JPH0449875U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0449875U JPH0449875U JP9211990U JP9211990U JPH0449875U JP H0449875 U JPH0449875 U JP H0449875U JP 9211990 U JP9211990 U JP 9211990U JP 9211990 U JP9211990 U JP 9211990U JP H0449875 U JPH0449875 U JP H0449875U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- insulating substrate
- capacitance
- pallet
- main surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図は本考案によるコンデンサーの静電容量
測定装置の構造を示す断面図であり、第２図は上
記測定装置のパレツトの構造を示す斜視図であり
、第３図は絶縁基板の表面に形成される電極ラン
ドの構造を示す図であり、第４図ａ及びｂは従来
技術による静電容量測定装置を説明する全体構成
図及びその一部拡大断面図である。１０……パレ
ツト、１１……段部、１２……凹部、２０……絶
縁基板、２１……電極ランド、３０……コンデン
サー、４０……静電容量測定装置、５０……測定
端子（プローブ）。
測定装置の構造を示す断面図であり、第２図は上
記測定装置のパレツトの構造を示す斜視図であり
、第３図は絶縁基板の表面に形成される電極ラン
ドの構造を示す図であり、第４図ａ及びｂは従来
技術による静電容量測定装置を説明する全体構成
図及びその一部拡大断面図である。１０……パレ
ツト、１１……段部、１２……凹部、２０……絶
縁基板、２１……電極ランド、３０……コンデン
サー、４０……静電容量測定装置、５０……測定
端子（プローブ）。
Claims (1)
- 一方の主面上にお互いに対向して電極ランドが
配置され、該電極ランド間に静電容量を測定すべ
きコンデンサーを半田接続した絶縁基板について
、該絶縁基板を反対側の主面から支持するパレツ
トと、該パレツト上に支持された上記絶縁基板の
上記電極ランドに測定端子を押し当て、該電極ラ
ンド間に接続されたコンデンサーの静電容量を測
定する静電容量測定部とを有するコンデンサーの
静電容量測定装置において、少なくとも、上記絶
縁基板の主面上に形成された上記電極ランド及び
その間に接続されたコンデンサーが占領する領域
に対応する上記パレツトの表面領域に凹部が形成
されていることを特徴とするコンデンサーの静電
容量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990092119U JP2517819Y2 (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | コンデンサーの静電容量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990092119U JP2517819Y2 (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | コンデンサーの静電容量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0449875U true JPH0449875U (ja) | 1992-04-27 |
| JP2517819Y2 JP2517819Y2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=31828338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990092119U Expired - Lifetime JP2517819Y2 (ja) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | コンデンサーの静電容量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2517819Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01143974A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Toshiba Corp | インサーキットテスト装置 |
-
1990
- 1990-08-31 JP JP1990092119U patent/JP2517819Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01143974A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Toshiba Corp | インサーキットテスト装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2517819Y2 (ja) | 1996-11-20 |