。
【0011】搬入側の洗浄処理ユニット2には、中心位
置に被洗浄物(半導体ウエハ)を搬送するための回転搬
送アーム9が設けられており、回転搬送アーム9の周囲
(図中上側と右側)には、洗浄処理槽10、11が設け
られている。本実施例では、洗浄処理槽11は加熱した
アンモニア処理液によってアンモニア処理を行う薬品処
理槽として用いられ、洗浄処理槽10は水洗処理を行う
クイック・ダンプ・リンス(QDR)処理槽として用い
られる。
【0012】中央の洗浄処理ユニット3には、中心位置
に回転搬送アーム12が設けられており、回転搬送アー
ム12の周囲(図中右側と左側)には、洗浄処理槽1
3、14が設けられている。本実施例では、洗浄処理槽
13は加熱した塩酸処理液によって塩酸処理を行う薬品
処理槽として用いられ、洗浄処理槽14は水洗オーバー
フロー処理槽として用いられる。
【0013】搬出側の洗浄処理ユニット4には、中心位
置に回転搬送アーム15が設けられており、回転搬送ア
ーム15の周囲には、図中右側に回転搬送アーム15の
洗浄・乾燥を行う洗浄・乾燥機構16、図中下側にイソ
プロピルアルコールによる乾燥処理(IPA乾燥)を行
うための乾燥処理槽17が設けられている。
【0014】上記水中ローダ7、8、洗浄処理槽10、
11、13、14および乾燥処理槽17は、それぞれ図
2に示すように、洗浄処理室を構成する如く矩形容器状
に形成されたケース20に収容されている。このケース
20には、搬入・搬出用の開口部21が設けられてお
り、開口部21には図示しないシャッタ機構が設けられ
ている。また、ケース20の上部には、気体中の塵埃を
除去するフィルタを収容するためのフィルタ収容室22
が設けられており、ケース20の下部には、排気口23
が設けられている。この排気口23には排気管が接続さ
れており、ここから排気を行うことにより、ケース20
内に上部からフィルタを介して清浄化した空気を取り入
れ、下部に向かう空気流を形成するよう構成されてい
る。
【0015】また、洗浄処理槽10、11、13、14
のうち、アンモニア処理を行う薬品処理槽として用いら
れる洗浄処理槽11および塩酸処理を行う薬品処理槽と
して用いられる洗浄処理槽13を収容するケース20に
は、図3および図4に示すようなトラップ機構30が設
けられている。すなわち、ケース20の排気口23に
は、断面矩形状に形成された排気管31がほぼ水平に固
着されており、この排気管31内には、材質例えば樹脂
等からなる冷媒循環配管32が挿入、固定されている。
本実施例では、この冷媒循環配管32は、コイル状に形
成されており、その端部に矩形板状に形成された蓋体3
3が設けられている。そして、排気管31の側方(図
3、図4において右側)から排気管31内に挿入し、蓋
体33を例えばねじ34によって排気管31に固定する
よう構成されている。また、蓋体33の外側には、入口
側および出口側の冷媒循環配管32が導出されており、
外部からこの冷媒循環配管32内に冷媒、例えば冷却水
を循環し、排気管31内を流通する排気気体を冷却して
排気気体中の液体成分を凝結し、トラップするよう構成
されている。
【0016】また、排気管31の底部には、ドレン配管
35が接続されており、冷媒循環配管32によって冷却
され、凝結した液体を、このドレン配管35によって排
出するよう構成されている。そして、排気管31は、接
続配管36、37等を介して、フランジ38、39、ね
じ40等により、排気ダクト41に接続されている。な
お、他の水中ローダ7、8、洗浄処理槽10、14およ
び乾燥処理槽17を収容するケース20内から排気を行
う排気管には、上記トラップ機構30が設けられていな
いが、これらにも同様なトラップ機構30を設けてもよ
い。
【0017】さらに、図2に示すように、水中ローダ
7、8、洗浄処理槽10、11、13、14および乾燥
処理槽17には、それぞれ各槽専用のウエハ支持機構と
して、例えば石英等から構成されたウエハボート24が
設けられている。これらのウエハボート24は、図5に
示すように、例えば半導体ウエハを所定位置に支持する
ウエハ載置溝を形成された3 本の平行するウエハ支持棒
50上に複数例えば50枚の半導体ウエハを互いにほぼ平
行する如く支持するよう構成されており、図示しない駆
動機構によって上下動可能に構成されている。
【0018】また、回転搬送アーム9は、水平回転およ
び伸縮可能な多関節アーム51の先端に、半導体ウエハ
載置用のウエハフォーク52を有し、このウエハフォー
ク52上にウエハキャリアなしで複数枚、例えば50枚の
半導体ウエハを載置可能に構成されている。このウエハ
フォーク52は、半導体ウエハを所定位置に支持するウ
エハ載置溝を形成された2 本の平行するウエハ支持棒5
3上に50枚の半導体ウエハを互いにほぼ平行する如く支
持するよう構成されている。なお、回転搬送アーム1
2、15も上記回転搬送アーム9と同様に構成されてい
る。
【0019】このように構成された回転搬送アーム9に
よって50枚の半導体ウエハを支持して搬送し、搬入・搬
出用の開口部21からケース20内のウエハボート24
上に位置させ、この後、ウエハボート24を上昇させて
回転搬送アーム9(ウエハフォーク52)からウエハボ
ート24に半導体ウエハを受け渡すよう構成されてい
る。そして、回転搬送アーム9を後退させ、ウエハボー
ト24を下降させて各槽内に半導体ウエハを浸漬するよ
う構成されている。なお、半導体ウエハをウエハボート
24から回転搬送アーム9(ウエハフォーク52)に移
載する際は、上記手順と逆の手順による。
【0020】上記構成のこの実施例の洗浄装置1では、
ローダ5に配設された図示しない整列機構により、この
ローダ5上の所定位置に載置された2 つのウエハキャリ
ア60内の半導体ウエハを、オリエンテーションフラッ
トを利用して整列させる。この後、例えば下方からウエ
ハキャリア60内の半導体ウエハを突き上げること等に
より、半導体ウエハをウエハキャリア60内から取り出
し、しかる後、回転搬送アーム9によって、これら2 つ
のウエハキャリア60内の合計50枚の半導体ウエハを受
け取る。
【0021】そして、回転搬送アーム9によって、これ
らの半導体ウエハを、洗浄処理槽11、洗浄処理槽1
0、水中ローダ7に順次搬送し、洗浄処理ユニット2に
よる洗浄処理を実施する。なお、最初の半導体ウエハを
洗浄処理槽11から洗浄処理槽10へ搬送した後は、次
の半導体ウエハを洗浄処理槽11に搬送することによ
り、連続的に洗浄処理を実施する。
【0022】この後、水中ローダ7によって、半導体ウ
エハを洗浄処理ユニット3に移送し、回転搬送アーム1
2によって、これらの半導体ウエハを、洗浄処理槽1
3、洗浄処理槽14、水中ローダ8に順次搬送し、洗浄
処理ユニット3による洗浄処理を実施する。
【0023】しかる後、水中ローダ8によって、半導体
ウエハを洗浄処理ユニット4に移送し、回転搬送アーム
15によって、これらの半導体ウエハを、乾燥処理槽1
7に搬送する。そして、乾燥処理槽17においては、前
述した如く、イソプロピルアルコールによる半導体ウエ
ハの乾燥処理(IPA乾燥)を行う。この時、同時に回
転搬送アーム15のウエハフォーク52を洗浄・乾燥機
構16内に挿入し、洗浄・乾燥ノズルおよびIRヒータ
等によるウエハフォーク52の洗浄・乾燥を実施する。
【0024】そして、乾燥処理槽17における半導体ウ
エハの乾燥処理が終了すると、この洗浄・乾燥を実施し
たウエハフォーク52によって、乾燥処理が終了した半
導体ウエハを受け取り、アンローダ6にアンロードす
る。
【0025】このように、本実施例の洗浄装置1では、
ウエハキャリア60を用いることなく、半導体ウエハの
洗浄・乾燥を実施することができるので、洗浄液等がウ
エハキャリア60によって汚染されることを防止するこ
とができ、従来の洗浄装置に較べて良好な洗浄処理を実
施することができる。
【0026】また、洗浄処理槽11では、加熱したアン
モニア処理液によってアンモニア処理を行い、洗浄処理
槽13では加熱した塩酸処理液によって塩酸処理を行う
が、これらの洗浄処理槽11、13は、洗浄処理室を構
成するケース20内に収容されており、かつ、これらの
ケース20からは、トラップ機構30を備えた排気管に
よって排気するよう構成されている。したがって、これ
らの薬液蒸気が外部に漏洩して悪影響を与えたり、凝結
した液体が排気管内に溜まって排気流量が低下する等の
問題が発生することなく、洗浄処理を実施することがで
きる。
【0027】なお、上記実施例では、排気管31および
コイル状の冷媒循環配管32をほぼ水平に配置したトラ
ップ機構30について説明したが、図6に示すトラップ
機構30aように、排気管31およびコイル状の冷媒循
環配管32をほぼ垂直に配置してもよい。さらに、トラ
ップ機構30の形状は、洗浄装置の形状等により、適宜
変更することができる。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の洗浄装置
によれば、排気ダクト内でのミストの結露を防ぎ、良好
な洗浄処理を実施することができるとともに、薬液を加
熱して行う洗浄処理に対しても対応することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の洗浄装置の全体構成を示す
【図2】洗浄処理機構の構成を示す図。
【図3】トラップ機構の構成を示す図。
【図4】図3のトラップ機構の平面構成を示す図。
【図5】洗浄処理ユニット2の構成を示す図。
【図6】他の実施例のトラップ機構の構成を示す図。
【符号の説明】
1 洗浄装置 2,3,4 洗浄処理ユニット 5 ローダ 6 アンローダ 7,8 水中ローダ 9,12,15 回転搬送アーム 10,11,13,14 洗浄処理槽 16 洗浄・乾燥機構 17 乾燥処理槽 60 ウエハキャリア

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被洗浄物を洗浄するための洗浄処理槽お
    よびこの洗浄処理槽を収容する洗浄処理室とを備えた複
    数の洗浄機構と、 前記洗浄処理槽毎に設けられ、前記被洗浄物を支持して
    洗浄を実施する洗浄用支持手段と、 前記被洗浄物を支持し、搬送して前記洗浄用支持手段に
    ロード・アンロードする搬送用支持手段と、 前記洗浄処理室から排気するための排気管を備えた排気
    機構と、 前記排気管に介挿され、該排気管内を流通する排気気体
    を冷却して、この排気気体中の液体成分を捕集するトラ
    ップ機構とを具備したことを特徴とする洗浄装置。
JP28516491A 1991-10-30 1991-10-30 洗浄装置 Withdrawn JPH05129270A (ja)

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JP28516491A JPH05129270A (ja) 1991-10-30 1991-10-30 洗浄装置

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JP28516491A JPH05129270A (ja) 1991-10-30 1991-10-30 洗浄装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114101156A (zh) * 2020-08-25 2022-03-01 中国科学院微电子研究所 一种晶圆叉清洗方法及装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114101156A (zh) * 2020-08-25 2022-03-01 中国科学院微电子研究所 一种晶圆叉清洗方法及装置
CN114101156B (zh) * 2020-08-25 2023-04-11 中国科学院微电子研究所 一种晶圆叉清洗方法及装置

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Effective date: 19990107