JPH05128891A - ヒユーズ回路 - Google Patents

ヒユーズ回路

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JPH05128891A
JPH05128891A JP3288958A JP28895891A JPH05128891A JP H05128891 A JPH05128891 A JP H05128891A JP 3288958 A JP3288958 A JP 3288958A JP 28895891 A JP28895891 A JP 28895891A JP H05128891 A JPH05128891 A JP H05128891A
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JP
Japan
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mos transistor
fuse
power supply
connection point
resistor
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JP3288958A
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English (en)
Inventor
Hirohisa Mizuno
裕久 水野
Shoichiro Kawashima
将一郎 川嶋
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】冗長回路を搭載してなる半導体記憶装置におい
て冗長アドレスを記憶するために使用されるヒューズ回
路に関し、無駄な電力消費をなくし、半導体記憶装置の
消費電力の低減化を図る。 【構成】ヒューズ15の抵抗値<抵抗16の抵抗値と
し、電源投入時に、ノード21の電圧レベルとノード2
2の電圧レベルとが、ヒューズ15の切断の有無によ
り、その大小関係を逆転するようにし、pMOS11、
12、nMOS13、14からなるラッチ回路がヒュー
ズ15が切断されているか否かによって異なるデータを
ラッチするように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、冗長回路を搭載してな
る半導体記憶装置において、冗長アドレスを記憶するた
め等に使用されるヒューズ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、冗長アドレスを記憶するためのヒ
ューズ回路として、例えば、図9にその回路図を示すよ
うなものが知られている。図中、1は電源電圧VCC、
例えば、5[V]を供給する電源線、2は接地(GN
D)線、3はヒューズ、4は抵抗、5はインバータ、6
はnMOSトランジスタ(以下、nMOSという)、7
は出力端子である。
【0003】このヒューズ回路においては、図10に示
すように、ヒューズ3が切断されない場合、インバータ
5の入力電圧はHレベルとなり、出力端子7にはLレベ
ルの電圧が出力される。
【0004】これに対して、図11に示すように、ヒュ
ーズ3が切断されている場合には、インバータ5の入力
電圧はLレベルとなり、出力端子7にはHレベルの電圧
が出力される。なお、nMOS6は、この場合に、イン
バータ5の入力電圧が完全にLレベルとなるようにする
ためのものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】かかる従来のヒューズ
回路では、図10に示すように、ヒューズ3が切断され
ない場合、動作時のみならず、スタンバイ時において
も、電源線1からヒューズ3及び抵抗4を介して接地線
2に定常的に電流が流れ、無駄な電力を消費してしまう
という問題点があり、特に、冗長回路の規模が大きくな
ると、この無駄な電力が大きくなるので、その対策が要
請されていた。
【0006】本発明は、かかる点に鑑み、無駄な電力消
費をなくし、これを例えば半導体記憶装置において冗長
アドレス記憶手段として使用する場合には、半導体記憶
装置の消費電力の低減化を図ることができるようにした
ヒューズ回路を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明中、第1の発明に
よるヒューズ回路は、第1の電源と該第1の電源よりも
低電圧を供給する第2の電源との間に、一導電型の第1
のMOSトランジスタ、他の導電型の第2のMOSトラ
ンジスタ及びヒューズを順に直列に接続すると共に、同
じく、前記第1の電源と前記第2の電源との間に、一導
電型の第3のMOSトランジスタ、他の導電型の第4の
MOSトランジスタ及び前記ヒューズよりも抵抗値の大
きい抵抗を順に直列に接続し、前記第1のMOSトラン
ジスタ及び前記第2のMOSトランジスタのゲートを前
記第3のMOSトランジスタと前記第4のMOSトラン
ジスタとの接続点に接続し、前記第3のMOSトランジ
スタ及び前記第4のMOSトランジスタのゲートを前記
第1のMOSトランジスタと前記第2のMOSトランジ
スタとの接続点に接続し、前記第2のMOSトランジス
タと前記ヒューズとの接続点と、前記第1の電源との間
に、第1のコンデンサを接続し、前記第4のMOSトラ
ンジスタと前記抵抗との接続点と、前記第1の電源との
間に、第2のコンデンサを接続し、前記第1のMOSト
ランジスタと前記第2のMOSトランジスタとの接続点
及び前記第3のMOSトランジスタと前記第4のMOS
トランジスタとの接続点にそれぞれ前記ヒューズの切断
の有無の情報を得ることができるように構成される。
【0008】本発明中、第2の発明によるヒューズ回路
は、第1の電源と該第1の電源よりも低電圧を供給する
第2の電源との間に、ヒューズ、一導電型の第1のMO
Sトランジスタ及び他の導電型の第2のMOSトランジ
スタを順に直列に接続すると共に、同じく、前記第1の
電源と前記第2の電源との間に、前記ヒューズよりも抵
抗値の大きい抵抗、一導電型の第3のMOSトランジス
タ及び他の導電型の第4のMOSトランジスタを順に直
列に接続し、前記第1のMOSトランジスタ及び前記第
2のMOSトランジスタのゲートを前記第3のMOSト
ランジスタと前記第4のMOSトランジスタとの接続点
に接続し、前記第3のMOSトランジスタ及び前記第4
のMOSトランジスタのゲートを前記第1のMOSトラ
ンジスタと前記第2のMOSトランジスタとの接続点に
接続し、前記ヒューズと前記第1のMOSトランジスタ
との接続点と、前記第2の電源との間に、第1のコンデ
ンサを接続し、前記抵抗と前記第3のMOSトランジス
タとの接続点と、前記第2の電源との間に、第2のコン
デンサを接続し、前記第1のMOSトランジスタと前記
第2のMOSトランジスタとの接続点及び前記第3のM
OSトランジスタと前記第2のMOSトランジスタとの
接続点にそれぞれ前記ヒューズの切断の有無の情報を得
ることができるように構成される。
【0009】
【作用】第1及び第2の発明においては、第1〜第4の
MOSトランジスタでラッチ回路が構成されており、ま
た、ヒューズの抵抗値<抵抗の抵抗値とされていること
から、電源投入時における前記第1のMOSトランジス
タと前記第2のMOSトランジスタとの接続点の電圧レ
ベルと、前記第3のMOSトランジスタと前記第4のM
OSトランジスタとの接続点の電圧レベルとは、その大
小関係がヒューズの切断の有無によって異なるところと
なる。したがって、ヒューズの切断の有無によって異な
るデータをラッチすることができる。
【0010】ここに、第1及び第2の発明においては、
第1及び第4のMOSトランジスタがONの場合、第2
及び第3のMOSトランジスタがOFFとなり、第2及
び第3のMOSトランジスタがOFFの場合、第1及び
第4のMOSトランジスタはOFFとなる。したがっ
て、第1の電源からヒューズを介して第2の電源に定常
的に電流が流れることはなく、また、第1の電源から抵
抗を介して第2の電源に定常的に電流が流れることはな
い。
【0011】
【実施例】以下、図1〜図8を参照して、本発明の第1
実施例及び第2実施例について説明する。
【0012】第1実施例・・図1〜図5 図1は本発明の第1実施例を示す回路図であり、図中、
8は電源電圧VCCを供給する電源線、9は接地線、1
0はラッチ回路であり、11、12はpMOSトランジ
スタ(以下、pMOSという)、13、14はnMOS
である。
【0013】また、15はヒューズ、16は抵抗、1
7、18はコンデンサ(カップリングコンデンサ)、1
9、20は出力端子である。なお、ヒューズ15の抵抗
値は、例えば、2[KΩ]、抵抗16の抵抗値は、例え
ば、4[KΩ]とされ、ヒューズ15の抵抗値が抵抗1
6の抵抗値よりも小さくなるようにされている。
【0014】この第1実施例では、図2に示すように、
ヒューズ15が切断されていない場合において、電源投
入時、電源電圧VCCが急峻に立ち上がった場合、ヒュ
ーズ15の抵抗値=2[KΩ]、抵抗16の抵抗値=4
[KΩ]で、ヒューズ15の抵抗値<抵抗16の抵抗値
とされているので、ノード21の電圧V21及びノード
22の電圧V22は、コンデンサ17、18の作用によ
って、図3に示すように、V21<V22の関係で一瞬
上昇する。
【0015】ここに、V22はONとOFFの中間状態
になっているnMOS14のソース・ドレインを介して
pMOS11及びnMOS13のゲートに供給され、V
21はONとOFFの中間状態になっているnMOS1
3のソース・ドレインを介してpMOS12及びnMO
S14のゲートに供給される。
【0016】この場合、V21とV22はV21<V2
2の関係にあるから、図2に示すように、nMOS13
がnMOS14よりも先にONとなり、pMOS12が
ON、nMOS14、pMOS11がOFFとなる。し
たがって、出力端子19及び出力端子20には、それぞ
れ、Lレベル及びHレベルが出力され、この状態が維持
される。
【0017】なお、電源投入時、電源電圧VCCが緩慢
に立ち上がった場合、カップリングコンデンサ17、1
8の作用によってはノード21、22の電圧は上昇しな
いが、この場合には、ONとOFFの中間の状態になっ
ているpMOS11、12、nMOS13、14及びヒ
ューズ15、抵抗16によってノード24の電圧は、ノ
ード23の電圧よりも高くなる。
【0018】したがって、この場合にも、図2に示すよ
うに、nMOS13がnMOS14よりも先にONとな
って、pMOS12がON、nMOS14、pMOS1
1がOFFとなり、出力端子19及び出力端子20に
は、それぞれ、Lレベル及びHレベルが出力され、この
状態が維持される。
【0019】他方、図4に示すように、ヒューズ15が
切断されている場合において、電源投入時、電源電圧V
CCが急峻に上昇した場合には、ノード21の電圧V2
1の電圧は、図5に示すように、コンデンサ17の作用
によって上昇し、一定電圧となる。
【0020】これに対して、ノード22の電圧V22
は、コンデンサ18の作用によって、図5に示すよう
に、V22<V21の関係で一瞬上昇し、その後、0
[V]に向かって下降する。
【0021】ここに、V21はONとOFFの中間状態
になっているnMOS13のソース・ドレインを介して
pMOS12及びnMOS14のゲートに供給され、V
22はONとOFFの中間状態になっているnMOS1
4のソース・ドレインを介してpMOS11及びnMO
S13のゲートに供給される。
【0022】この場合、V21とV22はV21>V2
2の関係にあるから、図4に示すように、nMOS13
よりもnMOS14が先にONとなり、pMOS11が
ON、nMOS13、pMOS12がOFFとなる。し
たがって、出力端子19及び出力端子20には、それぞ
れ、Hレベル及びLレベルが出力され、この状態が維持
される。
【0023】なお、電源投入時、電源電圧VCCが緩慢
に立ち上がった場合、カップリングコンデンサ17、1
8を介してノード21、22の電圧は上昇しないが、O
NとOFFの中間の状態になっているpMOS11、1
2、nMOS13、14及び切断されているヒューズ1
5、抵抗16によりノード23の電圧は、ノード24の
電圧よりも高くなる。
【0024】したがって、この場合にも、図4に示すよ
うに、nMOS14がnMOS13よりも先にONとな
って、pMOS11がON、nMOS13、pMOS1
2がOFFとなり、出力端子19及び出力端子20に
は、それぞれ、Hレベル及びLレベルが出力され、この
状態が維持される。
【0025】ここに、この第1実施例においては、図2
に示すように、ヒューズ15が切断されていない場合、
pMOS11、nMOS14=OFFとなるので、ヒュ
ーズ15及び抵抗16には定常的に電流は流れない。
【0026】また、図4に示すように、ヒューズ15が
切断されている場合には、ヒューズ15には電流が流れ
ないのは勿論、pMOS12=OFFとなるので、抵抗
16にも定常的に電流は流れない。
【0027】このように、この第1実施例によれば、無
駄な電力消費をなくし、これを例えば半導体記憶装置に
おいて冗長アドレス記憶手段として使用する場合には、
半導体記憶装置の消費電力の低減化を図ることができ
る。
【0028】第2実施例・・図6〜図8 図6は本発明の第2実施例を示す回路図であり、図中、
25は電源電圧VCCを供給する電源線、26は接地
線、27はラッチ回路であり、28、29はpMOS、
30、31はnMOSである。
【0029】また、32はヒューズ、33は抵抗、3
4、35はコンデンサ(カップリングコンデンサ)、3
6、37は出力端子であり、ヒューズ32の抵抗値は、
例えば、2[KΩ]、抵抗33の抵抗値は、例えば、4
[KΩ]とされ、ヒューズ32の抵抗値が抵抗33の抵
抗値よりも小さくなるようにされている。
【0030】この第2実施例では、図7に示すように、
ヒューズ32が切断されていない場合において、電源投
入時、電源電圧VCCが急峻に立ち上がった場合、ヒュ
ーズ32の抵抗値=2[KΩ]、抵抗33の抵抗値=4
[KΩ]で、ヒューズ32の抵抗値<抵抗33の抵抗値
とされているので、ノード38の電圧V38及びノード
39の電圧V39は、コンデンサ34、35の作用によ
って、V38>V39の関係で一瞬上昇する。
【0031】ここに、V38はONとOFFの中間状態
になっているpMOS28のソース・ドレインを介して
pMOS29及びnMOS31のゲートに供給され、V
39はONとOFFとの中間状態になっているpMOS
29のソース・ドレインを介してpMOS28及びnM
OS30のゲートに供給される。
【0032】この場合、V38とV39はV38>V3
9の関係にあるから、図7に示すように、nMOS31
がnMOS30よりも先にONとなり、pMOS28が
ON、nMOS30、pMOS29がOFFとなる。し
たがって、出力端子36及び出力端子37には、それぞ
れ、Hレベル及びLレベルが出力され、この状態が維持
される。
【0033】なお、電源投入時、電源電圧VCCが緩慢
に立ち上がった場合には、コンデンサ34、35の作用
によってはノード36、37の電圧が上昇することはな
いが、この場合には、ヒューズ32、抵抗33、ONと
OFFの中間の状態になっているpMOS28、29、
nMOS30、31によって、ノード40の電圧は、ノ
ード41の電圧よりも高くなる。
【0034】したがって、この場合にも、図7に示すよ
うに、nMOS31がnMOS30よりも先にONとな
って、pMOS28がON、nMOS30、pMOS2
9がOFFとなり、出力端子36及び出力端子37に
は、それぞれ、Hレベル及びLレベルが出力され、この
状態が維持される。
【0035】他方、図8に示すように、ヒューズ32が
切断されている場合において、電源投入時、電源電圧V
CCが急激に立ち上がった場合、ノード39の電圧V3
9のみが一瞬上昇する。
【0036】ここに、V39はONとOFFの中間状態
になっているpMOS29のソース・ドレインを介して
pMOS28及びnMOS30のゲートに供給されて、
nMOS30がONとなり、pMOS29がON、nM
OS31、pMOS28がOFFとなる。したがって、
出力端子36及び出力端子37には、それぞれ、Lレベ
ル及びHレベルが出力され、この状態が維持される。
【0037】なお、電源投入時、電源電圧VCCが緩慢
に立ち上がった場合には、コンデンサ35の作用によっ
てはノード39の電圧が上昇することはないが、この場
合には、抵抗33と、ONとOFFの中間の状態になっ
ているpMOS29のソース・ドレインを介してノード
41の電圧が上昇する。
【0038】したがって、この場合にも、図8に示すよ
うに、nMOS30がONとなり、pMOS29がO
N、nMOS31、pMOS28がOFFとなって、出
力端子36及び出力端子37には、それぞれ、Lレベル
及びHレベルが出力され、この状態が維持される。
【0039】ここに、この第2実施例においては、図7
に示すように、ヒューズ32が切断されていない場合、
nMOS30=OFF、pMOS29=OFFとなるの
で、電源線25からヒューズ32、pMOS28及びn
MOS30を介して接地線26には定常的に電流は流れ
ず、また、電源線25から抵抗33、pMOS29及び
nMOS31を介して接地線26には定常的に電流は流
れない。
【0040】また、図8に示すように、ヒューズ32が
切断されている場合には、ヒューズ32には電流が流れ
ないのは勿論、nMOS31=OFFとなるので、電源
線25から抵抗33、pMOS29及びnMOS31を
介して接地線26には定常的に電流は流れない。
【0041】このように、この第2実施例によっても、
無駄な電力消費をなくし、これを例えば半導体記憶装置
において冗長アドレス記憶手段として使用する場合に
は、半導体記憶装置の消費電力の低減化を図ることがで
きる。
【0042】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、無駄な
電力消費をなくし、これを例えば半導体記憶装置におい
て冗長アドレス記憶手段として使用する場合には、半導
体記憶装置の消費電力の低減化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す回路図である。
【図2】本発明の第1実施例の動作を示す回路図であ
る。
【図3】本発明の第1実施例の動作を示す波形図であ
る。
【図4】本発明の第1実施例の動作を示す回路図であ
る。
【図5】本発明の第1実施例の動作を示す波形図であ
る。
【図6】本発明の第2実施例を示す回路図である。
【図7】本発明の第2実施例の動作を示す回路図であ
る。
【図8】本発明の第2実施例の動作を示す回路図であ
る。
【図9】従来のヒューズ回路の一例を示す回路図であ
る。
【図10】図9に示す従来のヒューズ回路の動作を示す
回路図である。
【図11】図9に示す従来のヒューズ回路の動作を示す
回路図である。
【符号の説明】
15、32 ヒューズ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の電源と該第1の電源よりも低電圧を
    供給する第2の電源との間に、一導電型の第1のMOS
    トランジスタ、他の導電型の第2のMOSトランジスタ
    及びヒューズを順に直列に接続すると共に、同じく、前
    記第1の電源と前記第2の電源との間に、一導電型の第
    3のMOSトランジスタ、他の導電型の第4のMOSト
    ランジスタ及び前記ヒューズよりも抵抗値の大きい抵抗
    を順に直列に接続し、 前記第1のMOSトランジスタ及び前記第2のMOSト
    ランジスタのゲートを前記第3のMOSトランジスタと
    前記第4のMOSトランジスタとの接続点に接続し、 前記第3のMOSトランジスタ及び前記第4のMOSト
    ランジスタのゲートを前記第1のMOSトランジスタと
    前記第2のMOSトランジスタとの接続点に接続し、 前記第2のMOSトランジスタと前記ヒューズとの接続
    点と、前記第1の電源との間に、第1のコンデンサを接
    続し、 前記第4のMOSトランジスタと前記抵抗との接続点
    と、前記第1の電源との間に、第2のコンデンサを接続
    し、 前記第1のMOSトランジスタと前記第2のMOSトラ
    ンジスタとの接続点及び前記第3のMOSトランジスタ
    と前記第4のMOSトランジスタとの接続点にそれぞれ
    前記ヒューズの切断の有無の情報を得ることができるよ
    うに構成されていることを特徴とするヒューズ回路。
  2. 【請求項2】第1の電源と該第1の電源よりも低電圧を
    供給する第2の電源との間に、ヒューズ、一導電型の第
    1のMOSトランジスタ及び他の導電型の第2のMOS
    トランジスタを順に直列に接続すると共に、同じく、前
    記第1の電源と前記第2の電源との間に、前記ヒューズ
    よりも抵抗値の大きい抵抗、一導電型の第3のMOSト
    ランジスタ及び他の導電型の第4のMOSトランジスタ
    を順に直列に接続し、 前記第1のMOSトランジスタ及び前記第2のMOSト
    ランジスタのゲートを前記第3のMOSトランジスタと
    前記第4のMOSトランジスタとの接続点に接続し、 前記第3のMOSトランジスタ及び前記第4のMOSト
    ランジスタのゲートを前記第1のMOSトランジスタと
    前記第2のMOSトランジスタとの接続点に接続し、 前記ヒューズと前記第1のMOSトランジスタとの接続
    点と、前記第2の電源との間に、第1のコンデンサを接
    続し、 前記抵抗と前記第3のMOSトランジスタとの接続点
    と、前記第2の電源との間に、第2のコンデンサを接続
    し、 前記第1のMOSトランジスタと前記第2のMOSトラ
    ンジスタとの接続点及び前記第3のMOSトランジスタ
    と前記第2のMOSトランジスタとの接続点にそれぞれ
    前記ヒューズの切断の有無の情報を得ることができるよ
    うに構成されていることを特徴とするヒューズ回路。
JP3288958A 1991-11-05 1991-11-05 ヒユーズ回路 Withdrawn JPH05128891A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100389172B1 (ko) * 2000-01-25 2003-06-27 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 리페어 신호 발생 회로

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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