JPH05109800A - Semiconductor device resin sealing method and semiconductor device resin sealing device - Google Patents
Semiconductor device resin sealing method and semiconductor device resin sealing deviceInfo
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- JPH05109800A JPH05109800A JP27090691A JP27090691A JPH05109800A JP H05109800 A JPH05109800 A JP H05109800A JP 27090691 A JP27090691 A JP 27090691A JP 27090691 A JP27090691 A JP 27090691A JP H05109800 A JPH05109800 A JP H05109800A
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置をモールド
金型によって樹脂封止する半導体装置の樹脂封止方法お
よび半導体装置用樹脂封止装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin encapsulation method for a semiconductor device and a resin encapsulation device for a semiconductor device, in which a semiconductor device is resin-encapsulated by a mold.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、リードフレームを使用して組立て
られる半導体装置のうち樹脂封止部分(樹脂パッケージ
部分)薄い半導体装置では、図3に示す構造のモールド
金型を使用して樹脂封止されていた。2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor device assembled by using a lead frame, a semiconductor device having a thin resin-sealed portion (resin package portion) is resin-sealed by using a molding die having a structure shown in FIG. Was there.
【0003】図3は従来の樹脂封止装置を示す断面図で
ある。同図において、1は上型定盤部、2は前記上型定
盤部1に取付けられた上型キャビティブロックである。
3は上型キャビティ、4はゲート、5はランナー、6は
ランナー上部エジェクトピン、7,8は後述するリード
フレームをエジェクトするためのエジェクトピンであ
る。FIG. 3 is a sectional view showing a conventional resin sealing device. In FIG. 1, reference numeral 1 is an upper die surface plate portion, and 2 is an upper die cavity block attached to the upper die surface plate portion 1.
3 is an upper mold cavity, 4 is a gate, 5 is a runner, 6 is a runner upper eject pin, and 7 and 8 are eject pins for ejecting a lead frame described later.
【0004】9は下型定盤部、10は前記下型定盤部9
に取付けられた下型キャビティブロックで、この下型キ
ャビティブロック10には下型キャビティ11が形成さ
れている。前記上型定盤部1は、この下型定盤部9に対
して上下動自在に設けられており、不図示の駆動装置に
よって上型キャビティブロック2が下型キャビティブロ
ック10に押し付けられて型締めされるように構成され
ている。Reference numeral 9 is a lower die surface plate portion, and 10 is the lower die surface plate portion 9.
The lower mold cavity block is attached to the lower mold cavity block 10, and the lower mold cavity block 10 has a lower mold cavity 11. The upper die surface plate portion 1 is provided so as to be vertically movable with respect to the lower die surface plate portion 9, and the upper die cavity block 2 is pressed against the lower die cavity block 10 by a driving device (not shown). It is configured to be tightened.
【0005】12はリードフレームで、このリードフレ
ーム12は前記上型キャビティ3および下型キャビティ
11と対応する部分に半導体素子(図示せず)が搭載さ
れており、この例ではランナー5の両側に2つ装填され
ている。A lead frame 12 has a semiconductor element (not shown) mounted on the lead frame 12 in a portion corresponding to the upper mold cavity 3 and the lower mold cavity 11. In this example, both sides of the runner 5 are mounted. Two are loaded.
【0006】13は下型キャビティブロック側に設けら
れたランナー部エジェクトピン、14,15はリードフ
レーム12をエジェクトするためのエジェクトピンであ
る。Reference numeral 13 is a runner portion eject pin provided on the lower mold cavity block side, and 14 and 15 are eject pins for ejecting the lead frame 12.
【0007】次に、このように構成された従来の半導体
装置用樹脂封止装置を使用した樹脂封止方法について説
明する。リードフレーム12をセットし型締めしてプリ
ヒートされた樹脂を装置内に投入する。次に、プランジ
ャー(図示せず)を駆動させてその樹脂を上下金型内へ
注入する(注入機構および樹脂投入部は図示されていな
い)。Next, a resin encapsulation method using the conventional resin encapsulation device for a semiconductor device configured as described above will be described. The lead frame 12 is set, the mold is clamped, and the preheated resin is put into the apparatus. Next, a plunger (not shown) is driven to inject the resin into the upper and lower molds (the injection mechanism and the resin injection portion are not shown).
【0008】樹脂はランナー5,ゲート4を通過してキ
ャビティ3,11に充填される。充填完了し樹脂が固化
した後、パーティング面16より上下にキャビティブロ
ックを開く。このとき、エジェクトピン6,7,8を駆
動させて上型から成形品をエジェクトさせる。The resin passes through the runner 5 and the gate 4 and is filled in the cavities 3 and 11. After the filling is completed and the resin is solidified, the cavity block is opened above and below the parting surface 16. At this time, the eject pins 6, 7, and 8 are driven to eject the molded product from the upper mold.
【0009】その後、下型のエジェクトピン13,1
4,15を駆動させ、下型から成形品を取出す。図示し
ていないが、上型定盤部1と下型定盤部9とにはエジェ
クトピン駆動機構と、キャビティブロック2,10を一
定温度に保持する機能とがある。After that, the lower eject pins 13, 1
4, 5 are driven to take out the molded product from the lower mold. Although not shown, the upper die surface plate portion 1 and the lower die surface plate portion 9 have an eject pin drive mechanism and a function of keeping the cavity blocks 2 and 10 at a constant temperature.
【0010】なお、本例の場合はキャビティが小さいた
めや極薄型のキャビティとなっているため、キャビティ
上部にエジェクトピンが配置できない場合を示す。ま
た、図4に示すように、エジェクトピンの先端面がラン
ナー側へ突出しており、エジェクトピンに対して樹脂部
分が離型し難かった。In this example, since the cavity is small and the cavity is extremely thin, the eject pin cannot be arranged above the cavity. Further, as shown in FIG. 4, the tip end surface of the eject pin projects toward the runner side, and it was difficult for the resin portion to release from the eject pin.
【0011】図4は従来の樹脂封止装置に使用するエジ
ェクトピンの先端部分を拡大して示す図である。FIG. 4 is an enlarged view showing a tip portion of an eject pin used in a conventional resin sealing device.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来の半導
体装置用樹脂封止装置は以上のように構成されているの
で、キャビティブロックから成形品をエジェクトすると
きにリードフレームを押すため、図5に示すように、樹
脂パッケージ部分とリードフレームの界面に隙間が発生
したり、離型が不安定である等の問題点があった。However, since the conventional resin sealing device for a semiconductor device is constructed as described above, the lead frame is pushed when the molded product is ejected from the cavity block. As shown, there are problems that a gap is generated at the interface between the resin package portion and the lead frame, and the release is unstable.
【0013】なお、図5は従来の樹脂封止装置からリー
ドフレームを離型するときの状態を示す図である。図5
において、17は樹脂パッケージ、18は樹脂パッケー
ジ17とリードフレーム12との界面に生じた隙間を示
す。FIG. 5 is a view showing a state where the lead frame is released from the conventional resin sealing device. Figure 5
In the figure, reference numeral 17 denotes a resin package, and 18 denotes a gap generated at the interface between the resin package 17 and the lead frame 12.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体装置
の樹脂封止方法は、樹脂封止用モールド金型にリードフ
レームを装填し、キャビティに封止樹脂を供給するとき
に、キャビティと隣接する樹脂溜まり部に封止樹脂を流
し込み、樹脂が固化した後リードフレームをエジェクト
ピンによって離型させるときに、前記樹脂溜まり部で固
化した樹脂をエジェクトピンで押圧するものである。According to a method of resin-sealing a semiconductor device according to the present invention, when a lead frame is loaded in a resin-sealing mold and a sealing resin is supplied to the cavity, the resin is adjacent to the cavity. The resin solidified in the resin reservoir is pressed by the eject pin when the sealing resin is poured into the resin reservoir and the lead frame is released from the mold by the eject pin after the resin is solidified.
【0015】本発明に係る半導体装置用樹脂封止装置
は、モールド金型におけるキャビティと隣接する部位に
封止樹脂が流れ込む樹脂溜まり部を形成し、この樹脂溜
まり部と対応する部分に、エジェクトピンを配設したも
のである。The resin encapsulation device for a semiconductor device according to the present invention forms a resin reservoir portion into which a sealing resin flows in a portion adjacent to a cavity in a molding die, and eject pin is formed in a portion corresponding to the resin reservoir portion. Is provided.
【0016】[0016]
【作用】本発明によれば、離型時には樹脂溜まり部で固
化した樹脂をエジェクトピンが押すから、離型時に加え
られる押圧力は樹脂部分に作用することになる。According to the present invention, since the eject pin pushes the resin solidified in the resin reservoir portion at the time of releasing, the pressing force applied at the time of releasing acts on the resin portion.
【0017】[0017]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1および図2に
よって詳細に説明する。図1は本発明に係る半導体装置
用樹脂封止装置を示す断面図、図2は本発明に係る半導
体装置用樹脂封止装置に使用するエジェクトピンの先端
部を示す図である。これらの図において、前記図3ない
し図5で説明したものと同一もしくは同等部材は、同一
符号を付しここにおいて詳細な説明は省略する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a resin sealing device for a semiconductor device according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a tip portion of an eject pin used in the resin sealing device for a semiconductor device according to the present invention. In these figures, the same or equivalent members as those described in FIGS. 3 to 5 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0018】これらの図において、21は上型キャビテ
ィブロック2に形成された上型樹脂溜まり部、22は下
型キャビティブロック10に形成された下型樹脂溜まり
部で、これらの樹脂溜まり部21,22は上型キャビテ
ィ3,下型キャビティ11に隣接して形成されており、
それらのキャビティから封止樹脂が流されるように構成
されている。In these figures, 21 is an upper mold resin reservoir formed in the upper mold cavity block 2, 22 is a lower mold resin reservoir formed in the lower mold cavity block 10, and these resin reservoirs 21, 22 is formed adjacent to the upper mold cavity 3 and the lower mold cavity 11,
The sealing resin is made to flow from these cavities.
【0019】23は溜まり部用エジェクトピン、24は
ゲート部用エジェクトピンである。溜まり部用エジェク
トピンは前記溜まり部21,22と対応する位置に配置
され、ゲート部用エジェクトピン24はゲート部に対応
する部分に配置されている。そして、これらのエジェク
トピンは他のエジェクトピンと同様にして上下両定盤部
1,9によって駆動されるように構成されている。Reference numeral 23 is an eject pin for the reservoir portion, and 24 is an eject pin for the gate portion. The eject pin for the reservoir portion is arranged at a position corresponding to the reservoir portions 21 and 22, and the eject pin 24 for the gate portion is disposed at a portion corresponding to the gate portion. Then, these eject pins are configured to be driven by the upper and lower surface plate portions 1 and 9 in the same manner as the other eject pins.
【0020】また、本実施例では、前記溜まり部用エジ
ェクトピン23と、上型キャビティブロック2側のゲー
ト部用エジェクトピン24とは、リードフレーム12と
対応する部分に配置されている。Further, in this embodiment, the eject pin 23 for the pool portion and the eject pin 24 for the gate portion on the upper die cavity block 2 side are arranged in a portion corresponding to the lead frame 12.
【0021】さらに、本実施例では各エジェクトピンは
図2に示すように、その先端面が樹脂部分(ランナー,
ゲート,溜まり部の底面)からA寸法だけ後退した位置
に位置づけられている。図2に示した状態で樹脂が充填
される。A寸法としては、0.05mm以上で例えば0.
1mm〜0.2mm程度である。Further, in this embodiment, each eject pin has a resin portion (runner,
It is located at a position retracted by A dimension from the bottom of the gate and the reservoir). The resin is filled in the state shown in FIG. The dimension A is 0.05 mm or more and is, for example, 0.
It is about 1 mm to 0.2 mm.
【0022】エジェクトピンをこのように後退させてお
くと、エジェクトピンでの樹脂部分との接触面積が少な
くなり、エジェクトピン先端部が樹脂部分から離れやす
くなる。By retracting the eject pin in this manner, the contact area of the eject pin with the resin portion is reduced, and the tip of the eject pin is easily separated from the resin portion.
【0023】次に、上述したように構成された樹脂封止
装置を使用した半導体装置の樹脂封止方法について説明
する。樹脂が充填されるまでは従来と同様である。樹脂
充填時には上型キャビティ3や下型キャビティ11から
樹脂溜まり部21,22にも樹脂が流れ込む。Next, a resin encapsulation method for a semiconductor device using the resin encapsulation device configured as described above will be described. It is the same as before until the resin is filled. At the time of resin filling, the resin flows from the upper mold cavity 3 and the lower mold cavity 11 into the resin reservoirs 21 and 22.
【0024】樹脂が固化した後、パーティング面16よ
り上下金型を開く。このとき、エジェクトピン6,2
3,24を駆動させて上型より成形品をエジェクトさせ
る。After the resin is solidified, the upper and lower molds are opened from the parting surface 16. At this time, eject pins 6 and 2
By driving 3, 24, the molded product is ejected from the upper mold.
【0025】その後、下型のエジェクトピン13,2
3,24を駆動させ、下型より成形品を取出す。従来の
場合はエジェクトピンはリードフレーム12を押す構造
となっていたが、本実施例では、上型キャビティ3や下
型キャビティ11で固化した樹脂と連続する樹脂溜まり
部21,22内の樹脂を押し、しかも、エジェクトピン
位置はリードフレーム12の面積内となっているため、
キャビティ部の樹脂とリードフレーム12との界面に隙
間が発生することもなく、品質のよい封止品が得られ、
離型性も安定する。After that, the lower eject pins 13, 2
3 and 24 are driven to take out the molded product from the lower mold. In the conventional case, the eject pin is structured to push the lead frame 12, but in the present embodiment, the resin in the resin reservoir portions 21 and 22 which is continuous with the resin solidified in the upper mold cavity 3 and the lower mold cavity 11 is removed. Moreover, since the eject pin position is within the area of the lead frame 12,
There is no gap at the interface between the resin in the cavity and the lead frame 12, and a high-quality sealed product can be obtained.
The releasability is also stable.
【0026】したがって、離型時には樹脂溜まり部2
1,22で固化した樹脂をエジェクトピン23が押すか
ら、離型時に加えられる押圧力は樹脂部分に作用するこ
とになる。Therefore, at the time of mold release, the resin reservoir 2
Since the eject pin 23 pushes the resin solidified by 1 and 22, the pushing force applied at the time of mold release acts on the resin portion.
【0027】また、本実施例で示したようにゲート4で
固化した樹脂をもエジェクトピン24で押すようにする
と、より離型性を高めることができる。Further, as shown in this embodiment, if the resin solidified by the gate 4 is pushed by the eject pin 24, the releasability can be further enhanced.
【0028】さらに、本実施例で示したようにエジェク
トピン23,24でリードフレーム12と対応する部分
を押すようにすると、確実に離型でき、離型が安定す
る。Further, as shown in this embodiment, when the portions corresponding to the lead frame 12 are pushed by the eject pins 23 and 24, the mold can be reliably released and the release is stable.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る半導体
装置の樹脂封止方法は、樹脂封止用モールド金型にリー
ドフレームを装填し、キャビティに封止樹脂を供給する
ときに、キャビティと隣接する樹脂溜まり部に封止樹脂
を流し込み、樹脂が固化した後リードフレームをエジェ
クトピンによって離型させるときに、前記樹脂溜まり部
で固化した樹脂をエジェクトピンで押圧するものであ
り、本発明に係る半導体装置用樹脂封止装置は、モール
ド金型におけるキャビティと隣接する部位に封止樹脂が
流れ込む樹脂溜まり部を形成し、この樹脂溜まり部と対
応する部分に、エジェクトピンを配設したものであるた
め、離型時には樹脂溜まり部で固化した樹脂をエジェク
トピンが押すから、離型時に加えられる押圧力は樹脂部
分に作用することになる。As described above, according to the resin encapsulation method for a semiconductor device of the present invention, when the lead frame is loaded in the resin encapsulation mold and the encapsulation resin is supplied to the cavity, When the sealing resin is poured into the adjacent resin reservoir and the lead frame is released from the resin after the resin is solidified by the eject pin, the resin solidified in the resin reservoir is pressed by the eject pin. Such a resin sealing device for a semiconductor device is a device in which a resin reservoir portion into which a sealing resin flows is formed in a portion adjacent to a cavity in a molding die, and an eject pin is disposed in a portion corresponding to the resin reservoir portion. Therefore, since the eject pin pushes the resin solidified in the resin reservoir at the time of mold release, the pressing force applied at the time of mold release acts on the resin part. That.
【0030】したがって、キャビティ部分で硬化した樹
脂をエジェクトピンで押せない場合でも、樹脂とリード
フレームとの界面に隙間が生じるのを抑えつつ確実に成
形品を離型させることができる。Therefore, even if the resin cured in the cavity cannot be pushed by the eject pin, the molded product can be reliably released from the mold while suppressing the formation of a gap at the interface between the resin and the lead frame.
【図1】本発明に係る半導体装置用樹脂封止装置を示す
断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing a resin sealing device for a semiconductor device according to the present invention.
【図2】本発明に係る半導体装置用樹脂封止装置に使用
するエジェクトピンの先端部を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a tip end portion of an eject pin used in the resin sealing device for a semiconductor device according to the present invention.
【図3】従来の樹脂封止装置を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a conventional resin sealing device.
【図4】従来の樹脂封止装置に使用するエジェクトピン
の先端部分を拡大して示す図である。FIG. 4 is an enlarged view showing a tip portion of an eject pin used in a conventional resin sealing device.
【図5】図5は従来の樹脂封止装置からリードフレーム
を離型するときの状態を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a state in which a lead frame is released from a conventional resin sealing device.
【符号の説明】 2 上型キャビティブロック 3 上型キャビティ 4 ゲート 5 ランナー 10 下型キャビティブロック 11 下型キャビティ 12 リードフレーム 21 樹脂溜まり部 22 樹脂溜まり部 23 エジェクトピン[Explanation of symbols] 2 upper mold cavity block 3 upper mold cavity 4 gate 5 runner 10 lower mold cavity block 11 lower mold cavity 12 lead frame 21 resin reservoir 22 resin reservoir 23 eject pin
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【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成4年7月8日[Submission date] July 8, 1992
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】特許請求の範囲[Name of item to be amended] Claims
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【特許請求の範囲】[Claims]
【手続補正2】[Procedure Amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0002[Name of item to be corrected] 0002
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、リードフレームを使用して組立て
られる半導体装置のうち樹脂封止部分(樹脂パッケージ
部分)が小さい半導体装置では、図3に示す構造のモー
ルド金型を使用して樹脂封止されていた。2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor device having a small resin sealing portion (resin package portion) among semiconductor devices assembled using a lead frame, resin molding is performed using a molding die having a structure shown in FIG. It had been.
【手続補正3】[Procedure 3]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0014[Correction target item name] 0014
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体装置
の樹脂封止方法は、樹脂封止用モールド金型にリードフ
レームを装填し、キャビティに封止樹脂を供給するとき
に、キャビティと隣接する樹脂溜まり部に封止樹脂を流
し込み、樹脂が固化した後リードフレームをエジェクト
ピンによって離型させるときに、前記樹脂溜まり部やゲ
ート部で固化した樹脂をエジェクトピンで押圧するもの
である。According to a method of resin-sealing a semiconductor device according to the present invention, when a lead frame is loaded in a resin-sealing mold and a sealing resin is supplied to the cavity, the resin is adjacent to the cavity. When the lead frame is released by the eject pin after the resin is solidified by pouring the sealing resin into the resin pool ,
The resin solidified at the gate portion is pressed by the eject pin.
【手続補正4】[Procedure amendment 4]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0015[Correction target item name] 0015
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0015】本発明に係る半導体装置用樹脂封止装置
は、モールド金型におけるキャビティと隣接する部位に
封止樹脂が流れ込む樹脂溜まり部を形成し、この樹脂溜
まり部やゲート部と対応する部分に、エジェクトピンを
配設したものである。The semiconductor device for resin sealing apparatus according to the present invention forms a resin reservoir that the sealing resin flows at a site adjacent to the cavity in the mold, the parts corresponding to the resin reservoir and the gate portion , Eject pins are provided.
【手続補正5】[Procedure Amendment 5]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0026[Correction target item name] 0026
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0026】したがって、離型時には樹脂溜まり部2
1,22やゲート4で固化した樹脂をエジェクトピン2
3,24が押すから、離型時に加えられる押圧力は樹脂
部分に作用することになる。Therefore, at the time of mold release, the resin reservoir 2
The resin solidified by 1, 2 and gate 4 is eject pin 2
Since 3 and 24 press, the pressing force applied at the time of mold release acts on the resin portion.
【手続補正6】[Procedure correction 6]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0029[Name of item to be corrected] 0029
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0029】[0029]
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る半導体
装置の樹脂封止方法は、樹脂封止用モールド金型にリー
ドフレームを装填し、キャビティに封止樹脂を供給する
ときに、キャビティと隣接する樹脂溜まり部に封止樹脂
を流し込み、樹脂が固化した後リードフレームをエジェ
クトピンによって離型させるときに、前記樹脂溜まり部
やゲート部で固化した樹脂をエジェクトピンで押圧する
ものであり、本発明に係る半導体装置用樹脂封止装置
は、モールド金型におけるキャビティと隣接する部位に
封止樹脂が流れ込む樹脂溜まり部を形成し、この樹脂溜
まり部やゲート部と対応する部分に、エジェクトピンを
配設したものであるため、離型時には樹脂溜まり部で固
化した樹脂をエジェクトピンが押すから、離型時に加え
られる押圧力は樹脂部分に作用することになる。As described above, according to the resin encapsulation method for a semiconductor device of the present invention, when the lead frame is loaded in the resin encapsulation mold and the encapsulation resin is supplied to the cavity, When the sealing resin is poured into the adjacent resin reservoir and the lead frame is released by the eject pin after the resin is solidified, the resin reservoir is removed.
The resin solidified at the gate or the gate is pressed by the eject pin, and the resin sealing device for a semiconductor device according to the present invention has a resin reservoir portion in which the sealing resin flows into a portion adjacent to the cavity in the molding die. However, since the eject pin is arranged at the portion corresponding to the resin reservoir and the gate , the eject pin pushes the resin solidified in the resin reservoir at the time of mold release, so the pressing force applied at the time of mold release. Will act on the resin part.
Claims (2)
ムを装填し、キャビティに封止樹脂を供給するときに、
キャビティと隣接する樹脂溜まり部に封止樹脂を流し込
み、樹脂が固化した後リードフレームをエジェクトピン
によって離型させるときに、前記樹脂溜まり部で固化し
た樹脂をエジェクトピンで押圧することを特徴とする半
導体装置の樹脂封止方法。1. When a lead frame is loaded in a resin sealing mold and a sealing resin is supplied to a cavity,
The resin solidified in the resin reservoir is pressed by the eject pin when the sealing resin is poured into the resin reservoir adjacent to the cavity and the lead frame is released by the eject pin after the resin is solidified. Resin encapsulation method for semiconductor device.
樹脂封止用モールド金型を有し、樹脂封止後のリードフ
レームを離型させるエジェクトピンを備えた半導体装置
用樹脂封止装置において、前記モールド金型におけるキ
ャビティと隣接する部位に封止樹脂が流れ込む樹脂溜ま
り部を形成し、この樹脂溜まり部と対応する部分に、前
記エジェクトピンを配設したことを特徴とする半導体装
置用樹脂封止装置。2. A resin encapsulation device for a semiconductor device, comprising a two-divided mold for resin encapsulation in which a lead frame is loaded, and an eject pin for releasing the lead frame after resin encapsulation. A resin for a semiconductor device, characterized in that a resin reservoir portion into which a sealing resin flows is formed in a portion adjacent to a cavity in the molding die, and the eject pin is disposed in a portion corresponding to the resin reservoir portion. Sealing device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27090691A JPH05109800A (en) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | Semiconductor device resin sealing method and semiconductor device resin sealing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27090691A JPH05109800A (en) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | Semiconductor device resin sealing method and semiconductor device resin sealing device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05109800A true JPH05109800A (en) | 1993-04-30 |
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ID=17492637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27090691A Pending JPH05109800A (en) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | Semiconductor device resin sealing method and semiconductor device resin sealing device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05109800A (en) |
-
1991
- 1991-10-18 JP JP27090691A patent/JPH05109800A/en active Pending
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