JPH0452503A - 波付管、スロット付スペーサ等の測定方法 - Google Patents
波付管、スロット付スペーサ等の測定方法Info
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- JPH0452503A JPH0452503A JP2161899A JP16189990A JPH0452503A JP H0452503 A JPH0452503 A JP H0452503A JP 2161899 A JP2161899 A JP 2161899A JP 16189990 A JP16189990 A JP 16189990A JP H0452503 A JPH0452503 A JP H0452503A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 25
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明の測定方法は、ケーブル配線用の波付管や光ファ
イバを支持するスロット付スペーサ等の被測定物の外観
、外径寸法、谷の深さ、幅、ピッチ等を光学的に測定す
るのに利用されるものである。
イバを支持するスロット付スペーサ等の被測定物の外観
、外径寸法、谷の深さ、幅、ピッチ等を光学的に測定す
るのに利用されるものである。
（従来の技術）
波付管やスロット付スペーサ等の被測定物は、品質管理
の面から、それらの表面の傷の有無、外径寸法、スロッ
トの深さ、幅、ピッチ等を測定する必要がある。
の面から、それらの表面の傷の有無、外径寸法、スロッ
トの深さ、幅、ピッチ等を測定する必要がある。
それらを測定するには従来は、製造された被測定物から
測定用のサンプルを取出し、このサンプルの外径寸法、
谷の深さ、幅、ピッチ等の各種寸法をノギス等の測定具
を用いて実測していた。
測定用のサンプルを取出し、このサンプルの外径寸法、
谷の深さ、幅、ピッチ等の各種寸法をノギス等の測定具
を用いて実測していた。
また従来は直管の外観検査や測定には、レーザ式や接触
式の外径測定器が用いられていた。
式の外径測定器が用いられていた。
（発明が解決しようとする課題）
Ａ、従来の測定方法のうち測定具で実測する測定方法で
は次のような課題があった。
は次のような課題があった。
■ 測定用サンプルの取出しゃ実測に手間がかかり、し
かも、実測する作業員によって測定誤差やバラツキが生
じ易い。
かも、実測する作業員によって測定誤差やバラツキが生
じ易い。
■、測定用サンプルの採取頻度には自ら限界があり、製
造された波付管やスロット付スペーサ等の極く僅かな部
分しか取り出すことができない。
造された波付管やスロット付スペーサ等の極く僅かな部
分しか取り出すことができない。
このため製造時間の経過に伴う外観異常を被測定物全般
にわたって確認することができない。
にわたって確認することができない。
Ｂ−従来の測定方法のうちレーザ式や接触式の測定方法
では、波付管やスロット付スペーサ等の外周面が凹凸し
て直管に比して複雑であり、また長い波付管では山部、
谷部の差がなくなるため、有意な測定結果を得ることが
できない。これはスロットのピッチが長いスロット付ス
ペーサの場合も同じである。
では、波付管やスロット付スペーサ等の外周面が凹凸し
て直管に比して複雑であり、また長い波付管では山部、
谷部の差がなくなるため、有意な測定結果を得ることが
できない。これはスロットのピッチが長いスロット付ス
ペーサの場合も同じである。
このため、最近は波付管やスロット付スペーサ等の品質
向上及び測定コスト低減の面から、測定用サンプルを取
出すことなく、自動的に、且つ連続測定できる方法が要
望されている。
向上及び測定コスト低減の面から、測定用サンプルを取
出すことなく、自動的に、且つ連続測定できる方法が要
望されている。
（発明の目的）
本発明の目的は前記要望に応えるべく開発されたもので
あり、波付管やスロット付スペーサ等の被測定物の表面
の外観５外径寸法、スロットの深さ、それらの幅やピッ
チ等を自動的に測定できるようにした波付管、スロット
付スペーサ等の測定方法を提供することにある。
あり、波付管やスロット付スペーサ等の被測定物の表面
の外観５外径寸法、スロットの深さ、それらの幅やピッ
チ等を自動的に測定できるようにした波付管、スロット
付スペーサ等の測定方法を提供することにある。
（課題を解決するための手段）
本発明の波付管、スロット付スペーサ等の測定方法は、
第１図のように波付管Ｐやスロット付スペーサＳ等の被
測定物２の外周を投・受光器３を回転させ、同投・受光
器３から被測定物２に投射された投射光４を同被測定物
２で反射させ、その反射光５を同投・受光器３により検
出し、その検出信号に基づいて同被測定物２の表面６の
外観、外径寸法、谷やスロット１の深さ、それらの幅や
ピッチ等を測定するものである。
第１図のように波付管Ｐやスロット付スペーサＳ等の被
測定物２の外周を投・受光器３を回転させ、同投・受光
器３から被測定物２に投射された投射光４を同被測定物
２で反射させ、その反射光５を同投・受光器３により検
出し、その検出信号に基づいて同被測定物２の表面６の
外観、外径寸法、谷やスロット１の深さ、それらの幅や
ピッチ等を測定するものである。
（作用）
本発明の波付管、スロット付スペーサ等の測定方法では
、投・受光器３を被測定物２の外周を回転させながら被
測定物２に光を投射するだけで、被測定物２からの反射
光５により被測定物２の表面６の傷の有無、山、谷、ス
ロット１等の寸法を光学的に、しかも被測定物２の製造
時に測定することができる。このため測定用のサンプル
を採取する必要がないく、しかも被測定物２に非接触で
測定できるので被測定物２の形状に制約されることなく
測定できる。
、投・受光器３を被測定物２の外周を回転させながら被
測定物２に光を投射するだけで、被測定物２からの反射
光５により被測定物２の表面６の傷の有無、山、谷、ス
ロット１等の寸法を光学的に、しかも被測定物２の製造
時に測定することができる。このため測定用のサンプル
を採取する必要がないく、しかも被測定物２に非接触で
測定できるので被測定物２の形状に制約されることなく
測定できる。
（実施例）
第１図は本発明の測定方法によりスロット付スペーサＳ
のスロットｌの深さ、幅等を測定する場合の実施例であ
り、第２図は波付管Ｐの深さ、幅等を測定する場合の実
施例である。
のスロットｌの深さ、幅等を測定する場合の実施例であ
り、第２図は波付管Ｐの深さ、幅等を測定する場合の実
施例である。
以下、第１図、第２図の実施例を各種測定項目別に説明
する。
する。
本発明の測定方法ではいずれの場合も、第２図のように
被測定物２の近くに所定間隔だけ離して設置されている
投・受光器３を、被測定物２の周りを一定の角速度ωで
回転させる。この状態で各種測定項目を次のようにして
測定する。
被測定物２の近くに所定間隔だけ離して設置されている
投・受光器３を、被測定物２の周りを一定の角速度ωで
回転させる。この状態で各種測定項目を次のようにして
測定する。
■ スロット付スペーサの表面の傷の有無の測定（検査
）。
）。
第１図のように投・受光器３からスロット付スペーサＳ
に向けて投射光４を投射する。スロット付スペーサＳの
表面６に何らかの傷がある場合は同傷で投射光４が乱反
射して反射光５が投・受光器３に受光される。投・受光
器３により検出された反射光５の検出信号が、コンピュ
ータ等の信号処理装置７により処理されて傷の有無が判
別される。このとき、信号処理装置７のＣＲＴに表示さ
れる波形に傷信号が細かな乱れとして現われるようにし
ておけば、傷を目視で検査することもできる。
に向けて投射光４を投射する。スロット付スペーサＳの
表面６に何らかの傷がある場合は同傷で投射光４が乱反
射して反射光５が投・受光器３に受光される。投・受光
器３により検出された反射光５の検出信号が、コンピュ
ータ等の信号処理装置７により処理されて傷の有無が判
別される。このとき、信号処理装置７のＣＲＴに表示さ
れる波形に傷信号が細かな乱れとして現われるようにし
ておけば、傷を目視で検査することもできる。
■、スロット付ススペーサ外径りの測定。
この外径りは第１図のＬ−４で求められる。このＬは投
・受光器３の投射面８からスロット付スペーサＳの底面
９までの垂直距離であり、この垂直距離りは投・受光器
３をスロット付スペーサＳに対向させて設置するときに
定まる。
・受光器３の投射面８からスロット付スペーサＳの底面
９までの垂直距離であり、この垂直距離りは投・受光器
３をスロット付スペーサＳに対向させて設置するときに
定まる。
一方、第１図の氾は投・受光器３の投射光４の投射面８
からスロット付スペーサＳの表面６までの垂直距離であ
る。この垂直距離βはスロット付スペーサＳに向けて投
射光４を投射したときに同表面６から反射される反射光
５のレベルから求めることができる。
からスロット付スペーサＳの表面６までの垂直距離であ
る。この垂直距離βはスロット付スペーサＳに向けて投
射光４を投射したときに同表面６から反射される反射光
５のレベルから求めることができる。
こうして得られるしとβとから前記信号処理装置７によ
りＬ−βが演算されて、外径りが？Ｉｌ＋＋定される。
りＬ−βが演算されて、外径りが？Ｉｌ＋＋定される。
０１幅が均一であるスロット（垂直スロット）の深さの
測定。
測定。
一般に一条のスロット付スペーサＳには、第１図のよう
に二種類のスロットが形成されている。
に二種類のスロットが形成されている。
一つはスロット付スペーサＳの表面６からスロット１の
底面１０に向けて次第に幅が狭くなるテーパ状スロット
１１であり、他の一つは同表面６かもスロットｌの底面
ＩＯに向けて幅が均一である垂直スロット１２である。
底面１０に向けて次第に幅が狭くなるテーパ状スロット
１１であり、他の一つは同表面６かもスロットｌの底面
ＩＯに向けて幅が均一である垂直スロット１２である。
ここでは、そのうち垂直スロット１２の深さを測定する
場合について説明する。
場合について説明する。
第２図のようにガイドローラ１３に挟まれて矢印Ｘ方向
に走行しているスロット付スペーサＳの外周を、一定の
角速度ωで回転している投・受光器３から、被測定物２
に光を投射し、同被測定物２から反射した反射光５を投
・受光器３により検出する。この反射光５の出力は第３
図のような矩形波（パルス）となる。このパルスのＨは
被測定物２の山に、Ｌは被測定物２のスロットｌの深さ
（谷）に対応し、しかもそのＨのレベルは山の高さに、
Ｌは谷の深さに対応したレベルである。このため、この
パルスのＨとＬのレベル差を予め測定されている反射光
５のレベル差と前記信号処理装置７により対照すること
により、スロット１の深さを知ることができる。
に走行しているスロット付スペーサＳの外周を、一定の
角速度ωで回転している投・受光器３から、被測定物２
に光を投射し、同被測定物２から反射した反射光５を投
・受光器３により検出する。この反射光５の出力は第３
図のような矩形波（パルス）となる。このパルスのＨは
被測定物２の山に、Ｌは被測定物２のスロットｌの深さ
（谷）に対応し、しかもそのＨのレベルは山の高さに、
Ｌは谷の深さに対応したレベルである。このため、この
パルスのＨとＬのレベル差を予め測定されている反射光
５のレベル差と前記信号処理装置７により対照すること
により、スロット１の深さを知ることができる。
また、スロット付スペーサＳでは複数の山１４のうち、
いずれか一つにストライプ１５が同スペーサＳの長手方
向に沿って一連に設けられている。しかもそのストライ
プ１５は山１４の表面に露出しており、また、同ストラ
イプ１５は金属製の帯状体であり、色は通常は黒色であ
る。一方、スロット付スペーサＳそのものは通常は乳白
色である。このため同スロット付スペーサＳに投射光４
を投射した場合、反射光５のレベルがストライプ１５の
部分と他の山１４とでは異なる。このため、ストライプ
１５からの反射光５に基づくパルスを基準として、それ
から何個口のパルスであるかを計測すれば、どの垂直ス
ロット１２を測定しているかがわかる。
いずれか一つにストライプ１５が同スペーサＳの長手方
向に沿って一連に設けられている。しかもそのストライ
プ１５は山１４の表面に露出しており、また、同ストラ
イプ１５は金属製の帯状体であり、色は通常は黒色であ
る。一方、スロット付スペーサＳそのものは通常は乳白
色である。このため同スロット付スペーサＳに投射光４
を投射した場合、反射光５のレベルがストライプ１５の
部分と他の山１４とでは異なる。このため、ストライプ
１５からの反射光５に基づくパルスを基準として、それ
から何個口のパルスであるかを計測すれば、どの垂直ス
ロット１２を測定しているかがわかる。
■、前記垂直スロットの幅の測定。
スロット付スペーサＳの外周を一定の角速度ωで回転し
ている投−受光器３から被測定物２に光を投射し、同被
測定物２から反射した反射光５を投・受光器３により検
出する。この反射光５の出力もパルスとなり、その立ち
下がり部分りの幅がスロットｌの幅となる。この場合、
投・受光器３はスロット付スペーサＳの軸周りを一定角
度ωで回転しているので、垂直スロット１２の幅を計測
するには時間ｔだけかかる。従って、幅が均一である垂
直スロット１２の両端間の中心角θ（第４図）はω×ｔ
で求められる。また前記■で述べたようにスロット付ス
ペーサＳの外径りがわかっているので、垂直スロット１
２の幅Ｂは次式により求まる。
ている投−受光器３から被測定物２に光を投射し、同被
測定物２から反射した反射光５を投・受光器３により検
出する。この反射光５の出力もパルスとなり、その立ち
下がり部分りの幅がスロットｌの幅となる。この場合、
投・受光器３はスロット付スペーサＳの軸周りを一定角
度ωで回転しているので、垂直スロット１２の幅を計測
するには時間ｔだけかかる。従って、幅が均一である垂
直スロット１２の両端間の中心角θ（第４図）はω×ｔ
で求められる。また前記■で述べたようにスロット付ス
ペーサＳの外径りがわかっているので、垂直スロット１
２の幅Ｂは次式により求まる。
Ｂ ＝Ｄ／ｓ ｉ ｎ （ｃ、＋ｔ／２） −（Ａ）
従って、垂直スロット１２の幅Ｂは上式Ａに基づいて第
１図、第２図の信号処理装置７により演算処理されて自
動的に求められる。
従って、垂直スロット１２の幅Ｂは上式Ａに基づいて第
１図、第２図の信号処理装置７により演算処理されて自
動的に求められる。
本発明の測定方法では、単にスロットｌの深さや幅を測
定するだけでなく、それらが予め設定されている許容範
囲内にあるか否かも信号処理装置７により判断すること
ができる。この場合、スロットｌの深さや幅等が許容範
囲を越えるとパトライト等の警報装置（図示されていな
い）が作動して、警報を発するようにしである。
定するだけでなく、それらが予め設定されている許容範
囲内にあるか否かも信号処理装置７により判断すること
ができる。この場合、スロットｌの深さや幅等が許容範
囲を越えるとパトライト等の警報装置（図示されていな
い）が作動して、警報を発するようにしである。
■、スロット１のピッチの測定。
スロットｌからの反射光５は投・受光器３で検出された
パルス（第３図の）の立下り部分りになる。従って第３
図のパルスのＬの部分の間隔からスロットｌのピッチを
求めることができる。このピッチは信号処理装置７によ
り演算処理されて自動的に求められる。その演算処理の
式は次式のようになる。
パルス（第３図の）の立下り部分りになる。従って第３
図のパルスのＬの部分の間隔からスロットｌのピッチを
求めることができる。このピッチは信号処理装置７によ
り演算処理されて自動的に求められる。その演算処理の
式は次式のようになる。
求めるピッチθ°＝角速度ω×時間ｔ
・・・ （Ｂ）
（発明の効果）
本発明の波付管、スロット付スペーサ等の測定方法は次
のような効果がある。
のような効果がある。
■、波付管やスロット付スペーサ等を光学的に非接触で
測定できるので、それらの製造時に自動的に測定するこ
とができる。このため従来のように製品から一々測定用
のサンプルを取出す必要がなく、また測定具を使用して
実測する必要もなく１人手がかからず、測定が自動化で
きる。
測定できるので、それらの製造時に自動的に測定するこ
とができる。このため従来のように製品から一々測定用
のサンプルを取出す必要がなく、また測定具を使用して
実測する必要もなく１人手がかからず、測定が自動化で
きる。
■、投・受光器３を、波付管やスロット付スペサ等の周
りを回転させるだけで各種寸法を測定できので、測定作
業が容易になり、しかも効率良く測定することもできる
。
りを回転させるだけで各種寸法を測定できので、測定作
業が容易になり、しかも効率良く測定することもできる
。
第１図は本発明の測定方法の一例を示す縦断正面図、第
２図は同測定方法の側面説明図、第３図は同測定方法に
おける反射光５の波形説明図、第４図は同測定方法によ
りスロット幅を求める場合の説明図である。 １はスロット ２は被測定物 ３は投・受光器 ４は投射光 ５は反射光 ６はスロット付スペーサの表面 Ｐは波付管 Ｓはスロット付スペーサ 基３図 業４図
２図は同測定方法の側面説明図、第３図は同測定方法に
おける反射光５の波形説明図、第４図は同測定方法によ
りスロット幅を求める場合の説明図である。 １はスロット ２は被測定物 ３は投・受光器 ４は投射光 ５は反射光 ６はスロット付スペーサの表面 Ｐは波付管 Ｓはスロット付スペーサ 基３図 業４図
Claims (1)
- 波付管Ｐやスロット付スペーサＳ等の被測定物２の外周
を投・受光器３を回転させ、同投・受光器３から被測定
物２に投射された投射光４を同被測定物２で反射させ、
その反射光５を同投・受光器３により検出し、その検出
信号に基づいて同被測定物２の表面６の外観、外径寸法
、谷の深さ、幅、ピッチ等を測定することを特徴とする
波付管、スロット付スペーサ等の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2161899A JPH0452503A (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 波付管、スロット付スペーサ等の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2161899A JPH0452503A (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 波付管、スロット付スペーサ等の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0452503A true JPH0452503A (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=15744133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2161899A Pending JPH0452503A (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 波付管、スロット付スペーサ等の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0452503A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6842258B1 (en) | 1999-09-29 | 2005-01-11 | Nextrom Holdings S.A. | Method of measuring the geometry of grooves in an elongated element |
-
1990
- 1990-06-20 JP JP2161899A patent/JPH0452503A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6842258B1 (en) | 1999-09-29 | 2005-01-11 | Nextrom Holdings S.A. | Method of measuring the geometry of grooves in an elongated element |
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