JPH05102227A - 半導体製造装置 - Google Patents
半導体製造装置Info
- Publication number
- JPH05102227A JPH05102227A JP25933091A JP25933091A JPH05102227A JP H05102227 A JPH05102227 A JP H05102227A JP 25933091 A JP25933091 A JP 25933091A JP 25933091 A JP25933091 A JP 25933091A JP H05102227 A JPH05102227 A JP H05102227A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wire
- conductive
- semiconductor device
- resin
- bonding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05554—Shape in top view being square
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4554—Coating
- H01L2224/4556—Disposition, e.g. coating on a part of the core
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4554—Coating
- H01L2224/45565—Single coating layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4554—Coating
- H01L2224/45599—Material
- H01L2224/4569—Material with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7815—Means for applying permanent coating, e.g. in-situ coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78301—Capillary
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85009—Pre-treatment of the connector or the bonding area
- H01L2224/8502—Applying permanent coating, e.g. in-situ coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85909—Post-treatment of the connector or wire bonding area
- H01L2224/8592—Applying permanent coating, e.g. protective coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/1015—Shape
- H01L2924/1016—Shape being a cuboid
- H01L2924/10161—Shape being a cuboid with a rectangular active surface
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】導電性ワイヤにより接続して組立を行なう半導
体装置において、前記導電性ワイヤを非導電性樹脂によ
り一方向または、複数の方向から被覆しながら組立を行
い、半導体装置の各々ワイヤの一部を非導電性樹脂によ
り被覆する。 【構成】貫通管からなるボンディングツール2の脇に一
方向または、複数方向から早乾性かつ高粘度の非導電性
樹脂をボンディングツールの軌跡に連動させボンディン
グワイヤに吹き付ける噴射機1を持つ。
体装置において、前記導電性ワイヤを非導電性樹脂によ
り一方向または、複数の方向から被覆しながら組立を行
い、半導体装置の各々ワイヤの一部を非導電性樹脂によ
り被覆する。 【構成】貫通管からなるボンディングツール2の脇に一
方向または、複数方向から早乾性かつ高粘度の非導電性
樹脂をボンディングツールの軌跡に連動させボンディン
グワイヤに吹き付ける噴射機1を持つ。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ワイヤボンディング工
程を行う半導体製造装置に関する。
程を行う半導体製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】導電性ワイヤによりリードフレームイン
ナリードやセラミック基板やガラエポ等樹脂基板表面と
半導体装置のパッド部とを接続するワイヤボンディング
工程は半導体装置の組立工程の1つである。導電性ワイ
ヤの部材としては、Au,Al,Cu等が主に用いられ
る。しかし、半導体装置から外部に信号を出したり、半
導体装置に電源を供給したり、半導体装置が外部から信
号を受け取ったりするための電極であるッパッド部とリ
ードフレームインナリードやセラミック基板やガラエポ
等樹脂基板表面との距離が従来の3mm前後から最近は
4〜6mmと延びる傾向にある。また、上記のパッド部
間のピッチが160um前後から最近は110um前後
に微細化されるなどのためワイヤが倒れたりワイヤ同士
が接触しやすくなってきている。そのため非導電性樹脂
で導電性ワイヤを被覆してある被覆ワイヤというものが
用いられるようになってきた。図3に被覆ワイヤの構造
を示す。
ナリードやセラミック基板やガラエポ等樹脂基板表面と
半導体装置のパッド部とを接続するワイヤボンディング
工程は半導体装置の組立工程の1つである。導電性ワイ
ヤの部材としては、Au,Al,Cu等が主に用いられ
る。しかし、半導体装置から外部に信号を出したり、半
導体装置に電源を供給したり、半導体装置が外部から信
号を受け取ったりするための電極であるッパッド部とリ
ードフレームインナリードやセラミック基板やガラエポ
等樹脂基板表面との距離が従来の3mm前後から最近は
4〜6mmと延びる傾向にある。また、上記のパッド部
間のピッチが160um前後から最近は110um前後
に微細化されるなどのためワイヤが倒れたりワイヤ同士
が接触しやすくなってきている。そのため非導電性樹脂
で導電性ワイヤを被覆してある被覆ワイヤというものが
用いられるようになってきた。図3に被覆ワイヤの構造
を示す。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
従来の技術では、パッド部に接続するためのボールを作
る際に被覆ワイヤの非導電性樹脂は蒸発するか、導電性
ワイヤの部材のボールに含まれてしまう。この時、気化
した非導電性樹脂は、貫通管からなるボンディングツー
ルの先端を汚し、上記ボンディングツールの寿命を短く
してしまう。また、ボール中の非導電性樹脂のために導
電性ワイヤでのボンディング条件と異なってしまい、導
電性ワイヤから被覆ワイヤへ変えて適正なボンディング
条件となるまでかなりの時間がかかってしまう。その他
にワイヤボンディング装置も導電性ワイヤ用と被覆ワイ
ヤ用では異なる。それは導電性ワイヤを用いるワイヤボ
ンディング装置は半導体装置から外部に信号を出した
り、半導体装置に電源を供給したり、半導体装置が外部
から信号を受け取ったりするための電極であるッパッド
部とリードフレームインナリードやセラミック基板やガ
ラエポ等樹脂基板表面と接合するが、被覆ワイヤを用い
るワイヤボンディング装置は一度導電性ワイヤの表面に
ついている非導電性樹脂を取り除いてやる工程が追加さ
れる。これは、非導電性樹脂は半導体装置のパッド部の
部材である金との合金ができない為あるていどの非導電
性樹脂を取り除きそれから金ボールを形成する。よって
従来の導電性ワイヤを用いて組立を行っていた半導体装
置をただちに被覆ワイヤに置き換えることはできない。
従来の技術では、パッド部に接続するためのボールを作
る際に被覆ワイヤの非導電性樹脂は蒸発するか、導電性
ワイヤの部材のボールに含まれてしまう。この時、気化
した非導電性樹脂は、貫通管からなるボンディングツー
ルの先端を汚し、上記ボンディングツールの寿命を短く
してしまう。また、ボール中の非導電性樹脂のために導
電性ワイヤでのボンディング条件と異なってしまい、導
電性ワイヤから被覆ワイヤへ変えて適正なボンディング
条件となるまでかなりの時間がかかってしまう。その他
にワイヤボンディング装置も導電性ワイヤ用と被覆ワイ
ヤ用では異なる。それは導電性ワイヤを用いるワイヤボ
ンディング装置は半導体装置から外部に信号を出した
り、半導体装置に電源を供給したり、半導体装置が外部
から信号を受け取ったりするための電極であるッパッド
部とリードフレームインナリードやセラミック基板やガ
ラエポ等樹脂基板表面と接合するが、被覆ワイヤを用い
るワイヤボンディング装置は一度導電性ワイヤの表面に
ついている非導電性樹脂を取り除いてやる工程が追加さ
れる。これは、非導電性樹脂は半導体装置のパッド部の
部材である金との合金ができない為あるていどの非導電
性樹脂を取り除きそれから金ボールを形成する。よって
従来の導電性ワイヤを用いて組立を行っていた半導体装
置をただちに被覆ワイヤに置き換えることはできない。
【0004】本発明は上記の課題を解決すべくなされる
もので、パッド部とリードフレームインナリードやセラ
ミック基板やガラエポ等樹脂基板表面とを結ぶワイヤ長
が長くなったり、パッド部とパッド部とのピッチが狭く
なってもワイヤボンディング装置を変更することなく、
またワイヤボンディング条件も変えることもなく行える
ことを目的とした半導体製造装置である。
もので、パッド部とリードフレームインナリードやセラ
ミック基板やガラエポ等樹脂基板表面とを結ぶワイヤ長
が長くなったり、パッド部とパッド部とのピッチが狭く
なってもワイヤボンディング装置を変更することなく、
またワイヤボンディング条件も変えることもなく行える
ことを目的とした半導体製造装置である。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる半導体製
造装置は、リードフレームインナリードやセラミック基
板あるいはガラエポ等樹脂基板表面の端子とパッド部
(半導体装置と外部との信号をやりとりする外部接続端
子)を導電性ワイヤにより接続して組立を行なう半導体
装置において、前記導電性ワイヤを非導電性樹脂により
一方向または、複数の方向から被覆しながら組立を行う
ことを特徴とする。
造装置は、リードフレームインナリードやセラミック基
板あるいはガラエポ等樹脂基板表面の端子とパッド部
(半導体装置と外部との信号をやりとりする外部接続端
子)を導電性ワイヤにより接続して組立を行なう半導体
装置において、前記導電性ワイヤを非導電性樹脂により
一方向または、複数の方向から被覆しながら組立を行う
ことを特徴とする。
【0006】
【実施例】図1は本発明の実施例である半導体製造装置
の特徴部分である。
の特徴部分である。
【0007】製造方法として、図1(a)の貫通管から
なるボンディングツールは半導体装置のパッド部の上空
へ移動後パッド部へ向かって下降する。図1(b)のよ
うに半導体装置のパッド部へボンディング後貫通管から
なるボンディングツールは上方向へ移動する。その際図
1(c)のようにボンディングツールが上方向へ約10
0um移動した位置から導電性ワイヤに向けボンディグ
ツールの両脇に取り付けられている噴射機から早乾性で
高粘度の非導電性樹脂を吹き付ける。すると非導電性樹
脂は導電性ワイヤの表面を1um前後覆いその部分は非
導電となる。上記のように導電性ワイヤへ非導電性樹脂
を吹き付けるのは、図1(d)のようにボンディングツ
ールが最も高い位置に移動するまでである。ボンディン
グツールの軌跡を従来のパッド部上空からただリードフ
レームインナリードやセラミック基板あるいはガラエポ
等樹脂基板表面の端子へ下降させるものから、パッド部
上空からもう一度半導体装置の中心に向かいボンディン
グツールを移動させその後さらにボンディングツールを
リードフレームインナリード方向の上空へ移動させてイ
ンナリードへ向け下降させるなどのリバースモーション
機能を使用している場合についても同様にボンディング
ツールが最も高い位置に移動するまで行う。この後図1
(e)のようにボンディングツールは、リードフレーム
インナリードやセラミック基板あるいはガラエポ等樹脂
基板表面の端子に向かい下降していく。上記の一連の動
作を全ワイヤに適応すると図2のようになる。このこと
によってワイヤ長が長くなったり、パッド間のピッチが
狭くなりり仮に接触しても短絡したことにはならない。
なるボンディングツールは半導体装置のパッド部の上空
へ移動後パッド部へ向かって下降する。図1(b)のよ
うに半導体装置のパッド部へボンディング後貫通管から
なるボンディングツールは上方向へ移動する。その際図
1(c)のようにボンディングツールが上方向へ約10
0um移動した位置から導電性ワイヤに向けボンディグ
ツールの両脇に取り付けられている噴射機から早乾性で
高粘度の非導電性樹脂を吹き付ける。すると非導電性樹
脂は導電性ワイヤの表面を1um前後覆いその部分は非
導電となる。上記のように導電性ワイヤへ非導電性樹脂
を吹き付けるのは、図1(d)のようにボンディングツ
ールが最も高い位置に移動するまでである。ボンディン
グツールの軌跡を従来のパッド部上空からただリードフ
レームインナリードやセラミック基板あるいはガラエポ
等樹脂基板表面の端子へ下降させるものから、パッド部
上空からもう一度半導体装置の中心に向かいボンディン
グツールを移動させその後さらにボンディングツールを
リードフレームインナリード方向の上空へ移動させてイ
ンナリードへ向け下降させるなどのリバースモーション
機能を使用している場合についても同様にボンディング
ツールが最も高い位置に移動するまで行う。この後図1
(e)のようにボンディングツールは、リードフレーム
インナリードやセラミック基板あるいはガラエポ等樹脂
基板表面の端子に向かい下降していく。上記の一連の動
作を全ワイヤに適応すると図2のようになる。このこと
によってワイヤ長が長くなったり、パッド間のピッチが
狭くなりり仮に接触しても短絡したことにはならない。
【0008】
【発明の効果】以上に述べたように発明すれば、パッド
部(半導体装置と外部との信号をやりとりする外部接続
端子)と、リードフレームインナリードやセラミック基
板あるいはガラエポ等樹脂基板表面との距離が長くなっ
たり、パッド部間のピッチが狭い半導体装置のワイヤボ
ンディング工程においても導電性ワイヤすべてを非導電
性樹脂で被覆されているボンディングワイヤを使用せず
に今までの導電性ワイヤを使用し、同じボンディング条
件で行えるという効果がある。
部(半導体装置と外部との信号をやりとりする外部接続
端子)と、リードフレームインナリードやセラミック基
板あるいはガラエポ等樹脂基板表面との距離が長くなっ
たり、パッド部間のピッチが狭い半導体装置のワイヤボ
ンディング工程においても導電性ワイヤすべてを非導電
性樹脂で被覆されているボンディングワイヤを使用せず
に今までの導電性ワイヤを使用し、同じボンディング条
件で行えるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例を示す半導体製造装置の特徴的製造方法
図
図
【図2】実施例を示す半導体装置図
【図3】本発明の半導体製造装置によるボンディングワ
イヤの断面図
イヤの断面図
1 噴射機 2 ボンディングツール 3 非導電性樹脂 4 パッド部 5 導電性ワイヤ 6 半導体装置 7 リードフレームインナリード
Claims (1)
- 【請求項1】リードフレームインナリードやセラミック
基板あるいはガラエポ等樹脂基板表面の端子とパッド部
(半導体装置と外部との信号をやりとりする外部接続端
子)を導電性ワイヤにより接続して組立を行なう半導体
装置において、前記導電性ワイヤを非導電性樹脂により
一方向または、複数の方向から被覆しながら組立を行う
ことを特徴とする半導体製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25933091A JPH05102227A (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | 半導体製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25933091A JPH05102227A (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | 半導体製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05102227A true JPH05102227A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=17332600
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25933091A Pending JPH05102227A (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | 半導体製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05102227A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08330346A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
WO2001007535A1 (de) * | 1999-07-28 | 2001-02-01 | Clariant International Ltd. | Smektische flüssigkristallschalt- oder anzeigevorrichtung mit hohem kontrast |
-
1991
- 1991-10-07 JP JP25933091A patent/JPH05102227A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08330346A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
US5950100A (en) * | 1995-05-31 | 1999-09-07 | Nec Corporation | Method of manufacturing semiconductor device and apparatus for the same |
WO2001007535A1 (de) * | 1999-07-28 | 2001-02-01 | Clariant International Ltd. | Smektische flüssigkristallschalt- oder anzeigevorrichtung mit hohem kontrast |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5960262A (en) | Stitch bond enhancement for hard-to-bond materials | |
KR20020096968A (ko) | 회로 장치의 제조 방법 | |
US6844219B2 (en) | Semiconductor device and lead frame therefor | |
US6525424B2 (en) | Semiconductor device and its manufacturing method | |
JPH05102227A (ja) | 半導体製造装置 | |
US6929971B2 (en) | Semiconductor device and its manufacturing method | |
US5877549A (en) | UFBGA package equipped with interface assembly including a photosoluble layer | |
JPH05102226A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH03231437A (ja) | 突起電極形成方法 | |
JP3859963B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPH11345826A (ja) | 半導体装置、半導体装置の製造方法及び半導体装置の実装方法 | |
JP2974840B2 (ja) | 半導体素子の実装方法 | |
JP3055496B2 (ja) | 半導体装置の実装構造 | |
US6420210B2 (en) | Semiconductor device and method for manufacturing the same | |
JPH0350736A (ja) | 半導体チップのバンプ製造方法 | |
JP4879923B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2000195888A (ja) | 半導体装置 | |
JPS63250832A (ja) | ワイヤボンデイング方法 | |
JPH05102232A (ja) | 半導体製造装置 | |
JPH0425026A (ja) | バンプ電極形成方法 | |
KR100301096B1 (ko) | 반도체 디바이스 및 그 제조방법 | |
RU2168798C2 (ru) | Полупроводниковое устройство и способ его изготовления | |
JP3082271B2 (ja) | 気密端子 | |
JP2780523B2 (ja) | 半導体装置の実装方法 | |
JP2002261183A (ja) | 配線基板、半導体装置、及びその製造方法 |