JPH0468296A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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Publication number
JPH0468296A
JPH0468296A JP18188390A JP18188390A JPH0468296A JP H0468296 A JPH0468296 A JP H0468296A JP 18188390 A JP18188390 A JP 18188390A JP 18188390 A JP18188390 A JP 18188390A JP H0468296 A JPH0468296 A JP H0468296A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heater
sic
core tube
base material
ring
Prior art date
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Pending
Application number
JP18188390A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Hasegawa
長谷川 斉
Takeshi Yamazaki
健 山崎
Tadayoshi Yoshikawa
忠義 吉川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Fujitsu Integrated Microtechnology Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Fujitsu Integrated Microtechnology Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0468296A publication Critical patent/JPH0468296A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 半導体基板等の熱処理に用いられる炉の加熱用ヒータに
関し。
熱処理炉内にある半導体基板への金属汚染を防止したヒ
ータを提供することを目的とし。
1)所定形状に成型された基材上に炭化珪素(SiC)
を被覆したヒータを炉芯管の外側に設けてなるように構
成する。
2)前記基材が炭素または炭素繊維であるように構成す
る。
3)前記ヒータが、前記基材が消滅されて炭化珪素の被
覆のみからなるように構成する。
4)前記ヒータが、炉芯管を取り巻きかつ一部欠けたリ
ング状をなし、複数個が連結されて構成する。
5)前記ヒータが、炉芯管の回りを蛇行して取り巻くよ
うに成型されているように構成する。
(産業上の利用分野〕 本発明は半導体製造装置に係り、とくに半導体基板等の
熱処理に用いられる炉の加熱用ヒータに関する。
(従来の技術〕 半導体基板のアニール等の熱処理炉の従来の加熱用ヒー
タに、鉄やアルミニウム等の数種類の金属の合金を用い
た電熱線(商品名 カンタル線)が主として用いられて
いた。
〔発明が解決しようとする課題〕
半導体基板中にイオン注入された不純物の活性化アニー
ルや不純物の熱拡散のために、 1200°C以上の高
温で長時間のアニール工程が必要な工程がある。
従来の石英製炉芯管を用いた熱処理炉では、このような
高温アニールを行った場合9次のような問題を生じてい
た。
(1)高温により炉芯管の素材の石英が失透し、ヒータ
を構成する金属元素がヒータから遊離して炉芯管を透過
して内部の半導体基板を汚染する。
(2)熱によりヒータ線が変形する。
従来の石英製炉芯管に対し、気相成長による炭化珪素(
CVD 5iC)製炉芯管を用いることが考えられる。
CVD SiCは、高温における金属の拡散係数が極め
て小さいために、透過しようとする金属元素を実質的に
遮断することができるので、半導体基板の金属汚染を防
止することができる。
しかし、 CVD SiCにより炉芯管を製造すること
は、技術的に難しくかつコストも高くつく。
本発明は熱処理炉内にある半導体基板への金属汚染を防
止したヒータを提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題の解決は。
1)所定形状に成型された基材上に炭化珪素(SiC)
を被覆したヒータを炉芯管の外側に設けてなる半導体製
造装置、あるいは 2)前記基材が炭素または炭素繊維である前記工)記載
の半導体製造装置、あるいは 3)前記ヒータが、前記基材が消滅されて炭化珪素の被
覆のみからなる前記1)または2)記載の半導体製造装
置、あるいは 4)前記ヒータが、炉芯管を取り巻きかつ一部欠けたリ
ング状をなし、複数個が連結されて構成されている前記
l)または2)または3)記載の半導体製造装置、ある
いは 5)前記ヒータが、炉芯管の回りを蛇行して取り巻くよ
うに成型されている前記1)または2)または3)記載
の半導体製造装置によって達成される。
〔作用〕
本発明はCVD SiC自体を電熱線に用いたヒータを
使用することで金属汚染を防止するようにしたものであ
る。
CVD SiCは、導電性を持ち、その電気抵抗は通常
の電熱線のニクロム(Ni−Cr)とほぼ同じ値である
ので電熱線として使用が可能である。
また、 CVD SiCは加熱されても当然金属元素を
発生しない。
また、 CVD SiCは耐熱性に優れているから、ヒ
ータ線の変形が防止できる。
CVD SiCによるヒータ線の作製方法は、炉芯管を
囲むような形状に、炭素8または線状に束ねたもしくは
コイル状に巻いた炭素繊維を成型して基材とし、その表
面上にCVD法によりSiCを成長する。
SiC成長後、高温酸素雰囲気中で炭素基材を炭酸ガス
(CO2)として除去してもよい。
〔実施例) 第1図(a)〜(d)は本発明の一実施例を説明する図
である。
この例のCVD SiCヒータ線1は第1図(a)に示
されるような一部を欠いたリング(発熱体単体)である
これらのリングlは第1図[有])または(C)に示さ
れるような連結体2で連結されて、第1図(d)に示さ
れるように石英炉芯管4の回りに保持される。
リング1はリング状に成型された前記の炭素基材の上に
CVD SiCを厚さ約200〜300μm被覆して形
成する。
SiC(7)CVD条件は1反応ガスとしてCH3Si
Cl3を用い、これを150 Torrに減圧した雰囲
気中で。
基材温度を1100″Cに保持して行う。
また、炭素基材の成型は1例えば次のようにして行う。
炭素棒を機械加工して削り出して成型したり。
金型に炭素または炭素繊維をつめ、圧し固めて炭素機材
を成型する。
連結体2は導電性と耐熱性を持つ材料1例えばヒータと
同様にCVD SiCで被覆した炭素や、セラミックS
iCやポリシリコンで作製される。
この連結体2を配置するピッチや、リング1の連結数を
変えることにより、炉芯管上のヒータゾーンの大きさや
ヒータ線の密度を自由に変えることができ、また、ヒー
タ線の交換等の補修も容品である。
第2図は本発明の他の実施例を説明する図である。
この例は、炉芯管4の回りを蛇行して取り巻くように成
型されているCVD SiCヒータ線1を用いている。
〔発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、熱処理炉内にある
半導体基板への金属汚染を防止したヒータが得られた。
この結果、高温アニール時のヒータ線を発生源とする金
属元素による半導体基板の汚染が防止され、半導体装置
の品質と製造歩留の向上に寄与することができた。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(d)は本発明の一実施例を説明する図
。 第2図は本発明の他の実施例を説明する図である。 図において。 ■はCVD5iCE:一夕線。 2.3は連結体。 4は石英炉芯管 (CL) (し) (C) (’d) 夫斃例の説明図 箔1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)所定形状に成型された基材上に炭化珪素(SiC)
    を被覆したヒータを炉芯管の外側に設けてなることを特
    徴とする半導体製造装置。 2)前記基材が炭素または炭素繊維であることを特徴と
    する請求項1記載の半導体製造装置。 3)前記ヒータが、前記基材が消滅されて炭化珪素の被
    覆のみからなることを特徴とする請求項1または2記載
    の半導体製造装置。 4)前記ヒータが、炉芯管を取り巻きかつ一部欠けたリ
    ング状をなし、複数個が連結されて構成されていること
    を特徴とする請求項1または2または3記載の半導体製
    造装置。 5)前記ヒータが、炉芯管の回りを蛇行して取り巻くよ
    うに成型されていることを特徴とする請求項1または2
    または3記載の半導体製造装置。
JP18188390A 1990-07-09 1990-07-09 半導体製造装置 Pending JPH0468296A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5527890A (en) * 1993-04-16 1996-06-18 Glycomed Incorporated Derivatives of triterpenoid acids and uses thereof
JP2018195425A (ja) * 2017-05-16 2018-12-06 イビデン株式会社 抵抗発熱体

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