JPH0495802A - 渦電流を利用して変位を測る方法および装置 - Google Patents

渦電流を利用して変位を測る方法および装置

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JPH0495802A
JPH0495802A JP21169590A JP21169590A JPH0495802A JP H0495802 A JPH0495802 A JP H0495802A JP 21169590 A JP21169590 A JP 21169590A JP 21169590 A JP21169590 A JP 21169590A JP H0495802 A JPH0495802 A JP H0495802A
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displacement
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Jiro Isobe
磯部 二郎
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)一般に、コイルに電流を流すと、その電流の変化
に伴って、コイル周辺の磁界が変化する。
コイルの近くに導体が在れば、導体内に渦電流が生じる
。この渦電流によってまたコイル周辺の磁界が変化する
。導体がコイルに近付けばこの磁界の変化量は大きくな
り、導体がコイルから遠ざかればその変化量は小さくな
る。したがって、コイル近辺の磁界の変化を測れば、導
体(以降、被測定物と称す)とコイルとの距離(以下、
変位と称す)を非接触で測定することができる。
但し、被測定物の材質、厚さ、大きさ、移動等によって
、渦電流による磁界の変化量は異なる。
そのため、本発明では、三つ以上の磁気センサを用いて
、磁気センサ間の関係を求め、その関係を利用して、被
測定物の材質等の影響を受けずに変位を求める。
すなわち、磁界の変化を測る三つ以上の磁気センサを、
被測定物との距離をそれぞれ違えて配置する。コイルに
電流を流して、被測定物に渦電流を発生させる。コイル
と磁気センサとの相対的な位置は変動しないものとする
磁気センサとしては、ホール素子、コイル等、磁界の変
動を測定できるものである。また、特許請求の範囲第2
項に示すように、コイルと磁気センサは同一の物体でも
可能である。
三つ以上の磁気センサによって測定される磁界の変化量
は、磁気センサ間でそれぞれ異なる。
この磁気センサの測定値と変位との関係の一例として、
特許請求の範囲第2項で示すように磁気センサとしてコ
イルのインピーダンス変化を応用する場合、そのインピ
ーダンスと変位との関係を図1で示す。
磁界の変化量の絶対値と変位との関係を式で近似するこ
とができる。この近似式のなかで、係数は、物理的な事
象から、変数となる。近似式としては、指数曲線、べき
乗の式、二次や三次以上の多項式、三角関数、双曲線な
どを用いることができる。べき乗の式の中に反比例の式
も含まれる。
近似式に、指数曲線、べき乗の式、二次多項式を用いた
場合の三つの例を以下に示す。以下の例では、それぞれ
の近似式の組を三つの式から構成する。
この構成される式の数は、磁気センサの数と同一であり
、なおまた、近似式の中の変数の数と同一である。
指数関数の場合、 Ys =A、exp(BIX) Yz =A2  eXp (B2 X)Y、 =A、e
xp (B3 X’) べき乗の式の場合、 y1=A、XB1 y、=A、X” Y3 =As X!13 二次多項式の場合、 Yr = (At X+B1)” Yz = (A2 X+Bz ) 2 Y3= CAs X”Bs )” ここで、 Yx、YzおよびY3は磁界の変化量の絶対値でシある
Xは変位である。
A 1、A 2およびA3は係数であるが、被測定物の
変位や材質等に影響される変数である。その値は用いる
近似式によって異なる。
B1.B2およびB3は゛係数であるが、被測定物の変
位や材質等に影響される変数である。その値は用いる近
似式によって異なる。
exp(BlX)はeの(BIX)乗を意味する。
eは自然対数の底である。
XB1はXのB□乗を意味する。以下同様である。
被測定物の材質等に左右されない磁気センサ間の関係を
定めるために、つぎの物理的な事象に注目する。
すなわち、近似式における係数A 1− A 2および
A3は、被測定物の材質等の如何にかかわらず、また変
位の如何にかかわらず、互いに一定の関係を持つ。また
同様に、係数B i + −B 2およびB3も互いに
一定の関係を持つ。AIを基にしたA2およびA3との
関係の一例を図2に示し、B□を基にしたB2およびB
3との関係の一例を図3に示す。
尚、これら上記の三つの例以外においても、近似式の係
数の種類が増える場合においても、係数間の関係を定め
ることは容易である。
これらの図で示すように、被測定物の変位や材質等の如
何にかかわらず、A2とA3は八〇を用いて、B2とB
3はB1を用いて表すことが出来る。あるいは、Alの
代わりにA2またはA3を基にすることも、またB1の
代わりにB2またはB3を基にすることも可能である。
したがって、係数間の関係を式で近似することができ、
また、この近似式の中で用いられる係数は、被測定物の
変位や材質等に影響されない定数となる。
すなわち、前述のY、、Y2およびY3の近似式を、A
8およびB□を用いて、つぎのように置き換える事が出
来る。
Y 1 = A 1exp (B s X)Y2  =
 fH(At  )  exp [gzz (B+  
)  x]Y3  = f3x  (AI  )  e
xp [g3□ (Bl  )xコベき乗の式の場合、 Y t ” A I X ” Yx = f III (A□)Xに22(B口Ys 
= f 31(At ) X”2(”’二次多項式の場
合、 Yl = (AI X+B1 ) 2 Y’z=[fz□(A1)X+g22(Bt )] 2
Y3二[f3□(At ) x+ g32 (B1) 
] 2ここで、 f2□(A1)およびf31(AI)はA、の関数を意
味し、g2□(B、)およびg3z(B+)はB。
の関数を意味する。
指数関数の場合、 これら変位を示す近似式において、 被測定物の 変位や材質等の影響を受ける未知数はA 1、B 2お
よびXの三つとなり、近似式の組みからA□およびB、
を消去すれば、下記のような変位Xの式%式% を変数とする関数を意味する。
このXの式の中には、被測定物の材質等に影響される係
数が含まれていないため、この式によって得られる変位
Xの値は、被測定物の材質等に左右されない。
すなわち、本発明では、磁気センサの測定値と変位との
関係に近似式を当てはめ、近似式のなかで使われる係数
間の関係が被測定物の材質等に影響されないことに着目
して、近似式の中の係数を消去して、被測定物の材質等
に影響されずに変位を求める事が出来る。
(2)本発明は、図4に示すように、磁気センサとして
三つ以上のコイルを用い、その三つ以上のコイルに電流
を流して、被測定物に渦電流を発生させ、磁界の変化を
その三つ以上のコイルのインピーダンスの変化として測
定し、特許請求の範囲第1項によって、変位を演算して
求める方法である。
変位を求める近似式としては、特許請求の範囲第1項で
示したようにいくつかの式が当てはまるが、ここでは、
−例として、コイルを三つ使い、近似式として以下のよ
うに二次多項式を用いる。
Y、=  (A、X+B、)  2 Y2  =  (A2  X+B2  )  2Y3 
”  (A3 X+ B3  )  2尚、 Y t 、 Y 2およびY3は磁界の変化量の絶対値
であり、ここでは、コイルのインピーダンスの変化量の
絶対値に相応する。
特許請求の範囲第1項でも示したように、物理的な事象
から、係数A2およびA3はA1で、また、係数B2お
よびB3はB□で表すことが出来るから、−例として、
以下のように、A2およびA3をA□の一次多項式で、
B2およびB3をB1の一次多項式で表す。
これら係数の式を前述の式2−1.2−2および2−3
に代入すれば、以下の式が求まる。
Yl  =  [At  X+Bt  ]  2Y2 
 =  [(A121A1  +A22)X”   (
B21BI   +B2・2) コ 2Y 3 =  
[(AslA !  + A 3□)X”   (B 
 s 1B  1  +  B  s □) コ 2A
 2  = A x□A 1 + A 22A 3 =
 A 3□At  +A3□B x  = B zsB
 1 + B z2B3”B3□B t 十B 32 ここで、A21、A2□、A31、A32、B21、B
2□、B31およびB3□は、物理的な事象から、被測
定物の変位や材質等の影響を受けない定数となる。
また、こわら−次多項式に変わって、二次以上の多項式
、べき乗の式などを用いることも可能である。
これらの式のなかで、未知の変数はAt、B+およびX
となる。Yl、Y2およびY3は測定値で、他の係数は
定数であるから、上記の式よりA、8よびB2を消去し
て、変位Xを求める。このXの式を以下に示す。この式
が、一つの例として、本発明で得られる変位を算出する
ための式である。
X=EI  SqR(Yl )”B2  SQR(Y2
  )+ E 3  SqR(Y 3)  十E 4こ
こで、 S9R(Yl)は、Y、の平方根を意味する。以下同様
である。
E□、E、、B3およびB4は、被測定物の変位や材質
等に影響されない定数であり、以下のように表される。
E。
=  (B 31A 2□−BzzA3、)7M”  
(A3s  B、+1)/M =  (B21  Al1)7M =  [B3t CBxs  A21)−Bx 2 C
B  、s −As □) コ 7Mただし。
M = A sz (B z□−A2s>  A22 
(B31A31)El、B2 、B3およびB4は、実
験的にA2□、A3□、B2□、B31などの係数を求
めてそれらの値から計算で求めることも可能であるが、
つぎのように、簡単にかつ直接求めることが出来る。す
なわち、四つの既知の変位に対して測定値Y1、Y2、
Y3およびY4をそれぞれ求め、E、、E、、B3およ
びB4を未知数とする四つの連立方程式を作り、その方
程式を解いて、El、B2 、B3およびB4の値を求
める。
(3)本発明は、図5で示すように、励磁コイルに電流
を流して被測定物に渦電流を発生させ、その渦電流によ
って生じる励磁コイル周辺の磁界の変化を三つ以上の測
定コイルの起電力として測定し、特許請求の範囲第1項
で示した方法で、三つの測定コイルの起電力間の関係を
定めて、励磁コイルと被測定物との変位を測定する方法
である。
尚、励磁コイルと測定コイルとの相対的な位置は一定と
する。
励磁コイルに電流を流せば、周辺に磁界が発生する。近
辺に測定コイルを置けば、誘導によって測定コイルに起
電力が生じる。また近くに被測定物があれば、その被測
定物に渦電流が生じる。その渦電流によっても磁界が生
じて、測定コイルの起電力に変化がでる。したがって、
測定コイルの起電力は変位の関数となる。
測定コイルの代わりに、ホール素子などの磁気センサを
使っても本発明の方法は有効である。
ここでは、−例として、三つの測定コイルを使い、測定
コイルの起電力と変位との関係を、以下のように、指数
曲線で近似する。
Yl  =A+  exp (B+  X)Y2  =
Az  exp (B2  X)Yl  =A3 ex
p (B3  X)ここで、 Yl、Y2およびYlは磁界の変化量の絶対値であるが
、ここでは、測定コイルの起電力の変化量の絶対値に相
応する。
係数A2、A3− B2およびB3を以下のように、特
許請求の範囲第1項によって、係数A1またはB、の−
次多項式で近似する。尚、この近似式は、二次以上の多
項式やべき乗の式などで近似しても可能である。
” A 21 A s ” A 31 A 1 ”B21B1 =B3□B1 十A22 十A32 +B22 +B32 この式を、Y、、Y、およびYlの式に代入すると、以
下のようになる。
Y 1 =A1  exp [B HXコY2  = 
 (A2□Al  +A2□)eXP  [(B21B
1  +B22)  X]Y3二(A 31A 1+ 
A 3□)eXP [(B 31B 1  +B 32
)Xコこの三つの式より、A1およびB、を消去して、
変位Xを求めると、以下のようになる。この式が、一つ
の例として、本発明で得られる変位を算出するための式
である。
X、、= E 。
ここで、 E、= E2= E3= B4” LnY+  +Ez  LnY2 +E3  LnY3
 +E4(B2□−B31)7M (B3□−1)7M (IB2□)7M [(I   B51)  LnAxs (I   B 21)  LnA 31]  / MM
=  (I   B21)Bs□−(1−B31)B2
□変位Xの式のなかで使われる係数E+、Ez、B3お
よびB4は、B2□やB3□などの定数から実験で求め
ることも出来るが、これら係数が被測定物の変位や材質
等に影響されない定数であることから、つぎのように、
直接かつ簡単に求めることが出来る。すなわち、特許請
求の範囲第2項でも用いたように、あらかじめ既知の四
つの変位に対して実験でYl、Y2.YlおよびY4の
値を求めて、El、Ex 、B3およびB4を未知数と
する四つの連立方程式を作り、その方程式を解いて、E
 1.B2− B3およびB4の値を求める。
(4)特許請求の範囲第2項で示した方法に基づき、変
位を求める装置を電子回路で実施する一つの例である。
基本構成を示す。三つのコイルを直列に接続し、電圧電
流変換回路を用いて、コイルにサイン波状の電流を流す
。それぞれのコイルの電圧を高入力インピーダンスの緩
衝増幅器で読み取る。被測定物が充分に遠方にある時の
それぞれの緩衝増幅器の出力を初期値として、緩衝増幅
器の出力よりその初期値を減算する。この減算された値
が磁界の変化量の絶対値を意味する。この三つの変化量
の絶対値を開平演算する。開平演算回路の出力を増幅す
る。この増幅度が、特許請求の範囲第2項で示した係数
E□、B2およびB3に対応する。この増幅器の出力を
サンプル・ホールド回路を通して直流に変換する。直流
のバイアス回路を一つ設ける。バイアスの電圧を可変と
する。このパイアス回路の出力が特許請求の範囲第2項
の係数E4に対応する。三つのサンプル・ホールド回路
の出力とバイアス回路の出力を加減算回路へ入力する。
ここで加算側に入力するか、減算側に入力するかは、対
応する係数El −B2、B3およびB4の符号に従う
。加減算回路の出力が変位Xを表すものとなる。
三つのコイルは直列でなくとも、並列に接続しても可能
である。
コイルに流す電流はサイン波でなくとも、三角波等でも
可能である。
直流への変換は、サンプル・ホールド回路でなくとも、
よく知られた全波整流回路と平滑回路の組み合わせでも
可能である。
図5に回路構成図を示す。1は被測定物である。
2はサイン波信号の発振器である。この発振器の出力を
電圧電流変換回路3へ入力する。この変換回路3の出力
電流をコイルLl、B2およびB3へ流す。コイルL1
.L2およびB3のインピーダンスが被測定物1との変
位の変化に伴って変動するため、コイルL1.L!およ
びB3の電圧が変動する。そのコイルL1.L、および
B3の電圧を緩衝増幅器A + 、A 2およびA3で
読み取る。
緩衝増幅器A、 、A2およびA3の出力から、Ct 
、 C2およびC3のゼロクロス・コンパレータ、B1
.B2およびB3の帯域フィルタ、および、Fl、F、
およびB3のオールパス・フィルタを通して、一定振幅
のサイン波を作る。この出力を増幅器A4.A5および
A6に入れて、増幅する。被測定物が充分遠いところに
ある時点で、一定振幅のサイン波が、緩衝増幅器A13
、A23およびA33の出力と等しくなるように、その
増幅度を定め、かつ同相となるようにオールパス・フィ
ルタで調整する。
この一定のサイン波を緩衝増幅器の出力から、減算回路
Ml 、M2およびM3で、減算する。減算回路M +
 、 M 2およびM3の出力が、特許請求の範囲第2
項で言うインピーダンスの変化量の絶対値に相応する。
この減算回路M□、MxおよびM3の出力を開平演算回
路S1、B2およびB3に入れて開平演算を行なう。
開平演算回路S□、B2およびB3の出力をサンプル・
ホールド回路に入力して、直流信号に変換し、その直流
信号を増幅器A 7 、 A aおよびA9に入力する
。増幅器A ? 、 A aおよびA9の増幅度が、特
許請求の範囲第2項で使われる係数E1、B2およびB
3を意味する。
バイアス回路を一つ用意する。その直流出力が特許請求
の範囲第2項で使われる係数E4を意味する。
増幅器A7.AMおよびAgと、バイアス回路の出力を
加減算回路に入力する。この加減算器の出力が変位に対
応する。
上記で使ねれるサイン波発振器、電圧電流変換回路、緩
衝増幅器、増幅器、帯域フィルタ、ゼロクロス・コンパ
レータ、オールパス・フィルタ、減算器、開平演算回路
、バイアス回路、加減算器等の個々の回路は公知のもの
を用いる。
(5)特許請求の範囲第3項で示した方法に基づき、変
位を求める装置を電子回路で実施する一つの例である。
基本構成を示す。一つの励磁コイルに電圧電流変換回路
を用いてサイン波状の電流を流す。励磁コイルの近辺に
三つの・測定コイルを配置し、それぞれのコイルの電圧
を増幅器へ入力する。被測定物が充分に遠方にある時の
それぞれの増幅器の出力を初期値として、増幅器の出力
よりその初期値を減算する。この減算された値が磁界の
変化量の絶対値を意味する。この三つの変化量の絶対値
を対数演算する。対数演算回路の出力を増幅する。
この増幅度が、特許請求の範囲第3項で示した係数E□
、B2およびB3に対応する。この増幅器の出力をサン
プル・ホールド回路を通して直流に変換する。直流のバ
イアス回路を一つ設ける。バイアスの電圧を可変とする
。このバイアス回路の出力が特許請求の範囲第3項の係
数E4に対応する。三つのサンプル・ホールド回路の出
力とバイアス回路の出力を加減算回路へ入力する。゛こ
こで加算側に入力するか、減算側に入力するかは、対応
する係数E 1.B2.EsおよびB4の符号に従う。
加減算回路の出力が変位Xを表すものとなる。
測定コイルの代わりに、ホール素子などの磁気センサを
用いることも可能である。
コイルに流す電流はサイン波でなくとも、三角波等でも
可能である。
直流への信号変換は、サンプル・ホールド回路でなくと
も、よく知られた全波整流回路と平滑回路の組み合わす
でも可能である。
図6に回路構成図を示す、1は被測定物である。
2はサイン波信号の発振器である。この発振器の出力を
電圧電流変換回路3へ入力する。この変換回路3の出力
電流を励磁コイルLへ流す。測定コイルL4.LSおよ
びB6の電圧が、相互誘導によって、被測定物1との変
位の変化に伴って変動する。その電圧を増幅器Ast、
A12およびA13に入力する。
増幅器A s 1、i2およびA13の出力から、C1
、C2およびC3のゼロクロス・コンパレータ、B□1
、B21およびB31の帯域フィルタ、およびFl。
F2およびB3のオールパス・フィルタを通して、一定
振幅のサイン波を作る。この出力を増幅器A4、ASお
よびA6に入れて、増幅する。被測定物が充分遠いとこ
ろにある時点で、一定振幅のサイン波が、増幅器AH1
A12およびA13の出力と等しくなるように、その増
幅度を定め、かつ同相となるようにオールパス・フィル
タで調整する。
この一定のサイン波をIl街増幅器の出力から、減算回
路M s 、M 2およびM3で、減算する。減算回路
Ml 、M2およびM3の出力が、特許請求の範囲第3
項で言う起電力の変化量の絶対値に相応する。
この減算回路M、+ M2およびM3の出力を対数演算
回路T、 、F2およびF3に入れて対数計算を行なう
対数演算回路T、+ ”F2およびF3の出力をサンプ
ル・ホールド回路に入力して、直流信号に変換し、その
直流信号を増幅器A7.AaおよびA、に入力する。増
幅器A、、A、およびA、の増幅度が、特許請求の範囲
第3項で使われる係数E1、B2およびB3を意味する
バイアス回路を一つ用意する。その直流出力が特許請求
の範囲第3項で使われる係数E4を意味する。
増幅器A7.AaおよびA、と、バイアス回路の出力を
加減算回路に入力する。この加減算回路の出力が変位に
相応する。
上記で使われるサイン波発振器、電圧電流変換回路、増
幅器、帯域フィルタ、ゼロクロス・コンパレータ、オー
ルパス・フィルタ、減算器、対数演算回路、バイアス回
路、加減算器等の個々の回路は公知のものを用いる。
の計測値が変動する。そのため、工作機械における工作
物のように測定中に材質などが熱によって変るような場
合、非接触で変位を高精度に測ることが不可能であった
本発明は、このような被測定物の変化にもかかわらず、
変位を測定できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は三つの磁気センサと変位との関係を、第2図は
係数A r 、 A 2およびA3間の関係を、第3図
は係数Bt、Bzおよび83間の関係を、第4図はコイ
ルのインピーダンス変化を利用した場合の概念を、第5
図は三つのコイルを用いた場合の回路構成を、第6図は
励磁コイルと三つの測定コイルを用いた場合の回路構成
を示す。 本発明の効果 渦電流を用いた従来の変位針は、被測定物の材質、透磁
率、面積、厚さ、移動などによって、そ1   被測定
物 2   発振器 3   電圧電流変換器 A1、A2 、As    係数 A I(1+ A 11. A tx  −増幅器A1
3・A23、A33 ″°″緩衝増幅器A4 、As 
、A6   増幅器 A 7 、 A s 、 A s  −−一増幅器B 
1 、 B z 、B 3−−−一係数Bll、B2゜
、B3□   帯域フィルタBS    バイアス回路 C1・C2、C3、、−、、、−コンパレータD1.D
2 + B3−  サンプルホールド回路F 1− F
2、F3     オールパス・フィルタH磁界 L   励磁コイル Ll、Lz 、A3 − コイル L4− Ls 、 Ls  −測定コイルM r 、M
2 、M3    減算器PM    加減算器 R1−R2、R3抵抗 T r 、 T2 、 Ts    対数演算器W 1
. W 2    コイル間隔 X   変位 インピーダンス 図1 − −コイル・ インピーダンス

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物に渦電流を発生させ、三つ以上の磁気セ
    ンサを被測定物に対してそれぞれ位置を違えて配置し、
    被測定物内の渦電流に起因する磁界の変化を磁気センサ
    で検出し、磁気センサ間の相互関係を求めて、磁気セン
    サと被測定物との距離を求める方法。
  2. (2)被測定物に対して距離を違えて配置した三つ以上
    のコイルに電流を流し、それによって被測定物内の渦電
    流に起因するそれぞれのコイルのインピーダンスの変化
    量の絶対値から、特許請求の範囲第1項記載の方法によ
    り、被測定物とコイルとの距離を演算して求める方法。
  3. (3)励磁コイルに電流を流して被測定物に渦電流を発
    生させ、三つ以上の測定コイルを被測定物に対して距離
    を違えて配置し、測定コイルに生じる起電力の変化量の
    絶対値に基づいて、特許請求の範囲第1項記載の方法に
    より、被測定物とコイルとの距離を演算して求める方法
  4. (4)特許請求の範囲第2項記載の方法に基づき、被測
    定物とコイルとの距離を求める装置。
  5. (5)特許請求の範囲第3項記載の方法に基づき、被測
    定物とコイルとの距離を求める装置。
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JPH0495802A true JPH0495802A (ja) 1992-03-27

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JP (1) JPH0495802A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010164431A (ja) * 2009-01-15 2010-07-29 Nippon Steel Corp 表面状態測定装置及び表面状態測定方法
JP2021096118A (ja) * 2019-12-16 2021-06-24 株式会社荏原製作所 渦電流センサの出力信号処理回路および出力信号処理方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010164431A (ja) * 2009-01-15 2010-07-29 Nippon Steel Corp 表面状態測定装置及び表面状態測定方法
JP2021096118A (ja) * 2019-12-16 2021-06-24 株式会社荏原製作所 渦電流センサの出力信号処理回路および出力信号処理方法

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