JPH04162230A - 光磁気記録媒体の評価装置 - Google Patents
光磁気記録媒体の評価装置Info
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- JPH04162230A JPH04162230A JP28729690A JP28729690A JPH04162230A JP H04162230 A JPH04162230 A JP H04162230A JP 28729690 A JP28729690 A JP 28729690A JP 28729690 A JP28729690 A JP 28729690A JP H04162230 A JPH04162230 A JP H04162230A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
この発明は、光磁気記録媒体の特性、例えばC/Nの温
度特性をピックアップを用いて測定して評価するための
光磁気記録媒体の評価装置に関するものである。
度特性をピックアップを用いて測定して評価するための
光磁気記録媒体の評価装置に関するものである。
例えば光磁気ディスクの高温での特性を評価する装置と
して、従来、測定対象の光磁気ディスクおよびピックア
ップを含む駆動装置を恒温槽に入れて測定するようにし
たものが提案されている。
して、従来、測定対象の光磁気ディスクおよびピックア
ップを含む駆動装置を恒温槽に入れて測定するようにし
たものが提案されている。
また、光ディスクおよび回転軸を回転した状態でこれら
をある温度に保つ技術として、特公昭62−52704
号公報に記載されたものがある。なお、この特公昭62
−52704号公報に記載の技術は、光デイスク用プラ
スチック基板成形法に関し、トラック溝つきプラスチッ
ク基板を基板材料の二次転移温度より20℃程度以下の
温度環境下(60℃以上)において高速度で回転させる
ことにより基板の平面精度、耐熱性を向上させるように
するものである。
をある温度に保つ技術として、特公昭62−52704
号公報に記載されたものがある。なお、この特公昭62
−52704号公報に記載の技術は、光デイスク用プラ
スチック基板成形法に関し、トラック溝つきプラスチッ
ク基板を基板材料の二次転移温度より20℃程度以下の
温度環境下(60℃以上)において高速度で回転させる
ことにより基板の平面精度、耐熱性を向上させるように
するものである。
しかしながら、前者の光磁気ディスクの評価装置にあっ
ては、ピックアップを含む駆動装置全体を高温にして光
磁気ディスクの特性を測定するようにしているため、ピ
ックアップの特性も温度によって変化し、これがため光
磁気ディスク自体の温度変化による特性の変化と、ピッ
クアップの温度変化による特性の変化とを区別すること
ができず、光磁気ディスクを正確に評価できないという
問題がある。
ては、ピックアップを含む駆動装置全体を高温にして光
磁気ディスクの特性を測定するようにしているため、ピ
ックアップの特性も温度によって変化し、これがため光
磁気ディスク自体の温度変化による特性の変化と、ピッ
クアップの温度変化による特性の変化とを区別すること
ができず、光磁気ディスクを正確に評価できないという
問題がある。
また、後者の光ディスクおよび回転軸を回転した状態で
これらをある温度に保つ技術は、上述したように基板の
成形法に関するもので、評価装置に不可欠なビックアン
プについては何ら考慮が払われていない。
これらをある温度に保つ技術は、上述したように基板の
成形法に関するもので、評価装置に不可欠なビックアン
プについては何ら考慮が払われていない。
この発明は、上述した従来の問題点に着目してなされた
もので、ピックアップの温度を上昇させることなく、光
磁気記録媒体の高温時における特性を測定でき、したが
って光磁気記録媒体を正確に評価できるよう適切に構成
した光磁気記録媒体の評価装置を提供することを目的と
する。
もので、ピックアップの温度を上昇させることなく、光
磁気記録媒体の高温時における特性を測定でき、したが
って光磁気記録媒体を正確に評価できるよう適切に構成
した光磁気記録媒体の評価装置を提供することを目的と
する。
上記目的を達成するため、この発明では、光磁気記録媒
体の特性をピックアップを用いて測定して評価する光磁
気記録媒体の評価装置において、前記光磁気記録媒体は
覆うも、前記ピ、、クア。ツブは覆わないように設けた
カバーと、このカバーの内部に温風を供給して前記光磁
気記録媒体を加熱する温風加熱手段と、前記カバーの内
部に設けた温度センサと、この温度センサの出力に基づ
いて前記光磁気記録媒体が所望の温度となるように前記
温風加熱手段を制御する制御手段とを設ける。
体の特性をピックアップを用いて測定して評価する光磁
気記録媒体の評価装置において、前記光磁気記録媒体は
覆うも、前記ピ、、クア。ツブは覆わないように設けた
カバーと、このカバーの内部に温風を供給して前記光磁
気記録媒体を加熱する温風加熱手段と、前記カバーの内
部に設けた温度センサと、この温度センサの出力に基づ
いて前記光磁気記録媒体が所望の温度となるように前記
温風加熱手段を制御する制御手段とを設ける。
すなわち、この発明では、第1図に概念図を示すように
、例えば光磁気ディスクの評価を行う場合には、光磁気
ディスク1およびバイアス磁石2は覆うも、ピックアッ
プ3は覆わないカバー4と、このカバー4の内部に温風
を供給する温風加熱手段5と、カバー4の内部の温度を
検出する温度センサ6と、この温度センサ6の出力に基
づいて温風加熱手段5を制御する制御手段7とを設ける
。
、例えば光磁気ディスクの評価を行う場合には、光磁気
ディスク1およびバイアス磁石2は覆うも、ピックアッ
プ3は覆わないカバー4と、このカバー4の内部に温風
を供給する温風加熱手段5と、カバー4の内部の温度を
検出する温度センサ6と、この温度センサ6の出力に基
づいて温風加熱手段5を制御する制御手段7とを設ける
。
なお、光磁気ディスク1はカバー4の外側に設けたスピ
ンドルモータ8により回転させるようにする。また、温
風加熱手段5は、例えば電熱線論と、その電源5Bと、
電熱線5八を経てカバー4内に温風を吹き込むファン5
Cとをもって構成する。
ンドルモータ8により回転させるようにする。また、温
風加熱手段5は、例えば電熱線論と、その電源5Bと、
電熱線5八を経てカバー4内に温風を吹き込むファン5
Cとをもって構成する。
このようにして、この発明では、温風加熱手段5により
カバー4内に温風を供給して、力)< −4内の温度を
室温より数10°C高くして光磁気ディスク1を加熱す
ると共に、カバー4内の温度を温度センサ6で検出し、
その出力に基づいて制御手段7を介して温風加熱手段5
の電源5Bを制御して電熱線5Aに供給する電流を制御
し、これによりその発熱量を光磁気ディスク1が所望の
温度となるように制御する。
カバー4内に温風を供給して、力)< −4内の温度を
室温より数10°C高くして光磁気ディスク1を加熱す
ると共に、カバー4内の温度を温度センサ6で検出し、
その出力に基づいて制御手段7を介して温風加熱手段5
の電源5Bを制御して電熱線5Aに供給する電流を制御
し、これによりその発熱量を光磁気ディスク1が所望の
温度となるように制御する。
第2図はこの発明の第1実施例を示すものである。この
実施例は、光磁気ディスク11の特性を評価するもので
、基台12上には光磁気ディスク11を回転させるため
のスピンドルモータ13と、光磁気ディスク11の径方
向に移動可能なX軸テーブル14とを設ける。X軸テー
ブル14上には、光磁気ディスク11の法線方向に移動
可能なZ軸テーブル15を設け、このZ軸テーブル15
にピンクアップ16を取り付けると共に、光磁気ディス
ク11を介してビ・ツクアップ16の対物レンズと対向
するように支持部材17を介してバイアス磁石18を取
り付ける。
実施例は、光磁気ディスク11の特性を評価するもので
、基台12上には光磁気ディスク11を回転させるため
のスピンドルモータ13と、光磁気ディスク11の径方
向に移動可能なX軸テーブル14とを設ける。X軸テー
ブル14上には、光磁気ディスク11の法線方向に移動
可能なZ軸テーブル15を設け、このZ軸テーブル15
にピンクアップ16を取り付けると共に、光磁気ディス
ク11を介してビ・ツクアップ16の対物レンズと対向
するように支持部材17を介してバイアス磁石18を取
り付ける。
このようにして、Z軸テーブル15により光磁気ディス
ク11とピックアップ16およびバイアス磁石18との
それぞれの間隔を調整し、光磁気ディスク11をスピン
ドルモータ13により回転させながら、X軸テーブル1
4によりピックアップ16およびバイアス磁石18を光
磁気ディスク11の径方向に一体に移動させてデータの
消去、記録および再生を行うようにする。なお、データ
の消去、記録および再生動作は公知であるので、ここで
は詳細な説明は省略する。
ク11とピックアップ16およびバイアス磁石18との
それぞれの間隔を調整し、光磁気ディスク11をスピン
ドルモータ13により回転させながら、X軸テーブル1
4によりピックアップ16およびバイアス磁石18を光
磁気ディスク11の径方向に一体に移動させてデータの
消去、記録および再生を行うようにする。なお、データ
の消去、記録および再生動作は公知であるので、ここで
は詳細な説明は省略する。
光磁気ディスク11およびバイアス磁石18はカバー2
1でほぼ完全に覆い、このカバー21内に温風加熱手段
22から温風を供給するようにする。カバー21は、内
部の光磁気ディスク11等が見えるように、プラスチッ
クやガラス等の透明な材質で形成する。
1でほぼ完全に覆い、このカバー21内に温風加熱手段
22から温風を供給するようにする。カバー21は、内
部の光磁気ディスク11等が見えるように、プラスチッ
クやガラス等の透明な材質で形成する。
なお、カバー21には、スピンドルモータ13の回転軸
が通る穴21Aおよびバイアス磁石18を支持する支持
部材17が通る穴21Bを形成すると共に、光磁気ディ
スク11の径方向に沿ってピックアップ16からの光を
投射するための長大2ICを形成する。
が通る穴21Aおよびバイアス磁石18を支持する支持
部材17が通る穴21Bを形成すると共に、光磁気ディ
スク11の径方向に沿ってピックアップ16からの光を
投射するための長大2ICを形成する。
上記カバー21内には、温度トランスジューサ23を設
け、これによりカバー21内の温度を測定してその出力
をデジタルボルトメータ24で検出するようにする。
け、これによりカバー21内の温度を測定してその出力
をデジタルボルトメータ24で検出するようにする。
また、温風加熱手段22は、電熱線22Aと、これに電
流を給電する可変電流型の電源22Bと、電熱線22A
を経てカバー21内に温風を吹き込むファン22Cとを
もって構成し、電源22Bから電熱線22Aに給電する
電流を制御することによりその発熱量、すなわちカバー
21内に供給する温風の温度を制御するようにする。
流を給電する可変電流型の電源22Bと、電熱線22A
を経てカバー21内に温風を吹き込むファン22Cとを
もって構成し、電源22Bから電熱線22Aに給電する
電流を制御することによりその発熱量、すなわちカバー
21内に供給する温風の温度を制御するようにする。
この実施例では、デジタルボルトメータ24および温風
加熱手段22の電源22Bを、それぞれGP−IBある
いはscs rのようなコンピュータインターフェイス
を介してコントローラ25に接続し、これによりデジタ
ルボルトメータ24の出力に基づいてコントローラ25
を介して、カバー21内すなわち光磁気ディスク11の
温度が所望の温度、この実施例では室温より数10°C
高くなるように、電熱線22Aに給電する電流を制御し
てカバー21内に吹き込む温風の温度を制御し、この状
態で光磁気ディスク11の特性をピックアップ16を介
して測定するようにする。なお、温度トランスジューサ
23で検出されるカバー21内の温度と加熱すべき光磁
気ディスク11の温度との間には誤差があるので、この
誤差を見込んでカバー21内の温度の設定値を予め高め
に設定し、これにより光磁気ディスク11の温度を所望
の温度に制御するようにする。
加熱手段22の電源22Bを、それぞれGP−IBある
いはscs rのようなコンピュータインターフェイス
を介してコントローラ25に接続し、これによりデジタ
ルボルトメータ24の出力に基づいてコントローラ25
を介して、カバー21内すなわち光磁気ディスク11の
温度が所望の温度、この実施例では室温より数10°C
高くなるように、電熱線22Aに給電する電流を制御し
てカバー21内に吹き込む温風の温度を制御し、この状
態で光磁気ディスク11の特性をピックアップ16を介
して測定するようにする。なお、温度トランスジューサ
23で検出されるカバー21内の温度と加熱すべき光磁
気ディスク11の温度との間には誤差があるので、この
誤差を見込んでカバー21内の温度の設定値を予め高め
に設定し、これにより光磁気ディスク11の温度を所望
の温度に制御するようにする。
また、ピックアップ16は、例えば第3図に示すように
、レーザダイオード31からの光をコリメータレンズ3
2で平行光としてビームスプリッタ33に入射させ、そ
の透過光を立ち上げミラー34オよび対物レンズ35を
経て光磁気ディスク11に投射するようにすると共に、
光磁気ディスク11での反射光を対物レンズ35および
立ち上げミラー34を経てビームスプリッタ33に入射
させ、その反射光を172波長板36を経て偏光ビーム
スプリッタ37に入射させてP偏光成分およびS偏光成
分を取り出し、これらをそれぞれレンズ38.39を経
てフォトディテクタ40.41で受光する公知のものを
使用するが、この実施例ではカバー21の長穴21Cか
ら吹き出る温風によってピックアップ16が温度上昇す
るのを防止するために、対物レンズ35と立ち上げミラ
ー34との間の光路を十分長くする。
、レーザダイオード31からの光をコリメータレンズ3
2で平行光としてビームスプリッタ33に入射させ、そ
の透過光を立ち上げミラー34オよび対物レンズ35を
経て光磁気ディスク11に投射するようにすると共に、
光磁気ディスク11での反射光を対物レンズ35および
立ち上げミラー34を経てビームスプリッタ33に入射
させ、その反射光を172波長板36を経て偏光ビーム
スプリッタ37に入射させてP偏光成分およびS偏光成
分を取り出し、これらをそれぞれレンズ38.39を経
てフォトディテクタ40.41で受光する公知のものを
使用するが、この実施例ではカバー21の長穴21Cか
ら吹き出る温風によってピックアップ16が温度上昇す
るのを防止するために、対物レンズ35と立ち上げミラ
ー34との間の光路を十分長くする。
このように、この実施例によれば、ピックアップ16は
覆うことなく、光磁気ディスク!1を覆うようにカバー
21を設けて、このカバー21内に温風加熱手段22か
ら温風を供給すると共に、カバー21内に温度トランス
ジューサ23を設けてその温度、すなわち光磁気ディス
ク11の温度を測定し、その測定温度に基づいてコント
ローラ25を介して温風加熱手段22を制御してカバー
21内に吹き込む温風の温度を制御するようにしたので
、ピックアップエ6の温度を上昇させることなく、光磁
気ディスク11を常に所望の温度に維持することができ
、したがって光磁気ディスク11の高温時における特性
を精度良く測定でき、これを正確に評価することができ
る。
覆うことなく、光磁気ディスク!1を覆うようにカバー
21を設けて、このカバー21内に温風加熱手段22か
ら温風を供給すると共に、カバー21内に温度トランス
ジューサ23を設けてその温度、すなわち光磁気ディス
ク11の温度を測定し、その測定温度に基づいてコント
ローラ25を介して温風加熱手段22を制御してカバー
21内に吹き込む温風の温度を制御するようにしたので
、ピックアップエ6の温度を上昇させることなく、光磁
気ディスク11を常に所望の温度に維持することができ
、したがって光磁気ディスク11の高温時における特性
を精度良く測定でき、これを正確に評価することができ
る。
第4図はこの発明の第2実施例の要部の構成を示すもの
である。この実施例は、温度トランスジューサ23を温
風加熱手段22からの温風の供給口近傍に配置したもの
で、その他の構成は第1実施例と同様である。
である。この実施例は、温度トランスジューサ23を温
風加熱手段22からの温風の供給口近傍に配置したもの
で、その他の構成は第1実施例と同様である。
このように、温度トランスジューサ23を温風加熱手段
22からの温風の供給口近傍に配置すれば、温風そのも
のの温度を検出してこれをコントローラ25にフィード
バックすることができるので、光磁気ディスク1工の温
度を所望の温度により正確に制御することができる。す
なわち、光磁気ディスク11の温度は、カバー21内の
温度よりも温風の温度により近いので、温度トランスジ
ューサ23で検出される温度と加熱すべき光磁気ディス
ク11の温度との誤差は小さくなる。したがって、この
小さい誤差を見込んで温度トランスジューサ23で検出
される温度の設定値を予め高めに設定することにより、
光磁気ディスク11の温度を所望の温度により正確に制
御することができ、これにより光磁気ディスク11をよ
り正確に評価することができる。
22からの温風の供給口近傍に配置すれば、温風そのも
のの温度を検出してこれをコントローラ25にフィード
バックすることができるので、光磁気ディスク1工の温
度を所望の温度により正確に制御することができる。す
なわち、光磁気ディスク11の温度は、カバー21内の
温度よりも温風の温度により近いので、温度トランスジ
ューサ23で検出される温度と加熱すべき光磁気ディス
ク11の温度との誤差は小さくなる。したがって、この
小さい誤差を見込んで温度トランスジューサ23で検出
される温度の設定値を予め高めに設定することにより、
光磁気ディスク11の温度を所望の温度により正確に制
御することができ、これにより光磁気ディスク11をよ
り正確に評価することができる。
第5図はこの発明の第3実施例の要部の構成を示すもの
である。この実施例では、温風加熱手段22からの温風
の供給口近傍に温度トランスジューサ23−1を配置す
ると共に、カバー21内の温風吹き出し口、第5図では
スピンドルモータ130回転軸が通る穴21Aの近傍に
も温度トランスジューサ23−2を配置し、温度トラン
スジューサ23−1の出力に基づいて温風の温度制御を
行い、温度トランスジューサ23−2の出力に基づいて
それが安定した後に測定を開始するようにしたもので、
その他の構成は第1実施例と同様である。
である。この実施例では、温風加熱手段22からの温風
の供給口近傍に温度トランスジューサ23−1を配置す
ると共に、カバー21内の温風吹き出し口、第5図では
スピンドルモータ130回転軸が通る穴21Aの近傍に
も温度トランスジューサ23−2を配置し、温度トラン
スジューサ23−1の出力に基づいて温風の温度制御を
行い、温度トランスジューサ23−2の出力に基づいて
それが安定した後に測定を開始するようにしたもので、
その他の構成は第1実施例と同様である。
このように構成することにより、設定温度変更後の測定
を正確に行うことができる。すなわち、設定温度を変更
した際、温風加熱手段22から供給する温風の温度は、
温度トランスジューサ23−1の出力に基づいて直ちに
変更後の設定温度に制御できるが、光磁気ディスク11
やカバー21内の温度は徐々に変更した設定温度に移行
するため、設定温度を変更して直ちに測定を開始すると
、設定温度と光磁気ディスク11との温度誤差が大きく
なって正確な測定ができないことになる。そこで、この
実施例では、カバー21内の温風吹き出し口近傍に設け
た温度トランスジューサ23−2でカバー21内の温度
を監視し、それが安定して温度トランスジューサ23−
1で検出される温度とほぼ等しくなったのを検出して、
すなわちカバー21内の温度が平衡状態になったのを検
出して測定を開始させる。このようにすることにより、
設定温度変更後の測定を正確に行うことができる。
を正確に行うことができる。すなわち、設定温度を変更
した際、温風加熱手段22から供給する温風の温度は、
温度トランスジューサ23−1の出力に基づいて直ちに
変更後の設定温度に制御できるが、光磁気ディスク11
やカバー21内の温度は徐々に変更した設定温度に移行
するため、設定温度を変更して直ちに測定を開始すると
、設定温度と光磁気ディスク11との温度誤差が大きく
なって正確な測定ができないことになる。そこで、この
実施例では、カバー21内の温風吹き出し口近傍に設け
た温度トランスジューサ23−2でカバー21内の温度
を監視し、それが安定して温度トランスジューサ23−
1で検出される温度とほぼ等しくなったのを検出して、
すなわちカバー21内の温度が平衡状態になったのを検
出して測定を開始させる。このようにすることにより、
設定温度変更後の測定を正確に行うことができる。
なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、上述した実施例では、温度センサとして温度トランス
ジューサを用いたが、熱電対や白金抵抗体を用いること
もできる。また、上述した実施例では、デジタルボルト
メータ24および温風加熱手段22の電源22Bを、G
P−IBあるいは5CSIのようなコンピュータインタ
ーフェイスを介してコントローラ25に接続して、デジ
タルボルトメータ24の出力に基づいて電熱線22Aに
給電する電流を制御するようにしたが、同様の制御は市
販の電子温度調整器を用いて行うこともできる。この場
合には、温度センサおよび加熱用電熱線を温度調整器に
接続し、温度センサでの検出温度と、温度調整器に設定
した温度との差に基づいて、加熱用電熱線に給電する電
流をou−oFF!IJW、あるいはPID制御すれば
よい。さらに、この発明は光磁気ディスクだけでなく、
カード状の光磁気記録媒体の評価にも有効に適用するこ
とができる。
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、上述した実施例では、温度センサとして温度トランス
ジューサを用いたが、熱電対や白金抵抗体を用いること
もできる。また、上述した実施例では、デジタルボルト
メータ24および温風加熱手段22の電源22Bを、G
P−IBあるいは5CSIのようなコンピュータインタ
ーフェイスを介してコントローラ25に接続して、デジ
タルボルトメータ24の出力に基づいて電熱線22Aに
給電する電流を制御するようにしたが、同様の制御は市
販の電子温度調整器を用いて行うこともできる。この場
合には、温度センサおよび加熱用電熱線を温度調整器に
接続し、温度センサでの検出温度と、温度調整器に設定
した温度との差に基づいて、加熱用電熱線に給電する電
流をou−oFF!IJW、あるいはPID制御すれば
よい。さらに、この発明は光磁気ディスクだけでなく、
カード状の光磁気記録媒体の評価にも有効に適用するこ
とができる。
以上のように、この発明によれば、ピックアップは覆う
ことなく、光磁気記録媒体を覆うようにカバーを設けて
、このカバー内に温風加熱手段から温風を供給すると共
に、カバー内に温度センサを設けてその温度、すなわち
光磁気記録媒体の温度を測定し、その測定温度に基づい
て制御手段により温風加熱手段を制御してカバー内に吹
き込む温風の温度を制御するようにしたので、ピックア
ップの温度を上昇させることなく、光磁気記録媒体を常
に所望の温度に維持することができる。したがって、光
磁気記録媒体の高温時における特性を精度良く測定でき
、これを正確に評価することができる。
ことなく、光磁気記録媒体を覆うようにカバーを設けて
、このカバー内に温風加熱手段から温風を供給すると共
に、カバー内に温度センサを設けてその温度、すなわち
光磁気記録媒体の温度を測定し、その測定温度に基づい
て制御手段により温風加熱手段を制御してカバー内に吹
き込む温風の温度を制御するようにしたので、ピックア
ップの温度を上昇させることなく、光磁気記録媒体を常
に所望の温度に維持することができる。したがって、光
磁気記録媒体の高温時における特性を精度良く測定でき
、これを正確に評価することができる。
第1図はこの発明の概念図、
第2図はこの発明の第1実施例を示す図、第3図は第1
図に示すピックアップの一例の構成を示す図、 第4図はこの発明の第2実施例の要部の構成を示す図、 第5図は同じく第3実施例の要部の構成を示す図である
。 1・・・光磁気ディスク 2・・・バイアス磁石3・
・・ピックアップ 4・・・カバー5・・・温風加
熱手段 5A・・・電熱線5B・・・電B
5C・・・ファン6・・・温度センサ
7・・・制御手段8・・・スピンドルモータ 第2図 第3図 第5図
図に示すピックアップの一例の構成を示す図、 第4図はこの発明の第2実施例の要部の構成を示す図、 第5図は同じく第3実施例の要部の構成を示す図である
。 1・・・光磁気ディスク 2・・・バイアス磁石3・
・・ピックアップ 4・・・カバー5・・・温風加
熱手段 5A・・・電熱線5B・・・電B
5C・・・ファン6・・・温度センサ
7・・・制御手段8・・・スピンドルモータ 第2図 第3図 第5図
Claims (1)
- 1、光磁気記録媒体の特性をピックアップを用いて測定
して評価する光磁気記録媒体の評価装置において、前記
光磁気記録媒体は覆うも、前記ピックアップは覆わない
ように設けたカバーと、このカバーの内部に温風を供給
して前記光磁気記録媒体を加熱する温風加熱手段と、前
記カバーの内部に設けた温度センサと、この温度センサ
の出力に基づいて前記光磁気記録媒体が所望の温度とな
るように前記温風加熱手段を制御する制御手段とを具え
ることを特徴とする光磁気記録媒体の評価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28729690A JPH04162230A (ja) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | 光磁気記録媒体の評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28729690A JPH04162230A (ja) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | 光磁気記録媒体の評価装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04162230A true JPH04162230A (ja) | 1992-06-05 |
Family
ID=17715543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28729690A Pending JPH04162230A (ja) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | 光磁気記録媒体の評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04162230A (ja) |
-
1990
- 1990-10-26 JP JP28729690A patent/JPH04162230A/ja active Pending
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