JPH0457236A - 光磁気ディスク用表面保護コート剤の硬化方法および光磁気ディスク - Google Patents

光磁気ディスク用表面保護コート剤の硬化方法および光磁気ディスク

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JPH0457236A
JPH0457236A JP16283990A JP16283990A JPH0457236A JP H0457236 A JPH0457236 A JP H0457236A JP 16283990 A JP16283990 A JP 16283990A JP 16283990 A JP16283990 A JP 16283990A JP H0457236 A JPH0457236 A JP H0457236A
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JP
Japan
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magneto
curing
optical disk
coating agent
surface protection
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Pending
Application number
JP16283990A
Other languages
English (en)
Inventor
Yosuke Takahashi
洋介 高橋
Kensho Oshima
憲昭 大島
Yasuhiko Shida
志田 康彦
Yuji Nagasawa
長沢 裕司
Nobukazu Miyoshi
伸和 三好
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tosoh Corp
Original Assignee
Tosoh Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は光磁気ディスク用表面保護コート剤を重合硬化
させる方法およびその方法により硬化させた表面保護コ
ート層を有する光磁気ディスクに関する。
[従来の技術] 光磁気ディスクはその表面保護などを目的として表面保
護コート剤をコーティングしている。この表面保護コー
ト剤として光重合性樹脂、とくに紫外線重合性樹脂組成
物が使用され、これをスピンコードなどの方法により光
磁気ディスクの表面にコートし、光硬化させることによ
って表面保護コート剤として使用している。
二の表面保護コート剤としては一般に(メタ)アクリル
酸エステル誘導体が主として使用されているが、この(
メタ)アクリル酸エステル誘導体の場合は空気雰囲気下
でスピンコード塗膜を硬化させる方法が従来の一般的な
方法であった。
しかし空気雰囲気下で硬化させた場合、空気中の酸素に
より(メタ)アクリル酸エステル誘導体の重合反応が阻
害され、塗膜の均一な重合反応か進行せず、目的とする
表面の保護効果が十分に発揮されないことが判明してき
た。
[発明が解決しようとする課題] 本発明は、光磁気ディスクの表面保護コート剤を均一に
重合硬化させる方法を提供しようとするものである。
[課題を解決するための手段] 本発明者らは上記の課題を解決すべく鋭意検討を行った
。その結果、光磁気ディスク用表面保護コート剤を重合
硬化させる方法において、不活性ガス雰囲気下、温度1
00℃以下、湿度20%RH以下で紫外線を照射し重合
硬化させることによって塗膜全体を均一に重合させ得る
本発明に到達した。
すなわち、スピンコードによりディスク上に塗布された
紫外線重合性組成物(表面保護コート剤)を、空気に対
して50〜100%の置換率の不活性ガス雰囲気中にお
いて紫外線を照射し重合させることにより塗膜全体を均
一に硬化させ、目的とする表面物性を発現させることが
できることを見出だした。この目的とする表面物性とは
、光磁気ディスク基盤表面の耐擦傷性の向上を目的とし
た表面硬度の向上であり、具体的にはコート剤が均一に
重合した状態で、HBから3H程度の鉛筆硬度であるこ
とが好ましい。
本発明において不活性ガス雰囲気下とは空気に対する不
活性ガスの置換率が50〜IOQ%である状態をいう。
この不活性ガスとして窒素ガスまたは0属希ガス、ある
いはこれらの非反応ガス中の湿度が10%RH以下のも
のが望ましい。これは空気に対して50%の体積置換率
とした場合の湿度が20%RH以下となるように調整す
るためである。この不活性ガスと空気との置換において
、置換率が50%以下の場合、残存空気中の酸素によっ
て重合反応が表面近傍で阻害され、塗膜は均一に重合せ
ず、耐擦傷性および表面硬度の低下、未硬化成分による
表面の汚染などが起こり、目的とする表面物性を発現さ
せることが困難である。
また湿度が20%RH以上では、表面近傍が硬化する際
に水分を塗膜表面に取り込んでしまい、十分な硬度が発
揮されない。
本発明で用いる表面保護コート剤は、従来一般に用いら
れている(メタ)アクリル酸エステル誘導体などの紫外
線重合性樹脂組成物である。
本発明の光磁気ディスク用表面保護コート剤を紫外線重
合硬化させる方法において使用される紫外線の線源とし
ては、高圧水銀灯、超高圧水銀灯。
あるいはメタルハライドランプ等が使用できる。
これらの線源により紫外線重合を不活性ガス雰囲気下で
行う。空気との置換には置換効率などから不活性ガス置
換用セルを用いる方法が好ましいが、紫外線重合を効率
よく進行させるために、セルの紫外線照射面が石英ガラ
スから構成されているものか好ましい。これは光線透過
率が通常の青板ガラスよりも石英ガラスのほうが高いた
めである。
以上のようにして、不活性ガス雰囲気下で光磁気ディス
ク用表面保護コート剤を紫外線重合硬化させるのである
が、このときのディスク表面の温度を100℃以下に保
つことか重要である。
100℃以上では光磁気ディスクの反り、変形などが生
じるため好ましくない。
[発明の効果コ 本発明の方法により硬化された紫外線重合組成物は、従
来のものより優れた表面物性を有するため、光磁気ディ
スク表面の保護効果が高い。
[実施例] 以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、
本発明はこれらの実施例のみに限定されるものではない
実施例1 光磁気ディスク用表面保護コート剤のベースレジンとし
てビスフェノールへ−エポキシアクリレート40%、ペ
ンタエリスリトールトリアクリレート30%、ジエチレ
ングリコールジアクリレート20%、1.6−ヘキサン
ジオールジアクリレート10%を配合し、全量1000
gに調製し、これに対して5%の1−ヒドロキシシクロ
へキシルフェニルケトンを添加して、紫外線重合性表面
保護コート剤を構成した。
この表面保護コート剤を5.25インチのポリカーボネ
ート製光磁気ディスク上に300 Orpmで5秒間ス
ピンコードし、塗膜を形成した。
次いで、このディスクをガス導入部を設けた内容積37
2m1の石英ガラス製シャーレに入れ、露点−70℃の
窒素ガスを導入し、容器内の窒素置換率を98.5%に
した。こののち出力120Wの高圧水銀灯を用いて5秒
間紫外線露光した。
このときの紫外線量は、波長365nmの積算照度とし
て430 m J / c m 2であった。また紫外
線照射中のディスク表面の温度は30℃であった。
この測定はディスク表面に熱電対センサーを張り付けて
行った。
二のようにして表面に表面保護コート層を有する光磁気
ディスクについて加速耐久性試験を行い、試験後の光磁
気ディスク表面の顕微鏡観察、鉛筆硬度の測定を行った
。結果を表1に示す。
なお各試験は次ぎの要領で行った。
加速耐久性試験:温度80℃、湿度80%RHの環境に
2000時間放置し た。
顕微鏡観察;偏光顕微鏡を用いて観察を行った。表面の
汚染が認められ たものを×、認められなかっ たものをOとした。
鉛 筆 硬 度、JIS  K−6911にしたがって
測定した。
実施例2 実施例1で調製した表面保護コート剤を用いて同様にス
ピンコードを行い、ディスクを石英ガラスシャーレに入
れた。容器内に露点−70℃の窒素ガスを導入し、体積
置換率を52%としたのち、実施例1と同様に紫外線露
光を行った。この後実施例1と同様の試験を行った。結
果を表1に示す。
比較例1 実施例1で調製した表面保護コート剤を用いて同様にス
ピンコードを行い、ディスクを石英ガラスシャーレに入
れた。容器内に窒素ガスを導入し、置換率を40%とし
たのち、実施例1と同様に紫外線露光を行った。この後
実施例1と同様の試験を行った。結果を表1に示す。
比較例2 実施例1で調製した表面保護コート剤を用いて同様にス
ピンコードを行い、ディスクを石英ガラスシャーレに入
れた。容器内には窒素ガスを導入せずに置換率を0%と
し、湿度70%RHの空気雰囲気のままで実施例1と同
様に紫外線露光を行った。この後実施例1と同様の試験
を行った。結果を表1に示す。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光磁気ディスク用表面保護コート剤を重合硬化さ
    せる方法において、不活性ガス雰囲気下、温度100℃
    以下、湿度20%RH以下で紫外線を照射し重合硬化さ
    せることを特徴とする光磁気ディスク用表面保護コート
    剤の硬化方法。
  2. (2)光磁気ディスク用表面保護コート剤を重合硬化さ
    せる方法において、使用する不活性ガスが窒素ガスまた
    は0属希ガスであることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の光磁気ディスク用表面保護コート剤の硬化方
    法。
  3. (3)光磁気ディスク用表面保護コート剤を重合硬化さ
    せる方法において、使用する不活性ガスの湿度が10%
    以下であることを特徴とすする特許請求の範囲第1項記
    載の光磁気ディスク用表面保護コート剤の硬化方法。
  4. (4)光磁気ディスク用表面保護コート剤を不活性ガス
    雰囲気下で重合硬化させる方法において、不活性ガスと
    空気との体積置換率が50〜100%であることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の光磁気ディスク用表
    面保護コート剤の重合硬化方法。
  5. (5)光磁気ディスク用表面保護コート剤を紫外線重合
    硬化させる方法において、紫外線線源が高圧水銀灯、超
    高圧水銀灯、メタルハライドランプであることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の光磁気ディスク用表面
    保護コート剤の重合硬化方法。
  6. (6)光磁気ディスク用表面保護コート剤を紫外線重合
    硬化させる方法において、紫外線照射面が石英ガラスか
    ら構成された不活性ガス置換用セルを用いることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の光磁気ディスク用表
    面保護コート剤の重合硬化方法。
  7. (7)特許請求の範囲第1項〜第6項のいずれかに記載
    の光磁気ディスク用表面保護コート剤の硬化方法により
    表面保護コートした光磁気ディスク。
JP16283990A 1990-06-22 1990-06-22 光磁気ディスク用表面保護コート剤の硬化方法および光磁気ディスク Pending JPH0457236A (ja)

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