JPH05120757A - 光磁気媒体の評価装置 - Google Patents
光磁気媒体の評価装置Info
- Publication number
- JPH05120757A JPH05120757A JP3308509A JP30850991A JPH05120757A JP H05120757 A JPH05120757 A JP H05120757A JP 3308509 A JP3308509 A JP 3308509A JP 30850991 A JP30850991 A JP 30850991A JP H05120757 A JPH05120757 A JP H05120757A
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- JP
- Japan
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- magneto
- cover
- temperature
- optical disk
- pickup
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ピックアップ部の温度を常温に保つことを容
易とし、光磁気ディスクのみの温度上昇による特性の変
化状態をより正確に測定する。 【構成】 光磁気ディスク1はスピンドルモータ2のロ
ッド先端に回転自在に保持されている。カバー5は加熱
手段と排出口とを除いて密閉されている。カバー5内に
はバイアス磁石4と対物レンズ18および対物レンズ1
8にピックアップ3からのレーザ光11を導くミラー1
6とが内設されている。
易とし、光磁気ディスクのみの温度上昇による特性の変
化状態をより正確に測定する。 【構成】 光磁気ディスク1はスピンドルモータ2のロ
ッド先端に回転自在に保持されている。カバー5は加熱
手段と排出口とを除いて密閉されている。カバー5内に
はバイアス磁石4と対物レンズ18および対物レンズ1
8にピックアップ3からのレーザ光11を導くミラー1
6とが内設されている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高温での光磁気媒体の
特性を評価する評価装置に関する。
特性を評価する評価装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光磁気媒体の高温での特性を評価
するには媒体および媒体駆動装置を恒温槽に入れて恒温
槽を高温に保ち、その状態において、光磁気媒体の特性
を計測することが知られている。
するには媒体および媒体駆動装置を恒温槽に入れて恒温
槽を高温に保ち、その状態において、光磁気媒体の特性
を計測することが知られている。
【0003】また、光磁気媒体のみを高温にして特性を
評価する方法としては、先に本出願人が出願した特願平
2−173279(出願時未公開)がある。図6に示す
如く、これは光磁気ディスク51を覆うもピックアップ
52は覆わないカバー53を設け、その中にヒーター5
4の温風を吹き込むことにより光磁気ティスク51のみ
を高温にする技術である。
評価する方法としては、先に本出願人が出願した特願平
2−173279(出願時未公開)がある。図6に示す
如く、これは光磁気ディスク51を覆うもピックアップ
52は覆わないカバー53を設け、その中にヒーター5
4の温風を吹き込むことにより光磁気ティスク51のみ
を高温にする技術である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、前記各従来
技術には以下の様な欠点がある。すなわち、はじめの計
測方法ではディスク駆動装置全体を高温にしてしまうた
め、ディスク駆動装置内のピックアップの特性をも変化
させてしまい、ディスク自体の温度変化による特性の変
化と、ピックアップの温度変化による特性の変化とを区
別することができないという欠点がある。
技術には以下の様な欠点がある。すなわち、はじめの計
測方法ではディスク駆動装置全体を高温にしてしまうた
め、ディスク駆動装置内のピックアップの特性をも変化
させてしまい、ディスク自体の温度変化による特性の変
化と、ピックアップの温度変化による特性の変化とを区
別することができないという欠点がある。
【0005】また、特願平2−173279号記載の発
明においては、上記の欠点を解決するために成されたも
のであるが、光磁気ディスクに用いるNA0.5,WD
2mm位の対物レンズでは焦点距離が4から5mm程度
となるので、図6に示すように、ピックアップ52全体
をカバー53の外に出すことは困難となる。また、図7
に示すように、ピックアップ52の先端部分のみをカバ
ー53内に入れるようにしたときは光磁気ディスク51
の内周から外周にかけて測定ができるようにカバー53
下部に長穴55を開ける必要がある。これでは光磁気デ
ィスク51の上面と下面で温度差が生じやすくなり、測
定が不正確となりやすい。また、ピックアップ52下部
までに温風が吹き付けられてしまうので、本来の目的で
ある光磁気ディスク51のみを高温に、ピックアップ5
2を常温に保つということが達しづらくなる。
明においては、上記の欠点を解決するために成されたも
のであるが、光磁気ディスクに用いるNA0.5,WD
2mm位の対物レンズでは焦点距離が4から5mm程度
となるので、図6に示すように、ピックアップ52全体
をカバー53の外に出すことは困難となる。また、図7
に示すように、ピックアップ52の先端部分のみをカバ
ー53内に入れるようにしたときは光磁気ディスク51
の内周から外周にかけて測定ができるようにカバー53
下部に長穴55を開ける必要がある。これでは光磁気デ
ィスク51の上面と下面で温度差が生じやすくなり、測
定が不正確となりやすい。また、ピックアップ52下部
までに温風が吹き付けられてしまうので、本来の目的で
ある光磁気ディスク51のみを高温に、ピックアップ5
2を常温に保つということが達しづらくなる。
【0006】因って、本発明は前記従来技術における欠
点に鑑みて開発されたもので、光磁気ディスクの高温時
における特性の測定において、ピックアップの温度を上
昇させることなく、光磁気ディスクのみを温度上昇させ
る際に、安定してディスクを高温に保ち、かつピックア
ップを常温に保つことで、より正確な測定が行える光磁
気ディスクの評価装置の提供を目的とする。
点に鑑みて開発されたもので、光磁気ディスクの高温時
における特性の測定において、ピックアップの温度を上
昇させることなく、光磁気ディスクのみを温度上昇させ
る際に、安定してディスクを高温に保ち、かつピックア
ップを常温に保つことで、より正確な測定が行える光磁
気ディスクの評価装置の提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段および作用】本発明は、回
転自在な光磁気媒体,磁場発生用コイルおよび温度セン
サーを内設したカバーと、該カバー内の光磁気媒体に温
風を吹き付ける温風加熱手段と、該温風加熱手段の制御
手段と、光ピックアップとから構成された光磁気媒体の
評価装置において、前記カバーを温風送入口と排出口と
を除いて密閉するとともに、カバー内に前記光ピックア
ップの内の対物レンズと該対物レンズに光を導くミラー
とを設けて構成したものである。
転自在な光磁気媒体,磁場発生用コイルおよび温度セン
サーを内設したカバーと、該カバー内の光磁気媒体に温
風を吹き付ける温風加熱手段と、該温風加熱手段の制御
手段と、光ピックアップとから構成された光磁気媒体の
評価装置において、前記カバーを温風送入口と排出口と
を除いて密閉するとともに、カバー内に前記光ピックア
ップの内の対物レンズと該対物レンズに光を導くミラー
とを設けて構成したものである。
【0008】図1は本発明に係る光磁気媒体の評価装置
の概念図であり、図2は図1のカバーの左側面図であ
る。1は光磁気ディスクで、この光磁気ディスク1はス
ピンドルモータ2のロッド先端に回転自在に保持されて
いる。光磁気ディスク1とスピンドルモータ2のロッド
先端を収容するカバー5内にはバイアス磁石4と温度セ
ンサー15とが内設されており、カバー5の左側面には
温度加熱手段6が連設されている。温度加熱手段6はカ
バー5近傍に設置された電源9と接続され、電源9はカ
バー5近傍に設置された制御手段10に接続されてお
り、制御手段10は前記カバー5内の温度センサー15
と接続されている。
の概念図であり、図2は図1のカバーの左側面図であ
る。1は光磁気ディスクで、この光磁気ディスク1はス
ピンドルモータ2のロッド先端に回転自在に保持されて
いる。光磁気ディスク1とスピンドルモータ2のロッド
先端を収容するカバー5内にはバイアス磁石4と温度セ
ンサー15とが内設されており、カバー5の左側面には
温度加熱手段6が連設されている。温度加熱手段6はカ
バー5近傍に設置された電源9と接続され、電源9はカ
バー5近傍に設置された制御手段10に接続されてお
り、制御手段10は前記カバー5内の温度センサー15
と接続されている。
【0009】さらに、カバー5内の光磁気ディスク1下
面には対物レンズ18と該対物レンズ18に外部からの
レーザ光11を導くミラー16とが左右方向へ移動自在
に内設されている。また、カバー5の右側面にはカバー
5近傍に設置されたピックアップ3からのレーザー光1
1を前記ミラー16に到達させるための光学ガラスで作
られた窓17が形成されている。
面には対物レンズ18と該対物レンズ18に外部からの
レーザ光11を導くミラー16とが左右方向へ移動自在
に内設されている。また、カバー5の右側面にはカバー
5近傍に設置されたピックアップ3からのレーザー光1
1を前記ミラー16に到達させるための光学ガラスで作
られた窓17が形成されている。
【0010】また、カバー5の左側面には温度加熱手段
6と並設した状態で温風排出口19が形成されており、
カバー5は温度加熱手段6と温風排出口19とを除き密
閉構造となる様に構成されている。
6と並設した状態で温風排出口19が形成されており、
カバー5は温度加熱手段6と温風排出口19とを除き密
閉構造となる様に構成されている。
【0011】以上の構成から成る装置は、カバー5内の
温度を所望温度に上昇させることができるとともに、そ
の温度がピックアップ3に与える影響を阻止することが
できる。
温度を所望温度に上昇させることができるとともに、そ
の温度がピックアップ3に与える影響を阻止することが
できる。
【0012】
【実施例1】図3および図4は本実施例を示し、図3は
概略構成図、図4は部分拡大断面図である。本実施例
は、前記図1(概念図)と同一構成部分には同一番号を
付してその説明を省略する。
概略構成図、図4は部分拡大断面図である。本実施例
は、前記図1(概念図)と同一構成部分には同一番号を
付してその説明を省略する。
【0013】基台13上に光磁気ディスク1を回転させ
るためのスピンドルモータ2とピックアップ台12とを
設ける。ピックアップ台12上にはピックアップ3を取
付ける。光磁気ディスク1,バイアス砥石4,対物レン
ズ18およびミラー16はカバー5でほぼ完全に覆い、
このカバー5内に、ヒーター6からの温風を供給するよ
うに構成する。カバー5は内部の光磁気ディスク1等が
見えるようにプラスチックやガラス等の透明な材質で形
成する。なお、カバー5にはスピンドルモータ2の回転
軸が通るベアリング32を取付ける。上記カバー5内に
は光磁気ディスク1の側に温度トランスジューサー15
を設け、これとデジタルボルトメータ10を接続する。
また、対物レンズ18,ミラー16の下には歯車32を
取付け、モータ34によって回転するオクリネジ33と
噛み合わせる。
るためのスピンドルモータ2とピックアップ台12とを
設ける。ピックアップ台12上にはピックアップ3を取
付ける。光磁気ディスク1,バイアス砥石4,対物レン
ズ18およびミラー16はカバー5でほぼ完全に覆い、
このカバー5内に、ヒーター6からの温風を供給するよ
うに構成する。カバー5は内部の光磁気ディスク1等が
見えるようにプラスチックやガラス等の透明な材質で形
成する。なお、カバー5にはスピンドルモータ2の回転
軸が通るベアリング32を取付ける。上記カバー5内に
は光磁気ディスク1の側に温度トランスジューサー15
を設け、これとデジタルボルトメータ10を接続する。
また、対物レンズ18,ミラー16の下には歯車32を
取付け、モータ34によって回転するオクリネジ33と
噛み合わせる。
【0014】ピックアップ3の中には、図4の様に一例
として半導体レーザ21、コリメータレンズ22、ビー
ムスプリッタ23,24,25、1/2波長板26、デ
ィテクタ27,28,29,31、臨界角プリズム30
で構成された光学系がある。ヒーター6は、電熱線7と
電熱線7を経てカバー5内に温風を吹き込むファン8と
から構成され、電熱線7はこれに電流を供給する可変電
流型の電源9と接続されている。本実施例ではデジタル
ボルトメータ10とヒーター6の電源9をそれぞれGP
−IBあるいはSCSIあるいはRS232Cの様なコ
ンピュータインターフェィスを介してコントローラ20
に接続する。
として半導体レーザ21、コリメータレンズ22、ビー
ムスプリッタ23,24,25、1/2波長板26、デ
ィテクタ27,28,29,31、臨界角プリズム30
で構成された光学系がある。ヒーター6は、電熱線7と
電熱線7を経てカバー5内に温風を吹き込むファン8と
から構成され、電熱線7はこれに電流を供給する可変電
流型の電源9と接続されている。本実施例ではデジタル
ボルトメータ10とヒーター6の電源9をそれぞれGP
−IBあるいはSCSIあるいはRS232Cの様なコ
ンピュータインターフェィスを介してコントローラ20
に接続する。
【0015】以上の構成から成る装置のスピンドルモー
タ2によって回転する光磁気ディスク1は、ピックアッ
プ3とバイアス磁石4によってデータの消去,記録およ
び再生が行われるが、その作用は公知であるため、記述
は省略する。
タ2によって回転する光磁気ディスク1は、ピックアッ
プ3とバイアス磁石4によってデータの消去,記録およ
び再生が行われるが、その作用は公知であるため、記述
は省略する。
【0016】電源9からの電流で電熱線7は加熱され、
これによりファン8よりカバー5内に吹き込まれる風の
温度はカバー5外の温度より高くなる。光磁気ディスク
1に吹きつけられる風の温度を温度トランスジューサー
15で感知し、その電圧をデジタルボルトメーター10
で検出する。この電圧量から光磁気ディスク1に吹きつ
けられる風の温度を検出できる。これによりデジタルボ
ルトメータ10の出力に応じてコントローラ20を介し
て電源9によりカバー5内の温度が所望の温度となるよ
うに電熱線7に供給する電流を制御する。カバー5内に
ふきこまれる空気はカバー5の中の光磁気ディスク1を
温めた後、排出口19から出ていくことになる。
これによりファン8よりカバー5内に吹き込まれる風の
温度はカバー5外の温度より高くなる。光磁気ディスク
1に吹きつけられる風の温度を温度トランスジューサー
15で感知し、その電圧をデジタルボルトメーター10
で検出する。この電圧量から光磁気ディスク1に吹きつ
けられる風の温度を検出できる。これによりデジタルボ
ルトメータ10の出力に応じてコントローラ20を介し
て電源9によりカバー5内の温度が所望の温度となるよ
うに電熱線7に供給する電流を制御する。カバー5内に
ふきこまれる空気はカバー5の中の光磁気ディスク1を
温めた後、排出口19から出ていくことになる。
【0017】ピックアップ3の作用は公知であるので説
明は省略する。本実施例においては、ミラー16とプリ
ズム24の間の光路長がディスク1の内周から外周を測
定するときに変化することになる。カバー5の中に設け
られたモータ34と送りネジ33を回転することにより
ネジ32に取付けられたミラー16と対物レンズ18が
移動する。
明は省略する。本実施例においては、ミラー16とプリ
ズム24の間の光路長がディスク1の内周から外周を測
定するときに変化することになる。カバー5の中に設け
られたモータ34と送りネジ33を回転することにより
ネジ32に取付けられたミラー16と対物レンズ18が
移動する。
【0018】ピックアップ3を常温に保つことで半導体
レーザ21やプリズム23,24,25を常温に保つこ
とができる。温度変化によるピックアップ3の特性の変
化はプリズムの接着部分の熱歪みや半導体レーザの特性
の変化に起因する。従って、対物レンズ18やミラー1
6の温度が上がっても、光学系の特性はあまり変化しな
い。本実施例ではバイアス磁石4は内周から外周まで有
効な磁場強度を有するのでバイアス磁石4は移動する必
要がない。
レーザ21やプリズム23,24,25を常温に保つこ
とができる。温度変化によるピックアップ3の特性の変
化はプリズムの接着部分の熱歪みや半導体レーザの特性
の変化に起因する。従って、対物レンズ18やミラー1
6の温度が上がっても、光学系の特性はあまり変化しな
い。本実施例ではバイアス磁石4は内周から外周まで有
効な磁場強度を有するのでバイアス磁石4は移動する必
要がない。
【0019】本実施例によれば、光磁気ディスクをほぼ
密閉した形で温度上昇させることによりディスクの上面
と下面との温度差を小さくでき、かつまたピックアップ
にカバーから漏れる温風が吹き付けられることがないの
で高温時において光磁気ディスクの特性の変化を正確に
測定することができる。
密閉した形で温度上昇させることによりディスクの上面
と下面との温度差を小さくでき、かつまたピックアップ
にカバーから漏れる温風が吹き付けられることがないの
で高温時において光磁気ディスクの特性の変化を正確に
測定することができる。
【0020】
【実施例2】図5は本実施例を示す部分拡大断面図であ
る。本実施例は、前記実施例1におけるオクリネジ33
とモータ34とを廃止し、対物レンズ18およびミラー
16をカバー5外部に設けたXステージ37により動か
すもので、他の構成は同一の構成部分から成るものであ
り、同一構成部分には同一番号を付してその説明を省略
する。
る。本実施例は、前記実施例1におけるオクリネジ33
とモータ34とを廃止し、対物レンズ18およびミラー
16をカバー5外部に設けたXステージ37により動か
すもので、他の構成は同一の構成部分から成るものであ
り、同一構成部分には同一番号を付してその説明を省略
する。
【0021】35は略コの字形状をしたシャフトで、こ
のシャフト35の下部先端には対物レンズ18とミラー
16とが係着されている。また、シャフト35の上部先
端にはバイアス磁石4が固設されており、バイアス磁石
4と対物レンズ18およびミラー16とは光磁気ディス
ク1を挟んでほぼ同一軸線上となる様に構成されてい
る。そして、シャフト35はカバー5の外部近傍に設置
されたXステージ37に連結されている。
のシャフト35の下部先端には対物レンズ18とミラー
16とが係着されている。また、シャフト35の上部先
端にはバイアス磁石4が固設されており、バイアス磁石
4と対物レンズ18およびミラー16とは光磁気ディス
ク1を挟んでほぼ同一軸線上となる様に構成されてい
る。そして、シャフト35はカバー5の外部近傍に設置
されたXステージ37に連結されている。
【0022】以上の構成から成る装置は、Xステージ3
7が図の左右に動くことによってバイアス磁石4と対物
レンズ18およびミラー16が移動する。
7が図の左右に動くことによってバイアス磁石4と対物
レンズ18およびミラー16が移動する。
【0023】本実施例によれば、駆動部分(モータ)や
ネジ部をカバーの外に出すことによって信頼性が増し、
同時にカバー内のクリーン度を増すことができる。ま
た、バイアス磁石も小さくでき、例えば浮上型ヘッドの
様なものでおきかえることもできる。
ネジ部をカバーの外に出すことによって信頼性が増し、
同時にカバー内のクリーン度を増すことができる。ま
た、バイアス磁石も小さくでき、例えば浮上型ヘッドの
様なものでおきかえることもできる。
【0024】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明に係る光磁気
媒体の評価装置によれば、光磁気ディスクのみを室温よ
り数10℃も高くできるとともに、ディスクの上面と下
面との温度差を小さく均等に温度の上昇をさせることが
できる。また、ピックアップ部を常温に保つことが容易
にできるので、光磁気ディスクのみの温度上昇による特
性の変化状態をより正確に測定できる。
媒体の評価装置によれば、光磁気ディスクのみを室温よ
り数10℃も高くできるとともに、ディスクの上面と下
面との温度差を小さく均等に温度の上昇をさせることが
できる。また、ピックアップ部を常温に保つことが容易
にできるので、光磁気ディスクのみの温度上昇による特
性の変化状態をより正確に測定できる。
【図1】本発明の概念図である。
【図2】図1の左側面図である。
【図3】実施例1を示す概略構成図である。
【図4】実施例1を示す部分拡大断面図である。
【図5】実施例2を示す部分拡大断面図である。
【図6】従来例を示す概略構成図である。
【図7】従来例を示す部分拡大断面図である。
1 光磁気ディスク 2 スピンドルモータ 3 ピックアップ 4 バイアス磁石 5 カバー 6 温度加熱手段 9 電源 10 制御手段 15 温度センサー 16 ミラー 17 窓 18 対物レンズ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年2月5日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0008
【補正方法】変更
【補正内容】
【0008】 図1は本発明に係る光磁気媒体の評価装
置の概念図であり、図2は図1のカバーの左側面図であ
る。1は光磁気ディスクで、この光磁気ディスク1はス
ピンドルモータ2の軸先端に保持されている。光磁気デ
ィスク1とスピンドルモータ2の軸先端を収容するカバ
ー5内にはバイアス磁石4と温度センサー15とが内設
されており、カバー5の左側面には温度加熱手段6が連
設されている。温度加熱手段6はカバー5近傍に設置さ
れた電源9と接続され、電源9はカバー5近傍に設置さ
れた制御手段10に接続されており、制御手段10は前
記カバー5内の温度センサー15と接続されている。
置の概念図であり、図2は図1のカバーの左側面図であ
る。1は光磁気ディスクで、この光磁気ディスク1はス
ピンドルモータ2の軸先端に保持されている。光磁気デ
ィスク1とスピンドルモータ2の軸先端を収容するカバ
ー5内にはバイアス磁石4と温度センサー15とが内設
されており、カバー5の左側面には温度加熱手段6が連
設されている。温度加熱手段6はカバー5近傍に設置さ
れた電源9と接続され、電源9はカバー5近傍に設置さ
れた制御手段10に接続されており、制御手段10は前
記カバー5内の温度センサー15と接続されている。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0021
【補正方法】変更
【補正内容】
【0021】 35はコの字形状をしたシャフトで、こ
のシャフト35の下部先端には対物レンズ18とミラー
16とが係着されている。また、シャフト35の上部先
端にはバイアス磁石4が固設されており、バイアス磁石
4と対物レンズ18およびミラー16とは光磁気ディス
ク1を挟んでほぼ同一軸線上となる様に構成されてい
る。そして、シャフト35はカバー5の外部近傍に設置
されたXステージ37に連結されている。
のシャフト35の下部先端には対物レンズ18とミラー
16とが係着されている。また、シャフト35の上部先
端にはバイアス磁石4が固設されており、バイアス磁石
4と対物レンズ18およびミラー16とは光磁気ディス
ク1を挟んでほぼ同一軸線上となる様に構成されてい
る。そして、シャフト35はカバー5の外部近傍に設置
されたXステージ37に連結されている。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0024
【補正方法】変更
【補正内容】
【0024】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明に係る光磁気
媒体の評価装置によれば、光磁気ディスクのみを室温よ
り数10℃も高くできるとともに、カバー下部を完全に
遮断することでディスクの上面と下面との温度差を小さ
く均等に温度の上昇をさせることができる。また、プリ
ズムや半導体レーザを含むピックアップ部を常温に保つ
ことが容易にできるので、光磁気ディスクのみの温度上
昇による特性の変化状態をより正確に測定できる。
媒体の評価装置によれば、光磁気ディスクのみを室温よ
り数10℃も高くできるとともに、カバー下部を完全に
遮断することでディスクの上面と下面との温度差を小さ
く均等に温度の上昇をさせることができる。また、プリ
ズムや半導体レーザを含むピックアップ部を常温に保つ
ことが容易にできるので、光磁気ディスクのみの温度上
昇による特性の変化状態をより正確に測定できる。
Claims (1)
- 【請求項1】 回転自在な光磁気媒体,磁場発生用コイ
ルおよび温度センサーを内設したカバーと、該カバー内
の光磁気媒体に温風を吹き付ける温風加熱手段と、該温
風加熱手段の制御手段と、光ピックアップとから構成さ
れた光磁気媒体の評価装置において、前記カバーを温風
送入口と排出口とを除いて密閉するとともに、カバー内
に前記光ピックアップの内の対物レンズと該対物レンズ
に光を導くミラーとを設けて構成したことを特徴とする
光磁気媒体の評価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3308509A JPH05120757A (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 光磁気媒体の評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3308509A JPH05120757A (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 光磁気媒体の評価装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05120757A true JPH05120757A (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=17981884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3308509A Withdrawn JPH05120757A (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 光磁気媒体の評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05120757A (ja) |
-
1991
- 1991-10-28 JP JP3308509A patent/JPH05120757A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990107 |