JPH0480560B2 - - Google Patents
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- JPH0480560B2 JPH0480560B2 JP58159427A JP15942783A JPH0480560B2 JP H0480560 B2 JPH0480560 B2 JP H0480560B2 JP 58159427 A JP58159427 A JP 58159427A JP 15942783 A JP15942783 A JP 15942783A JP H0480560 B2 JPH0480560 B2 JP H0480560B2
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- electric
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 4
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 18
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子回路実装時に必要な機能調整方
法に関するものである。
法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
近年、電子回路実装の工法時に必要な回路調整
に、機能調整方法が使用されるようになつてき
た。
に、機能調整方法が使用されるようになつてき
た。
以下に従来の機能調整方法について説明する。
第１図は従来の機能調整方法の一例を示す。第１
図において、１は被トリミング素子実装体、２は
計測体、３はレーザトリミング制御体である。
第１図は従来の機能調整方法の一例を示す。第１
図において、１は被トリミング素子実装体、２は
計測体、３はレーザトリミング制御体である。
以上のように構成されたレーザーによる機能調
整方法について、以下その動作を説明する。一例
として厚膜抵抗体を被トリミング素子とする。ま
ず被トリミング素子実装体１にて厚膜抵抗体が実
装される。次に計測体２で回路を動作させ望むべ
き目標値（抵抗値）に対する修正度合を把握し、
次のレーザートリミング制御対３にて目標値とす
る抵抗値になるまでレーザートリミングが実行さ
れる。
整方法について、以下その動作を説明する。一例
として厚膜抵抗体を被トリミング素子とする。ま
ず被トリミング素子実装体１にて厚膜抵抗体が実
装される。次に計測体２で回路を動作させ望むべ
き目標値（抵抗値）に対する修正度合を把握し、
次のレーザートリミング制御対３にて目標値とす
る抵抗値になるまでレーザートリミングが実行さ
れる。
しかしながら上記従来の方法ではレーザートリ
ミングで抵抗値の微調整をするので、抵抗値の調
整精度を高くすることはできるが、レーザートリ
ミング自体は抵抗体のみにしか適用できないとい
う問題があつた。また、レーザートリミングでは
高温のレーザーを照射した瞬間の抵抗値と、その
後一定時間が経過した時の抵抗値とでは温度環境
の変化ゆえに互いにバラつく結果となつたり、長
期的にはレーザートリミングをした箇所が変質し
てしまわないように品質面での信頼性を確保する
必要があるという問題点を有していた。
ミングで抵抗値の微調整をするので、抵抗値の調
整精度を高くすることはできるが、レーザートリ
ミング自体は抵抗体のみにしか適用できないとい
う問題があつた。また、レーザートリミングでは
高温のレーザーを照射した瞬間の抵抗値と、その
後一定時間が経過した時の抵抗値とでは温度環境
の変化ゆえに互いにバラつく結果となつたり、長
期的にはレーザートリミングをした箇所が変質し
てしまわないように品質面での信頼性を確保する
必要があるという問題点を有していた。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するもので、
個別抵抗素子はもちろん、個別コンデンサ素子や
個別インダクタンス素子にも適用でき、しかも個
別阻止それ自体はまつたく変形させない方法で機
能調整することのできる機能調整方法を提供する
ことを目的とする。
個別抵抗素子はもちろん、個別コンデンサ素子や
個別インダクタンス素子にも適用でき、しかも個
別阻止それ自体はまつたく変形させない方法で機
能調整することのできる機能調整方法を提供する
ことを目的とする。
発明の構成
本発明は有限個に限定されたある一定の離散ピ
ツチをもつて配列された複数の値を持つ電気素子
で構成される標準計測素子と、被調整電気回路基
板の機能出力端に出力される出力値を目標値とす
るのに最適な前記標準計測素子を決定する最適素
子選択装置とを有した計測体を備え、前記被調整
電気回路基板上に前記標準計測素子を接続する機
能調整部と前記出力値の精度を調整する精度調整
用電気素子と前記出力値の大きさを前記目標値に
調整する出力調整用電気素子とを設け、前記出力
値が所望の精度になるように前記精度調整用電気
素子と前記出力用電気素子とを設定し、前記計測
体において前記機能調整部に前記標準計測素子を
接続すると共に前記被調整電気回路基板の機能出
力端からの出力を計測してその出力が前記目標値
になるのに最適な前記標準計測素子を選択し、選
択された標準計測素子と同一の値の電気素子を前
記機能調整部に実装することを特徴とするもので
ある。
ツチをもつて配列された複数の値を持つ電気素子
で構成される標準計測素子と、被調整電気回路基
板の機能出力端に出力される出力値を目標値とす
るのに最適な前記標準計測素子を決定する最適素
子選択装置とを有した計測体を備え、前記被調整
電気回路基板上に前記標準計測素子を接続する機
能調整部と前記出力値の精度を調整する精度調整
用電気素子と前記出力値の大きさを前記目標値に
調整する出力調整用電気素子とを設け、前記出力
値が所望の精度になるように前記精度調整用電気
素子と前記出力用電気素子とを設定し、前記計測
体において前記機能調整部に前記標準計測素子を
接続すると共に前記被調整電気回路基板の機能出
力端からの出力を計測してその出力が前記目標値
になるのに最適な前記標準計測素子を選択し、選
択された標準計測素子と同一の値の電気素子を前
記機能調整部に実装することを特徴とするもので
ある。
実施例の説明
第２図は本発明の一実施例の機能調整方法の基
本構成を示すブロツク図である。第２図において
４は計測体で、この計測体４は有限個に限定され
所定のピツチをもつて配列された電気素子として
R1からRoまでのｎ個の抵抗素子で構成された標
準計測用抵抗６と、後述する電気回路基板９の機
能出力端からの出力値があらかじめ設定した目標
値になるのに最適な抵抗素子を選択する最適素子
選択装置７と、電気回路基板９の機能調整部１１
に接続する抵抗素子を切り換えるスイツチ８とか
ら構成されている。
本構成を示すブロツク図である。第２図において
４は計測体で、この計測体４は有限個に限定され
所定のピツチをもつて配列された電気素子として
R1からRoまでのｎ個の抵抗素子で構成された標
準計測用抵抗６と、後述する電気回路基板９の機
能出力端からの出力値があらかじめ設定した目標
値になるのに最適な抵抗素子を選択する最適素子
選択装置７と、電気回路基板９の機能調整部１１
に接続する抵抗素子を切り換えるスイツチ８とか
ら構成されている。
５は実装体で計測体６とは別に設けられている
が、計測体４の標準計測用抵抗６のｎ個の抵抗素
子と同じ値の抵抗素子が同じ離散ピツチで配列さ
れているものである。
が、計測体４の標準計測用抵抗６のｎ個の抵抗素
子と同じ値の抵抗素子が同じ離散ピツチで配列さ
れているものである。
９は電気回路基板であり、この電気回路基板９
はあらかじめ実装された様々な素子からなる電気
回路１２と、この電気回路１２と電気的に接続さ
れた出力調整用抵抗Ra、精度調整用抵抗Rb及び
直流電源Ｖとを有している。またこの電気回路基
板９は出力調整用抵抗Raと精度調整用抵抗Rbと
の接続点に接続され電気回路基板９の出力値が出
力される機能出力端１０と、一端が精度調整用抵
抗Rbの一端と接続され他端が直流電源Ｖに接続
されている機能調整部１１とを備えており、機能
出力端１０は前述した計測体４の最適素子選択装
置と接続され、機能調整部１１の一端及び他端は
計測体４のスイツチ８及び標準計測用抵抗６の全
ての抵抗素子の一端とそれぞれ接続されている。
はあらかじめ実装された様々な素子からなる電気
回路１２と、この電気回路１２と電気的に接続さ
れた出力調整用抵抗Ra、精度調整用抵抗Rb及び
直流電源Ｖとを有している。またこの電気回路基
板９は出力調整用抵抗Raと精度調整用抵抗Rbと
の接続点に接続され電気回路基板９の出力値が出
力される機能出力端１０と、一端が精度調整用抵
抗Rbの一端と接続され他端が直流電源Ｖに接続
されている機能調整部１１とを備えており、機能
出力端１０は前述した計測体４の最適素子選択装
置と接続され、機能調整部１１の一端及び他端は
計測体４のスイツチ８及び標準計測用抵抗６の全
ての抵抗素子の一端とそれぞれ接続されている。
以上のような構成にて行う機能調整方法につい
て以下に述べる。
て以下に述べる。
まず電気回路基板にあらかじめ様々な部品を実
装して電気回路１２を完成しておく。次にあらか
じめ計測体４において所定の離散ピツチで標準計
測用抵抗６をｎ個用意しておき、電気回路基板９
の機能出力端１０から出力されるの出力値の精度
を調整するために精度調整用抵抗Rbの値を決定
し、同時に電気回路基板９の機能出力端１０に出
力すべき値の大きさ（目標値）を決めるために出
力調整用抵抗Raの値を決定する。そして抵抗Ra，
Rb及び直流電源Ｖを図のように電気回路１２と
電気的に接続する。
装して電気回路１２を完成しておく。次にあらか
じめ計測体４において所定の離散ピツチで標準計
測用抵抗６をｎ個用意しておき、電気回路基板９
の機能出力端１０から出力されるの出力値の精度
を調整するために精度調整用抵抗Rbの値を決定
し、同時に電気回路基板９の機能出力端１０に出
力すべき値の大きさ（目標値）を決めるために出
力調整用抵抗Raの値を決定する。そして抵抗Ra，
Rb及び直流電源Ｖを図のように電気回路１２と
電気的に接続する。
次に機能調整部１１の端子を計測体４の標準計
測用抵抗６とスイツチ８とに接続するととに、電
気回路基板９の機能出力端１０の出力を計測体４
の最適素子選択装置７に供給する。
測用抵抗６とスイツチ８とに接続するととに、電
気回路基板９の機能出力端１０の出力を計測体４
の最適素子選択装置７に供給する。
このような状態においては電気回路基板９には
目標値が設定され、標準計測用抵抗６のｎ個を機
能調整部１１に装着した時に少なくともどれか１
個を挿着した時の機能出力端１０からの出力値が
目標値になるようにあらかじめ設計されている。
目標値が設定され、標準計測用抵抗６のｎ個を機
能調整部１１に装着した時に少なくともどれか１
個を挿着した時の機能出力端１０からの出力値が
目標値になるようにあらかじめ設計されている。
以上のような設定が済んだら標準計測用抵抗６
を順にスイツチ８で切り換えてゆき、その都度、
最適素子選択装置７で電気回路基板９の機能出力
端１０からの出力値が目標値と一致するかどうか
を判断する。そして、もし出力値が目標値と一致
すればその時の標準計測用抵抗６と同じ値をもつ
抵抗を実装体５から選択し、この抵抗を機能調整
部１１に装着して電気回路基板９の機能調整を終
了する。
を順にスイツチ８で切り換えてゆき、その都度、
最適素子選択装置７で電気回路基板９の機能出力
端１０からの出力値が目標値と一致するかどうか
を判断する。そして、もし出力値が目標値と一致
すればその時の標準計測用抵抗６と同じ値をもつ
抵抗を実装体５から選択し、この抵抗を機能調整
部１１に装着して電気回路基板９の機能調整を終
了する。
このようにすれば電気回路基板９の機能調整は
抵抗素子を何ら変形させたりすることなく行うこ
とができる。
抵抗素子を何ら変形させたりすることなく行うこ
とができる。
さて、ここで本発明において非常に重要な精度
調整用抵抗Rbについて以下に述べる。
調整用抵抗Rbについて以下に述べる。
今、標準計測用抵抗６が例えば100Ω、104Ω、
108Ω、112Ω、117Ω……と４％ピツチで20個用意
されているとする（ここで４％ピツチとは約1.04
倍のピツチで構成される離散ピツチのことであ
る）。第２図において直流電源Ｖと機能出力端１
０からの出力電圧V0の比（減衰量）は Ｖ／V0＝１＋Ra／Rb＋RT （ただしRTは機能調整部１１に実装される標準
計測用抵抗６の抵抗値） したがつて Ｓ＝Ｖ／V0−１＝Ra／Rb＋RT と表せる。これより減衰量から１を引いた値Ｓは
RbとRTの変化の割合で調整精度が決まることが
わかる（実際はRa、Rbともに固定であるから、
Rb＋RTの値で調整精度が決まる）。
108Ω、112Ω、117Ω……と４％ピツチで20個用意
されているとする（ここで４％ピツチとは約1.04
倍のピツチで構成される離散ピツチのことであ
る）。第２図において直流電源Ｖと機能出力端１
０からの出力電圧V0の比（減衰量）は Ｖ／V0＝１＋Ra／Rb＋RT （ただしRTは機能調整部１１に実装される標準
計測用抵抗６の抵抗値） したがつて Ｓ＝Ｖ／V0−１＝Ra／Rb＋RT と表せる。これより減衰量から１を引いた値Ｓは
RbとRTの変化の割合で調整精度が決まることが
わかる（実際はRa、Rbともに固定であるから、
Rb＋RTの値で調整精度が決まる）。
さて、ここでRb＝RTが成立し、Rbが100Ω（固
定）を選ぶとすると Rb＋RT＝100＋Rb、104Rb、 108＋Rb、112＋Rb、 117＋Rb、…… ＝200、204、208、212、217、…… となる。
定）を選ぶとすると Rb＋RT＝100＋Rb、104Rb、 108＋Rb、112＋Rb、 117＋Rb、…… ＝200、204、208、212、217、…… となる。
これらのRb＋RTの値はよく見れば２％ピツチ
（約1.02倍のピツチ）で変化していることがわか
る。つまり、Rb＝RTの時は、Rb＋RTの値の値が
２％ピツチで変化するのでＳの値は２％ピツチの
調整精度が得られることになる。
（約1.02倍のピツチ）で変化していることがわか
る。つまり、Rb＝RTの時は、Rb＋RTの値の値が
２％ピツチで変化するのでＳの値は２％ピツチの
調整精度が得られることになる。
またRb＝3RTの場合についてみると、Rb＝
100Ω（固定）の時、 Rb＋RT＝100＋3RT、104＋3RT、 108＋3RT、112＋3RT、 117＋3RT、…… ＝400、404、408、412、417、…… となる。
100Ω（固定）の時、 Rb＋RT＝100＋3RT、104＋3RT、 108＋3RT、112＋3RT、 117＋3RT、…… ＝400、404、408、412、417、…… となる。
この時、Ｓの値は１％ピツチ（約1.01倍のピツ
チ）で制御できることになる。
チ）で制御できることになる。
以上のようにあらかじめ電気回路基板の機能を
調整するために用意された標準計測用抵抗６の離
散ピツチは４％であつても、精度調整用抵抗Rb
を入れることによつて電気回路基板９の出力値の
精度を２％ピツチにも１％ピツチにも変化させる
ことができるのである。
調整するために用意された標準計測用抵抗６の離
散ピツチは４％であつても、精度調整用抵抗Rb
を入れることによつて電気回路基板９の出力値の
精度を２％ピツチにも１％ピツチにも変化させる
ことができるのである。
次に出力調整用抵抗Ra（固定）の設定である
が、これは前述のようにRb＝100Ωの場合に、例
えばRb＝RTの時は、200Ω、Rb＝3RTの時は400Ω
というように決めれば良く、このRaの値を換え
ればその時に機能出力端１０から出力される出力
電圧V0（目標値）が変わるので、このRaを決めれ
ば電気回路基板９の目標値が決まると言える。こ
のようにしてRaまで決まれば後は前述のように
標準計測用６を順に挿着していけば良いわけであ
る。
が、これは前述のようにRb＝100Ωの場合に、例
えばRb＝RTの時は、200Ω、Rb＝3RTの時は400Ω
というように決めれば良く、このRaの値を換え
ればその時に機能出力端１０から出力される出力
電圧V0（目標値）が変わるので、このRaを決めれ
ば電気回路基板９の目標値が決まると言える。こ
のようにしてRaまで決まれば後は前述のように
標準計測用６を順に挿着していけば良いわけであ
る。
なお、本実施例では標準計測用抵抗６に精度調
整用抵抗Rb、出力調整用抵抗Raを用いたが、こ
れらの抵抗の代わりにコンデンサやインダスタン
ス素子を使つても機能調整を行うことができる。
整用抵抗Rb、出力調整用抵抗Raを用いたが、こ
れらの抵抗の代わりにコンデンサやインダスタン
ス素子を使つても機能調整を行うことができる。
発明の効果
本発明によれば有限個に限定されたある一定の
離散ピツチをもつて配列された複数の値を持つ電
気素子で構成される標準計測素子と、被調整電気
回路基板の機能出力端に出力される出力値を目標
値とするのに最適な標準計測素子を決定する最適
素子選択装置とを有した計測体を備え、被調整電
気回路基板上に標準計測素子を接続する機能調整
部と被調整電気回路基板の出力値の精度を調整す
る精度調整用電気素子と出力値の大きさを目標値
に調整する出力調整用電気素子とを設け、出力値
が所望の精度になるように精度調整用電気素子と
出力調整用電気素子とを設定し、計測体において
機能調整部に標準計測素子を接続すると共に被調
整電気回路基板の機能出力端からの出力を計測し
てその出力値が目標値になるのに最適な標準計測
素子を選択し、選択された標準計測素子と同一の
値の電気素子を機能調整部に実装するので、あら
かじめ用意された標準計測素子は有限個であつて
も精度調整用電気素子によつて被調整電気回路基
板の出力値の精度を必要に応じて調整して機能調
整することができ、しかも、個別素子は機械的変
形（切断、削除等）を受けず実装できるので、信
頼性を高くする効果があり、さらに個別素子とし
て抵抗素子のみならずコンデンサ、インダクンス
などにも適用することができるフレキシブルで多
機能性を備えた優れた機能調整方法を提供できる
ものである。
離散ピツチをもつて配列された複数の値を持つ電
気素子で構成される標準計測素子と、被調整電気
回路基板の機能出力端に出力される出力値を目標
値とするのに最適な標準計測素子を決定する最適
素子選択装置とを有した計測体を備え、被調整電
気回路基板上に標準計測素子を接続する機能調整
部と被調整電気回路基板の出力値の精度を調整す
る精度調整用電気素子と出力値の大きさを目標値
に調整する出力調整用電気素子とを設け、出力値
が所望の精度になるように精度調整用電気素子と
出力調整用電気素子とを設定し、計測体において
機能調整部に標準計測素子を接続すると共に被調
整電気回路基板の機能出力端からの出力を計測し
てその出力値が目標値になるのに最適な標準計測
素子を選択し、選択された標準計測素子と同一の
値の電気素子を機能調整部に実装するので、あら
かじめ用意された標準計測素子は有限個であつて
も精度調整用電気素子によつて被調整電気回路基
板の出力値の精度を必要に応じて調整して機能調
整することができ、しかも、個別素子は機械的変
形（切断、削除等）を受けず実装できるので、信
頼性を高くする効果があり、さらに個別素子とし
て抵抗素子のみならずコンデンサ、インダクンス
などにも適用することができるフレキシブルで多
機能性を備えた優れた機能調整方法を提供できる
ものである。
第１図は従来の機能調整方法におけるブロツク
図、第２図は本発明の機能調整方法の全体ブロツ
ク図である。 ４……計測体、５……実装体、６……標準計測
用抵抗、７……最適素子選択装置、８……スイツ
チ、９……電気回路基板、１０……機能出力端、
１１……機能調整部。
図、第２図は本発明の機能調整方法の全体ブロツ
ク図である。 ４……計測体、５……実装体、６……標準計測
用抵抗、７……最適素子選択装置、８……スイツ
チ、９……電気回路基板、１０……機能出力端、
１１……機能調整部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 有限個に限定されたある一定の離散ピツチを
もつて配列された複数の値を持つ電気素子で構成
される標準計測素子と、被調整電気回路基板の機
能出力端に出力される出力値を目標値とするのに
最適な前記標準計測素子を決定する最適素子選択
装置とを有した計測体を備え、前記被調整電気回
路基板上に前記標準計測素子を接続する機能調整
部と前記出力値の精度を調整する精度調整用電気
素子と前記出力値の大きさを前記目標値に調整す
る出力調整用電気素子とを設け、前記出力値が所
望の精度になるように前記精度調整電気素子と前
記出力調整用電気素子とを設定し、前記計測体を
おいて前記機能調整部に前記標準計測素子を接続
すると共に前記被調整電気回路基板の機能出力端
からの出力を計測してその出力が前記目標値にな
るのに最適な前記標準計測素子を選択し、選択さ
れた標準計測素子と同一の値の電気素子を前記機
能調整部に実装することを特徴とする機能調整方
法。 ２ 有限個に限定されたある一定の離散ピツチを
もつて配列された複数の値をもつ電気素子が、抵
抗素子であることを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の機能調整方法。 ３ 有限個に限定されたある一定の離散ピツチを
もつて配列された複数の値を持つ電気素子が、コ
ンデンサ素子であることを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の機能調整方法。 ４ 有限個に限定されたある一定の離散ピツチを
もつて配列された複数の値を持つ電気素子が、イ
ンダクタンス素子であることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の機能調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58159427A JPS6052100A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 機能調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58159427A JPS6052100A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 機能調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6052100A JPS6052100A (ja) | 1985-03-23 |
| JPH0480560B2 true JPH0480560B2 (ja) | 1992-12-18 |
Family
ID=15693503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58159427A Granted JPS6052100A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | 機能調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6052100A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5130965A (ja) * | 1974-09-09 | 1976-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Atsumakushusekikairo no seizohoho |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5882678U (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | インピ−ダンス値決定装置 |
-
1983
- 1983-08-31 JP JP58159427A patent/JPS6052100A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5130965A (ja) * | 1974-09-09 | 1976-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Atsumakushusekikairo no seizohoho |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6052100A (ja) | 1985-03-23 |
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