JPH05118819A - 視覚認識装置 - Google Patents
視覚認識装置Info
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- JPH05118819A JPH05118819A JP3282744A JP28274491A JPH05118819A JP H05118819 A JPH05118819 A JP H05118819A JP 3282744 A JP3282744 A JP 3282744A JP 28274491 A JP28274491 A JP 28274491A JP H05118819 A JPH05118819 A JP H05118819A
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- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、リードピッチがランダムであっても
高精度にかつ高速に被認識体の中心位置や回転角度など
を認識する。 【構成】被認識体を撮像する撮像装置(13)と、この撮像
装置の撮像により得られた画像データにおける所定エリ
ア内をスキャンして各スキャンラインごとに階調変化を
検出して少なくとも所定輝度レベル数の特徴量を検出す
る特徴量検出手段(A1)と、この特徴量検出手段により求
められた各スキャンラインごとの特徴量と基準となるス
キャンラインごとの特徴量とを比較してその偏差から被
認識体の姿勢を求める姿勢算出手段(A2)とを備えてい
る。
高精度にかつ高速に被認識体の中心位置や回転角度など
を認識する。 【構成】被認識体を撮像する撮像装置(13)と、この撮像
装置の撮像により得られた画像データにおける所定エリ
ア内をスキャンして各スキャンラインごとに階調変化を
検出して少なくとも所定輝度レベル数の特徴量を検出す
る特徴量検出手段(A1)と、この特徴量検出手段により求
められた各スキャンラインごとの特徴量と基準となるス
キャンラインごとの特徴量とを比較してその偏差から被
認識体の姿勢を求める姿勢算出手段(A2)とを備えてい
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばＩＣチップ及び
このＩＣチップを装着する基板のパターン又は各リード
の位置を視覚認識する視覚認識装置に関する。
このＩＣチップを装着する基板のパターン又は各リード
の位置を視覚認識する視覚認識装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣチップの視覚認識にはパターンマッ
チング法が用いられており、このパターンマッチング法
ではＩＣチップを撮像して２値化画像データを求め、こ
の２値化画像データ上においてＩＣチップの表面の特徴
的なパターン又は各電極に対してマッチングをとってい
る。又、このパターンマッチング法では位置合せ用マー
クを用い、この位置合せ用マークを認識してＩＣチップ
の中心位置及び回転角度などを検出している。
チング法が用いられており、このパターンマッチング法
ではＩＣチップを撮像して２値化画像データを求め、こ
の２値化画像データ上においてＩＣチップの表面の特徴
的なパターン又は各電極に対してマッチングをとってい
る。又、このパターンマッチング法では位置合せ用マー
クを用い、この位置合せ用マークを認識してＩＣチップ
の中心位置及び回転角度などを検出している。
【０００３】又、視覚認識する方法として次の技術があ
る。すなわち、図６に示すように各辺の各リード１に対
してそれぞれスキャンが行なわれ、これらスキャンライ
ンＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４における輝度レベル変化が検
出される。そして、この輝度レベル変化により各リード
１の位置が検出される。ここで、各リード１のピッチは
予め登録されており、しかるに各リード１が配列された
各辺での中心位置ａ１、ａ２、ａ３、ａ４が検出され、
これら中心位置ａ１、ａ２、ａ３、ａ４から各リード１
の中心位置Ａが求められる。
る。すなわち、図６に示すように各辺の各リード１に対
してそれぞれスキャンが行なわれ、これらスキャンライ
ンＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４における輝度レベル変化が検
出される。そして、この輝度レベル変化により各リード
１の位置が検出される。ここで、各リード１のピッチは
予め登録されており、しかるに各リード１が配列された
各辺での中心位置ａ１、ａ２、ａ３、ａ４が検出され、
これら中心位置ａ１、ａ２、ａ３、ａ４から各リード１
の中心位置Ａが求められる。
【０００４】しかしながら、パターンマッチング法では
２値化画像データ上において１画素づつずらしながら輝
度レベルを比較してマッチングを行なっている。このた
め、比較処理の量が非常に多くなり、ソフトウェアによ
る処理では高速化に適さない。又、環境の違い、例えば
ＩＣチップに対する照度の違いにより認識結果に違いが
生じ、認識精度の高いものでない。又、図６に示す認識
技術では各リード１のピッチが予め登録されてなくラン
ダムであると、各リード１の中心位置ＡやＩＣチップを
認識したときの中心位置などを検出することは不可能で
ある。
２値化画像データ上において１画素づつずらしながら輝
度レベルを比較してマッチングを行なっている。このた
め、比較処理の量が非常に多くなり、ソフトウェアによ
る処理では高速化に適さない。又、環境の違い、例えば
ＩＣチップに対する照度の違いにより認識結果に違いが
生じ、認識精度の高いものでない。又、図６に示す認識
技術では各リード１のピッチが予め登録されてなくラン
ダムであると、各リード１の中心位置ＡやＩＣチップを
認識したときの中心位置などを検出することは不可能で
ある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】以上のようにパターン
マッチング法では高速化に適さず、環境の違いにより認
識結果に違いが生じる。又、図６に示す認識技術では各
リード１のピッチが予め登録されてなくランダムである
と、ＩＣチップの中心位置などを検出することは不可能
である。
マッチング法では高速化に適さず、環境の違いにより認
識結果に違いが生じる。又、図６に示す認識技術では各
リード１のピッチが予め登録されてなくランダムである
と、ＩＣチップの中心位置などを検出することは不可能
である。
【０００６】そこで本発明は、リードピッチがランダム
であっても高精度にかつ高速に被認識体の中心位置や回
転角度などを認識できる視覚認識装置を提供することを
目的とする。
であっても高精度にかつ高速に被認識体の中心位置や回
転角度などを認識できる視覚認識装置を提供することを
目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、被認識体を撮
像する撮像装置と、この撮像装置の撮像により得られた
画像データにおける所定エリア内をスキャンして各スキ
ャンラインごとに階調変化を検出して少なくとも所定輝
度レベル数の特徴量を検出する検出手段と、この検出手
段により求められた各スキャンラインごとの特徴量と基
準となるスキャンラインごとの特徴量とを比較してその
偏差から被認識体の姿勢を求める姿勢算出手段とを備え
て上記目的を達成しようとする視覚認識装置である。
像する撮像装置と、この撮像装置の撮像により得られた
画像データにおける所定エリア内をスキャンして各スキ
ャンラインごとに階調変化を検出して少なくとも所定輝
度レベル数の特徴量を検出する検出手段と、この検出手
段により求められた各スキャンラインごとの特徴量と基
準となるスキャンラインごとの特徴量とを比較してその
偏差から被認識体の姿勢を求める姿勢算出手段とを備え
て上記目的を達成しようとする視覚認識装置である。
【０００８】
【作用】このような手段を備えたことにより、撮像装置
の撮像により得られた画像データに対して特徴量検出手
段は所定エリア内をスキャンして各スキャンラインごと
に階調変化を検出して少なくとも所定輝度レベル数を検
出し、これらスキャンラインごとの特徴量と基準となる
スキャンラインごとの特徴量とを姿勢算出手段は比較し
てその偏差から被認識体の姿勢を求める。
の撮像により得られた画像データに対して特徴量検出手
段は所定エリア内をスキャンして各スキャンラインごと
に階調変化を検出して少なくとも所定輝度レベル数を検
出し、これらスキャンラインごとの特徴量と基準となる
スキャンラインごとの特徴量とを姿勢算出手段は比較し
てその偏差から被認識体の姿勢を求める。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【００１０】図１は視覚認識装置の構成図である。ＩＣ
チップ１０は基板１１に形成されたパターン又は各リー
ドに対して装着されるものである。これらＩＣチップ１
０及び基板１１はそれぞれ位置合せ装置１２により把持
又は吸着されて互いに位置合せされるようになってい
る。なお、ＩＣチップ１０の各電極と基板１１上の各リ
ードとはそれぞれ対応しており、ＩＣチップ１０の各電
極はバンプが付いていてもよい。
チップ１０は基板１１に形成されたパターン又は各リー
ドに対して装着されるものである。これらＩＣチップ１
０及び基板１１はそれぞれ位置合せ装置１２により把持
又は吸着されて互いに位置合せされるようになってい
る。なお、ＩＣチップ１０の各電極と基板１１上の各リ
ードとはそれぞれ対応しており、ＩＣチップ１０の各電
極はバンプが付いていてもよい。
【００１１】これらＩＣチップ１０及び基板１１の上方
には撮像装置１３が配置されている。この撮像装置１３
は図示しない移動機構に備えられ、ＩＣチップ１０及び
基板１１をそれぞれ別に撮像してその画像信号を出力す
る。この撮像装置１３の画像出力端子はＡ／Ｄ変換器１
４を介して視覚認識処理装置２０に接続されている。こ
のＡ／Ｄ変換器１４は画像信号を複数階調のディジタル
画像信号に変換する機能を有している。
には撮像装置１３が配置されている。この撮像装置１３
は図示しない移動機構に備えられ、ＩＣチップ１０及び
基板１１をそれぞれ別に撮像してその画像信号を出力す
る。この撮像装置１３の画像出力端子はＡ／Ｄ変換器１
４を介して視覚認識処理装置２０に接続されている。こ
のＡ／Ｄ変換器１４は画像信号を複数階調のディジタル
画像信号に変換する機能を有している。
【００１２】視覚認識処理装置２０はＩＣチップ１０及
び基板１１の各位置を認識する機能を有しており、次の
ような構成となっている。主制御部２１が備えられ、こ
の主制御部２１に画像メモリ２２、データメモリ２３及
び出力部２４が接続されるとともに、主制御部２１から
発する指令によりスキャン手段２５、階調変化認識手段
２６、特徴量記憶手段２７、特徴量変化記憶手段２８、
位置検出手段２９、位置算出手段３０及び補正量算出手
段３１が作動するものとなっている。
び基板１１の各位置を認識する機能を有しており、次の
ような構成となっている。主制御部２１が備えられ、こ
の主制御部２１に画像メモリ２２、データメモリ２３及
び出力部２４が接続されるとともに、主制御部２１から
発する指令によりスキャン手段２５、階調変化認識手段
２６、特徴量記憶手段２７、特徴量変化記憶手段２８、
位置検出手段２９、位置算出手段３０及び補正量算出手
段３１が作動するものとなっている。
【００１３】このうちスキャン手段２５、階調変化認識
手段２６、特徴量記憶手段２７及び特徴量変化記憶手段
２８により撮像装置１３の撮像により得られた画像デー
タにおけるスキャンエリア内をスキャンして各スキャン
ラインごとに階調変化を検出して所定輝度レベル数など
の特徴量を検出する特徴量検出手段Ａ１としての機能を
有するものとなっている。
手段２６、特徴量記憶手段２７及び特徴量変化記憶手段
２８により撮像装置１３の撮像により得られた画像デー
タにおけるスキャンエリア内をスキャンして各スキャン
ラインごとに階調変化を検出して所定輝度レベル数など
の特徴量を検出する特徴量検出手段Ａ１としての機能を
有するものとなっている。
【００１４】又、位置検出手段２９、位置算出手段３０
及び補正量算出手段３１により各スキャンラインごとの
特徴量と基準となるスキャンラインごとの特徴量とを比
較してその偏差からＩＣチップ１０及び基板１１の姿勢
を求める姿勢算出手段Ａ２としての機能を有するものと
なっている。
及び補正量算出手段３１により各スキャンラインごとの
特徴量と基準となるスキャンラインごとの特徴量とを比
較してその偏差からＩＣチップ１０及び基板１１の姿勢
を求める姿勢算出手段Ａ２としての機能を有するものと
なっている。
【００１５】以下、具体的に説明すると、画像メモリ２
２にはＡ／Ｄ変換器１４が接続され、ディジタル画像信
号を受けて画像データとして記憶するものとなってい
る。又、出力部２４には位置合せ装置１２が接続されて
いる。
２にはＡ／Ｄ変換器１４が接続され、ディジタル画像信
号を受けて画像データとして記憶するものとなってい
る。又、出力部２４には位置合せ装置１２が接続されて
いる。
【００１６】スキャン手段２５は画像メモリ２２に記憶
された画像データの所定の各スキャンエリアについてス
キャンを行う機能を有している。これらスキャンエリア
は、ＩＣチップ１０であれば図２に示すように画像デー
タ上のＩＣチップ１０の各電極１０ａの配列に従った各
スキャンエリアＲ１〜Ｒ４であり、又基板１１であれば
図３に示すように画像データ上の各リード１１ａの先端
位置に従った各スキャンエリアＱ１〜Ｑ４である。な
お、各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４における
スキャンライン方向は各エリアの長手方向となってい
る。
された画像データの所定の各スキャンエリアについてス
キャンを行う機能を有している。これらスキャンエリア
は、ＩＣチップ１０であれば図２に示すように画像デー
タ上のＩＣチップ１０の各電極１０ａの配列に従った各
スキャンエリアＲ１〜Ｒ４であり、又基板１１であれば
図３に示すように画像データ上の各リード１１ａの先端
位置に従った各スキャンエリアＱ１〜Ｑ４である。な
お、各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４における
スキャンライン方向は各エリアの長手方向となってい
る。
【００１７】階調変化認識手段２６はスキャン手段２５
によりスキャンされているときの濃淡レベルを各スキャ
ンライン別に読み取る機能を有し、特徴量記憶手段２７
は読み取られた濃淡レベルから１スキャンライン別にエ
ッジの検出数、所定輝度レベル例えば輝度レベル「１５
０」以上の画素数を検出してデータメモリ２３に一時記
憶する機能を有している。
によりスキャンされているときの濃淡レベルを各スキャ
ンライン別に読み取る機能を有し、特徴量記憶手段２７
は読み取られた濃淡レベルから１スキャンライン別にエ
ッジの検出数、所定輝度レベル例えば輝度レベル「１５
０」以上の画素数を検出してデータメモリ２３に一時記
憶する機能を有している。
【００１８】特徴量変化記憶手段２８は特徴量記憶手段
２７により求められた１スキャンライン別のエッジの検
出数、輝度レベル「１５０」以上の画素数を各スキャン
エリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４別に表にしてデータメモ
リ２３に記憶する機能を有している。
２７により求められた１スキャンライン別のエッジの検
出数、輝度レベル「１５０」以上の画素数を各スキャン
エリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４別に表にしてデータメモ
リ２３に記憶する機能を有している。
【００１９】位置検出手段２９は、１スキャンライン別
のエッジの基準検出数、輝度レベル「１５０」以上の基
準画素数とデータメモリ２３に記憶されたエッジの検出
数、輝度レベル「１５０」以上の画素数とを比較してス
キャンライン（１画素）単位でずれ量を各スキャンエリ
アＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４別に検出する機能を有してい
る。
のエッジの基準検出数、輝度レベル「１５０」以上の基
準画素数とデータメモリ２３に記憶されたエッジの検出
数、輝度レベル「１５０」以上の画素数とを比較してス
キャンライン（１画素）単位でずれ量を各スキャンエリ
アＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４別に検出する機能を有してい
る。
【００２０】位置算出手段３０は位置検出手段２９によ
り検出された各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４
別のずれ量からＩＣチップ１０及び基板１１の各中心位
置及び各回転角度を算出する機能を有している。
り検出された各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４
別のずれ量からＩＣチップ１０及び基板１１の各中心位
置及び各回転角度を算出する機能を有している。
【００２１】そして、補正量算出手段３１は位置算出手
段３０により求められたＩＣチップ１０及び基板１１の
各中心位置及び各回転角度から基準位置に対するずれ量
を求める機能を有している。次に上記の如く構成された
装置の作用について説明する。
段３０により求められたＩＣチップ１０及び基板１１の
各中心位置及び各回転角度から基準位置に対するずれ量
を求める機能を有している。次に上記の如く構成された
装置の作用について説明する。
【００２２】先ず、各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１
〜Ｑ４別でかつ１スキャンラインごとのエッジの基準検
出数及び輝度レベル「１５０」以上の基準画素数がデー
タメモリ２３に登録される。なお、これらエッジの基準
検出数及び輝度レベルの基準画素数は以下に説明する認
識作用により得た値を基準として採用してもよい。
〜Ｑ４別でかつ１スキャンラインごとのエッジの基準検
出数及び輝度レベル「１５０」以上の基準画素数がデー
タメモリ２３に登録される。なお、これらエッジの基準
検出数及び輝度レベルの基準画素数は以下に説明する認
識作用により得た値を基準として採用してもよい。
【００２３】撮像装置１３はＩＣチップ１０の上方に配
置されてＩＣチップ１０を撮像してその画像信号を出力
する。この画像信号はＡ／Ｄ変換器１４により複数階調
のディジタル画像信号に変換されて画像メモリ２２に画
像データとして記憶される。又、撮像装置１３は基板１
１の上方に配置されて基板１１を撮像してその画像信号
を出力する。この画像信号はＡ／Ｄ変換器１４により複
数階調のディジタル画像信号に変換されて画像メモリ２
２に画像データとして記憶される。このように各画像デ
ータが画像メモリ２２に記憶されると、主制御部２１は
先ずスキャン手段２５に動作指令を発する。
置されてＩＣチップ１０を撮像してその画像信号を出力
する。この画像信号はＡ／Ｄ変換器１４により複数階調
のディジタル画像信号に変換されて画像メモリ２２に画
像データとして記憶される。又、撮像装置１３は基板１
１の上方に配置されて基板１１を撮像してその画像信号
を出力する。この画像信号はＡ／Ｄ変換器１４により複
数階調のディジタル画像信号に変換されて画像メモリ２
２に画像データとして記憶される。このように各画像デ
ータが画像メモリ２２に記憶されると、主制御部２１は
先ずスキャン手段２５に動作指令を発する。
【００２４】このスキャン手段２５は、画像メモリ２２
に記憶された各画像データのうちＩＣチップ１０の画像
データに対して図２に示すように各スキャンエリアＲ１
〜Ｒ４を設定してスキャン動作を行う。又、スキャン手
段２５は基板１１の画像データに対して図３に示すよう
に各スキャンエリアＱ１〜Ｑ４を設定してスキャン動作
を行う。このスキャン手段２５は各スキャンエリアＲ１
〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４に対して各エリアの長手方向にスキ
ャンを行う。このスキャンの際に階調変化認識手段２６
は図４に示すように１スキャンライン別に濃淡レベルを
読み取り、これと同時に特徴量記憶手段２７は読み取ら
れた濃淡レベルから１スキャンライン別にエッジの検出
数、所定輝度レベル例えば輝度レベル「１５０」以上の
画素数を検出してデータメモリ２３に一時記憶する。
に記憶された各画像データのうちＩＣチップ１０の画像
データに対して図２に示すように各スキャンエリアＲ１
〜Ｒ４を設定してスキャン動作を行う。又、スキャン手
段２５は基板１１の画像データに対して図３に示すよう
に各スキャンエリアＱ１〜Ｑ４を設定してスキャン動作
を行う。このスキャン手段２５は各スキャンエリアＲ１
〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４に対して各エリアの長手方向にスキ
ャンを行う。このスキャンの際に階調変化認識手段２６
は図４に示すように１スキャンライン別に濃淡レベルを
読み取り、これと同時に特徴量記憶手段２７は読み取ら
れた濃淡レベルから１スキャンライン別にエッジの検出
数、所定輝度レベル例えば輝度レベル「１５０」以上の
画素数を検出してデータメモリ２３に一時記憶する。
【００２５】次に特徴量変化記憶手段２８は特徴量記憶
手段２７により求められた１スキャンライン別のエッジ
の検出数及び輝度レベル「１５０」以上の画素数を表１
に示すように各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４
別に下記の表に整理してデータメモリ２３に記憶する。
手段２７により求められた１スキャンライン別のエッジ
の検出数及び輝度レベル「１５０」以上の画素数を表１
に示すように各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４
別に下記の表に整理してデータメモリ２３に記憶する。
【００２６】
【表１】
【００２７】なお、同表はスキャンエリアＲ１に対する
ものである。又、特徴量変化記憶手段２８は図５に示す
ようにエッジの検出数及び輝度レベル「１５０」以上の
画素数の各変化を求める。
ものである。又、特徴量変化記憶手段２８は図５に示す
ようにエッジの検出数及び輝度レベル「１５０」以上の
画素数の各変化を求める。
【００２８】次に位置検出手段２９は、１スキャンライ
ン別のエッジの基準検出数及び輝度レベル「１５０」以
上の基準画素数とデータメモリ２３に記憶されたエッジ
の検出数及び輝度レベル「１５０」以上の画素数とを比
較してスキャンライン（１画素）単位でずれ量を各スキ
ャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４別に検出する。例え
ば表１からスキャンエリアＲ１では基準となる各電極１
０ａのエッジ位置はスキャンライン「５」となっている
が、認識されるものではスキャンライン「６」となって
いる。しかるに、位置検出手段２９はスキャンエリアＲ
１において１画素分ずれていることを検出する。なお、
他のスキャンエリアＲ２〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４についても
同様にずれ量が求められる。
ン別のエッジの基準検出数及び輝度レベル「１５０」以
上の基準画素数とデータメモリ２３に記憶されたエッジ
の検出数及び輝度レベル「１５０」以上の画素数とを比
較してスキャンライン（１画素）単位でずれ量を各スキ
ャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４別に検出する。例え
ば表１からスキャンエリアＲ１では基準となる各電極１
０ａのエッジ位置はスキャンライン「５」となっている
が、認識されるものではスキャンライン「６」となって
いる。しかるに、位置検出手段２９はスキャンエリアＲ
１において１画素分ずれていることを検出する。なお、
他のスキャンエリアＲ２〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４についても
同様にずれ量が求められる。
【００２９】次に位置算出手段３０は位置検出手段２９
により検出された各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜
Ｑ４別のずれ量からＩＣチップ１０及び基板１１の各中
心位置及び各回転角度を算出し、補正量算出手段３１は
このＩＣチップ１０及び基板１１の各中心位置及び各回
転角度から基準値に対するずれ量を求める。従って、補
正量算出手段３１は求めたずれ量に応じた補正信号を出
力部２４を通して位置合せ装置１２に送る。
により検出された各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜
Ｑ４別のずれ量からＩＣチップ１０及び基板１１の各中
心位置及び各回転角度を算出し、補正量算出手段３１は
このＩＣチップ１０及び基板１１の各中心位置及び各回
転角度から基準値に対するずれ量を求める。従って、補
正量算出手段３１は求めたずれ量に応じた補正信号を出
力部２４を通して位置合せ装置１２に送る。
【００３０】このように上記一実施例においては、撮像
装置１３の撮像により得られた画像データに対して各ス
キャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４内でスキャンして
階調変化を検出して所定輝度レベル数などの特徴量を検
出し、これらスキャンラインごとの特徴量と基準となる
スキャンラインごとの特徴量とを比較してその偏差から
ＩＣチップ１０及び基板１１の中心位置及び各回転角度
を求めるようにしたので、ＩＣチップ１０及び基板１１
に対する照度などの環境に大きく影響されずかつ位置合
せ用マークを必要とせずにＩＣチップ１０及び基板１１
の中心位置及びその回転角度を正確に検出でき、これに
よりＩＣチップ１０と基板１１との位置合せを高精度に
できる。又、各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４
のみの処理でよいので処理の高速化が可能となる。
装置１３の撮像により得られた画像データに対して各ス
キャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４内でスキャンして
階調変化を検出して所定輝度レベル数などの特徴量を検
出し、これらスキャンラインごとの特徴量と基準となる
スキャンラインごとの特徴量とを比較してその偏差から
ＩＣチップ１０及び基板１１の中心位置及び各回転角度
を求めるようにしたので、ＩＣチップ１０及び基板１１
に対する照度などの環境に大きく影響されずかつ位置合
せ用マークを必要とせずにＩＣチップ１０及び基板１１
の中心位置及びその回転角度を正確に検出でき、これに
よりＩＣチップ１０と基板１１との位置合せを高精度に
できる。又、各スキャンエリアＲ１〜Ｒ４、Ｑ１〜Ｑ４
のみの処理でよいので処理の高速化が可能となる。
【００３１】なお、本発明は上記一実施例に限定される
ものでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよ
い。例えば、画像データは２値化画像データでもよく、
この場合各リードなどはハイレベルを示す。又、特徴量
はエッジの検出数、所定輝度レベル以上の画素数に限る
ことはない。
ものでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよ
い。例えば、画像データは２値化画像データでもよく、
この場合各リードなどはハイレベルを示す。又、特徴量
はエッジの検出数、所定輝度レベル以上の画素数に限る
ことはない。
【００３２】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、リ
ードピッチがランダムであっても高精度にかつ高速に被
認識体の中心位置や回転角度などを認識できる視覚認識
装置を提供できる。
ードピッチがランダムであっても高精度にかつ高速に被
認識体の中心位置や回転角度などを認識できる視覚認識
装置を提供できる。
【図１】本発明に係る視覚認識装置の一実施例を示す構
成図。
成図。
【図２】同装置におけるＩＣチップに対して設定した各
スキャンエリアを示す図。
スキャンエリアを示す図。
【図３】同装置における基板リードに対して設定した各
スキャンエリアを示す図。
スキャンエリアを示す図。
【図４】同装置における１スキャンラインの輝度レベル
変化を示す図。
変化を示す図。
【図５】同装置におけるエッジの検出数及び所定輝度レ
ベル以上の画素数の各変化を示す図。
ベル以上の画素数の各変化を示す図。
【図６】従来技術を説明するための図。
１０…ＩＣチップ、１１…基板、１２…位置合せ装置、
１３…撮像装置、１４…Ａ／Ｄ変換器、２０…視覚認識
処理装置、２１…主制御部、２２…画像メモリ、２３…
データメモリ、２４…出力部、２５…スキャン手段、２
６…階調変化認識手段、２７…特徴量記憶手段、２８…
特徴量変化記憶手段、２９…位置検出手段、３０…位置
算出手段、３１…補正量算出手段。
１３…撮像装置、１４…Ａ／Ｄ変換器、２０…視覚認識
処理装置、２１…主制御部、２２…画像メモリ、２３…
データメモリ、２４…出力部、２５…スキャン手段、２
６…階調変化認識手段、２７…特徴量記憶手段、２８…
特徴量変化記憶手段、２９…位置検出手段、３０…位置
算出手段、３１…補正量算出手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０５Ｋ 13/04 Ｍ 8509−4Ｅ
Claims (1)
- 【請求項１】 被認識体を撮像する撮像装置と、この撮
像装置の撮像により得られた画像データにおける所定エ
リア内をスキャンして各スキャンラインごとに階調変化
を検出して少なくとも所定輝度レベル数を検出する検出
手段と、この検出手段により求められた各スキャンライ
ンごとの特徴量と基準となるスキャンラインごとの特徴
量とを比較してその偏差から前記被認識体の姿勢を求め
る姿勢算出手段とを具備したことを特徴とする視覚認識
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3282744A JPH05118819A (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | 視覚認識装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3282744A JPH05118819A (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | 視覚認識装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05118819A true JPH05118819A (ja) | 1993-05-14 |
Family
ID=17656491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3282744A Pending JPH05118819A (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | 視覚認識装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05118819A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2916711A1 (de) * | 1979-04-25 | 1980-11-06 | Behringwerke Ag | Blutgerinnungsfaktoren und verfahren zu ihrer herstellung |
| JP2009210559A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-09-17 | Toshiba Corp | 印刷物の汚損度判定装置および印刷物の汚損度判定方法 |
| JP2011099864A (ja) * | 2010-12-03 | 2011-05-19 | Hitachi High-Technologies Corp | パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム |
-
1991
- 1991-10-29 JP JP3282744A patent/JPH05118819A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2916711A1 (de) * | 1979-04-25 | 1980-11-06 | Behringwerke Ag | Blutgerinnungsfaktoren und verfahren zu ihrer herstellung |
| JP2009210559A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-09-17 | Toshiba Corp | 印刷物の汚損度判定装置および印刷物の汚損度判定方法 |
| US8294945B2 (en) | 2008-02-08 | 2012-10-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Defacement degree determination apparatus and defacement degree determination method |
| JP2011099864A (ja) * | 2010-12-03 | 2011-05-19 | Hitachi High-Technologies Corp | パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム |
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