JPH0511896B2 - - Google Patents

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JPH0511896B2
JPH0511896B2 JP62122372A JP12237287A JPH0511896B2 JP H0511896 B2 JPH0511896 B2 JP H0511896B2 JP 62122372 A JP62122372 A JP 62122372A JP 12237287 A JP12237287 A JP 12237287A JP H0511896 B2 JPH0511896 B2 JP H0511896B2
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JP
Japan
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output signal
force
housing
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load cell
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Hoosuto Jabusu Robaato
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Westinghouse Electric Corp
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Publication date
Application filed by Westinghouse Electric Corp filed Critical Westinghouse Electric Corp
Publication of JPS62284272A publication Critical patent/JPS62284272A/ja
Publication of JPH0511896B2 publication Critical patent/JPH0511896B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/08Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady tensile or compressive forces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/04Measuring adhesive force between materials, e.g. of sealing tape, of coating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/026Specifications of the specimen
    • G01N2203/0262Shape of the specimen
    • G01N2203/0278Thin specimens
    • G01N2203/0282Two dimensional, e.g. tapes, webs, sheets, strips, disks or membranes

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は、電子構成要素のリードの振動に対
する完全性(seismic integrity)を確認するため
の装置に関し、特に、老化した電気的要素、すな
わち特に原子力プラントにおける電気回路に数年
間取り付けられていた構成要素が、振動異変に耐
えるに充分なリードの完全性を有しているか否か
を決定するために使用され得る装置に関する。
電子要素、すなわち抵抗器、コンデンサ等の老
化もしくは劣化、及び地震のような振動異変中、
該電子要素の完全性に与えるかかる劣化の影響
は、今日まで良く研究されてこなかつた。しかし
ながら、電子要素の劣化、及びその完全性は、
種々の型のプラント、特に原子力プラントに取り
付けられている安全装置に対して非常に重要であ
り、なぜならば、冗長装置の共通モード故障が地
震中に起こり得る点まで、劣化した機構は電子要
素を退けないにちがいないからである。
劣化した電気的もしくは電子的構成要素が、振
動性応力を受けたときに、それらの電気的完全性
を維持するかどうかを決定するために行われる検
査の結果、構成要素リードの故障は、振動異変に
対しておそらく助かることのできないこれらのい
くつかの構成要素で観察される主な故障モードで
ある。すなわち、振動性応力を受けた構成要素に
対して与えられた再発(recurring)故障モード
の1つは、構成要素本体からリードの分離である
ということが分かつた。さらに、このリード故障
は、個々の特定の構成要素に対して孤立している
ように見え、そしてどの群の構成要素にとつても
一般的でないように見える。従つて、特に作動装
置にすでに取り付けられている構成要素に関し
て、そのような構成要素のリード故障を検出する
ちようど良い方法を決定するに際して問題があ
る。
構成要素リード故障を検出するための1つの方
法は、作動装置、特に原子力プラントに10年間と
いう間取り付けられている装置を振動的に検査す
ることである。しかしながら、この検査方法は、
実際的ではない。なぜならば、このような検査
は、一層の地震によつて誘導される力にも耐えら
れるための能力もしくは可能性が問題とされる場
合に対しては、装置の質を低下させ得るからであ
る。もう1つの検査方法は、このリードの完全性
の故障現象を前もつて見いだすことを試みるよう
に、広範囲の電子的構成要素に関する劣化及び振
動の促進検査を周期的に行うことである。しかし
なが、このような検査プログラムによつて集めら
れた結果は、数年前に手に入り取り付けられた構
成要素を使用する装置に対しては、明らかに適用
されないであろう。従つて、すでに取り付けられ
ている構成要素のリードの完全性を検査するため
に、リードの完全性を決定する意味有る検査でも
つて、構成要素のリードを周期的に検査すること
が必要であるように思える。
発明の概要 従つて、この発明の目的は、検査のために構成
要素を取り除く必要無しで、作動装置の回路にす
でに取り付けられている電気的構成要素のリード
の振動に対する完全性を検査することのできる装
置を提供することである。
この発明のさらなる目的は、構成要素を結果と
して故障させてしまう過度応力を該構成要素に与
えないようにして、劣化した電子的構成要素のリ
ードの振動に対する完全性を確認するための装置
を提供することである。
上述の目的は、回路内に接続された電子構成要
素のリードに力を与え、該与えられた力の大きさ
に対応する第1の出力信号を生成する第1の手段
(1)を備えた、電子構成要素のリードの振動に対す
る完全性を確認するための装置において、 前記第1の出力信号に応答して、与えられた力
の大きさが所望のあらかじめ設定された値にある
ときに第2の出力信号を出力する第2の手段(5)
と、 前記第2の出力信号に応答して、該第2の出力
信号があらかじめ設定された所望期間存在すると
きに指示を出力する第3の手段(47)と、 前記第1の出力信号に応答し、前記第1の手段
によつて与えられた力があらかじめ設定された最
大の値を超えたならば、該与えられた力が解放さ
れるようにして前記第1の手段に接続される第4
の手段(9)と、 前記第2の出力信号に応答して、前記所望期間
の後、前記第2の出力信号がもう1つのあらかじ
め設定された期間存在したとき、前記第1の手段
によつて与えられた力が解放されるようにする第
5の手段(59)と、 を備えたことを特徴とする電子構成要素のリード
の振動に対する完全性を確認するための装置によ
つて達成される。
好ましくは、あらかじめ設定される値は、地震
によつてリードに及ぼされる最大の予想される力
に対応し、そしてあらかじめ設定される期間は、
かかる最大の力の予想される期間に対応する。
この発明の開示された好適な実施例によれば、
装置は、少なくとも部分的に手で保持される手動
装置であり、そして第1の手段によつて与えられ
ている力の大きさを指示するために、第1の出力
信号に応答する指示手段を含んでおり;ここに、
第1の手段は、力を与えるために電子的構成要素
のリードに接続可能であるように一端にフツクを
有するプローブと、プローブに接続されて前記第
1の出力信号を生成する負荷セルと、負荷セルが
配置されているハウジングと、負荷セル及びプロ
ーブを通常ハウジングに接続するための解放可能
な接続手段とを備え;そして第4及び第5の手段
は、各々解放可能接続手段に接続されてそれを制
御し、ハウジングから第1の手段を分離するよう
にする。
この発明は、添付図面と共に為される以下の好
適な実施例の説明から、より詳細に理解されるで
あろう。
好適な実施例の詳細な説明 第1図に示されるように、この発明による回路
は、電気回路に接続されている例えば抵抗器もし
くはコンデンサのような電気要素のリードに力を
与え、そして該与えられた力に対応する電気的出
力信号を提供するためのプローブ1を含んでい
る。プローブ1からの出力信号は増幅器3を介し
て、複数個の比較器5,7、及び9の各々の信号
入力に与えられる。比較器5,7及び9のそれぞ
れの基準入力には、一緒に編成されている、各比
較器に1つづつの例えば複数個の多重−接点スイ
ツチであつて良い回路11を介して、それぞれの
選択可能かつ調整可能な設定点値が供給される。
ヒステリシスが与えられている比較器5は、この
発明によれば検査回路装置のための主比較器であ
り、従つてその基準入力には、プローブ1によつ
て構成要素リードに与えられよう望まれる力に対
応した設定点値、例えば0.91Kg(2ポンド)の力
に対応する設定点値が与えられており、それ故、
比較器5は、この望まれる力が与えられていると
きにのみ出力信号を生成するであろう。実際には
別々の高及び低比較器によつて実現され得る高/
低スレシヨールド比較器7は、構成要素リードに
所望の適切な力を与える際にプローブ1のオペレ
ータを助けるために設けられている。従つて、高
\低スレシヨールド比較器7には、比較器5に与
えられる設定点値のすぐ上及びすぐ下の2つの設
定点値、例えばそれぞれ1.1Kg(2.5ポンド)及び
0.68Kg(1.5ポンド)に対応する値が与えられ、
それ故、高/低スレシヨールド比較器7は、プロ
ーブ1によつて与えられている力がこれらのスレ
シヨールド値のいずれかを超えたとき出力信号を
生成する。比較器7からの出力信号は、プローブ
1によつて与えられている力が所望の力の値より
上であるかもしくは下であるかを指示する、例え
ば2つの発光ダイオードを含む指示器13に与え
られる。比較器7及び指示器13の代わりに、も
しくはそれらに加うるに、増幅器3の出力をアナ
ログ/デイジタル変換器15を介してデイジタル
読み出し指示器17に接続することによつて、プ
ローブ1によつて与えられている力の直接の読み
出しが与えられる。
過度の力がプローブ1によつて構成要素リード
に与えられるのを避けるために、高比較器9に
は、比較器5に対して上述された設定点値に対し
て過度の力、例えば1.8Kg(4ポンド)に対応す
る設定点値が与えられ、そしてその与えられた力
がこの過度の力の値を超えたということをその入
力信号が示したときに出力信号を生成する。比較
器9からの出力信号は、電力増幅器もしくはドラ
イバ回路19へ与えられ、次に該ドライバ回路1
9はプローブ1に作用する回路装置21を附勢
し、プローブ1によつて構成要素リードに与えら
れている力を該回路装置21が解放するようにす
る。
ここまで説明した第1図の回路の動作を一層明
瞭に理解するために、プローブ1の好適な実施例
を示す第2図を参照する。ここに、プローブ1
は、例えばオペレータによつて握られて良いもの
である。第2図に示されるように、プローブ1は
本質的には棒23を含んでおり、該棒23は、一
端で構成要素リードと係合するための例えばフツ
ク25のような手段を有し、その他端は、増幅器
3に対して入力信号を生成する、例えばひずみゲ
ージのような負荷セル27に螺状接続される。好
ましくは、棒23は適当な絶縁材料で形成され、
すなわちフツク25を含んでいる一端が負荷セル
27に接続された一端から電気的に接続されるよ
うに構成されている。負荷セル27の反対側の一
端は、円周溝31が設けられているキーパー
(keeper)29に螺状接続される。負荷セル27
及びキーパー29を含むプローブ1の部分は、プ
ローブ・ハウジングの一端に形成された開口もし
くは孔33内に配置され、従つて、プローブ1の
部分は開口33内で軸方向に移動可能である。キ
ーパー29、従つてプローブ1をハウジング35
に定着させるために、一対のソレノイド37(プ
ローブの図示実施例においては、力の解放回路2
1を構成する)が、ハウジング35内に装着され
ており、それ故、ソレノイドのそれぞれのプラン
ジヤは通常、ソレノイド37が消勢されていると
き、キーパー29の円周溝31に係合する。従つ
て、第2図に示されるソレノイド37が消勢され
た位置にある場合、電気的構成要素のリードをフ
ツク25に係合させ、次にプローブ・ハウジング
35を引つ張ることによつて、電気的構成要素リ
ードに生成される力は、負荷セル27が該与えら
れた力に対応する出力信号を出力するようにし、
この出力信号は、負荷セル・ケーブル39を介し
て増幅器3の入力に与えられる。そうでなく、ソ
レノイド37が電力増幅器19によつて附勢され
た場合には、プローブ1とハウジング35との間
の機械的接続は解放され、その結果、プローブ・
フツク25によつて構成要素リードに及ぼされて
いた力もまた、開放される。
さて、第1図に戻ると、上述したように主比較
器5は、プローブ1によつて構成要素リードに与
えられている力が所望の力に対応したとき、出力
信号を生成する。リードの完全性を検査するため
に、上述したようにリードが例えば3秒のあらか
じめ設定された時間間隔の間、所望の力に耐え得
るかどうかを決定しなければならない。この目的
のため、主比較器5の出力は、カウンタ可能化も
しくはゲート回路41の制御入力に接続され、該
回路41は、発振器43の出力と、1つもしくは
複数のカウンタ45の入力との間に接続されてい
る。正しい力がプローブ1によつて与えられてい
るということを示す出力信号を主比較器5が生成
している限り、発振器43からの出力パルスは、
カウンタ可能化もしくはゲート回路41を介して
カウンタ45へ通され、該カウンタ45がパルス
を連続的に計数するようになる。
カウンタ45の状態は、タイミング論理回路4
7によつて連続的に監視され、該タイミング論理
回路47は、カウンタ45が検査のための所定の
もしくはあらかじめ設定された例えば3秒の時間
間隔に対応する計数状態に達したときはいつも出
力信号を生成する。タイミング論理回路47から
の出力信号は次に、検査が完了した、すなわち所
望の力が所望の時間間隔もしくは期間、電気的構
成要素のリードに与えられたという指示を提供す
るために、指示装置に与えられる。第1図に示さ
れるように、タイミング論理回路47からの出力
信号は、スピーカ51を介して可聴指示を生成す
るよう音発生器49を附勢するため、及び発光ダ
イオード(LED)のような視覚指示器55をオ
ンするラツチ回路53を附勢するため、の双方に
使用される。好ましくは、タイミング論理回路4
7は、例えば2秒の短い期間だけ出力信号を生成
し、それ故、音発生器49は、この期間の間附勢
されるだけである。他方、ラツチ53と、従つて
指示器55によつて与えられる視覚指示とは、与
えられた力が主比較器5のスレシヨールド・レベ
ル以下、例えば解放されたということを示す主比
較器5からの出力信号によつて、ラツチ53がリ
セツトされるまでの附勢されたままである。
検査の終わりに、カウンタ45をリセツトする
ために、主比較器5の出力はまた、リセツト倫理
回路57を介してカウンタ45のリセツト入力に
接続される。さらに、リセツト論理回路57はま
た、主比較器5が出力信号を生成するためにトリ
ガされた後のいずれかの時点で、プローブのオペ
レータによつて与えられている力が主比較器5に
組み入れられているヒステリシスより低い値に下
げられるべきであるならば、自動的にカウンタ4
5をリセツトする。従つて、このような場合、リ
セツト論理回路57は、カウンタ45が自動的に
リセツトされ、かつタイミング・サイクルが始め
から再度開始されるようにし、このようにして検
査結果の正確さを確実にしている。
最後に、与えられた力、すなわち所望のあらか
じめ定められた力が過度の期間、構成要素リード
に与えられず、かつ構成要素リードを損傷する可
能性がないのを確実にするために、カウンタ45
の状態は超過計数論理回路59によつて追加的に
連続監視され、該超過計数論理回路は、カウンタ
45の状態が検査のために使用された期間より大
きいもう1つの与えられた期間に対応したときは
いつでも出力信号を生成する。例えば6秒に対応
する計数状態において生成され得る超過計数論理
回路59からの出力信号は、電力増幅器19に与
えられ、該電力増幅器19を附勢してソレノイド
37(第2図)を附勢し、プローブ1がハウジン
グ35から外されて、構成要素リードに与えられ
ている力を解放するようにする。
さて、第3図及び第4図は一緒になつて、第1
図にブロツク形態で示した回路を実現するための
回路図の好適な実施例を示しており、図中、同一
要素を表し得るものには同じ参照数字を使用して
いる。第3図及び第4図を参照すると、負荷セル
27(第2図)の信号端子は増幅器3の入力に与
えられ、第3図に示されるように、該増幅器3は
演算増幅器によつて実現されている。好ましく
は、示されているように、増幅器3には、増幅器
のゼロ調節を可能にするための回路61と、増幅
器の入力端子を横切つて接続され、かつ増幅器3
の換算を可能とするように選択されている抵抗器
63とが設けられている。示されたように、比較
器5,7及び9の各々は、同様にそれぞれの演算
増幅器で実現されているか、もしくは高/低スレ
シヨールド比較器7の場合においては、低スレシ
ヨールド値及び高スレシヨールド値のためのそれ
ぞれ2つの演算増幅器7′と7″によつて実現され
ている。それぞれの比較器5,7及び9の演算増
幅器は、各々が、増幅器3の出力に接続された正
の入力と、図示された回路においては9ボルトで
ある作動電圧V+の電源に接続された負の入力と
を有している。さらに示されているように、比較
器5,7及び9を形成している各々の演算増幅器
の負の入力は、種々の比較器に対して所望の設定
点を提供するように、例えば主比較器5に接続さ
れた多位置スイツチ65のような、それぞれの多
位置スイツチに接続されている。示されるよう
に、第1図のブロツク11に対応するそれぞれの
多位置スイツチの可動接点は、すべて機械的に一
緒に接続され、それ故、対応の適当な所望の設定
点が同時に各々の比較器に供給される。第3図か
ら分かるように比較器5は、所望のヒステリシス
を与えるようにその出力とその負の入力との間に
接続されたフイードバツク回路67を有している
という点において残りの比較器とは異なつてい
る。
高及び低比較器7″及び7′の出力は各々、それ
ぞれの指示器回路13′に接続されており、各指
示器回路13′は、トランジスタ71のエミツタ
ーコレクタ通路に接続された発光ダイオード69
を含んでいる。他方、高比較器9の出力は、作動
電圧源を横切つてソレノイド37(第2図)のコ
イル75と直列に接続されたエミツターコレクタ
通路を有するもう1つのトランジスタ73のベー
スに接続されている。
第3図に示すように、増幅器3の出力は、第1
図のアナログーデイジタル変換器15に接続され
て良く、この場合、2つの比較器7′及び7″とそ
れらに関連の指示器とは、所望ならば除去されて
良い。
主比較器5の出力は、第1図の可能化回路41
を構成するANDゲート(第4図)の一方の入力
に接続される。ANDゲート41の他方の入力は、
例えば集積回路MM5369のような集積回路43′
の出力、すなわち端子番号1に接続され、集積回
路43′は、端子番号5及び6に接続されたクリ
スタル回路と一緒になつて、第1図の発振器43
を構成しており、その出力に60Hzの方形波を出力
する。ANDゲート41からの出力信号は、第1
図のカウンタ45を一緒になつて構成している3
つの直列接続されたカウンタ77,79及び81
の最初のカウンタのカウント入力に与えられる。
3つのカウンタ77,79及び81は各々、例え
ば集積回路番号74C90のようなそれぞれの集積回
路によつて実現されており、該集積回路は、第4
図に示すように接続されたとき、カウンタ77が
6で除算を行い、そしてカウンタ79が10で除算
を行うようにする。3つのカウンタ77,79及
び81は、比較器5(第3図)の出力と、3つの
カウンタ回路77,79及び81の適当な端子と
の間に接続されたインバータ57によつてリセツ
トされる。
第4図に示されるように、第1図のタイミング
論理回路47は、カウンタ81の適当な端子に接
続された3つの入力を各々が有している一対の
ANDゲート83及び85と、該ANDゲート83
及び85の出力に接続された入力を有している
ORゲート87によつて形成されている。ANDゲ
ート83及び85をカウンタ81に図示のように
接続することによつて、ORゲート87は、カウ
ンタ81が3秒に対応する計数値に達したとき出
力信号を生成し、この出力信号をその後2秒間維
持する。ORゲート87からの出力信号は、第1
図の音発生器49を構成している音発生器集積回
路番号555のような集積回路のピン番号4に与え
られ、そして該集積回路の出力ピン番号3はスピ
ーカ51に接続されている。ORゲート87の出
力はまた第1図のラツチ53を構成している、例
えばIC74C74のようなもう1つの集積回路にも接
続され、そして該集積回路の出力ピン番号6はも
う1つの発光ダイオード指示回路、すなわち指示
器55に接続されている。ラツチ53を形成して
いる集積回路のリセツト端子、すなわちピン番号
1は、適当な時刻においてラツチ53をリセツト
するために、同様に比較器5(第3図)の出力に
接続される。最後に第1図の超過計数論理回路5
9は、カウンタ81が6秒に対応する計数に達し
たとき出力信号を出すように、カウンタ81のそ
れぞれのピンに適当に接続される3つの入力を有
した唯1つのANDゲートによつて実現される。
ANDゲート59の出力は適当な時間においてソ
レノイド・コイル75を附勢するように、トラン
ジスタ73(第3図)のベースに接続される。
理解され得るように、上述の装置は、検査に先
立つて構成要素を取り外す必要がなく、かつ要素
に過度の力を与えることなく、作動装置の電気回
路にすでに取り付けられている電気的構成要素の
リードの完全性を検査するための簡単でかつ信頼
性のある装置を提供している。このような構成要
素の振動の完全性を(seismic integrity)を検査
もしくは確認するために、地震によつてその構成
要素のリードに及ぼされる予想される最大の力に
対応する所望の大きさの力が、例えばフツク25
にリードを係合させることによつて、そして所望
の力が生成されて比較器がトリガされるまで、ハ
ウジング35に引つ張りを及ぼすことによつて、
最初にリードに与えられる。この所望の力は次
に、例えば地震の最大の力のおおよその期間に対
応するあらかじめ設定された期間、所望の与えら
れた力が要素レベルに与えられたということを指
示器51及び55の1つもしくは双方が示すこと
によつて指示が提供されるまで、オペレータによ
つて維持される。検査のために与えられた、もし
くはあらかじめ設定された期間は、概して、おお
よその期間に、地震の強い活動もしくは最大の力
の余裕を加えた約2から4秒の範囲である。構成
要素のリードに与えられるべき所望の力は、構成
要素の大きさに基づいてある範囲まで変化するで
あろう。しかしながら所望の力は、概して、小さ
い構成要素に対しては0.91Kg(約2ポンド)か
ら、大きい構成要素に対しては2.3Kg(約5ポン
ド)までの範囲である。
構成要素リードの振動の完全性を確認する指示
が行われた後、与えられた力は取り除かれるか、
解放されるかする。もちろん、もし所望のあらか
じめ設定された力が、あらかじめ設定された期
間、リードに与えられることができないならば、
これは、構成要素が地震の発生時故障してしまつ
たであろうので取り替えの必要があつたという指
示であり、この取り替えは今完全状態において行
うことができる。検査下の構成要素が、不必要に
損傷されがちな過度の力を受けることから保護す
るために、もし所望の大きさの力が確認の指示が
提供された後、さらなる期間、与えられているな
らば、もしくは、もし過度の力が検査手続き中、
いつでも与えられているならば、与えられた力は
自動的に解放される。
この発明の上述の記載は、種々の変更、変化及
び適用が可能であり、このことは、この発明の意
味及び範囲内においても理解されるよう意図され
ている。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の好適な実施例による電子
的構成要素のリードの地震に対する完全性を確認
するための装置を示すブロツク回路図、第2図
は、第1図に示されたこの発明の好適な実施例に
おける、力を与えて測定する装置、すなわちプロ
ーブ及びプローブ力解放機構を示す断面構成図、
第3図及び第4図は一緒になつて、第1図に示さ
れたこの発明の好適な実施例を詳細に示す回路図
である。図において、1はプローブ、5は主比較
器、7は高/低スレシヨールド比較器、9は高比
較器、11は切換可能設定点、13は指示器、1
7はデイジタル読み出し指示器、21は力解放回
路、23は棒、25はフツク、27は負荷セル、
29はキーパー、35はハウジング、37はソレ
ノイド、43は発振器、45はカウンタ、47は
タイミング論理回路、57はリセツト論理回路、
59は超過計数論理回路である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 回路内に接続された電子構成要素のリードに
    力を与え、該与えられた力の大きさに対応する第
    1の出力信号を生成する第1の手段(1)を備えた、
    電子構成要素のリードの振動に対する完全性を確
    認するための装置において、 前記第1の出力信号に応答して、与えられた力
    の大きさが所望のあらかじめ設定された値にある
    ときに第2の出力信号を出力する第2の手段(5)
    と、 前記第2の出力信号に応答して、該第2の出力
    信号があらかじめ設定された所望期間存在すると
    きに指示を出力する第3の手段(47)と、 前記第1の出力信号に応答し、前記第1の手段
    によつて与えられた力があらかじめ設定された最
    大の値を超えたならば、該与えられた力が解放さ
    れるようにして前記第1の手段に接続される第4
    の手段(9)と、 前記第2の出力信号に応答して、前記所望期間
    の後、前記第2の出力信号がもう1つのあらかじ
    め設定された期間存在したとき、前記第1の手段
    によつて与えられた力が解放されるようにする第
    5の手段(59)と、 を備えたことを特徴とする電子構成要素のリード
    の振動に対する完全性を確認するための装置。 2 前記第1の手段は:電子構成要素のリードに
    係合して力を与える係合手段、及び前記係合手段
    に接続されて前記与えられた力を測定し、前記第
    1の出力信号を生成する負荷セルを含んだ力プロ
    ーブと;ハウジングと;前記負荷セルを含んだ前
    記プローブの部分を通常前記ハウジングに接続す
    る解放可能接続手段と;を備え、前記第4及び第
    5の手段は各々、前記解放可能接続手段に接続さ
    れてそれを制御し、それが前記ハウジングから前
    記プローブを外すようにする特許請求の範囲第1
    項記載の電子構成要素のリードの振動に対する完
    全性を確認するための装置。 3 前記係合手段は、一端で前記構成要素リード
    に係合するためのフツクを有する棒を備え、前記
    負荷セルは前記棒の他端に接続されて軸方向に相
    対移動するように前記ハウジング内に延び、前記
    プローブはさらに、前記負荷セルに接続されてそ
    れと一緒に移動するキーパーを含み、そして前記
    解放可能接続手段は、前記ハウジングに装着され
    ると共に前記第4及び第5の手段からの出力信号
    に応答して、通常前記ハウジングと相対的な前記
    負荷セルの軸方向の移動を阻止するように前記キ
    ーパーに係合する手段を含んでいる特許請求の範
    囲第2項記載の電子構成要素のリードの振動に対
    する完全性を確認するための装置。
JP62122372A 1986-05-19 1987-05-19 電子構成要素のリ−ドの振動に対する完全性を確認するための装置 Granted JPS62284272A (ja)

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US864617 1986-05-19
US06/864,617 US4697461A (en) 1986-05-19 1986-05-19 Method and apparatus for verifying the seismic integrity of an electronic component

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Publication Number Publication Date
JPS62284272A JPS62284272A (ja) 1987-12-10
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JP62122372A Granted JPS62284272A (ja) 1986-05-19 1987-05-19 電子構成要素のリ−ドの振動に対する完全性を確認するための装置

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US4697461A (en) 1987-10-06
GB2190752B (en) 1990-02-28
GB2190752A (en) 1987-11-25
JPS62284272A (ja) 1987-12-10
GB8711529D0 (en) 1987-06-17

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