JPH0457215B2 - - Google Patents
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- JPH0457215B2 JPH0457215B2 JP61076852A JP7685286A JPH0457215B2 JP H0457215 B2 JPH0457215 B2 JP H0457215B2 JP 61076852 A JP61076852 A JP 61076852A JP 7685286 A JP7685286 A JP 7685286A JP H0457215 B2 JPH0457215 B2 JP H0457215B2
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- frictional
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B17/00—Guiding record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor
- G11B17/32—Maintaining desired spacing between record carrier and head, e.g. by fluid-dynamic spacing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/58—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ 業上の利用分野
本発明は、磁気デイスクの記憶装置に於けるヘ
ツドとデイスクとの界面の特性を評価、測定、及
びテストするための方法に係る。
ツドとデイスクとの界面の特性を評価、測定、及
びテストするための方法に係る。
Ｂ 従来技術
ヘツドとデイスクとの界面の特性は、磁気デイ
スク記憶装置の寿命に於て重要な要素である。従
来、磁気デイスク記憶装置の寿命の予測は、テス
トされている部品が常に破壊されて終了する冗長
なテストに基づいてのみ可能であつた。例えば、
装置が破壊されるまで、始動−停止のテストが反
復され、それらのテストは平均200時間を要した。
スク記憶装置の寿命に於て重要な要素である。従
来、磁気デイスク記憶装置の寿命の予測は、テス
トされている部品が常に破壊されて終了する冗長
なテストに基づいてのみ可能であつた。例えば、
装置が破壊されるまで、始動−停止のテストが反
復され、それらのテストは平均200時間を要した。
相互にスライドする２つの表面、即ちデイスク
の表面及びヘツドを担持しているスライダのレー
ルの表面の性質及び品質は極めて重要である。従
来に於ては、それらの表面の品質を実質的に精確
且つ有効に決定するための測定方法は何ら存在し
ていない。その界面の品質は、用いられる潤滑剤
の量及び品質によつて決定されることが解つた。
然し、従来に於ては、スライダの飛行特性と潤滑
剤との関連性は適切に測定されていない。
の表面及びヘツドを担持しているスライダのレー
ルの表面の性質及び品質は極めて重要である。従
来に於ては、それらの表面の品質を実質的に精確
且つ有効に決定するための測定方法は何ら存在し
ていない。その界面の品質は、用いられる潤滑剤
の量及び品質によつて決定されることが解つた。
然し、従来に於ては、スライダの飛行特性と潤滑
剤との関連性は適切に測定されていない。
磁気デイスク記憶装置に関する技術を概説して
いるIBM社、1980年発行の小冊子“デイスク・
ストレツジ・テクノロジ”に於て、２つのレール
を有するスライダが示されている。薄膜ヘツドを
有するそのようなスライダが、米国特許第
4218715号明細書及びIBMテクニカル・デイスク
ロージヤ・ビユレテイン、1983年12月号、第3364
頁及び第3365頁に記載されている。又、米国特許
第4167765号明細書は、磁気ヘツド懸垂装着装置
について記載している。
いるIBM社、1980年発行の小冊子“デイスク・
ストレツジ・テクノロジ”に於て、２つのレール
を有するスライダが示されている。薄膜ヘツドを
有するそのようなスライダが、米国特許第
4218715号明細書及びIBMテクニカル・デイスク
ロージヤ・ビユレテイン、1983年12月号、第3364
頁及び第3365頁に記載されている。又、米国特許
第4167765号明細書は、磁気ヘツド懸垂装着装置
について記載している。
Ｃ 発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、磁気デイスク記憶装置に於け
る、磁気ヘツドを担持しているスライダとデイス
クとの界面の特性を精確に且つ通常は非破壊的に
測定する方法を提供することである。
る、磁気ヘツドを担持しているスライダとデイス
クとの界面の特性を精確に且つ通常は非破壊的に
測定する方法を提供することである。
Ｄ 問題点を解決するための手段
本発明は、磁気デイスク記憶装置に於ける、磁
気ヘツドを担持しているスライダとデイスクとの
界面の特性を精確に且つ通常は非破壊的に測定す
る方法であつて、上記スライダと上記デイスクと
の間に摩擦接触が存在するように上記デイスクの
回転速度を調節し、上記摩擦接触により上記スラ
イダと上記デイスクとの間に生じる摩擦電気によ
る電流（以下「摩擦電流」という）を測定期間に
亘つて測定し、上記期間に亘る上記摩擦電流の振
幅曲線を分析することを含む、界面特性測定方法
を提供する。
気ヘツドを担持しているスライダとデイスクとの
界面の特性を精確に且つ通常は非破壊的に測定す
る方法であつて、上記スライダと上記デイスクと
の間に摩擦接触が存在するように上記デイスクの
回転速度を調節し、上記摩擦接触により上記スラ
イダと上記デイスクとの間に生じる摩擦電気によ
る電流（以下「摩擦電流」という）を測定期間に
亘つて測定し、上記期間に亘る上記摩擦電流の振
幅曲線を分析することを含む、界面特性測定方法
を提供する。
本発明の方法は、スライダの表面とデイスクの
表面との間の相互作用を良好に特性付けることを
可能にし、又ヘツド及びデイスクの組立体の寿命
を通常は非破壊的に予測することを可能にする。
表面との間の相互作用を良好に特性付けることを
可能にし、又ヘツド及びデイスクの組立体の寿命
を通常は非破壊的に予測することを可能にする。
本発明の方法は、デイスク及びスライダが相互
に摩擦接触しているとき、その摩擦によりそれら
の間に生じる摩擦電流を測定及び分析する。
に摩擦接触しているとき、その摩擦によりそれら
の間に生じる摩擦電流を測定及び分析する。
Ｅ 実施例
前述の如く、本発明の方法に於ては、デイスク
とスライダとの間に流れる摩擦電流が測定され、
その摩擦電流がその振幅対時間特性に関して分析
される。
とスライダとの間に流れる摩擦電流が測定され、
その摩擦電流がその振幅対時間特性に関して分析
される。
摩擦電流を測定及びテストの目的で用いること
は、余り知られていない。その１例は、英国特許
第1430390号明細書に記載されており、電気ケー
ブルの形成及びそれらの破損の検査に関するもの
である。然し、以下に述べる本発明の方法は、従
来技術に於ては、何ら提案されていない。
は、余り知られていない。その１例は、英国特許
第1430390号明細書に記載されており、電気ケー
ブルの形成及びそれらの破損の検査に関するもの
である。然し、以下に述べる本発明の方法は、従
来技術に於ては、何ら提案されていない。
第１図は、摩擦電流を測定するための装置を示
している。被覆された２つの面Ａ及びＢを有する
磁気デイスク１は、モータ３により駆動されるス
ピンドル２上に装着されている。スピンドル・ベ
アリング４がハウジング５中に設けられている。
Ａ面について云えば、懸垂部材７上に装着されて
いるスライダ６は、デイスク上を飛行する。懸垂
部材７は、アーム８上に装着されており、アーム
８は、ハウジング５上を移動可能なキヤリツジ１
０に電気的に分離されて固定されている。電気的
接続体１２は、測定された摩擦電流をアーム８か
ら演算増幅器１４に供給する。デイスク１のＢ面
にも、同様な装置が設けられている。プロツタ及
び分析装置１６は、摩擦電流曲線のプロツト及び
分析を可能にする。
している。被覆された２つの面Ａ及びＢを有する
磁気デイスク１は、モータ３により駆動されるス
ピンドル２上に装着されている。スピンドル・ベ
アリング４がハウジング５中に設けられている。
Ａ面について云えば、懸垂部材７上に装着されて
いるスライダ６は、デイスク上を飛行する。懸垂
部材７は、アーム８上に装着されており、アーム
８は、ハウジング５上を移動可能なキヤリツジ１
０に電気的に分離されて固定されている。電気的
接続体１２は、測定された摩擦電流をアーム８か
ら演算増幅器１４に供給する。デイスク１のＢ面
にも、同様な装置が設けられている。プロツタ及
び分析装置１６は、摩擦電流曲線のプロツト及び
分析を可能にする。
第２図は、前述の小冊子及び米国特許第
4218715号明細書に記載のスライダ構造体を詳細
に示している。スライダ１８は、デイスク表面上
を空気ベアリングにより略3600rpmの動作速度で
スライドする２つのレール２０ａ及び２０ｂを有
している。従来の如く、それらの各レールは、移
動するデイスクのトラツクに関して前縁部に先細
部分２２ａ及び２２ｂを有し、後縁部には薄膜ヘ
ツド２４ａ及び２４ｂを装着されている。
4218715号明細書に記載のスライダ構造体を詳細
に示している。スライダ１８は、デイスク表面上
を空気ベアリングにより略3600rpmの動作速度で
スライドする２つのレール２０ａ及び２０ｂを有
している。従来の如く、それらの各レールは、移
動するデイスクのトラツクに関して前縁部に先細
部分２２ａ及び２２ｂを有し、後縁部には薄膜ヘ
ツド２４ａ及び２４ｂを装着されている。
アーム８上に装着れた懸垂部材７上に装着され
ている第１図のスライダ６は、キヤリツジ１０と
ともに移動されて、該スライダをデイスクの所望
のトラツク上に位置付ける。
ている第１図のスライダ６は、キヤリツジ１０と
ともに移動されて、該スライダをデイスクの所望
のトラツク上に位置付ける。
本発明の方法の１実施例に於ては、スライダ６
は、酸化アルミニウム（Al2O3）及び炭化チタン
（TiC）を含むセラミツク混合物より成る。炭化
チタンを含むことにより、スライダ６は充分な導
電性を与えられ、摩擦電流を通すことが可能にな
る。
は、酸化アルミニウム（Al2O3）及び炭化チタン
（TiC）を含むセラミツク混合物より成る。炭化
チタンを含むことにより、スライダ６は充分な導
電性を与えられ、摩擦電流を通すことが可能にな
る。
本発明の方法に於て特に適している磁気デイス
クは、エポキシ樹脂中に分散された酸化鉄
（Fe2O3）及び酸化アルミニウム（Al2O3）の粒子
で被覆された、アルニミウム−マグネシウム合金
の基板より成る。
クは、エポキシ樹脂中に分散された酸化鉄
（Fe2O3）及び酸化アルミニウム（Al2O3）の粒子
で被覆された、アルニミウム−マグネシウム合金
の基板より成る。
デイスク及びスライダの組立体の予測される寿
命の表示を得るためには、スライダ６は、初めに
第１トラツク上で調節され、それから他のトラツ
ク上に位置付けられる。スライド特性が良好であ
る場合には、第３図に示されている如き摩擦電流
が、テスト期間ｔに亘つて測定される。その場
合、通常は、テスト開始後15分以内に初期最大値
が得られ、摩擦電流の振幅はそれからゆつくりと
減少する。予測される寿命は、例えば、摩擦電流
がその最大値の10％まで減衰した時点によつて決
定することができる。８時間の測定期間が必要と
される場合もあるが、従来のテストに必要とされ
た200時間よりはずつと短時間である。
命の表示を得るためには、スライダ６は、初めに
第１トラツク上で調節され、それから他のトラツ
ク上に位置付けられる。スライド特性が良好であ
る場合には、第３図に示されている如き摩擦電流
が、テスト期間ｔに亘つて測定される。その場
合、通常は、テスト開始後15分以内に初期最大値
が得られ、摩擦電流の振幅はそれからゆつくりと
減少する。予測される寿命は、例えば、摩擦電流
がその最大値の10％まで減衰した時点によつて決
定することができる。８時間の測定期間が必要と
される場合もあるが、従来のテストに必要とされ
た200時間よりはずつと短時間である。
最大の摩擦電流の大きさは、回転速度に依存
し、又デイスク上に分布された潤滑剤の量及び品
質に依存する。摩擦電流を得るためには、デイス
クとスライダとの間に摩擦接触が存在せねばなら
ない。そのために、100乃至500rpmの回転速度が
選択され、その結果、０乃至100ナノメータの飛
行高さが生じる。
し、又デイスク上に分布された潤滑剤の量及び品
質に依存する。摩擦電流を得るためには、デイス
クとスライダとの間に摩擦接触が存在せねばなら
ない。そのために、100乃至500rpmの回転速度が
選択され、その結果、０乃至100ナノメータの飛
行高さが生じる。
本発明の方法に於ては、良好な摩擦電流の振幅
を生じる蛍石を含む潤滑剤を用いることができ
る。
を生じる蛍石を含む潤滑剤を用いることができ
る。
本発明の方法による寿命測定方法は、組立体の
破壊に基づいていないので、その破壊が生じるま
で行われる必要がない。又、この方法によつて、
選択された界面（殆どが良好でない）だけでな
く、全ての界面を経済的にテストすることが可能
になつた。
破壊に基づいていないので、その破壊が生じるま
で行われる必要がない。又、この方法によつて、
選択された界面（殆どが良好でない）だけでな
く、全ての界面を経済的にテストすることが可能
になつた。
本発明の方法の他の態様に於ては、摩擦電流を
測定することにより、デイスク及びスライダのレ
ールの表面の品質の表示を得ることができる。前
述の如く、第３図に示されている曲線は、スーパ
ー・スライダと呼ぶことができる良好なスライダ
に於て得られる。摩擦電流は、デイスクとスライ
ダとの界面の変化、デイスク表面、スライダ表
面、並びに潤滑剤の量、品質、及び分布に大きく
依存する。従つて、初期の最大値及び以後のゆる
やかな減衰を示す、第３図に於ける摩擦電流曲線
の形状によつて、スーパー・スライダ構造体を検
出することが可能になつた。
測定することにより、デイスク及びスライダのレ
ールの表面の品質の表示を得ることができる。前
述の如く、第３図に示されている曲線は、スーパ
ー・スライダと呼ぶことができる良好なスライダ
に於て得られる。摩擦電流は、デイスクとスライ
ダとの界面の変化、デイスク表面、スライダ表
面、並びに潤滑剤の量、品質、及び分布に大きく
依存する。従つて、初期の最大値及び以後のゆる
やかな減衰を示す、第３図に於ける摩擦電流曲線
の形状によつて、スーパー・スライダ構造体を検
出することが可能になつた。
これに対して、通常のスライダの場合には、摩
擦電流の連続的増加を示す、第４図に示されてい
る如き曲線が得られる。その増加は、摩擦の増加
によるものであり、そのような摩擦の増加は勿論
組立体の破壊を生ぜしめる。スーパー・スライダ
構造体は、前述の如く、特定のトラツク上でスラ
イダを調節することにより、又は例えば欧州特許
出願第EP−Ａ−90055号明細書に記載されている
如く、スライダのレールを機械処理又は化学処理
することにより、得られることが解つた。本発明
による測定及びテスト方法は、磁気ヘツド・スラ
イダの形成に於て極めて有利であることは明らか
である。
擦電流の連続的増加を示す、第４図に示されてい
る如き曲線が得られる。その増加は、摩擦の増加
によるものであり、そのような摩擦の増加は勿論
組立体の破壊を生ぜしめる。スーパー・スライダ
構造体は、前述の如く、特定のトラツク上でスラ
イダを調節することにより、又は例えば欧州特許
出願第EP−Ａ−90055号明細書に記載されている
如く、スライダのレールを機械処理又は化学処理
することにより、得られることが解つた。本発明
による測定及びテスト方法は、磁気ヘツド・スラ
イダの形成に於て極めて有利であることは明らか
である。
本発明の方法の更に他の態様に於ては、本発明
の方法による摩擦電流測定方法は、デイスクの両
面の間の非対称性を検出するために役立つ。バフ
（buff−製造時の研磨）方向にテストされたデイ
スクのＡ面の摩擦電流信号は、反バフ方向にテス
トされたＢ面の場合の略２倍となり、それらの測
定は、デイスクのＡ面及びＢ面に於ける非対称性
が摩擦電流に大きな影響を有することを示した。
更に、時間に関する摩擦電流の曲線は両方の場合
に於て異なつた。
の方法による摩擦電流測定方法は、デイスクの両
面の間の非対称性を検出するために役立つ。バフ
（buff−製造時の研磨）方向にテストされたデイ
スクのＡ面の摩擦電流信号は、反バフ方向にテス
トされたＢ面の場合の略２倍となり、それらの測
定は、デイスクのＡ面及びＢ面に於ける非対称性
が摩擦電流に大きな影響を有することを示した。
更に、時間に関する摩擦電流の曲線は両方の場合
に於て異なつた。
然し、デイスクの両面がそれらの処理方法にテ
ストされた場合には、そのような非対称性は存在
しなかつた。従つて、本発明の方法を用いること
により、磁気デイスクの製造プロセス中に謂ゆる
非対称性を生ぜしめる工程を検出し、それらの工
程を反バフ方向からバフ方向に変えることが可能
である。従来の磁気デイスク記憶装置の動作に於
ては、デイスクのＡ面上の磁気ヘツドに関しては
デイスク表面が左に回転するが、Ｂ面上の磁気ヘ
ツドに関してはデイスク表面が右に回転すること
を考慮に入れる必要がある。
ストされた場合には、そのような非対称性は存在
しなかつた。従つて、本発明の方法を用いること
により、磁気デイスクの製造プロセス中に謂ゆる
非対称性を生ぜしめる工程を検出し、それらの工
程を反バフ方向からバフ方向に変えることが可能
である。従来の磁気デイスク記憶装置の動作に於
ては、デイスクのＡ面上の磁気ヘツドに関しては
デイスク表面が左に回転するが、Ｂ面上の磁気ヘ
ツドに関してはデイスク表面が右に回転すること
を考慮に入れる必要がある。
上述の如く、摩擦電流は動作条件の変化に極め
て敏感である。磁気トラツクに関するスライダの
極めて小さな変位に対しても同様である。それら
の変位は、例えば、ハウジング５中のスピンド
ル・ベアリングのゆるみによつて生じる。従つ
て、本発明の方法は又、スピンドル・ベアリング
に於けるそのような不完全性の検出を可能にす
る。
て敏感である。磁気トラツクに関するスライダの
極めて小さな変位に対しても同様である。それら
の変位は、例えば、ハウジング５中のスピンド
ル・ベアリングのゆるみによつて生じる。従つ
て、本発明の方法は又、スピンドル・ベアリング
に於けるそのような不完全性の検出を可能にす
る。
Ｆ 発明の効果
本発明の方法によれば、磁気デイスク記憶装置
に於ける、磁気ヘツドを担持しているスライダと
デイスクとの界面の特性を精確に且つ通常は非破
壊的に測定する方法が得られる。
に於ける、磁気ヘツドを担持しているスライダと
デイスクとの界面の特性を精確に且つ通常は非破
壊的に測定する方法が得られる。
第１図は磁気デイスク記憶装置をテスト及び測
定するための装置を示す図、第２図はスライダを
示す図、第３図は極めて良好なスライダに於て測
定期間に亘つて測定された摩擦電流の振幅を示す
図、そして第４図は通常のスライダに於て測定期
間に亘つて測定された摩擦電流の振幅を示す図で
ある。 １……磁気デイスク、２……スピンドル、３…
…モータ、４……スピンドル・ベアリング、５…
…ハウジング、６，１８……スライダ、７……懸
垂部材、８……アーム、１０……キヤリツジ、１
２……電気的接続体、１４……演算増幅器、１６
……プロツタ及び分析装置、２０ａ，２０ｂ……
レール、２２ａ，２２ｂ……先細部分、２４ａ，
２４ｂ……薄膜ヘツド。
定するための装置を示す図、第２図はスライダを
示す図、第３図は極めて良好なスライダに於て測
定期間に亘つて測定された摩擦電流の振幅を示す
図、そして第４図は通常のスライダに於て測定期
間に亘つて測定された摩擦電流の振幅を示す図で
ある。 １……磁気デイスク、２……スピンドル、３…
…モータ、４……スピンドル・ベアリング、５…
…ハウジング、６，１８……スライダ、７……懸
垂部材、８……アーム、１０……キヤリツジ、１
２……電気的接続体、１４……演算増幅器、１６
……プロツタ及び分析装置、２０ａ，２０ｂ……
レール、２２ａ，２２ｂ……先細部分、２４ａ，
２４ｂ……薄膜ヘツド。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 磁気デイスク記憶装置に於ける、磁気ヘツド
を担持しており且つ下記摩擦電流を通すのに十分
な導電性を有するスライダとデイスクとの界面の
特性を非破壊的に測定する方法であつて、 上記スライダと上記デイスクとの間に摩擦接触
が存在するように上記デイスクの回転速度を調節
し、 上記摩擦接触により上記スライダと上記デイス
クとの間に生じる摩擦電流を測定期間に亘つて測
定し、 測定された上記摩擦電流の振幅曲線を分析する
ことを含む、 界面特性測定方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP85105722.4 | 1985-05-10 | ||
| EP85105722A EP0203207A1 (en) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | System for testing magnetic head/disk interfaces |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62161040A JPS62161040A (ja) | 1987-07-17 |
| JPH0457215B2 true JPH0457215B2 (ja) | 1992-09-10 |
Family
ID=8193493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61076852A Granted JPS62161040A (ja) | 1985-05-10 | 1986-04-04 | 界面特性測定方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4724392A (ja) |
| EP (1) | EP0203207A1 (ja) |
| JP (1) | JPS62161040A (ja) |
| CA (1) | CA1242272A (ja) |
Families Citing this family (11)
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|---|---|---|---|---|
| JPH0697224B2 (ja) * | 1988-07-13 | 1994-11-30 | 鐘紡株式会社 | 摩擦帯電圧測定装置 |
| US5038625A (en) * | 1989-01-31 | 1991-08-13 | Seagate Technology, Inc. | Tribological head-disk interface testing system |
| US5305165A (en) * | 1991-12-24 | 1994-04-19 | International Business Machines Corporation | Tribo-attractive contact data storage system |
| US5497085A (en) * | 1994-12-19 | 1996-03-05 | Conner Peripherals, Inc. | Method for determining an outer diameter rolloff in a process for making magnetic disks |
| US5545989A (en) * | 1995-01-19 | 1996-08-13 | Conner Peripherals, Inc. | Non-destructive in-situ landing velocity determination of magnetic rigid disk drives using back EMF from the spindle motor during shutdown |
| US6032262A (en) * | 1995-04-18 | 2000-02-29 | Emc Corporation | Disk drive reliability determination system and method |
| US6466392B1 (en) | 1998-09-14 | 2002-10-15 | Seagate Technology Llc | Head flight characterization using a non-contact voltmeter |
| US6483657B1 (en) | 1998-09-14 | 2002-11-19 | Seagate Technology Llc | Head flight characterization using thermal asperity detection |
| US7580759B2 (en) * | 2007-09-05 | 2009-08-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Systems and methods for in-situ recording head burnishing |
| US7952829B2 (en) * | 2008-09-24 | 2011-05-31 | Seagate Technology Llc | Detecting contact between a slider and a data storage medium without a separate contact-detection voltage source |
| CN110006818A (zh) * | 2019-02-20 | 2019-07-12 | 常州大学 | 一种销-盘式腐蚀磨损试验装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5199582A (en) * | 1975-02-28 | 1976-09-02 | Hitachi Ltd | Shogeki mamoshikenki |
| JPS552967A (en) * | 1978-06-23 | 1980-01-10 | Fujitsu Ltd | Magnetized surface strength testing method of magnetic disc |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1928783C3 (de) * | 1968-06-17 | 1974-07-25 | Aktiengesellschaft Gebrueder Loepfe, Wetzikon (Schweiz) | Verfahren zur Umformung der Relativbewegung zweier Körper, die in reibendem Kontakt miteinander stehen, in eine elektrische Größe |
| US3601694A (en) * | 1968-12-09 | 1971-08-24 | Eastman Kodak Co | Apparatus for electrically checking the continuity of a coating |
| GB1430390A (en) * | 1972-06-28 | 1976-03-31 | Bicc Ltd | Detection of breaks in flexible elongate members liquid crystal display devices |
| US3855625A (en) * | 1973-12-19 | 1974-12-17 | Ibm | Magnetic head slider assembly |
| US4479090A (en) * | 1982-09-30 | 1984-10-23 | International Business Machines Corporation | Circuitry for measuring magnetic head flying characteristics |
-
1985
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-
1986
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- 1986-04-04 JP JP61076852A patent/JPS62161040A/ja active Granted
- 1986-04-28 US US06/856,306 patent/US4724392A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5199582A (en) * | 1975-02-28 | 1976-09-02 | Hitachi Ltd | Shogeki mamoshikenki |
| JPS552967A (en) * | 1978-06-23 | 1980-01-10 | Fujitsu Ltd | Magnetized surface strength testing method of magnetic disc |
Also Published As
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| CA1242272A (en) | 1988-09-20 |
| US4724392A (en) | 1988-02-09 |
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