JPH046372B2 - - Google Patents
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- JPH046372B2 JPH046372B2 JP61065332A JP6533286A JPH046372B2 JP H046372 B2 JPH046372 B2 JP H046372B2 JP 61065332 A JP61065332 A JP 61065332A JP 6533286 A JP6533286 A JP 6533286A JP H046372 B2 JPH046372 B2 JP H046372B2
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Surgery (AREA)
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- Veterinary Medicine (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、被検体の同一断面上における多方面
からの放射線投影データを収集する放射線断層撮
像装置におけるスキヤンデータ収集方法に関し、
更に詳しくは、被検体の回り一周当りＮ・Ｍ−１
（Ｎ及びＭは正の整数）個のサンプリング点を設
け、該サンプリング点上をＭ−１個飛ばしながら
一周するスキヤンを連続してＭ回行い、全てのサ
ンプリング点における投影データを収集する方法
に関する。
からの放射線投影データを収集する放射線断層撮
像装置におけるスキヤンデータ収集方法に関し、
更に詳しくは、被検体の回り一周当りＮ・Ｍ−１
（Ｎ及びＭは正の整数）個のサンプリング点を設
け、該サンプリング点上をＭ−１個飛ばしながら
一周するスキヤンを連続してＭ回行い、全てのサ
ンプリング点における投影データを収集する方法
に関する。
（従来の技術）
従来から、放射線、例えばＸ線を多数の角度方
向から被検体にスキヤン照射してその投影データ
を収集し、これらの投影データからコンピユータ
による演算処理によつて被検体の各部のＸ線吸収
分布を求め、被検体の断層像を再構成するＸ線断
層撮像装置（以下、CT装置という）はよく知ら
れている。
向から被検体にスキヤン照射してその投影データ
を収集し、これらの投影データからコンピユータ
による演算処理によつて被検体の各部のＸ線吸収
分布を求め、被検体の断層像を再構成するＸ線断
層撮像装置（以下、CT装置という）はよく知ら
れている。
第７図は、このようなCT装置の要部を示す構
成図である。第７図において、Ｘ線管１と検出器
２は、撮影領域３を挟んで対向設置される（Ｘ線
管、検出器等を支持しスキヤナ本体を構成する機
構部を一般にガントリーと言う）。又、Ｘ線管１
と検出器２は、ガントリーコントローラ（図示せ
ず）の制御下で、撮影領域３の略中央に設置され
る被検体４を中心として、被検体４の周囲を１回
転毎に回転方向を反転させながら回転する構成と
なつている。検出器２は、Ｘ線管１に対向する側
に円弧状を形成して配列する数百チヤネルの検出
素子群を備え、Ｘ線管１から撮影領域３を包含し
て照射されるフアンビーム５（投影データ）を検
出する。データ収集ユニツト６は、検出器２の検
出信号（アナログ信号）を所定期間積分しそれを
所定のタイミングで取込む手段、取込まれた信号
を増幅する手段、該手段の出力信号をデイジタル
信号に変換して定められた速度で次段に転送する
手段等を備えている。コンピユータ７はデータ収
集ユニツト６から転送される信号を格納する手
段、格納されたデータを用いて高速で画像再構成
演算をする手段、演算結果に基づいてCRT８に
画像表示する手段、キーボード９からの信号に基
づいて各部に所定の信号を送出する手段等を備え
ている。
成図である。第７図において、Ｘ線管１と検出器
２は、撮影領域３を挟んで対向設置される（Ｘ線
管、検出器等を支持しスキヤナ本体を構成する機
構部を一般にガントリーと言う）。又、Ｘ線管１
と検出器２は、ガントリーコントローラ（図示せ
ず）の制御下で、撮影領域３の略中央に設置され
る被検体４を中心として、被検体４の周囲を１回
転毎に回転方向を反転させながら回転する構成と
なつている。検出器２は、Ｘ線管１に対向する側
に円弧状を形成して配列する数百チヤネルの検出
素子群を備え、Ｘ線管１から撮影領域３を包含し
て照射されるフアンビーム５（投影データ）を検
出する。データ収集ユニツト６は、検出器２の検
出信号（アナログ信号）を所定期間積分しそれを
所定のタイミングで取込む手段、取込まれた信号
を増幅する手段、該手段の出力信号をデイジタル
信号に変換して定められた速度で次段に転送する
手段等を備えている。コンピユータ７はデータ収
集ユニツト６から転送される信号を格納する手
段、格納されたデータを用いて高速で画像再構成
演算をする手段、演算結果に基づいてCRT８に
画像表示する手段、キーボード９からの信号に基
づいて各部に所定の信号を送出する手段等を備え
ている。
以上の構成において、CT装置は、Ｘ線管１と
検出器２を一体的に所定の方向、例えば、CW
（時計方向）に回転させながら（ガントリーを回
転させながら）、予め定めるスライス面のサンプ
リング点（ビユー数に対応）にて被検体４にＸ線
を照射しその投影データを収集する。この投影デ
ータの収集に当つては、基準角度位置P0までの
助走区間においてガントリーの加速を終了する。
そして、Ｘ線管１が基準角度位置P0を通過する
時点から投影データの収集を開始してオーバラツ
プ区間までスキヤンを続け、各サンプリング点に
おける１回転目の投影データの収集を終了する。
このスキヤンにおけるガントリーの回転角度は、
助走区間に対応する角度及び回転を停止するまで
の区間に対応する角度、即ち、加減速区間の角度
とオーバラツプ区間に対応する角度に360゜を加え
た角度となる。次に、スライス面を変えてガント
リーの回転方向をCCW（反時計方向）にし、上記
スキヤンにおけると同じ角度の回転を与え所定の
区間で投影データを収集する。以下、スライス面
の数だけ上記動作を繰返し所望の投影データを収
集する。
検出器２を一体的に所定の方向、例えば、CW
（時計方向）に回転させながら（ガントリーを回
転させながら）、予め定めるスライス面のサンプ
リング点（ビユー数に対応）にて被検体４にＸ線
を照射しその投影データを収集する。この投影デ
ータの収集に当つては、基準角度位置P0までの
助走区間においてガントリーの加速を終了する。
そして、Ｘ線管１が基準角度位置P0を通過する
時点から投影データの収集を開始してオーバラツ
プ区間までスキヤンを続け、各サンプリング点に
おける１回転目の投影データの収集を終了する。
このスキヤンにおけるガントリーの回転角度は、
助走区間に対応する角度及び回転を停止するまで
の区間に対応する角度、即ち、加減速区間の角度
とオーバラツプ区間に対応する角度に360゜を加え
た角度となる。次に、スライス面を変えてガント
リーの回転方向をCCW（反時計方向）にし、上記
スキヤンにおけると同じ角度の回転を与え所定の
区間で投影データを収集する。以下、スライス面
の数だけ上記動作を繰返し所望の投影データを収
集する。
これが一般的なスキヤンデータの収集方法であ
るが、コンピユータ７で画像再構成しCRT８で
表示する画像の質を高めるために、以下の方法で
スキヤンデータの収集が行われる場合がある。例
えば、同一のスライス面でスキヤンを２回し、そ
れに基づく画像を加算平均処理をして表示する。
これにより、２倍の被曝線量（dose）相当の
Ｓ／Ｎが得られ画質の向上が実現される。又、同
一のスライス面でビユーインタレースしながら
CWスキヤンとCCWスキヤンを行い、これに基
づく投影データで画像再構成する。即ち、ビユー
インタレースは、第８図に示すように、CWスキ
ヤンのときにサンプリング点X1，X3，…，X15
（添字が奇数番号の点）にて、又、CCWスキヤン
のときにサンプリング点X2，X4，…，X16（添字
が偶数番号の点）にて夫々投影データを収集す
る。このようなビユーインタレースによれば、ビ
ユー不足によるアーテイフアクトを減少させ画質
の向上を図ることができる。
るが、コンピユータ７で画像再構成しCRT８で
表示する画像の質を高めるために、以下の方法で
スキヤンデータの収集が行われる場合がある。例
えば、同一のスライス面でスキヤンを２回し、そ
れに基づく画像を加算平均処理をして表示する。
これにより、２倍の被曝線量（dose）相当の
Ｓ／Ｎが得られ画質の向上が実現される。又、同
一のスライス面でビユーインタレースしながら
CWスキヤンとCCWスキヤンを行い、これに基
づく投影データで画像再構成する。即ち、ビユー
インタレースは、第８図に示すように、CWスキ
ヤンのときにサンプリング点X1，X3，…，X15
（添字が奇数番号の点）にて、又、CCWスキヤン
のときにサンプリング点X2，X4，…，X16（添字
が偶数番号の点）にて夫々投影データを収集す
る。このようなビユーインタレースによれば、ビ
ユー不足によるアーテイフアクトを減少させ画質
の向上を図ることができる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、従来のCT装置の画質向上のためのス
キヤンデータの収集方法にあつては、ガントリー
の回転制御方法が複雑になる（一定でない）とい
う問題がある。又、CWスキヤンとCCWスキヤ
ンの切換えに伴うスキヤンインターバルが存在す
るので分解能が低下する恐れがある。
キヤンデータの収集方法にあつては、ガントリー
の回転制御方法が複雑になる（一定でない）とい
う問題がある。又、CWスキヤンとCCWスキヤ
ンの切換えに伴うスキヤンインターバルが存在す
るので分解能が低下する恐れがある。
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、ガントリーの回転制御系を複雑
にしないでビユー数の増加を可能とし、もつて画
質を向上させることのできるスキヤンデータ収集
方法を提供することにある。
り、その目的は、ガントリーの回転制御系を複雑
にしないでビユー数の増加を可能とし、もつて画
質を向上させることのできるスキヤンデータ収集
方法を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成する本発明のCT装置における
スキヤンデータ収集方法は、被検体の回り一周当
りＮ・Ｍ−１個のサンプリング点を設け、該サン
プリング点上をＭ−１個飛ばしながら一周するス
キヤンを連続してＭ回行い、全てのサンプリング
点における投影データを収集するようになつてい
る。
スキヤンデータ収集方法は、被検体の回り一周当
りＮ・Ｍ−１個のサンプリング点を設け、該サン
プリング点上をＭ−１個飛ばしながら一周するス
キヤンを連続してＭ回行い、全てのサンプリング
点における投影データを収集するようになつてい
る。
（実施例）
以下、図面を参照し本発明について詳細に説明
する。
する。
第１図は、本発明を実施するためのCT装置の
要部を示す構成図である。第１図において、第７
図と同一符号は同一意味で用いられている。連続
Ｘ線（連続フアンビーム）を発生するＸ線管１と
検出器２は、撮影領域３を挟んでガントリーの架
台（図示せず）に設置されている。又、これらと
一体的にロータリエンコーダ１１のマーカ素子群
１７がＮ・Ｍ−１個設置されている。ガントリー
（Ｘ線管、マーカ素子群等）は、ガントリーコン
トローラ（図示せず）の制御下で、撮影領域３
（被検体）の回りを所定の方向に連続して少なく
ともＭ回転する。このときの回転位置は非回転状
態で設置されるマーカ検出器１３によつて検出さ
れる。尚、マーカ素子群１２中に、Ｘ線管１及び
検出器２の回転基準位置（データ収集の開始点を
決める位置）を検出するための絶対位置マーカ素
子１４が定められている。マーカ検出器１３の出
力信号（回転位置信号）は、分周回路１５に入力
され分周された後、サンプリング指令信号として
データ収集ユニツト６に与えられる。データ収集
ユニツト６は、サンプリング指令信号に同期して
検出器２から投影データを取込み、所定の処理を
した後コンピユータ７に転送する。分周回路１５
には、キーボード９で設定される分周率やスキヤ
ンスタート信号がコンピユータ７を介して与えら
れる。
要部を示す構成図である。第１図において、第７
図と同一符号は同一意味で用いられている。連続
Ｘ線（連続フアンビーム）を発生するＸ線管１と
検出器２は、撮影領域３を挟んでガントリーの架
台（図示せず）に設置されている。又、これらと
一体的にロータリエンコーダ１１のマーカ素子群
１７がＮ・Ｍ−１個設置されている。ガントリー
（Ｘ線管、マーカ素子群等）は、ガントリーコン
トローラ（図示せず）の制御下で、撮影領域３
（被検体）の回りを所定の方向に連続して少なく
ともＭ回転する。このときの回転位置は非回転状
態で設置されるマーカ検出器１３によつて検出さ
れる。尚、マーカ素子群１２中に、Ｘ線管１及び
検出器２の回転基準位置（データ収集の開始点を
決める位置）を検出するための絶対位置マーカ素
子１４が定められている。マーカ検出器１３の出
力信号（回転位置信号）は、分周回路１５に入力
され分周された後、サンプリング指令信号として
データ収集ユニツト６に与えられる。データ収集
ユニツト６は、サンプリング指令信号に同期して
検出器２から投影データを取込み、所定の処理を
した後コンピユータ７に転送する。分周回路１５
には、キーボード９で設定される分周率やスキヤ
ンスタート信号がコンピユータ７を介して与えら
れる。
次に、上記構成のCT装置におけるスキヤンデ
ータの収集方法について説明する。いま、説明の
都合上、Ｎ＝８、Ｍ＝２及び分周回路１５の分周
率を1/2とする。これは、マーカ素子１２の数が
15個（以下、素子をM1，M2，…，M15という）、
即ち、ビユーの数が15で、ビユーを１個飛ばしな
がら２周するデータ収集が行われることを意味す
る。尚、絶対位置マーカ素子１５はマーカ素子
M1に一致している。
ータの収集方法について説明する。いま、説明の
都合上、Ｎ＝８、Ｍ＝２及び分周回路１５の分周
率を1/2とする。これは、マーカ素子１２の数が
15個（以下、素子をM1，M2，…，M15という）、
即ち、ビユーの数が15で、ビユーを１個飛ばしな
がら２周するデータ収集が行われることを意味す
る。尚、絶対位置マーカ素子１５はマーカ素子
M1に一致している。
スキヤンデータを１スライス面から収集するシ
ーケンスでスキヤン状態に入ると、所定時間内に
Ｘ線管１は安定した連続Ｘ線を発生する。又、ガ
ントリーは、ガントリーコントローラの制御によ
り、例えば、CW方向で所定時間内に一定速度に
達し、その回転速度で少なくとも連続２回転す
る。このときマーカ検出器１３から第２図ａに示
すように、マーカ素子M1，M2，…，M15による
回転位置信号P1，P2，…，P15，P1，P2，…，
P15が出力される。又、第２図ｂに示すように、
分周回路１５からは回転位置信号P1，P3，…，
P15，P2，P4，…，P14に対応してサンプリング指
令信号S1，S3，…，S15，S2，S4，…，S14が出力
される。データ収集ユニツト６は、第２図ｃに示
すようにサンプリング指令信号S1，S3，…，S15，
S2，S4，…，S14で決定されるサンプリング点
X1，X3，…，X15，X2，X4，…，X14にて投影デ
ータを取込む。このときのサンプリング点X1，
X3，…，X15，X2，X4，…，X14をガントリーの
回転方向に沿つて模式図的に示すと第３図に示す
ようにX1，X2，X3，…，X14，X15の配列とな
る。この図から明らかなように、上記サンプリン
グ指令信号によるデータ収集は、ガントリーの１
回転目で、15個のサンプリング点X1，X2，…，
X15を１点飛ばしながら行われ（インターレース
され）、２回転目には、１回転目にデータ収集し
たサンプリング点同士の間に位置するサンプリン
グ点にてデータ収集が行われる（インターリーブ
される）。この２回転するスキヤンにより予定さ
れたサンプリング点全てについてデータ収集が終
了する。即ち、15個のビユー数でビユーを１個飛
ばしながら投影データを収集する場合には、ガン
トリーを連続２回転させることにより１スライス
面のデータ収集を終えることができる。
ーケンスでスキヤン状態に入ると、所定時間内に
Ｘ線管１は安定した連続Ｘ線を発生する。又、ガ
ントリーは、ガントリーコントローラの制御によ
り、例えば、CW方向で所定時間内に一定速度に
達し、その回転速度で少なくとも連続２回転す
る。このときマーカ検出器１３から第２図ａに示
すように、マーカ素子M1，M2，…，M15による
回転位置信号P1，P2，…，P15，P1，P2，…，
P15が出力される。又、第２図ｂに示すように、
分周回路１５からは回転位置信号P1，P3，…，
P15，P2，P4，…，P14に対応してサンプリング指
令信号S1，S3，…，S15，S2，S4，…，S14が出力
される。データ収集ユニツト６は、第２図ｃに示
すようにサンプリング指令信号S1，S3，…，S15，
S2，S4，…，S14で決定されるサンプリング点
X1，X3，…，X15，X2，X4，…，X14にて投影デ
ータを取込む。このときのサンプリング点X1，
X3，…，X15，X2，X4，…，X14をガントリーの
回転方向に沿つて模式図的に示すと第３図に示す
ようにX1，X2，X3，…，X14，X15の配列とな
る。この図から明らかなように、上記サンプリン
グ指令信号によるデータ収集は、ガントリーの１
回転目で、15個のサンプリング点X1，X2，…，
X15を１点飛ばしながら行われ（インターレース
され）、２回転目には、１回転目にデータ収集し
たサンプリング点同士の間に位置するサンプリン
グ点にてデータ収集が行われる（インターリーブ
される）。この２回転するスキヤンにより予定さ
れたサンプリング点全てについてデータ収集が終
了する。即ち、15個のビユー数でビユーを１個飛
ばしながら投影データを収集する場合には、ガン
トリーを連続２回転させることにより１スライス
面のデータ収集を終えることができる。
一方、上記スキヤンデータの収集において、分
周回路１５の分周率を変えてサンプリング点の飛
ばし個数をより大きく、例えば、２、３、…とし
た場合、予め定めた全ビユー数で投影データを収
集するためには、ガントリーを３回転、４回転、
…させればよい。このようにガントリーの回転数
を多くしてデータ収集をした場合、奇数回転目と
偶数回転目のデータがビユーインターレース／ビ
ユーインターリーブの関係にあるので、画像表示
系統にシネモード機能を備えることにより、１回
転目、２回転目、３回転目、…夫々の時間におけ
る画像を表示することができる。又、１回転目と
２回転目のデータに基づく画像、２回転目と３回
転目のデータに基づく画像、…、を順次表示させ
ることもできる。前者は時間分解能を高めた画像
となり、後者はビユー数の多い高密度分解能、低
アーテイフアクトの画像となる。しかし、前者の
方法で使用されるデータは１回転スキヤンによる
ものなのでビユーの不均一分布による問題が生じ
る。これについて、第３図を参照して説明し、併
せてその解決方法についても説明する。例えば、
１回転目のデータ収集におけるサンプリング点
は、X1，X3，…，X15、又は、X1，X3，…，
X15，X2となる。従つて、サンプリング点（ビユ
ー）X1とX15の間、又は、X1とX2の間が他のビ
ユー間隔の半分になる。このようなデータをその
まま用いて画像再構成を行うと、ビユーの不均一
分布によるアーテイフアクトが現れる。このよう
な場合、体動補正で行われているオーバスキヤン
が有効である。この方法は、第４図に示すよう
に、スキヤンを１回転を多少越えるようにし、デ
ータの最初と最後にを重み付けをして合成する方
法である。これにより、ビユーの不均一分布によ
るアーテイフアクトを軽減することができる。こ
の方法は、他の事情により、例えば、動きのある
部位を対象として１回転スキヤンをしたときにも
適用できる。
周回路１５の分周率を変えてサンプリング点の飛
ばし個数をより大きく、例えば、２、３、…とし
た場合、予め定めた全ビユー数で投影データを収
集するためには、ガントリーを３回転、４回転、
…させればよい。このようにガントリーの回転数
を多くしてデータ収集をした場合、奇数回転目と
偶数回転目のデータがビユーインターレース／ビ
ユーインターリーブの関係にあるので、画像表示
系統にシネモード機能を備えることにより、１回
転目、２回転目、３回転目、…夫々の時間におけ
る画像を表示することができる。又、１回転目と
２回転目のデータに基づく画像、２回転目と３回
転目のデータに基づく画像、…、を順次表示させ
ることもできる。前者は時間分解能を高めた画像
となり、後者はビユー数の多い高密度分解能、低
アーテイフアクトの画像となる。しかし、前者の
方法で使用されるデータは１回転スキヤンによる
ものなのでビユーの不均一分布による問題が生じ
る。これについて、第３図を参照して説明し、併
せてその解決方法についても説明する。例えば、
１回転目のデータ収集におけるサンプリング点
は、X1，X3，…，X15、又は、X1，X3，…，
X15，X2となる。従つて、サンプリング点（ビユ
ー）X1とX15の間、又は、X1とX2の間が他のビ
ユー間隔の半分になる。このようなデータをその
まま用いて画像再構成を行うと、ビユーの不均一
分布によるアーテイフアクトが現れる。このよう
な場合、体動補正で行われているオーバスキヤン
が有効である。この方法は、第４図に示すよう
に、スキヤンを１回転を多少越えるようにし、デ
ータの最初と最後にを重み付けをして合成する方
法である。これにより、ビユーの不均一分布によ
るアーテイフアクトを軽減することができる。こ
の方法は、他の事情により、例えば、動きのある
部位を対象として１回転スキヤンをしたときにも
適用できる。
ところで、連続Ｘ線照射の場合、空間的に隣接
するビユーサンプリングはオーバスキヤンとなつ
ており、回転方向にずれ（投影データを積分する
期間にガントリーが回転運動をする）が生じてい
る。このため、回転方向の分解能が劣化してい
る。１回転スキヤンの場合、ずれの伝達関数にお
けるナイキスト周波数は、第５図に示すようにな
つているが、２回転スキヤンによれば、第６図に
示すように上記ナイキスト周波数を伝達関数の限
界周波数まで移動させることができる。従つて、
２回転スキヤンにより、回転方向の分解能の劣化
を限界周波数の付近まで回復させることができ
る。
するビユーサンプリングはオーバスキヤンとなつ
ており、回転方向にずれ（投影データを積分する
期間にガントリーが回転運動をする）が生じてい
る。このため、回転方向の分解能が劣化してい
る。１回転スキヤンの場合、ずれの伝達関数にお
けるナイキスト周波数は、第５図に示すようにな
つているが、２回転スキヤンによれば、第６図に
示すように上記ナイキスト周波数を伝達関数の限
界周波数まで移動させることができる。従つて、
２回転スキヤンにより、回転方向の分解能の劣化
を限界周波数の付近まで回復させることができ
る。
尚、上記スキヤンデータ収集方法は、説明の都
合上、マーク素子数及び分周率を特定したが、本
発明はそれらの数値に限定するものではない。ガ
ントリーの１回転当りの回転位置をＮ・Ｍ−１点
で検出し得るようにし、該検出信号に基づき回転
位置をＭ−１個飛ばすビユー位置で投影データを
収集しながら一周するスキヤンを、連続してＭ回
行つてデータ収集を行う方法は、全て第２図乃至
第６図で説明したと同様に考えることができる。
又、上記実施例では、Ｘ線管と検出器が一体的に
回転する場合について説明したが、検出素子群を
回転円周に沿つて等間隔に配置し、Ｘ線管又は検
出素子群を連続回転するようにしてもよい。この
場合、ロータリエンコーダのマーカ素子群は連続
回転するものと一体的に取付けられる。
合上、マーク素子数及び分周率を特定したが、本
発明はそれらの数値に限定するものではない。ガ
ントリーの１回転当りの回転位置をＮ・Ｍ−１点
で検出し得るようにし、該検出信号に基づき回転
位置をＭ−１個飛ばすビユー位置で投影データを
収集しながら一周するスキヤンを、連続してＭ回
行つてデータ収集を行う方法は、全て第２図乃至
第６図で説明したと同様に考えることができる。
又、上記実施例では、Ｘ線管と検出器が一体的に
回転する場合について説明したが、検出素子群を
回転円周に沿つて等間隔に配置し、Ｘ線管又は検
出素子群を連続回転するようにしてもよい。この
場合、ロータリエンコーダのマーカ素子群は連続
回転するものと一体的に取付けられる。
（発明の効果）
以上、説明の通り、本発明のCT装置における
スキヤンデータ収集方法によれば、被検体の回り
一周当りＮ・Ｍ−１個のサンプリング点を設け、
該サンプリング点上をＭ−１個飛ばしながら一周
するスキヤンを連続してＭ回行い、全てのサンプ
リング点における投影データを収集するようにし
たため、ガントリ速度及びデータ転送レートを一
定にしてビユー数を増やすことができる。従つ
て、ガントリーの回転制御系を複雑にすることな
く画質を向上させることができる。又、ガントリ
ーの回転制御系が複雑にならないことによりコス
トの低減を図ることができる。更に、ガントリー
速度及びデータ転送レートを一定にしたままで、
診断側の要求に応じて、１回転スキヤン（動きの
ある部位の場合）、又は、複数回スキヤン（分解
能が要求される動きが少ない部位の場合）を選択
することができるので診断の幅を広げることがで
きる。
スキヤンデータ収集方法によれば、被検体の回り
一周当りＮ・Ｍ−１個のサンプリング点を設け、
該サンプリング点上をＭ−１個飛ばしながら一周
するスキヤンを連続してＭ回行い、全てのサンプ
リング点における投影データを収集するようにし
たため、ガントリ速度及びデータ転送レートを一
定にしてビユー数を増やすことができる。従つ
て、ガントリーの回転制御系を複雑にすることな
く画質を向上させることができる。又、ガントリ
ーの回転制御系が複雑にならないことによりコス
トの低減を図ることができる。更に、ガントリー
速度及びデータ転送レートを一定にしたままで、
診断側の要求に応じて、１回転スキヤン（動きの
ある部位の場合）、又は、複数回スキヤン（分解
能が要求される動きが少ない部位の場合）を選択
することができるので診断の幅を広げることがで
きる。
第１図は、本発明を実施するためのCT装置の
要部を示す構成図、第２図は、本発明の一実施例
における回転位置信号とサンプリング指令信号と
サンプリング点との関係を示す図、第３図は、本
発明の一実施例におけるサンプリング点の配列
（ビユーの位置）を示す模式図、第４図は、オー
バラツプスキヤンの説明図、第５図及び第６図
は、連続Ｘ線CT装置における回転方向の分解能
を劣化させるずれの伝達関数特性図、第７図は、
従来のCT装置の要部を示す構成図、第８図は、
従来例におけるサンプリング点の位置を示す模式
図である。 １……Ｘ線管、２……検出器、３……撮影領
域、４……被検体、５……フアンビーム、６……
データ収集ユニツト、７……コンピユータ、８…
…CRT、９……キーボード、１１……ロータリ
エンコーダ、１２……マーカ素子群、１３……マ
ーカ検出器、１４……回転基準位置マーカ、１５
……分周回路。
要部を示す構成図、第２図は、本発明の一実施例
における回転位置信号とサンプリング指令信号と
サンプリング点との関係を示す図、第３図は、本
発明の一実施例におけるサンプリング点の配列
（ビユーの位置）を示す模式図、第４図は、オー
バラツプスキヤンの説明図、第５図及び第６図
は、連続Ｘ線CT装置における回転方向の分解能
を劣化させるずれの伝達関数特性図、第７図は、
従来のCT装置の要部を示す構成図、第８図は、
従来例におけるサンプリング点の位置を示す模式
図である。 １……Ｘ線管、２……検出器、３……撮影領
域、４……被検体、５……フアンビーム、６……
データ収集ユニツト、７……コンピユータ、８…
…CRT、９……キーボード、１１……ロータリ
エンコーダ、１２……マーカ素子群、１３……マ
ーカ検出器、１４……回転基準位置マーカ、１５
……分周回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検体を挟んで放射線源と検出器とを対向設
置し、少なくともいずれか一方を被検体の回りを
回転させながら投影データを収集する放射線断層
撮像装置におけるスキヤンデータ収集方法におい
て、 前記被検体の回り一周当りのサンプリング点を
Ｎ・Ｍ−１（Ｎ及びＭは正の整数）個に設定し、
該サンプリング点上をＭ−１個飛ばしながら一周
するスキヤンをＭ回連続して行い、全てのサンプ
リング点における投影データを収集することを特
徴とする放射線断層撮像装置におけるスキヤンデ
ータ収集方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61065332A JPS62221338A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | 放射線断層撮像装置におけるスキャンデ−タ収集方法 |
| EP87902143A EP0325656B1 (en) | 1986-03-24 | 1987-03-24 | Radiation tomograph |
| PCT/JP1987/000176 WO1987005791A1 (en) | 1986-03-24 | 1987-03-24 | Radiation tomograph |
| DE8787902143T DE3784250T2 (de) | 1986-03-24 | 1987-03-24 | Strahlungstomograph. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61065332A JPS62221338A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | 放射線断層撮像装置におけるスキャンデ−タ収集方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62221338A JPS62221338A (ja) | 1987-09-29 |
| JPH046372B2 true JPH046372B2 (ja) | 1992-02-05 |
Family
ID=13283854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61065332A Granted JPS62221338A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | 放射線断層撮像装置におけるスキャンデ−タ収集方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0325656B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62221338A (ja) |
| DE (1) | DE3784250T2 (ja) |
| WO (1) | WO1987005791A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5265142A (en) * | 1992-05-08 | 1993-11-23 | General Electric Company | Image reconstruction technique for a computer tomography system |
| WO2004098411A1 (en) * | 2003-05-06 | 2004-11-18 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Method and apparatus for triggering image acquisition in a c-arm system by a rotary encoder |
| JP4504740B2 (ja) * | 2004-06-10 | 2010-07-14 | 東芝Ｉｔコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
| JP5211880B2 (ja) * | 2008-06-17 | 2013-06-12 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線断層像撮影装置 |
| DE102010005635B4 (de) | 2010-01-25 | 2018-09-20 | Siemens Healthcare Gmbh | Verbesserte CT-Aufnahmen für Untersuchungen stark schwächender Untersuchungsobjekte |
| JP2013081527A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| CN108120729B (zh) | 2017-12-28 | 2024-04-02 | 清华大学 | Ct检查系统和ct成像方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1493243A (en) * | 1974-02-15 | 1977-11-30 | Emi Ltd | Radiographic apparatus |
| US4015129A (en) * | 1975-11-28 | 1977-03-29 | Picker Corporation | Position indicating control method and apparatus in radiation scanning systems |
| NL183566C (nl) * | 1976-05-18 | 1988-12-01 | Emi Ltd | Radiografische inrichting. |
| US4157472A (en) * | 1976-09-16 | 1979-06-05 | General Electric Company | X-ray body scanner for computerized tomography |
| US4191892A (en) * | 1978-06-30 | 1980-03-04 | Picker Corporation | Spread beam overlap method |
| JPH05234690A (ja) * | 1992-02-25 | 1993-09-10 | Toshiba Lighting & Technol Corp | 放電管点灯回路およびこの点灯回路を用いた映像表示装置 |
-
1986
- 1986-03-24 JP JP61065332A patent/JPS62221338A/ja active Granted
-
1987
- 1987-03-24 EP EP87902143A patent/EP0325656B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-03-24 WO PCT/JP1987/000176 patent/WO1987005791A1/ja active IP Right Grant
- 1987-03-24 DE DE8787902143T patent/DE3784250T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3784250T2 (de) | 1993-05-27 |
| EP0325656A4 (en) | 1989-01-26 |
| EP0325656A1 (en) | 1989-08-02 |
| WO1987005791A1 (en) | 1987-10-08 |
| JPS62221338A (ja) | 1987-09-29 |
| DE3784250D1 (de) | 1993-03-25 |
| EP0325656B1 (en) | 1993-02-17 |
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