JPH0468444A

JPH0468444A - 試験装置

Info

Publication number: JPH0468444A
Application number: JP2180636A
Authority: JP
Inventors: Hiroyasu Ichikawa; 博康市川
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1990-07-10
Filing date: 1990-07-10
Publication date: 1992-03-04

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概　要〕情報処理システムを構成する装置を診断する試験装置に
関し、診断結果の内容を解析して、異常箇所（不良部品）を指
摘する機能を提供することを目的とし、動作経路に複数
の部品が含まれる試験回路を形成せしめて、該試験回路
中の部品の組合せの異なるものごとに、異なる試験番号
を付与する手段と、上記試験番号ごとに、試験を行なっ
た結果の良否を判定して、その結果を記憶する手段と、
試験結果が良であった試験番号と、試験結果が否であっ
た試験番号との、それぞれの試験回路中の部品の組合せ
に基づいて、不良部品を特定する手段と、上記手段によ
り特定した不良部品をディスプレイ装置の画面に表示す
る等の出力手段を設けることにより構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、情報処理装置の診断に関し、特にその診断結
果に基づいて、不良部品を検出することの可能な手段に
係る。

〔従来の技術〕

従来、情報処理装置の装置の量産試験や、保守等を行な
う場合、これらを行なう者（以下保守者等とも言う）は
、試験装置による診断の実行結果として、ディスプレイ
装置に表示または、プリンタ装置に印刷（以下出力と言
う）された試験結果の情報（試験番号、試験対象アドレ
ス、期待データ、結果データ）を元にして装置の正常性
の判定を行ない、若し、それが異常であるときは調査を
行ない、異常箇所を探し出して、部品の交換等を行ない
装置が正常に動作回復するようにしていた。

この時、出力された情報から装置の異常箇所を探し出す
ためには、装置に関する知識の他に試験内容、試験手順
等の詳細な知識が必要である。従って、迅速な修理作業
を行なうためには、保守者等は、これらの内容について
熟知している必要がある。しかし、保守現場等では、そ
れは、かなり困難なことである。現実には、出力された
情報を元にその情報がどのような診断の結果として出力
されたのか、およびその後行なうべき試験に関する内容
手順等を調べてから、これに基づいて、装置の調査を行
なって異常箇所を探し出すと言うような方法を採らざる
を得なかった。そのため１、装置で異常が検出されてか
ら異常箇所を検出するための切り分は探索、異常部品の
交換までに多くの時間が掛かっていた。従って、装置の
稼動率を悪くする原因になっていた。

〔発明が解決しようとする課題］上述したように、従来の装置の診断を行なう試験装置は
、装置の異常を検出したときでも、試験結果の情報（例
えば、試験番号、試験対象アドレス、期待データ、結果
データ等）を出力するに止まっていた。従って、保守者
等は、該試験結果の情報を元に知識と経験に基づき、ま
たは、試験手順等を調べて故障箇所の探索を行なう必要
があったので障害回復に多大の時間を要すると言う問題
点があった。

本発明は、このような従来の問題点に鑑み診断装置で自
動的に異常内容の解析を行なわしめ異常箇所（不良部品
）を指摘させることの可能な手段を提供することを目的
としている。

〔課題を解決するための手段〕

本発明によれば、上述の目的は、前記特許請求の範囲に
記載した手段により達成される。

すなわち、本発明は情報処理システムを構成する装置を
診断する試験装置であって、動作経路に複数の部品が含
まれる試験回路を形成せしめて、該試験回路中の部品の
組合せの異なるものごとに、異なる試験番号を付与する
手段と、上記試験番号ごとに、試験を行なった結果の良
否を判定して、その結果を記憶する手段と、試験結果が
良であった試験番号と、試験結果が否であった試験番号
との、それぞれの試験回路中の部品の組合せに基づいて
、不良部品を特定する手段と、上記手段により特定した
不良部品をディスプレイ装置の画面に表示するか、ある
いは、プリンタから印刷物として出力する手段を設けた
試験装置である。

〔作　用〕

本発明は、情報処理システムを構成する装置を診断する
試験装置であって、動作経路にある回路部品を異なった
組合せで試験を行ない、その結果を基に不良部品を特定
しその結果を出力するものである。

第１図は本発明の詳細な説明する図である。同図（ａ）
は、動作経路中の回路部品を異なった組合せごとに異な
った試験番号を付与し試験を行なうパターンの一例を示
している。試験内容の項は、回路部品Ａ−Ｆの試験組合
せを示し、それぞれの異なった組合せに試験番号１〜５
を付与し、また、各試験番号ごとの対象部品の項は試験
対象となる部品を“１”とし、対象とならない部品を“
０”として表示している。同図（ｂｌは、（ａ）の対象
部品の項を１６進表示し、結果を記録する領域を設け、
初期値を“００”としたテーブルを示すも、のである。

（Ｃ）は、本試験装置により（ｂｌで示したテーブルを
基に各試験番号ごとに試験を実施し、試験結果の「良」
　「否」を結果に書き込んだ例である。

（ｄｌは、（ＣＩの結果から本試験装置により、正常部
品（結果が良のもの、例では番号１．３．４）を抽出し
たもので、合計欄は、対象部品を各試験番号ごとの論理
和で集計したものである。（ｅ）は、（Ｃ）の結果から
本試験装置により、異常部品（結果が否のもの、例では
番号２，５）を抽出したもので合計欄は対象部品を各試
験番号ごとの論理和で集計したものである。

（ｆ）は、本試験装置により、（ｄｌに示す正常部品集
計の合計と、（ｅ）に示す異常部品集計の合計を比較し
、異常部品集計の合計に含まれ、正常部品集計の合計に
含まれていない回路部品を抽出する。この抽出により、
不良部品が特定できる（この例では、回路部品Ｃが不良
であることを示している）。

上記により特定した不良部品をディスプレイ装置の画面
に表示するか、あるいは、プリンタから印刷物として出
力する。これにより保守者等は異常箇所を直接認識し得
るので不良部品を直ちに交換することができるから、装
置の稼動効率が向上する。

〔実施例〕

第２図は本発明の一実施例を示すブロック図であって、
■は試験装置、２は被試験装置の一部を示しており、３
はＣＰＵ　、　　４はメモリ、５はメモリ上にロードし
た試験プログラム、６は外部記憶、７は表示装置、８は
印刷装置、９．１０はインタフェース部、１１〜１６は
回路部品Ａ〜回路部品Ｆを表わしている。

同図において、試験装置１は、メモリ４内にロードした
試験プログラム５を実行することにより被試験装置２を
診断し、該試験装置２内の故障部品を特定する。

該試験プログラム５の構造を第３図に示す。同図におい
て（ａ）は試験プログラム全体の構造を示しており、（
ｂ）はプログラム内の異常箇所指摘部の詳しい構造を示
している。同図に示すように、試験プログラム１８は、
制御部１９、装置試験部２０、試験項目テーブル２１、
異常箇所指摘部２２および表示・印刷機構２３とから構
成される。制御部１９は、試験の実行制御を行ない、制
御部１９は試験項目テーブルの試験番号を参照し、試験
番号に従い装置試験部２０の試験を実行する。装置試験
部２０では、試験の結果を制御部１９を介して、試験項
目テーブルへ記録する。異常箇所指摘部２２は、試験項
目テーブルの全ての試験結果を基に（ｂ）に示す異常箇
所指摘部２２の処理により異常箇所（不良部品）を指摘
する。

第４図は試験項目テーブルの例を示す図である。

試験項目テーブルは同図（ａ）に示すような試験番号ご
との試験内容（各回路部品の組合せを定め、試験の対象
となる部品を“１”とし、試験の対象とならない部品を
“０”として、試験番号に対応されて配列した表）を整
理した同図（ｂ）に示すものが用いられる。ここでは対
象部品の欄は同図（ａ）に示された“１”、“０”表示
を１６進数としている。

また結果の欄は初期値として“００”が設定される。

第５図は実施例の試験装置の制御を示す流れ図である。

第６図は試験結果の例を示す図である。

以下第２図〜第６図を用いて本実施例の動作について説
明する。

■　制御部１９は試験項目テーブル２１を参照し、各試
験番号に対応する試験を装置試験部２０へ実行させる。

■　装置試験部２０は試験の終了結果の良否を制御部１
９に連絡する。

■　制御部１９では■の結果を試験項目テーブルの結果
欄に書き込む。

■　同様にして試験項目テーブル２１の試験項目を全部
実行する。（試験結果は第６図（ａ）のようになる。） ■　制御部１９は試験項目テーブルの結果を参照して「
否」の試験があるかどうか調べる「否」の試験がある場
合は異常箇所指摘部２２に制御を移す（例では第６図Ｚ
ａ）の番号３，７．９．１１が否である）。

■　異常箇所指摘部２２では試験項目テーブル読み取り
機構２２−１により試験項目テーブル２１を参照し、試
験結果判断機構２２−２により各試験結果の良否を判断
し、「良」の対象部品を正常部品集計機構２２−３で集
計し、「否」の対象部品を異常部品集計機構２２−４で
集計する。

この集計は、先に説明した第１図（ｄ）、ｔｅｌの場合
と同じ手順で行ない、試験結果の第６図（ａｌを基にし
たとき、正常部品集計結果は、第６図（′ｂ）に示すよ
うになり異常部品集計結果は第６図（Ｃ）に示すような
る。

■　異常部品指摘機構２２−５では、正常部品集計機構
での集計結果（第６図（ｂ））の合計欄の内容と、異常
部品集計機構での集計結果第６図（Ｃ１の合計欄の内容
と比較して、異常部品集計結果に含まれ正常部品集計結
果に含まれていない部品を探し出し、第６図（ｄ）のよ
うな形に整理する。第６図ｆｄ）によれば部品Ｃが不良
（異常）であることが明確となる。

■　上記■で選び出された不良（異常）と思われる部品
名と、試験結果表（第６図（ａ））を表示・印刷機構２
３が表示装置７の画面に表示し、また必要に応じて印刷
装置８によってハードコピーを出力する。

以上、実施例として本発明による試験装置を用いて被試
験装置を試験する場合について説明したが、本発明は、
また、被試験装置自身が診断プログラムを実行し得る構
成を有している場合には、該被試験装置自身が自己の回
路の内部診断を行なう場合にも適用できる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、装置が異常となっ
たとき、その診断結果から、異常箇所（不良部品）の指
摘が自動的に行なわれるので、従来のように保守者の知
識と経験に顧る調査などを必要としなくなるから、障害
発生から部品の交換までの時間が大巾に短縮される利点
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の詳細な説明する図、第２図は本発明の
一実施例を示すブロック図、第３図は試験プログラムの
構造を示す図、第４図は試験項目テーブルの例を示す図
、第５図は実施例の試験装置の制御を示す流れ図、第６
図は試験結果の例を示す図である。１・・・試験装置、２・・・被試験装置、３・・・ＣＰ
Ｕ　、４・・・メモリ、５・・・試験プログラム、６・
・・外部記憶、７・・・表示装置、８・・・印刷装置、
９．１０・・・インタフェース部、１１〜１６・・・回
路部品、１９・・・制御部、２０・・・装置試験部、２
１・・・試験項目テーブル、２２・・・異常箇所指摘部
、２２−１・・・試験項目テーブル読み取り機構、２２
−２・・・試験結果判断機構、２２−３・・・正常部品
集計機構、２２−４・・・異常部品指摘機構、２２−５
・・・異常部品指摘機構、２３・・・表示印刷・機構。ホ、免朗の原理を説明する図第１０（づの／）代理人　弁理士　　本　間　　　崇（ｆ）本発明の原理を説朗する図第図（イの鼻式検プログラムの構造を示す図沸図（ｂ）正哨１舌６ゲー帆言十ＮＥ、＃のｊ（寥ｎ占果試験誌果
表（ＣＬ）イ列を示す図第６図（イの１）

Claims

【特許請求の範囲】情報処理システムを構成する装置を診断する試験装置で
あって、動作経路に複数の部品が含まれる試験回路を形成せしめ
て、該試験回路中に含まれる部品の組合せの異なるもの
ごとに、異なる試験番号を付与する手段と、上記試験番号ごとに、試験を行なった結果の良否を判定
して、その結果を記憶する手段と、試験結果が良であっ
た試験番号と、試験番号が否であった試験番号との、そ
れぞれの試験回路中の部品の組合せに基づいて、不良部
品を特定する手段と、上記手段により特定した不良部品をディスプレイ装置の
画面に表示するか、あるいは、プリンタから印刷物とし
て出力する手段を設けたことを特徴とする試験装置。