KR960009942B1 - 바이어스(b+)전압측정에의한피씨비pcb)자동검사장치 - Google Patents

바이어스(b+)전압측정에의한피씨비pcb)자동검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR960009942B1
KR960009942B1 KR1019930014521A KR930014521A KR960009942B1 KR 960009942 B1 KR960009942 B1 KR 960009942B1 KR 1019930014521 A KR1019930014521 A KR 1019930014521A KR 930014521 A KR930014521 A KR 930014521A KR 960009942 B1 KR960009942 B1 KR 960009942B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pcb
overload
computer
multiplexer
bias voltage
Prior art date
Application number
KR1019930014521A
Other languages
English (en)
Other versions
KR950003837A (ko
Inventor
이수원
Original Assignee
대우전자 주식회사
배순훈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 대우전자 주식회사, 배순훈 filed Critical 대우전자 주식회사
Priority to KR1019930014521A priority Critical patent/KR960009942B1/ko
Publication of KR950003837A publication Critical patent/KR950003837A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960009942B1 publication Critical patent/KR960009942B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Power Sources (AREA)

Abstract

요약없음

Description

바이어스(B+) 전압측정에 의한 피씨비(PCB) 자동검사장치
제1도는 본 발명의 블럭도.
제2도는 본 발명에 따른 동작흐름도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 컴퓨터
20 : GPIB(GENERAL PURPOSE INTERFACE BUS)보드
30 : 모니터40 : A/D 변환장치
50 : 멀티플렉서60 : 프로그래머볼파우워서플라이
70 : 과부하점검장치80 : 하치구
90 : PCB 어셈블리
본 발명은 PCB 조정기에 관한 것으로 특히 PCB 어셈블리의 과부하 및 B+단을 체크하여 양, 불상태를 점검하기 위한 B+전압측정에 의한 PCB 자동검사장치에 관한 것이다.
종래에는 PCB 조정기를 운용시에 PCB 어셈블리의 상태를 알수 없어 B+전압과부하시 또는 PCB 어셈블리가 불량시에도 조정 및 측정을 시도하므로서 오조정이 발생되어 생산능률을 저하시키고 과부하시 PCB 어셈블리의 파손과 고가의 장비의 파손을 초래했던 것이다.
따라서 본 발명은 상기한 제반 결점을 해소코자 안출한 것으로서, PCB 조정공정 전단에서 각 PCB 어셈블리의 B+단을 과부하점검장치에 의해 과부하를 체크하여 품질이 균일한 PCB 만을 선별하여 PCB 자동조정기의 오조정 및 파손을 방지하고 고가의 장비를 보호할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
이를 첨부 도면에 의해 설명한다.
PCB 어셈블리(90) 양, 불판정을 하고 제어하는 컴퓨터(10)를 GPIB 보드(20)를 통해 AC 전원을 출력하는 프로그래머블파우워서플라이(60)과 과부하를 점검하는 과부하점검장치(70)와 추출된 B+신호를 절환하는 멀티플렉서(50)와 B+전압을 측정하는 A/C 변환장치(40)에 GPIB 버스로 상호 연결되게 하고 프로그래머블파우워서플라이(60) 출력단(OUT1)을 과부하점검장치(70)와 하치구(80)를 통해 PCB 어셈블리(90)에 인가하고 상기 하치구(90) TP점을 멀티플렉서(50)를 거쳐 A/D 변환장치(40)에 연결하고 컴퓨터(10)에 양, 불판정을 표시하는 모니터(30)를 연결하여서된 B+전압측정에 의한 PCB 자동검사장치인 것이다.
이하 첨부된 도면에 의해 설명한다.
컴퓨터(10)에 GPIB 보드(20)를 통하여 프로그래머블파우워서플라이(60)에 파우워온(ON) 명령을 송출하여 AC 전압을 출력한다.
상기 AC 전압을 과부하점검장치(70)를 통해 출력되는 AC 전압이 과부하인지를 점검하여 이상이 없으면 하치구(80)에 인가하고 난후 상기 컴퓨터(10)는 멀티플렉서(50)에 신호절환명령을 하달한다.
따라서 상기 멀티플렉서(50)가 하치구(80) TP 점으로부터 추출된 B+신호를 받아들여 신호절환을 하여 그중의 한신호를 출력단(OUT)으로 내보낸다.
이때 컴퓨터(10)에서 GPIB 보드(20)를 통해 A/D 변환장치(40)에 측정명령을 송출하면 측정명령에 의해 B+전압을 측정하여 그 값을 컴퓨터(10)에 인가한다.
상기 컴퓨터(10)가 측정된 B+전압을 읽어들여 메모리에 저장된 기준 전압과 비교한 후 양, 불판단을 하여 모니터(30)에 표시하여 작업자에게 알린다.
이때 과부하점검장치(70)에 과부하발생시 전원공급을 즉시 중단하고 GPIB 보드(20)를 통해 컴퓨터(10)에 알려 모니터(30)에 과부하상태임을 표시한다.
다음 스텝(STEP)이 있으면 컴퓨터(10)는 멀티플렉서(50)에 신호절환명령을 하달하여 상기한 과정을 반복하여 측정한다.
따라서 마지막 STEP7까지 측정완료한 PCB 어셈블리(50)는 컴퓨터(10)가 최종판정을 하여 양호한 PCB는 후공정으로 통과시키는 불량 PCB는 NG 적재장치에 적재한다.
상술한 바와 같이 본 발명은 PCB 어셈블리의 B+전원동작상태를 한눈에 알수 있으므로 불량 PCB 확인이 용이하여 이들 PCB 조정기 투입전 공정에 설치하므로서 과부하에 의한 장비의 파손을 방지할 수 있는 유익한 발명이다.

Claims (1)

  1. PCB 자동조정기에 있어서, PCB 어셈블리(90) 양, 불판정을하고 제어하는 컴퓨터(10)를 GPIB 보드(20)를 통해 AC 전원을 출력하는 프로그래머블파우워서플라이(60)과 과부하를 점검하는 과부하점검장치(70)와 추출된 B+신호를 절환하는 멀티플렉서(50)와 B+전압을 측정하는 A/D 변환장치(40)에 GPIB 버스로 상호 연결되게 하고 프로그래머블파우워서플라이(60) 출력단(OUT1)을 과부하점검장치(70)와 하치구(80)를 통해 PCB 어셈블리(90)에 인가하고 상기 하치구(90) TP점을 멀티플렉서(50)를 거쳐 A/D 변환장치(40)에 연결하고 컴퓨터(10)에 양, 불판정을 표시하는 모니터(30)를 접속한 것을 특징으로 하는 바이어스(B+) 전압측정에 의한 PCB 자동검사장치.
KR1019930014521A 1993-07-29 1993-07-29 바이어스(b+)전압측정에의한피씨비pcb)자동검사장치 KR960009942B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930014521A KR960009942B1 (ko) 1993-07-29 1993-07-29 바이어스(b+)전압측정에의한피씨비pcb)자동검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930014521A KR960009942B1 (ko) 1993-07-29 1993-07-29 바이어스(b+)전압측정에의한피씨비pcb)자동검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950003837A KR950003837A (ko) 1995-02-17
KR960009942B1 true KR960009942B1 (ko) 1996-07-25

Family

ID=19360308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930014521A KR960009942B1 (ko) 1993-07-29 1993-07-29 바이어스(b+)전압측정에의한피씨비pcb)자동검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960009942B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102033206A (zh) * 2010-11-16 2011-04-27 天津市中环电子计算机有限公司 锂电池电路保护板自动测试设备
CN109406985A (zh) * 2018-10-08 2019-03-01 北方电子研究院安徽有限公司 一种pcb模拟元件自动测试系统及测试方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102033206A (zh) * 2010-11-16 2011-04-27 天津市中环电子计算机有限公司 锂电池电路保护板自动测试设备
CN109406985A (zh) * 2018-10-08 2019-03-01 北方电子研究院安徽有限公司 一种pcb模拟元件自动测试系统及测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR950003837A (ko) 1995-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7106045B2 (en) Apparatus for a simplified power disturbance indicator gage with learning capability options
US8275568B2 (en) Semiconductor test system with self-inspection of electrical channel
KR960009942B1 (ko) 바이어스(b+)전압측정에의한피씨비pcb)자동검사장치
KR970056992A (ko) 컬러 선형 씨씨디(ccd) 영상소자 및 이의 구동방법
JPS59182318A (ja) 計測装置
KR200429174Y1 (ko) 자동전압조정기 검사장치 및 이를 이용한 검사 시스템
JPS5850379B2 (ja) 回路試験装置
EP0424825A2 (en) Method for measuring DC current/voltage characteristic of semi-conductor device
JPH03242568A (ja) コネクタ付ケーブルの試験装置
KR960002279B1 (ko) 매스 플로우 콘트롤러 유량의 전대역 자동 점검 방법
KR100499909B1 (ko) 반도체소자 검사중에 핸들러 온도를 체크하는 방법
CN219695361U (zh) 一种线路板的检测设备
KR0179093B1 (ko) 테스트 어댑터 보드 체크기
KR960002280B1 (ko) 매스 플로우 콘트롤러의 응답 속도 점검 방법
KR960001736Y1 (ko) 회로기판의 부품검사장치
KR100477315B1 (ko) 방사선 감시계측기 시험장치
KR100215510B1 (ko) Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치
KR200409825Y1 (ko) 이디비의 기능 검사장치
KR970056092A (ko) 무선 기기의 자동 시험 장치 및 그 제어방법
JPS59228729A (ja) 半導体測定装置
KR0166623B1 (ko) Tv, 모니터 메인 프린트 회로기판 체크조정용 공용 모니터
KR960007156B1 (ko) 전격방지기 테스트 장치 및 테스트 방법
KR940000885B1 (ko) 전동밸브의 자동 검사방법
JP3159347B2 (ja) Ｉｃ試験装置
KR950013336B1 (ko) 케이블테스터

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20010629

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee