JPH0510743A - めつき層上の塗膜の厚さ測定方法 - Google Patents
めつき層上の塗膜の厚さ測定方法Info
- Publication number
- JPH0510743A JPH0510743A JP16436491A JP16436491A JPH0510743A JP H0510743 A JPH0510743 A JP H0510743A JP 16436491 A JP16436491 A JP 16436491A JP 16436491 A JP16436491 A JP 16436491A JP H0510743 A JPH0510743 A JP H0510743A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- plating layer
- coating film
- intensity
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 Ｘ線を用いてめっきされた金属体を被覆した
塗膜の厚さを高精度で測定する。 【構成】 塗装金属体に入射Ｘ線１を照射し、発生する
二次Ｘ線から塗膜３の厚さを測定する。このとき、塗膜
と下地金属との間に下地金属と組成の異なるめっき層が
存在すると、そのめっき層の厚さがコンプトン散乱Ｘ線
等二次Ｘ線強度に影響する。コンプトン散乱Ｘ線強度と
めっき層４からの蛍光Ｘ線及び下地金属５からの蛍光Ｘ
線強度について、塗膜厚とめっき層厚との関係を理論的
に求め、これらの関係式に基づいてめっき層厚の影響を
補正することによって、正確な塗膜厚を求める。 【効果】 従来、測定値の誤差範囲は４％程度であった
が、これが２％以内に向上した。
塗膜の厚さを高精度で測定する。 【構成】 塗装金属体に入射Ｘ線１を照射し、発生する
二次Ｘ線から塗膜３の厚さを測定する。このとき、塗膜
と下地金属との間に下地金属と組成の異なるめっき層が
存在すると、そのめっき層の厚さがコンプトン散乱Ｘ線
等二次Ｘ線強度に影響する。コンプトン散乱Ｘ線強度と
めっき層４からの蛍光Ｘ線及び下地金属５からの蛍光Ｘ
線強度について、塗膜厚とめっき層厚との関係を理論的
に求め、これらの関係式に基づいてめっき層厚の影響を
補正することによって、正確な塗膜厚を求める。 【効果】 従来、測定値の誤差範囲は４％程度であった
が、これが２％以内に向上した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】鉄鋼、亜鉛、銅、ニッケルなどの
金属やこれらの合金上にめっき層が存在する場合のめっ
き層上の塗膜の厚さを、非破壊で迅速に且つ精度よく測
定する技術に関する。
金属やこれらの合金上にめっき層が存在する場合のめっ
き層上の塗膜の厚さを、非破壊で迅速に且つ精度よく測
定する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】金属上塗膜の厚さ測定法には、マイクロ
メーター法、重量法、電磁法、赤外線反射法等がある。
マイクロメーター法、重量法は、塗膜を剥いでその前後
の寸法差或いは重量差から塗膜厚を求める方法で、直接
的に厚さが求まる絶対法である。ＪＩＳにはこの二つの
方法が規定されている。
メーター法、重量法、電磁法、赤外線反射法等がある。
マイクロメーター法、重量法は、塗膜を剥いでその前後
の寸法差或いは重量差から塗膜厚を求める方法で、直接
的に厚さが求まる絶対法である。ＪＩＳにはこの二つの
方法が規定されている。
【０００３】電磁法、赤外線反射法は相対法であって、
上記の絶対法を基準として電磁強度或いは赤外線吸収量
が厚さに換算される。測定の迅速さ、非破壊測定が可能
な点でこれらの相対法は優れているが、限られた条件下
でなければ測定出来ない欠点があった。この欠点を克服
した測定法にコンプトン散乱Ｘ線測定法がある。
上記の絶対法を基準として電磁強度或いは赤外線吸収量
が厚さに換算される。測定の迅速さ、非破壊測定が可能
な点でこれらの相対法は優れているが、限られた条件下
でなければ測定出来ない欠点があった。この欠点を克服
した測定法にコンプトン散乱Ｘ線測定法がある。
【０００４】例えば、特開昭６４−４１８１０号公報で
は、塗膜で被覆された金属にＸ線を照射し発生するコン
プトン散乱Ｘ線の強度は、塗膜の厚さと直線関係にあ
り、この直線の切片は下地金属と関係し勾配は塗膜と関
係することを明らかにしている。そして、経験的に得ら
れた検量線を用いて塗膜厚を算出するが、下地金属及び
塗膜の種類の相違による影響を経験的に得られた係数を
用いて補正し、塗膜の厚さを的確に且つ迅速に測定する
方法を開示している。
は、塗膜で被覆された金属にＸ線を照射し発生するコン
プトン散乱Ｘ線の強度は、塗膜の厚さと直線関係にあ
り、この直線の切片は下地金属と関係し勾配は塗膜と関
係することを明らかにしている。そして、経験的に得ら
れた検量線を用いて塗膜厚を算出するが、下地金属及び
塗膜の種類の相違による影響を経験的に得られた係数を
用いて補正し、塗膜の厚さを的確に且つ迅速に測定する
方法を開示している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開昭
６４−４１８１０号公報では、下地金属の種類は蛍光Ｘ
線の波長及び強度を測定して把握される。測定した波長
から金属成分が、又強度からその量が把握され、金属成
分別に経験的に求められた係数とその金属成分の蛍光Ｘ
線強度の積が補正量となる。言い換えれば、めっき層と
めっき層下地とは区別されておらず、めっき層の成分と
厚さ及びめっき層下地を含めて、下地金属の種類として
経験的に求めた係数を用いて補正していた。そして、塗
膜厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係は一次直線の関
係にあり、補正は直線の切片を修正することによっての
み行われるものであった。
６４−４１８１０号公報では、下地金属の種類は蛍光Ｘ
線の波長及び強度を測定して把握される。測定した波長
から金属成分が、又強度からその量が把握され、金属成
分別に経験的に求められた係数とその金属成分の蛍光Ｘ
線強度の積が補正量となる。言い換えれば、めっき層と
めっき層下地とは区別されておらず、めっき層の成分と
厚さ及びめっき層下地を含めて、下地金属の種類として
経験的に求めた係数を用いて補正していた。そして、塗
膜厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係は一次直線の関
係にあり、補正は直線の切片を修正することによっての
み行われるものであった。
【０００６】このため、めっき層の厚さが変動すると、
塗膜厚の測定精度が低下すると言う問題が残されてい
た。
塗膜厚の測定精度が低下すると言う問題が残されてい
た。
【０００７】この問題を解決するためにこの発明は行わ
れたもので、塗膜厚及びめっき層厚と二次Ｘ線強度との
関係を理論的に求め、この関係式を用いてめっき層厚の
影響を補正する。これによって、塗膜厚を高い精度で測
定することを目的とするものである。
れたもので、塗膜厚及びめっき層厚と二次Ｘ線強度との
関係を理論的に求め、この関係式を用いてめっき層厚の
影響を補正する。これによって、塗膜厚を高い精度で測
定することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の手段は、金属面に塗布された塗膜面にＸ線を照射し、
塗膜、めっき層及び下地金属から発生するコンプトン散
乱Ｘ線又は蛍光Ｘ線を測定して塗膜厚を求める際に、塗
膜厚とめっき層厚とＸ線強度との関係を理論的に求めた
関係式に基づいてめっき層厚の影響を補正するめっき層
上の塗膜の厚さ測定方法であるが、この方法を行う実施
態様として、補正の仕方に次のような方法が推奨され
る。
の手段は、金属面に塗布された塗膜面にＸ線を照射し、
塗膜、めっき層及び下地金属から発生するコンプトン散
乱Ｘ線又は蛍光Ｘ線を測定して塗膜厚を求める際に、塗
膜厚とめっき層厚とＸ線強度との関係を理論的に求めた
関係式に基づいてめっき層厚の影響を補正するめっき層
上の塗膜の厚さ測定方法であるが、この方法を行う実施
態様として、補正の仕方に次のような方法が推奨され
る。
【０００９】（１）コンプトン散乱Ｘ線強度を測定し、
塗膜厚とめっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係
式に基づいて補正を行うめっき層上の塗膜の厚さ測定方
法。
塗膜厚とめっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係
式に基づいて補正を行うめっき層上の塗膜の厚さ測定方
法。
【００１０】（２）コンプトン散乱Ｘ線強度とめっき成
分の蛍光Ｘ線強度を測定し、塗膜厚とめっき層厚とコン
プトン散乱Ｘ線強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき
層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式
を用いてめっき層厚を消去することによって補正を行う
めっき層上の塗膜の厚さ測定方法。
分の蛍光Ｘ線強度を測定し、塗膜厚とめっき層厚とコン
プトン散乱Ｘ線強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき
層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式
を用いてめっき層厚を消去することによって補正を行う
めっき層上の塗膜の厚さ測定方法。
【００１１】（３）コンプトン散乱Ｘ線強度と下地金属
から発生する蛍光Ｘ線の強度を測定し、塗膜厚とめっき
層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係式、及び、塗膜
厚とめっき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度
との関係式を用いてめっき層厚を消去することによって
補正を行うめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。
から発生する蛍光Ｘ線の強度を測定し、塗膜厚とめっき
層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係式、及び、塗膜
厚とめっき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度
との関係式を用いてめっき層厚を消去することによって
補正を行うめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。
【００１２】（４）めっき層から発生する蛍光Ｘ線の強
度と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度を測定して、
塗膜厚とめっき層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ線の
強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき層厚と下地金属
から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式、を用いてめっ
き層厚を消去することによって補正を行うめっき層上の
塗膜の厚さ測定方法。
度と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度を測定して、
塗膜厚とめっき層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ線の
強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき層厚と下地金属
から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式、を用いてめっ
き層厚を消去することによって補正を行うめっき層上の
塗膜の厚さ測定方法。
【００１３】（５）コンプトン散乱Ｘ線強度とめっき層
から発生する蛍光Ｘ線の強度及び下地金属から発生する
蛍光Ｘ線の強度を測定し、塗膜厚とめっき層厚とめっき
層から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式及び塗膜厚と
めっき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度との
関係式とからめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度と下
地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度の比を用い、塗膜厚
とめっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度と関係式とから
めっき層厚を消去することによって補正を行うめっき層
上の塗膜の厚さ測定方法。
から発生する蛍光Ｘ線の強度及び下地金属から発生する
蛍光Ｘ線の強度を測定し、塗膜厚とめっき層厚とめっき
層から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式及び塗膜厚と
めっき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度との
関係式とからめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度と下
地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度の比を用い、塗膜厚
とめっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度と関係式とから
めっき層厚を消去することによって補正を行うめっき層
上の塗膜の厚さ測定方法。
【００１４】（６）次のからの手順に従って補正を
行うめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 めっき層厚を或る初期値に設定する。 この初期値を用いてコンプトン散乱Ｘ線強度から得ら
れた塗膜厚を補正する。 この補正された塗膜厚とめっき金属の蛍光Ｘ線強度と
から再びめっき層厚を算出する。 この算出されためっき層厚を用いて再び塗膜厚を補正
する。 との操作を繰り返して塗膜厚が収斂する値を最終
的に補正された塗膜厚とする。
行うめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 めっき層厚を或る初期値に設定する。 この初期値を用いてコンプトン散乱Ｘ線強度から得ら
れた塗膜厚を補正する。 この補正された塗膜厚とめっき金属の蛍光Ｘ線強度と
から再びめっき層厚を算出する。 この算出されためっき層厚を用いて再び塗膜厚を補正
する。 との操作を繰り返して塗膜厚が収斂する値を最終
的に補正された塗膜厚とする。
【００１５】
【作用】測定対象である塗膜で被覆された金属体（以
下、塗装金属体と称す）にＸ線を照射すると、塗膜及び
金属を構成する元素はこの入射Ｘ線によって励起され、
元素固有の蛍光Ｘ線を発生する。しかし、この塗装金属
から出てくる二次Ｘ線には蛍光Ｘ線の他に、トムソン散
乱Ｘ線やコンプトン散乱Ｘ線が含まれている。これらの
散乱Ｘ線は、入射Ｘ線が原子に衝突して散乱されたもの
であり、このうち衝突によってエネルギーを失って散乱
されたものが、コンプトン散乱Ｘ線である。コンプトン
散乱Ｘ線は失ったエネルギーの分だけ入射Ｘ線よりも波
長が長くなっているので、トムソン散乱Ｘ線や蛍光Ｘ線
と区別してこれを測定することが出来る。以上はコンプ
トン散乱Ｘ線法が測定に用いられる一つの原理である。
下、塗装金属体と称す）にＸ線を照射すると、塗膜及び
金属を構成する元素はこの入射Ｘ線によって励起され、
元素固有の蛍光Ｘ線を発生する。しかし、この塗装金属
から出てくる二次Ｘ線には蛍光Ｘ線の他に、トムソン散
乱Ｘ線やコンプトン散乱Ｘ線が含まれている。これらの
散乱Ｘ線は、入射Ｘ線が原子に衝突して散乱されたもの
であり、このうち衝突によってエネルギーを失って散乱
されたものが、コンプトン散乱Ｘ線である。コンプトン
散乱Ｘ線は失ったエネルギーの分だけ入射Ｘ線よりも波
長が長くなっているので、トムソン散乱Ｘ線や蛍光Ｘ線
と区別してこれを測定することが出来る。以上はコンプ
トン散乱Ｘ線法が測定に用いられる一つの原理である。
【００１６】入射Ｘ線と二次Ｘ線の塗装金属体内の経路
を図１に示す。塗装金属の表面に入射角φで照射された
入射Ｘ線１は、塗膜３及びめっき層４を通過し下地金属
５に到達する。そして、通過過程で散乱されたり吸収さ
れたりして二次Ｘ線を発生し、この二次Ｘ線も又散乱さ
れたり吸収されたりする。二次Ｘ線のうち取り出し角ψ
で放射される二次Ｘ線２が測定される。
を図１に示す。塗装金属の表面に入射角φで照射された
入射Ｘ線１は、塗膜３及びめっき層４を通過し下地金属
５に到達する。そして、通過過程で散乱されたり吸収さ
れたりして二次Ｘ線を発生し、この二次Ｘ線も又散乱さ
れたり吸収されたりする。二次Ｘ線のうち取り出し角ψ
で放射される二次Ｘ線２が測定される。
【００１７】散乱や吸収される度合いは、Ｘ線の波長と
通過物質に依存し、蛍光Ｘ線の発生する度合いも同じく
これらに依存する。例えば、塗膜３は主成分が有機樹脂
で軽元素で構成されており、Ｘ線を吸収する能力（吸収
係数）は小さく、取り出される散乱Ｘ線の量は多い。
通過物質に依存し、蛍光Ｘ線の発生する度合いも同じく
これらに依存する。例えば、塗膜３は主成分が有機樹脂
で軽元素で構成されており、Ｘ線を吸収する能力（吸収
係数）は小さく、取り出される散乱Ｘ線の量は多い。
【００１８】この塗膜と金属とのＸ線吸収係数の相違を
利用することが、コンプトン散乱Ｘ線測定法のもう一つ
の原理であり、ここに言う塗膜は、施行法を問わず、軽
元素を主成分とする膜であればよい。勿論、紙を貼り付
けた物等でもよい。
利用することが、コンプトン散乱Ｘ線測定法のもう一つ
の原理であり、ここに言う塗膜は、施行法を問わず、軽
元素を主成分とする膜であればよい。勿論、紙を貼り付
けた物等でもよい。
【００１９】あまり吸収されずに塗膜３を通過した入射
Ｘ線もめっき層４では減衰が大きくなるので、下地金属
５にまで達する入射Ｘ線の量はこのめっき層４の厚さの
影響を強く受ける。下地金属５やめっき層４で発生する
二次Ｘ線も同様にめっき層４の厚さの影響を受ける。
Ｘ線もめっき層４では減衰が大きくなるので、下地金属
５にまで達する入射Ｘ線の量はこのめっき層４の厚さの
影響を強く受ける。下地金属５やめっき層４で発生する
二次Ｘ線も同様にめっき層４の厚さの影響を受ける。
【００２０】塗装金属体内の任意の点での入射Ｘ線の強
度は入射Ｘ線がその点に達するまでに、減衰した強度で
あり、この強度の入射Ｘ線が散乱されてコンプトン散乱
Ｘ線がその点で発生する。この発生したコンプトン散乱
Ｘ線は通過過程に応じて減衰した強度が測定される。
度は入射Ｘ線がその点に達するまでに、減衰した強度で
あり、この強度の入射Ｘ線が散乱されてコンプトン散乱
Ｘ線がその点で発生する。この発生したコンプトン散乱
Ｘ線は通過過程に応じて減衰した強度が測定される。
【００２１】従来、塗膜下にめっき層が存在する場合、
めっき層の極く表面で散乱されるコンプトン散乱Ｘ線に
は注目していたが、めっき層の深部や下地金属で散乱さ
れるコンプトン散乱Ｘ線については、入射Ｘ線散乱Ｘ線
共に吸収が甚だしく、これらを区別して取り扱っていな
かった。しかし、これらのコンプトン散乱Ｘ線をも考慮
することによって、塗膜厚の測定はより正確に求められ
るものである。
めっき層の極く表面で散乱されるコンプトン散乱Ｘ線に
は注目していたが、めっき層の深部や下地金属で散乱さ
れるコンプトン散乱Ｘ線については、入射Ｘ線散乱Ｘ線
共に吸収が甚だしく、これらを区別して取り扱っていな
かった。しかし、これらのコンプトン散乱Ｘ線をも考慮
することによって、塗膜厚の測定はより正確に求められ
るものである。
【００２２】この場合、当然、めっき層を構成する成分
と層の厚さを無視することは出来ず、これらを含めた考
察が必要となる。
と層の厚さを無視することは出来ず、これらを含めた考
察が必要となる。
【００２３】以上を総合して考え、入射Ｘ線強度とコン
プトン散乱Ｘ線強度との関係について理論式を導く事が
出来る。入射角φでＸ線を入射したとき、取り出し角ψ
で測定されるコンプトン散乱Ｘ線についての理論式を整
理するとが数１が得られる。
プトン散乱Ｘ線強度との関係について理論式を導く事が
出来る。入射角φでＸ線を入射したとき、取り出し角ψ
で測定されるコンプトン散乱Ｘ線についての理論式を整
理するとが数１が得られる。
【００２４】
【数１】
【００２５】
【数２】
【００２６】コンプトン散乱Ｘ線強度ＩC は、入射Ｘ線
強度Ｉ0に比例しβ及び塗膜厚ＬA の関数として表され
る。βは数２で示されるが、これはめっき層厚ＬZ の関
数である。即ち、数１は塗膜厚とめっき層厚とコンプト
ン散乱Ｘ線強度と関係を理論的に求めた式である。数１
の右辺の第１項は塗膜厚ＬA には無関係であり、第２項
は塗膜厚ＬA の比例関数になっている。その他の変数即
ち散乱係数、質量、質量吸収係数は物質により定まる。
したがって、下地金属、めっき層及び塗膜の成分が変わ
らず且つめっき層厚が一定であれば、ＩC とＬA とは直
線関係にあり、第１項はこの直線の切片で、第２項の係
数は勾配を示す。めっき層の厚さＬZ が変化するとこの
直線の切片にも又勾配にも影響し、この直線関係は成り
立たない。
強度Ｉ0に比例しβ及び塗膜厚ＬA の関数として表され
る。βは数２で示されるが、これはめっき層厚ＬZ の関
数である。即ち、数１は塗膜厚とめっき層厚とコンプト
ン散乱Ｘ線強度と関係を理論的に求めた式である。数１
の右辺の第１項は塗膜厚ＬA には無関係であり、第２項
は塗膜厚ＬA の比例関数になっている。その他の変数即
ち散乱係数、質量、質量吸収係数は物質により定まる。
したがって、下地金属、めっき層及び塗膜の成分が変わ
らず且つめっき層厚が一定であれば、ＩC とＬA とは直
線関係にあり、第１項はこの直線の切片で、第２項の係
数は勾配を示す。めっき層の厚さＬZ が変化するとこの
直線の切片にも又勾配にも影響し、この直線関係は成り
立たない。
【００２７】めっき層厚の影響を調べた結果を表１に示
す。鋼板に亜鉛めっきを施しその上に厚さ３０μｍの塗
膜を施した試験片について、亜鉛めっき層の厚さを変え
て塗膜厚を測定した。数１に基づいて、めっき層厚の影
響を考慮してこれを補正した場合の結果を、めっき層厚
を考慮しなかった場合の結果と比較したものである。め
っき層厚を考慮しない場合は、厚さが２μｍずれると、
塗膜厚の測定に約５％の誤差を生ずる。これに対して、
数１及び数２によってめっき層厚を考慮した場合は誤差
は０．３％程度に収まっている。
す。鋼板に亜鉛めっきを施しその上に厚さ３０μｍの塗
膜を施した試験片について、亜鉛めっき層の厚さを変え
て塗膜厚を測定した。数１に基づいて、めっき層厚の影
響を考慮してこれを補正した場合の結果を、めっき層厚
を考慮しなかった場合の結果と比較したものである。め
っき層厚を考慮しない場合は、厚さが２μｍずれると、
塗膜厚の測定に約５％の誤差を生ずる。これに対して、
数１及び数２によってめっき層厚を考慮した場合は誤差
は０．３％程度に収まっている。
【００２８】
【表１】
【００２９】このように、塗膜厚とめっき層厚とコンプ
トン散乱Ｘ線強度との関係を理論的に求めた関係式に基
づいてめっき層厚の影響を補正すると、精度の高い測定
値が得られる。
トン散乱Ｘ線強度との関係を理論的に求めた関係式に基
づいてめっき層厚の影響を補正すると、精度の高い測定
値が得られる。
【００３０】下地金属、めっき層と塗膜の成分及びめっ
き層の厚さが判明している場合は、それぞれのコンプト
ン散乱係数、密度及び質量吸収係数が定まるので、ＩC
を測定することによって、数１及び数２から塗膜の厚さ
ＬA を直接求めることが出来る。
き層の厚さが判明している場合は、それぞれのコンプト
ン散乱係数、密度及び質量吸収係数が定まるので、ＩC
を測定することによって、数１及び数２から塗膜の厚さ
ＬA を直接求めることが出来る。
【００３１】しかし、めっき層厚が不明であったり或い
は部分的に変動しているような場合には、めっき層厚に
関する情報を得てその影響を補正しなければならない。
は部分的に変動しているような場合には、めっき層厚に
関する情報を得てその影響を補正しなければならない。
【００３２】このような場合、数１のような、塗膜層厚
とめっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度の関係式に加え
て、もう一つの塗膜層厚とめっき層厚と測定可能なＸ線
強度の関係式があれば、めっき層厚を考慮した塗膜厚を
得ることが出来る。
とめっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度の関係式に加え
て、もう一つの塗膜層厚とめっき層厚と測定可能なＸ線
強度の関係式があれば、めっき層厚を考慮した塗膜厚を
得ることが出来る。
【００３３】めっき層厚に関する情報は、めっき層成分
や下地金属成分からの蛍光Ｘ線強度に含まれており、し
かも、成分別にその強度を測定することが可能である。
下地金属内で発生した蛍光Ｘ線は下地金属とめっき層及
び塗膜を通過し、めっき層内で発生した蛍光Ｘ線はめっ
き層と塗膜を通過してくる。したがって、これらの蛍光
Ｘ線の強度は、めっき層や塗膜層の厚さと関連する。
や下地金属成分からの蛍光Ｘ線強度に含まれており、し
かも、成分別にその強度を測定することが可能である。
下地金属内で発生した蛍光Ｘ線は下地金属とめっき層及
び塗膜を通過し、めっき層内で発生した蛍光Ｘ線はめっ
き層と塗膜を通過してくる。したがって、これらの蛍光
Ｘ線の強度は、めっき層や塗膜層の厚さと関連する。
【００３４】この関係を理論的に導き、関係式を整理す
ると数３及び数４が得られる。
ると数３及び数４が得られる。
【００３５】
【数３】
【００３６】
【数４】
【００３７】数３は，蛍光Ｘ線強度について整理した関
係式で、その強度ＩZ とめっき層厚ＬZ 及び塗膜厚ＬA
との関係を示している。数４は、下地金属成分の蛍光Ｘ
線について整理した関係式で、その強度ＩB とめっき層
厚ＬZ 及び塗膜厚ＬA との関係を示している。
係式で、その強度ＩZ とめっき層厚ＬZ 及び塗膜厚ＬA
との関係を示している。数４は、下地金属成分の蛍光Ｘ
線について整理した関係式で、その強度ＩB とめっき層
厚ＬZ 及び塗膜厚ＬA との関係を示している。
【００３８】めっき層成分の蛍光Ｘ線強度ＩZ 及びコン
プトン散乱Ｘ線強度ＩC とを測定し、数１と数３を連立
して解くことにより、塗膜厚ＬA とが算出される。
プトン散乱Ｘ線強度ＩC とを測定し、数１と数３を連立
して解くことにより、塗膜厚ＬA とが算出される。
【００３９】即ち、Ｘ線強度としてコンプトン散乱Ｘ線
強度とめっき層成分の蛍光Ｘ線強度を測定し、塗膜厚と
めっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係式、及
び、塗膜厚とめっき層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ
線の強度との関係式を用いてめっき層厚を消去すること
によって、めっき層の厚さの影響が補正された高精度の
塗膜厚が求められる。
強度とめっき層成分の蛍光Ｘ線強度を測定し、塗膜厚と
めっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係式、及
び、塗膜厚とめっき層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ
線の強度との関係式を用いてめっき層厚を消去すること
によって、めっき層の厚さの影響が補正された高精度の
塗膜厚が求められる。
【００４０】又、コンプトン散乱Ｘ線強度ＩC 及び下地
金属の蛍光Ｘ線強度ＩB とを測定し、数１と数４を連立
して解くことによっても、めっき層厚ＬZ と塗膜厚ＬA
とが算出される。
金属の蛍光Ｘ線強度ＩB とを測定し、数１と数４を連立
して解くことによっても、めっき層厚ＬZ と塗膜厚ＬA
とが算出される。
【００４１】即ち、Ｘ線強度としてコンプトン散乱Ｘ線
強度と下地金属成分の蛍光Ｘ線強度を測定し、塗膜厚と
めっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係式、及
び、塗膜厚とめっき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ
線の強度との関係式を用いてめっき層厚を消去すること
によって、めっき層の厚さの影響が補正された高精度の
塗膜厚が求められる。
強度と下地金属成分の蛍光Ｘ線強度を測定し、塗膜厚と
めっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係式、及
び、塗膜厚とめっき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ
線の強度との関係式を用いてめっき層厚を消去すること
によって、めっき層の厚さの影響が補正された高精度の
塗膜厚が求められる。
【００４２】更に、めっき層から発生する蛍光Ｘ線の強
度と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度を測定して、
塗膜厚とめっき層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ線の
強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき層厚と下地金属
から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式、を用いてめっ
き層厚を消去することによっても、めっき層の厚さの影
響が補正された高精度の塗膜厚が得られる。即ち、数３
と数４とを連立して解くことによって、塗膜厚ＬA が得
られる。この場合、蛍光Ｘ線の強度（ＩZ 、Ｉ B ）測定
のみから塗膜厚ＬA が求まる。
度と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度を測定して、
塗膜厚とめっき層厚とめっき層から発生する蛍光Ｘ線の
強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき層厚と下地金属
から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式、を用いてめっ
き層厚を消去することによっても、めっき層の厚さの影
響が補正された高精度の塗膜厚が得られる。即ち、数３
と数４とを連立して解くことによって、塗膜厚ＬA が得
られる。この場合、蛍光Ｘ線の強度（ＩZ 、Ｉ B ）測定
のみから塗膜厚ＬA が求まる。
【００４３】Ｘ線強度の測定には種々の誤差が伴うが、
測定条件の変動に原因する誤差を打ち消す方法がある。
測定条件の変動に原因する誤差を打ち消す方法がある。
【００４４】コンプトン散乱Ｘ線強度とめっき層から発
生する蛍光Ｘ線の強度及び下地金属から発生する蛍光Ｘ
線の強度を測定し、塗膜厚とめっき層厚とめっき層から
発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式及び塗膜厚とめっき
層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式
とからめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度と下地金属
から発生する蛍光Ｘ線の強度の比を用い、塗膜厚とめっ
き層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度と関係式とからめっき
層厚を消去する方法である。
生する蛍光Ｘ線の強度及び下地金属から発生する蛍光Ｘ
線の強度を測定し、塗膜厚とめっき層厚とめっき層から
発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式及び塗膜厚とめっき
層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式
とからめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度と下地金属
から発生する蛍光Ｘ線の強度の比を用い、塗膜厚とめっ
き層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度と関係式とからめっき
層厚を消去する方法である。
【００４５】即ち、数３と数４とから、ＩZ ／ＩB を求
める。この式にはＬZ とＬA とが未知数として含まれる
が、数１と連立して解くことにより、ＬZ とＬA とが算
出される。この場合、ＩZ とＩB とは単独で用いられる
のではなく、その比が用いられるので、両者に共通して
混入する測定誤差が打ち消され、より精度の高い測定が
可能となる。打ち消される測定誤差要因としては、例え
ば、Ｘ線管球の出力変動やパスライン変動などがある。
める。この式にはＬZ とＬA とが未知数として含まれる
が、数１と連立して解くことにより、ＬZ とＬA とが算
出される。この場合、ＩZ とＩB とは単独で用いられる
のではなく、その比が用いられるので、両者に共通して
混入する測定誤差が打ち消され、より精度の高い測定が
可能となる。打ち消される測定誤差要因としては、例え
ば、Ｘ線管球の出力変動やパスライン変動などがある。
【００４６】上記の方法は優れているが、適用出来ない
場合がある。塗膜中の顔料の一部に下地金属と同種の元
素が使用されているような場合には、その蛍光Ｘ線が塗
膜からのものか下地金属からのものか区別がつかず、Ｉ
B が正確に求まらない。このような場合は、数１と数３
との連立を解くことになる。同様に、めっき成分と顔料
成分とに共通の元素が存在する場合には、数１と数４と
の連立を解くことになる。
場合がある。塗膜中の顔料の一部に下地金属と同種の元
素が使用されているような場合には、その蛍光Ｘ線が塗
膜からのものか下地金属からのものか区別がつかず、Ｉ
B が正確に求まらない。このような場合は、数１と数３
との連立を解くことになる。同様に、めっき成分と顔料
成分とに共通の元素が存在する場合には、数１と数４と
の連立を解くことになる。
【００４７】数１、数３、数４に見られるように、コン
プトン散乱Ｘ線の強度式や蛍光Ｘ線の強度式は非線型で
あり、これらを連立させて解析的に塗膜厚ＬA の厳密解
を直接得るのはかなり困難なことがある。
プトン散乱Ｘ線の強度式や蛍光Ｘ線の強度式は非線型で
あり、これらを連立させて解析的に塗膜厚ＬA の厳密解
を直接得るのはかなり困難なことがある。
【００４８】このような場合、最初にめっき層厚ＬZ の
初期値を設定し、計算を繰り返すことによって近似の精
度を高める簡便な方法（以下、収斂法と称す）が用いら
れる。
初期値を設定し、計算を繰り返すことによって近似の精
度を高める簡便な方法（以下、収斂法と称す）が用いら
れる。
【００４９】即ち、先ず、めっき層厚を或る初期値に設
定し、この初期値を用いてコンプトン散乱Ｘ線強度から
得られた塗膜厚を補正する。次に、この補正された塗膜
厚とめっき金属の蛍光Ｘ線強度とから再びめっき層厚を
算出し、この算出されためっき層厚を用いて再び塗膜厚
を補正する。この操作を繰り返して塗膜厚が収斂する値
を最終的に補正された塗膜厚とするのである。
定し、この初期値を用いてコンプトン散乱Ｘ線強度から
得られた塗膜厚を補正する。次に、この補正された塗膜
厚とめっき金属の蛍光Ｘ線強度とから再びめっき層厚を
算出し、この算出されためっき層厚を用いて再び塗膜厚
を補正する。この操作を繰り返して塗膜厚が収斂する値
を最終的に補正された塗膜厚とするのである。
【００５０】より具体的に、図３を用いてこの方法を説
明する。先ず、めっき層厚を初期値に設定する。この初
期値をＬZ0とすると、ＬZ0とコンプトン散乱Ｘ線強度Ｉ
C とから数１を用いて１回目の塗膜厚ＬA1を求める。次
に、ＬA1と蛍光Ｘ線強度ＩZ 或いはＩB とから、数３或
いは数４を用いて１回目の算出されためっき層厚ＬZ1を
求める。このＬZ1とコンプトン散乱Ｘ線強度とから、再
び数１を用いてＬA2を求める。ＬA2はＬA1よりも良い近
似を与えるので、更にＬA2を数３或いは数４に代入する
という計算を繰り返すと、求まる塗膜の厚さはその都度
真値に近づき収斂してくる。したがって、ｎ回目の値Ｌ
Anとｎ＋１回目の値ＬAn+1との差が充分に小さくなるま
で計算を繰り返すことによって、充分な精度で塗膜の厚
さが求められる。
明する。先ず、めっき層厚を初期値に設定する。この初
期値をＬZ0とすると、ＬZ0とコンプトン散乱Ｘ線強度Ｉ
C とから数１を用いて１回目の塗膜厚ＬA1を求める。次
に、ＬA1と蛍光Ｘ線強度ＩZ 或いはＩB とから、数３或
いは数４を用いて１回目の算出されためっき層厚ＬZ1を
求める。このＬZ1とコンプトン散乱Ｘ線強度とから、再
び数１を用いてＬA2を求める。ＬA2はＬA1よりも良い近
似を与えるので、更にＬA2を数３或いは数４に代入する
という計算を繰り返すと、求まる塗膜の厚さはその都度
真値に近づき収斂してくる。したがって、ｎ回目の値Ｌ
Anとｎ＋１回目の値ＬAn+1との差が充分に小さくなるま
で計算を繰り返すことによって、充分な精度で塗膜の厚
さが求められる。
【００５１】以上説明してきたように、塗装金属体の塗
膜厚をコンプトン散乱Ｘ線法によって測定するとき、下
地金属と塗膜との間に存在するめっき層の厚さを考慮
し、その影響を補正することによって塗膜厚の測定精度
は向上する。そして、その補正の方法は、場合によっ
て、測定するＸ線はコンプトン散乱Ｘ線であったり、蛍
光Ｘ線或いは両者であったする。又、用いる関係式も場
合に適したように整理されたものである。しかし、何れ
の場合にも共通しているのは、コンプトン散乱Ｘ線又は
蛍光Ｘ線を測定し、塗膜厚とめっき層厚とＸ線強度との
関係を理論的に求めた関係式に基づいてめっき層厚の影
響を補正することである。
膜厚をコンプトン散乱Ｘ線法によって測定するとき、下
地金属と塗膜との間に存在するめっき層の厚さを考慮
し、その影響を補正することによって塗膜厚の測定精度
は向上する。そして、その補正の方法は、場合によっ
て、測定するＸ線はコンプトン散乱Ｘ線であったり、蛍
光Ｘ線或いは両者であったする。又、用いる関係式も場
合に適したように整理されたものである。しかし、何れ
の場合にも共通しているのは、コンプトン散乱Ｘ線又は
蛍光Ｘ線を測定し、塗膜厚とめっき層厚とＸ線強度との
関係を理論的に求めた関係式に基づいてめっき層厚の影
響を補正することである。
【００５２】なお、この方法は、めっき層が存在しない
場合でも、めっき層の厚さを零として適用できる。
場合でも、めっき層の厚さを零として適用できる。
【００５３】又、説明の便のため、関係式を具体的に示
したが、これらの例示に限定されるものではなく、場合
によって変形して用いてもよく、塗膜厚とめっき層厚と
Ｘ線強度との関係を理論的に求めた関係式であればよ
い。
したが、これらの例示に限定されるものではなく、場合
によって変形して用いてもよく、塗膜厚とめっき層厚と
Ｘ線強度との関係を理論的に求めた関係式であればよ
い。
【００５４】
【実施例】厚さ０．３５ｍｍの亜鉛めっき鋼板に塗膜を
付した塗装鋼板試料ｘ，ｙ，ｚ，の三種類について、塗
膜の厚さを測定した。
付した塗装鋼板試料ｘ，ｙ，ｚ，の三種類について、塗
膜の厚さを測定した。
【００５５】測定は、この発明による実施例と従来の方
法による従来例及び絶対法である重量法とで行い、これ
らの結果を比較出来るようにした。
法による従来例及び絶対法である重量法とで行い、これ
らの結果を比較出来るようにした。
【００５６】Ｘ線源にはＡｇ管球を使用し、ＬｉＦモノ
クロメーターを用いて入射Ｘ線をＡｇＫα線（λ＝０．
５６１Å）に単色化した。又、Ｚｎの蛍光Ｘ線強度が他
の測定線に比し大き過ぎることが予想されたので、取り
出し側にはＮｉフィルターを設置し、Ｚｎ線の軽減を図
った。検出器にはエネルギー分解能の良い半導体検出器
を用い、多重波高分析器により、コンプトン散乱Ｘ線強
度、Ｚｎ及びＦｅの蛍光Ｘ線強度を同時に測定した。
クロメーターを用いて入射Ｘ線をＡｇＫα線（λ＝０．
５６１Å）に単色化した。又、Ｚｎの蛍光Ｘ線強度が他
の測定線に比し大き過ぎることが予想されたので、取り
出し側にはＮｉフィルターを設置し、Ｚｎ線の軽減を図
った。検出器にはエネルギー分解能の良い半導体検出器
を用い、多重波高分析器により、コンプトン散乱Ｘ線強
度、Ｚｎ及びＦｅの蛍光Ｘ線強度を同時に測定した。
【００５７】めっき層の厚さによる補正計算は、収斂法
で行ったが、計算に際して数１を数５のように変形し計
算し易くして用いた。ＬZ の初期値をＬZ0＝∽として計
算を開始し、７回の繰り返し計算でＬA −ＬA ＜０．０
０１μｍに収斂した。
で行ったが、計算に際して数１を数５のように変形し計
算し易くして用いた。ＬZ の初期値をＬZ0＝∽として計
算を開始し、７回の繰り返し計算でＬA −ＬA ＜０．０
０１μｍに収斂した。
【００５８】
【数５】
【００５９】測定結果を表２に示す。
【００６０】
【表２】
【００６１】絶対法である重量法による測定値を真値と
見なし、その値からの隔たりを調べると、従来例では３
％以上であったが、実施例では１．７％以下であった。
見なし、その値からの隔たりを調べると、従来例では３
％以上であったが、実施例では１．７％以下であった。
【００６２】
【発明の効果】以上述べて来たように、この発明では、
コンプトン散乱Ｘ線を用いて金属上の塗膜の厚さを測定
するに際して、塗膜と下地金属との間に存在するめっき
層の厚さの影響を理論式に基づいて補正して測定する。
このため、極めて精度の高い測定値が得られる。しか
も、めっき層の厚さの影響はコンプトン散乱Ｘ線と同時
に発生してくる蛍光Ｘ線の強度に基づいて得られるの
で、めっき層の厚さの変動による測定誤差が除去される
と共に装置が共用され他に複雑な装置を必要としない。
このように、精度の高い測定を簡便な装置で可能とした
この発明の効果は大きい。
コンプトン散乱Ｘ線を用いて金属上の塗膜の厚さを測定
するに際して、塗膜と下地金属との間に存在するめっき
層の厚さの影響を理論式に基づいて補正して測定する。
このため、極めて精度の高い測定値が得られる。しか
も、めっき層の厚さの影響はコンプトン散乱Ｘ線と同時
に発生してくる蛍光Ｘ線の強度に基づいて得られるの
で、めっき層の厚さの変動による測定誤差が除去される
と共に装置が共用され他に複雑な装置を必要としない。
このように、精度の高い測定を簡便な装置で可能とした
この発明の効果は大きい。
【図１】測定法の原理を説明するためのＸ線の経路を示
す光路図である。
す光路図である。
【図２】塗膜厚の算出法の一実施例を示すフローチャー
トである。
トである。
１ 入射Ｘ線
２ 取り出し角ψの二次Ｘ線
４ めっき層
５ 下地金属
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年２月２１日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２３】以上を総合して考え、入射Ｘ線強度とコン
プトン散乱Ｘ線強度との関係について理論式を導く事が
出来る。入射角φでＸ線を入射したとき、取り出し角ψ
で測定されるコンプトン散乱Ｘ線についての理論式を整
理すると数１が得られる。
プトン散乱Ｘ線強度との関係について理論式を導く事が
出来る。入射角φでＸ線を入射したとき、取り出し角ψ
で測定されるコンプトン散乱Ｘ線についての理論式を整
理すると数１が得られる。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３８】めっき層成分の蛍光Ｘ線強度ＩZ 及びコン
プトン散乱Ｘ線強度ＩC とを測定し、数１と数３を連立
して解くことにより、塗膜厚ＬA が算出される。
プトン散乱Ｘ線強度ＩC とを測定し、数１と数３を連立
して解くことにより、塗膜厚ＬA が算出される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１】
フロントページの続き
(72)発明者 岩田 年一
東京都千代田区丸の内１丁目１番２号 日
本鋼管株式会社内
(72)発明者 秋吉 孝則
東京都千代田区丸の内１丁目１番２号 日
本鋼管株式会社内
Claims (7)
- 【請求項１】 金属面に塗布された塗膜面にＸ線を照射
し、塗膜、めっき層及び下地金属から発生するコンプト
ン散乱Ｘ線又は蛍光Ｘ線を測定して塗膜厚を求める際
に、塗膜厚とめっき層厚とＸ線強度との関係を理論的に
求めた関係式に基づいてめっき層厚の影響を補正するこ
とを特徴とするめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 - 【請求項２】 補正を、塗膜厚とめっき層厚とコンプト
ン散乱Ｘ線強度との関係式に基づいて行う請求項１記載
のめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 - 【請求項３】 補正を、塗膜厚とめっき層厚とコンプト
ン散乱Ｘ線強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき層厚
とめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式を用
いてめっき層厚を消去することによって行う請求項１記
載のめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 - 【請求項４】 補正を、塗膜厚とめっき層厚とコンプト
ン散乱Ｘ線強度との関係式、及び、塗膜厚とめっき層厚
と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式を用
いてめっき層厚を消去することによって行う請求項１記
載のめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 - 【請求項５】 補正を、塗膜厚とめっき層厚とめっき層
から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式、及び、塗膜厚
とめっき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度と
の関係式を用いてめっき層厚を消去することによって行
う請求項１記載のめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 - 【請求項６】 補正を、塗膜厚とめっき層厚とめっき層
から発生する蛍光Ｘ線の強度との関係式及び塗膜厚とめ
っき層厚と下地金属から発生する蛍光Ｘ線の強度との関
係式とからめっき層から発生する蛍光Ｘ線の強度と下地
金属から発生する蛍光Ｘ線の強度の比を用い、塗膜厚と
めっき層厚とコンプトン散乱Ｘ線強度との関係式とから
めっき層厚を消去することによって行う請求項１記載の
めっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 - 【請求項７】 補正を、次のからの手順に従って行
う請求項１記載のめっき層上の塗膜の厚さ測定方法。 めっき層厚を或る初期値に設定する この初期値を用いてコンプトン散乱Ｘ線強度から得ら
れた塗膜厚を補正する。 この補正された塗膜厚とめっき金属の蛍光Ｘ線強度と
から再びめっき層厚を算出する この算出されためっき層厚を用いて再び塗膜厚を補正
する との操作を繰り返して塗膜厚が収斂する値を最終
的に補正された塗膜厚とする。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16436491A JPH0510743A (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | めつき層上の塗膜の厚さ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16436491A JPH0510743A (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | めつき層上の塗膜の厚さ測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0510743A true JPH0510743A (ja) | 1993-01-19 |
Family
ID=15791743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16436491A Pending JPH0510743A (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | めつき層上の塗膜の厚さ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0510743A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6622666B2 (en) | 2001-01-23 | 2003-09-23 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Engine cooling system for all-terrain vehicle |
| CN113074646A (zh) * | 2021-03-19 | 2021-07-06 | 武汉钢铁有限公司 | 锌铝镁镀层彩涂板漆层厚度测定方法 |
-
1991
- 1991-07-04 JP JP16436491A patent/JPH0510743A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6622666B2 (en) | 2001-01-23 | 2003-09-23 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Engine cooling system for all-terrain vehicle |
| CN113074646A (zh) * | 2021-03-19 | 2021-07-06 | 武汉钢铁有限公司 | 锌铝镁镀层彩涂板漆层厚度测定方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Weisbrod et al. | Total reflection X-ray fluorescence spectrometry for quantitative surface and layer analysis | |
| Sitko et al. | Quantification in X-ray fluorescence spectrometry | |
| Kolbe et al. | Thickness determination for Cu and Ni nanolayers: Comparison of completely reference-free fundamental parameter-based X-ray fluorescence analysis and X-ray reflectometry | |
| WO1986002164A1 (en) | Method of determining thickness and composition of alloy film | |
| EP0422017B1 (en) | Method for measuring the thickness of a coating on a substrate | |
| Olla et al. | Nondestructive in‐depth composition profile of oxy‐hydroxide nanolayers on iron surfaces from ARXPS measurement | |
| De Bokx et al. | Grazing-emission X-ray fluorescence spectrometry; principles and applications | |
| Weisbrod et al. | X-ray induced fluorescence spectrometry at grazing incidence for quantitative surface and layer analysis | |
| US5579362A (en) | Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating | |
| JPH0510743A (ja) | めつき層上の塗膜の厚さ測定方法 | |
| Noma et al. | Surface‐sensitive x‐ray fluorescence and diffraction analysis with grazing‐exit geometry | |
| JPH0619268B2 (ja) | 金属上塗膜の厚さ測定方法 | |
| Szilágyi et al. | Development of an X-ray fluorescence spectrometric method for the analysis of atmospheric aerosol samples | |
| Murdoch et al. | Quantitative depth‐dependent analysis using the inelastic scattering backgrounds from X‐ray photoelectron spectroscopy and hard X‐ray photoelectron spectroscopy | |
| JP2006313132A (ja) | 試料分析方法およびｘ線分析装置 | |
| JPH11287643A (ja) | 透過ｘ線による厚み測定方法及び測定装置並びに透過ｘ線による特定成分含有率測定方法 | |
| Mashin et al. | X-ray fluorescence method for determining the thickness of an aluminum coating on steel. | |
| Menesguen et al. | Reference‐Free Combined X‐Ray Reflectometry− Grazing Incidence X‐Ray Fluorescence at the French Synchrotron SOLEIL | |
| Krämer et al. | Ultrathin layer depositions—a new type of reference samples for high performance XRF analysis | |
| JP2861598B2 (ja) | 金属上の塗膜厚測定方法及び装置並びに塗装金属体の製造方法及び装置 | |
| JP7497058B2 (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| Tur’yanskii et al. | Fast and ultrafast energy-dispersive x-ray reflectrometry based on prism optics | |
| JPH04131751A (ja) | 蛍光ｘ線分析方法 | |
| Singh et al. | THICKNESS MEASUREMENTS OF MULTI-LAYER SAMPLES USING PHOTON-ATOM INTERACTIONS IN X-RAY ENERGY REGION | |
| JPS61132847A (ja) | ２層メツキ被膜の螢光ｘ線分析方法及び装置 |