JPH0445776B2 - - Google Patents
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- JPH0445776B2 JPH0445776B2 JP58004598A JP459883A JPH0445776B2 JP H0445776 B2 JPH0445776 B2 JP H0445776B2 JP 58004598 A JP58004598 A JP 58004598A JP 459883 A JP459883 A JP 459883A JP H0445776 B2 JPH0445776 B2 JP H0445776B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、検体（被検査物）がセンサ検出範囲
を通過する間に該センサが検出するアナログ信号
を基準値と比較して検体の良否判別をする自動検
査装置に関する。
を通過する間に該センサが検出するアナログ信号
を基準値と比較して検体の良否判別をする自動検
査装置に関する。
製造プロセスにおける原材料の受入れや製品の
出荷の際の検査工程では、ベルトコンベア等の搬
送装置上を連続的に移動する検体の状態を何らか
の方法で検出し、その検出値と基準となる状態と
を比較して検体の良否を判別する自動検査装置が
用意される。
出荷の際の検査工程では、ベルトコンベア等の搬
送装置上を連続的に移動する検体の状態を何らか
の方法で検出し、その検出値と基準となる状態と
を比較して検体の良否を判別する自動検査装置が
用意される。
この種の自動検査装置は一般的には第１図に示
す構成にされる。搬送装置１上を移送される検体
２に対して、該検体２の状態を何らかのアナログ
信号として検出するセンサ３と、検体２がセンサ
３の検出範囲内に移送されたことを検出する位置
センサ４と、これらセンサ３，４の検出信号を受
けて検体２の良否を判別するコントローラ５とを
具える。コントローラ５は位置センサ４の検出信
号によつて検体２がセンサ３の検出範囲内にある
ことを確認した上でセンサ３からのアナログ信号
を入力して検体の良否を判別する。
す構成にされる。搬送装置１上を移送される検体
２に対して、該検体２の状態を何らかのアナログ
信号として検出するセンサ３と、検体２がセンサ
３の検出範囲内に移送されたことを検出する位置
センサ４と、これらセンサ３，４の検出信号を受
けて検体２の良否を判別するコントローラ５とを
具える。コントローラ５は位置センサ４の検出信
号によつて検体２がセンサ３の検出範囲内にある
ことを確認した上でセンサ３からのアナログ信号
を入力して検体の良否を判別する。
このような自動検査装置のコントローラ５とし
て、マイクロコンピユータを制御中枢部とする場
合、マイクロコンピユータで処理できる信号は全
てデイジタル信号であるため、センサ３からのア
ナログ信号をデイジタル信号に変換する回路を持
つて構成することになる。また、一般には各種プ
ロセスの信号を計測制御機器に入力する場合に
は、ノイズなどを避けるためにプロセスからの信
号を計測制御機器内部に取込むのに信号の電気的
絶縁を行なうようアナログ信号を信号絶縁器を介
して入力する。
て、マイクロコンピユータを制御中枢部とする場
合、マイクロコンピユータで処理できる信号は全
てデイジタル信号であるため、センサ３からのア
ナログ信号をデイジタル信号に変換する回路を持
つて構成することになる。また、一般には各種プ
ロセスの信号を計測制御機器に入力する場合に
は、ノイズなどを避けるためにプロセスからの信
号を計測制御機器内部に取込むのに信号の電気的
絶縁を行なうようアナログ信号を信号絶縁器を介
して入力する。
上述のように、マイクロコンピユータが外部ア
ナログ信号を電気的絶縁を取りながら入力する
に、その電気的絶縁に小型，低コスト，構成の簡
単化を図つた第２図に示す方法がある。外部から
のアナログ信号は電圧−周波数変換回路６によつ
て周波数信号に変換し、この周波数信号はフオト
カプラによる光信号変換など電気的に絶縁する信
号絶縁器７を介してインターバルタイマ８に取込
み、インターバルタイマ８は周波数信号の周波数
を測定し、この測定信号からマイクロコンピユー
タ９が入力アナログ信号電圧に対応した数値を算
出する。
ナログ信号を電気的絶縁を取りながら入力する
に、その電気的絶縁に小型，低コスト，構成の簡
単化を図つた第２図に示す方法がある。外部から
のアナログ信号は電圧−周波数変換回路６によつ
て周波数信号に変換し、この周波数信号はフオト
カプラによる光信号変換など電気的に絶縁する信
号絶縁器７を介してインターバルタイマ８に取込
み、インターバルタイマ８は周波数信号の周波数
を測定し、この測定信号からマイクロコンピユー
タ９が入力アナログ信号電圧に対応した数値を算
出する。
電圧−周波数変換回路６は、第３図ａに示すよ
うに、アナログ信号VINをコンデンサC1と抵抗Ｒ
による時定数で積分し定電流ICの定電流源１０で
積分コンデンサC1を充電させる積分器１１と、
積分器１１の出力電圧VCが零に達したことを検
出するコンパレータ１２と、コンパレータ１２の
検出出力でトリガされて一定幅のパルスを周波数
変換出力f0とすると共に定電流源１０を積分器１
１に接続するワンシヨツト回路１３とを具える。
うに、アナログ信号VINをコンデンサC1と抵抗Ｒ
による時定数で積分し定電流ICの定電流源１０で
積分コンデンサC1を充電させる積分器１１と、
積分器１１の出力電圧VCが零に達したことを検
出するコンパレータ１２と、コンパレータ１２の
検出出力でトリガされて一定幅のパルスを周波数
変換出力f0とすると共に定電流源１０を積分器１
１に接続するワンシヨツト回路１３とを具える。
この構成において、第３図ｂに波形図を示すよ
うに、コンパレータ１２の入力VCが零に達した
ときワンシヨツト回路が動作し、その出力f0は一
定時間Ｔだけハイレベルになり、同時に定電流源
１０を積分器１１の入力として与え、このときか
ら積分器１１のコンデンサC1が充電を始めてワ
ンシヨツト回路１３の時間Ｔの間 dV／dt＝（IC−VIN／Ｒ／C1 の傾きを持つ積分器出力VCが上昇する。時間Ｔ
の経過で出力f0がローレベルになり、定電流源１
０を切離し、このときからコンデンサC1は dV／dt＝−VIN／RC1 の傾きを持つて放電を始め、この放電でVCが零
になると再びワンシヨツト回路１３が時間Ｔだけ
ハイレベルになる繰り返し動作になる。
うに、コンパレータ１２の入力VCが零に達した
ときワンシヨツト回路が動作し、その出力f0は一
定時間Ｔだけハイレベルになり、同時に定電流源
１０を積分器１１の入力として与え、このときか
ら積分器１１のコンデンサC1が充電を始めてワ
ンシヨツト回路１３の時間Ｔの間 dV／dt＝（IC−VIN／Ｒ／C1 の傾きを持つ積分器出力VCが上昇する。時間Ｔ
の経過で出力f0がローレベルになり、定電流源１
０を切離し、このときからコンデンサC1は dV／dt＝−VIN／RC1 の傾きを持つて放電を始め、この放電でVCが零
になると再びワンシヨツト回路１３が時間Ｔだけ
ハイレベルになる繰り返し動作になる。
出力f0のハイレベル時間Ｔ，ローレベル時間ｔ
とすれば、アナログ入力VINが一定ならばコンデ
ンサC1の充電電圧と放電電圧が同じことから ｛（IC−VIN／Ｒ／C1｝×Ｔ＝VIN／RC1×ｔ すなわち、 VIN＝ICＲ／１＋ｔ／Ｔ≡Ｋ／１＋ｔ／Ｔ ……(1) となり、マイクロコンピユータ９は出力f0がロー
レベルにある時間ｔをインターバルタイマ８の出
力として得、他の定数Ｋ，Ｔによる上述の(1)式に
よる演算からアナログ入力VINを算出することが
できる。このとき、出力f0のパルス周波数信号の
段階で信号を電気的に絶縁することにより、アナ
ログ信号の段階での信号の電気的絶縁に比して回
路の簡単化を図ることができる。
とすれば、アナログ入力VINが一定ならばコンデ
ンサC1の充電電圧と放電電圧が同じことから ｛（IC−VIN／Ｒ／C1｝×Ｔ＝VIN／RC1×ｔ すなわち、 VIN＝ICＲ／１＋ｔ／Ｔ≡Ｋ／１＋ｔ／Ｔ ……(1) となり、マイクロコンピユータ９は出力f0がロー
レベルにある時間ｔをインターバルタイマ８の出
力として得、他の定数Ｋ，Ｔによる上述の(1)式に
よる演算からアナログ入力VINを算出することが
できる。このとき、出力f0のパルス周波数信号の
段階で信号を電気的に絶縁することにより、アナ
ログ信号の段階での信号の電気的絶縁に比して回
路の簡単化を図ることができる。
ところで、自動検査装置において、外部アナロ
グ信号VPを入力してある基準値VSとの比較を行
なう場合、一般にはVPとVSを夫々入力して比較
判別するという動作を繰り返すが、アナログ信号
の入力を上述の第２図の回路方式で行なう場合に
は(1)式中の時間ｔを測定するに要する時間に加え
て、(1)式に基づいた計算に要する時間を必要と
し、アナログ信号VP，VSによる比較判別動作の
繰り返し周期を短縮することができず、このよう
な自動検査装置では高速測定ができない問題があ
つた。
グ信号VPを入力してある基準値VSとの比較を行
なう場合、一般にはVPとVSを夫々入力して比較
判別するという動作を繰り返すが、アナログ信号
の入力を上述の第２図の回路方式で行なう場合に
は(1)式中の時間ｔを測定するに要する時間に加え
て、(1)式に基づいた計算に要する時間を必要と
し、アナログ信号VP，VSによる比較判別動作の
繰り返し周期を短縮することができず、このよう
な自動検査装置では高速測定ができない問題があ
つた。
本発明は、検体がセンサ検出範囲にある間は電
圧−周波数変換されたパルス幅信号のみを連続的
に取込んでそのパルス幅の最大値又は最小値のみ
を記憶しておき、検体がセンサ検出範囲を通過し
た直後に入力値の計算と基準の入力を行なつて両
者の比較をすることにより、精度良い高速測定を
可能にした自動検査装置を提供することを目的と
する。
圧−周波数変換されたパルス幅信号のみを連続的
に取込んでそのパルス幅の最大値又は最小値のみ
を記憶しておき、検体がセンサ検出範囲を通過し
た直後に入力値の計算と基準の入力を行なつて両
者の比較をすることにより、精度良い高速測定を
可能にした自動検査装置を提供することを目的と
する。
本発明は、検体の状態を検出するアナログ信号
の入力には電圧−周波数変換と周波数信号絶縁と
インターバルタイマによるパルス幅検出によつて
アナログ入力電圧に対応した周波数信号のパルス
幅を測定し、所定の計算式をもとに入力電圧を計
算するが、アナログ信号の比較判断に従来装置と
の違いがある。即ち、アナログ信号を入力する場
合、アナログ信号に対応する周波数信号のパルス
幅を測定し、これをもとに入力電圧を測定する
が、本発明では検体がセンサの検出範囲にあるこ
とを位置センサで検出しておき、この間は連続的
にパルス幅の測定のみを行ない、この測定値のう
ち最大値又は最小値のみを記憶しておく。この最
大値，最小値は前述の(1)式から変換パルス幅の最
大値，最小値に対応し、この最大値又は最小値を
もとにアナログ信号電圧を計算することは検体の
状態の検出値の最小値又は最大値を算出すること
を意味し、この算出値と入力した基準値の比較に
よれば検体の良否の判定が該検体の状態を代表す
る１つの値を１回比較することで済んで検体の各
部状態の検出値を多数回比較する場合に比べて比
較判別回数を大幅に低減できることになる。
の入力には電圧−周波数変換と周波数信号絶縁と
インターバルタイマによるパルス幅検出によつて
アナログ入力電圧に対応した周波数信号のパルス
幅を測定し、所定の計算式をもとに入力電圧を計
算するが、アナログ信号の比較判断に従来装置と
の違いがある。即ち、アナログ信号を入力する場
合、アナログ信号に対応する周波数信号のパルス
幅を測定し、これをもとに入力電圧を測定する
が、本発明では検体がセンサの検出範囲にあるこ
とを位置センサで検出しておき、この間は連続的
にパルス幅の測定のみを行ない、この測定値のう
ち最大値又は最小値のみを記憶しておく。この最
大値，最小値は前述の(1)式から変換パルス幅の最
大値，最小値に対応し、この最大値又は最小値を
もとにアナログ信号電圧を計算することは検体の
状態の検出値の最小値又は最大値を算出すること
を意味し、この算出値と入力した基準値の比較に
よれば検体の良否の判定が該検体の状態を代表す
る１つの値を１回比較することで済んで検体の各
部状態の検出値を多数回比較する場合に比べて比
較判別回数を大幅に低減できることになる。
一般的には、検体がセンサの検出範囲にある時
間が短かく、その間の基準値が大きく変化するこ
とはないため、本発明による上述の検査にあつて
も検体の状態を正確に判別し得、しかも基準値と
検体よりのアナログ信号との大小判断をする毎に
入力電圧を計算しなくて済み、その分だけマイク
ロコンピユータによる処理時間の短縮になるし、
検体がセンサの検出範囲を通過する時間を短縮し
て高速測定又は精度向上を図ることができる。
間が短かく、その間の基準値が大きく変化するこ
とはないため、本発明による上述の検査にあつて
も検体の状態を正確に判別し得、しかも基準値と
検体よりのアナログ信号との大小判断をする毎に
入力電圧を計算しなくて済み、その分だけマイク
ロコンピユータによる処理時間の短縮になるし、
検体がセンサの検出範囲を通過する時間を短縮し
て高速測定又は精度向上を図ることができる。
本発明装置と従来方法の違いをフローチヤート
で示すと第４図のようになる。検体の状態の検出
アナログ値VP，検出基準値VN，夫々の値VP，VS
に対する変換パルス幅をtP，tSとすると、同図ａ
に示す従来方法では検体検出（ステツプS1）後
にはアナログ信号を入力する毎にtP，tSの測定
（ステツプS2，S4）とVP，VSの計算（ステツプ
S3，S5）とVPとVSの比較（ステツプS6）を行な
い、この一連の測定と計算は検体が検出範囲内に
ある限り繰り返し（ステツプS7）、検体が検出範
囲を外れるとVP，VSの比較結果から検体の良否
判断（ステツプS8）をするものであつた。
で示すと第４図のようになる。検体の状態の検出
アナログ値VP，検出基準値VN，夫々の値VP，VS
に対する変換パルス幅をtP，tSとすると、同図ａ
に示す従来方法では検体検出（ステツプS1）後
にはアナログ信号を入力する毎にtP，tSの測定
（ステツプS2，S4）とVP，VSの計算（ステツプ
S3，S5）とVPとVSの比較（ステツプS6）を行な
い、この一連の測定と計算は検体が検出範囲内に
ある限り繰り返し（ステツプS7）、検体が検出範
囲を外れるとVP，VSの比較結果から検体の良否
判断（ステツプS8）をするものであつた。
これに対して、本発明では、第４図ｂに示すよ
うに、検体が検出範囲に入ると（ステツプS11）、
tP測定（ステツプS12）に次いでそれまでのtP測
定値のうちの最大値（もしくは最小値）を抽出し
て該最大値を記憶更新して行き（ステツプS13）、
この操作を検体が検出範囲を外れるまで繰り返し
（ステツプS14）、検体が検出範囲を外れると初め
てtSの測定（ステツプS15）、VSの計算（ステツプ
S16）、VPの計算（ステツプS17）及びVPとVSの
比較判断（ステツプS18）を行なう。これによ
り、検体がセンサの検出範囲内に存在する時間が
同じならば、本発明ではアナログ信号の比較即ち
アナログ信号に対応するパルス幅の比較が従来方
法に比べて多く行なうことができ、検体の小さな
異常も検出する精度良い測定ができるし、同じ精
度を得るのに本発明装置では検体の移動速度を早
くすることができる。
うに、検体が検出範囲に入ると（ステツプS11）、
tP測定（ステツプS12）に次いでそれまでのtP測
定値のうちの最大値（もしくは最小値）を抽出し
て該最大値を記憶更新して行き（ステツプS13）、
この操作を検体が検出範囲を外れるまで繰り返し
（ステツプS14）、検体が検出範囲を外れると初め
てtSの測定（ステツプS15）、VSの計算（ステツプ
S16）、VPの計算（ステツプS17）及びVPとVSの
比較判断（ステツプS18）を行なう。これによ
り、検体がセンサの検出範囲内に存在する時間が
同じならば、本発明ではアナログ信号の比較即ち
アナログ信号に対応するパルス幅の比較が従来方
法に比べて多く行なうことができ、検体の小さな
異常も検出する精度良い測定ができるし、同じ精
度を得るのに本発明装置では検体の移動速度を早
くすることができる。
第５図は本発明の一実施例を示す装置構成図で
あり、搬送装置１上を連続的に移送される検体２
に対してその表面に傷がある場合に該検体を排除
することを目的とする自動検査装置に適用した場
合を示す。交流励磁の光源ランプ２１は検体２が
所定範囲内を移送されるときにその検出面を光照
射すると共に、該検体の検出範囲の近傍に固定さ
れる比較基準面を持つ基準物体２２を光照射す
る。光センサ２３は光源ランプ２１からの光が検
体２表面の傷で乱反射された光を捕捉し、乱反射
光の強さに対応した電気信号を得る。同様に光セ
ンサ２４は基準物体２２の表面粗さによる乱反射
光を電気信号として検出する。位置センサ２５は
検体２が光センサ２３の検出範囲内にあるか否か
を検出する。コントローラ２６は位置センサ２５
による検出信号から検体がその検出範囲内にある
ことを条件に光センサ２３，２４のアナログ信号
から該検体の良否（傷の強さ）を判別し、検体不
良のときは排除機２７を駆動制御して該排除機２
７による不良検体の排除を行なわせる。なお、光
源ランプ２１を交流励磁とするのは、光センサ２
３，２４の光入力に外来光（例えば照明光）の影
響を無くすもので、光センサ２３，２４内のセン
サアンプでは検出信号から光源ランプ２１の励振
周波数成分のみを抽出して傷の有無を振幅の大き
さとして直流アナログレベルでコントローラ２６
への出力とする。
あり、搬送装置１上を連続的に移送される検体２
に対してその表面に傷がある場合に該検体を排除
することを目的とする自動検査装置に適用した場
合を示す。交流励磁の光源ランプ２１は検体２が
所定範囲内を移送されるときにその検出面を光照
射すると共に、該検体の検出範囲の近傍に固定さ
れる比較基準面を持つ基準物体２２を光照射す
る。光センサ２３は光源ランプ２１からの光が検
体２表面の傷で乱反射された光を捕捉し、乱反射
光の強さに対応した電気信号を得る。同様に光セ
ンサ２４は基準物体２２の表面粗さによる乱反射
光を電気信号として検出する。位置センサ２５は
検体２が光センサ２３の検出範囲内にあるか否か
を検出する。コントローラ２６は位置センサ２５
による検出信号から検体がその検出範囲内にある
ことを条件に光センサ２３，２４のアナログ信号
から該検体の良否（傷の強さ）を判別し、検体不
良のときは排除機２７を駆動制御して該排除機２
７による不良検体の排除を行なわせる。なお、光
源ランプ２１を交流励磁とするのは、光センサ２
３，２４の光入力に外来光（例えば照明光）の影
響を無くすもので、光センサ２３，２４内のセン
サアンプでは検出信号から光源ランプ２１の励振
周波数成分のみを抽出して傷の有無を振幅の大き
さとして直流アナログレベルでコントローラ２６
への出力とする。
コントローラ２６は、第６図に示す構成にされ
る。光センサ２３の検出信号VPと光センサ２４
の検出信号VSとは夫々電圧−周波数変換回路２
８Ａ，２８Ｂによつて対応する周波数のパルス信
号に変換され、これら変換信号は夫々信号絶縁器
２９Ａ，２９Ｂで絶縁されてインターバルタイマ
３０Ａ，３０Ｂによるパルス幅検出がなされる。
インターバルタイマ３０Ａ，３０Ｂの両検出信号
は位置センサ２５が検体検出中を条件にマイクロ
コンピユータ３１に入力され、該マイクロコンピ
ユータ３１は第４図ｂに示すフローチヤートに従
つた検体の良否判断をして必要に応じて排除機２
７に動作指令を与える。
る。光センサ２３の検出信号VPと光センサ２４
の検出信号VSとは夫々電圧−周波数変換回路２
８Ａ，２８Ｂによつて対応する周波数のパルス信
号に変換され、これら変換信号は夫々信号絶縁器
２９Ａ，２９Ｂで絶縁されてインターバルタイマ
３０Ａ，３０Ｂによるパルス幅検出がなされる。
インターバルタイマ３０Ａ，３０Ｂの両検出信号
は位置センサ２５が検体検出中を条件にマイクロ
コンピユータ３１に入力され、該マイクロコンピ
ユータ３１は第４図ｂに示すフローチヤートに従
つた検体の良否判断をして必要に応じて排除機２
７に動作指令を与える。
こうした構成において、検体の表面及び基準物
体表面からの検出信号VP，VSと変換パルス幅tP，
tSとは夫々次の(2)，(3)式の関係にある。
体表面からの検出信号VP，VSと変換パルス幅tP，
tSとは夫々次の(2)，(3)式の関係にある。
VP＝KP／１＋tP／TP ……(2)
VS＝KS／１＋tS／TS ……(3)
ここで、KS，TS，KP，TPは夫々のアナログ入
力手段の定数である。KP，TPを例えばKP＝10V，
TP＝100μSとすると、VP＝1VのときにtP＝900μS
でありVP＞1VのときにはtP＜900μSである。従つ
て、マイクロコンピユータ３１がインターバルタ
イマ３０Ａを用いてtPを入力するのに要する時間
は１ミリ秒程度又はそれ以下である。これに対し
て、(2)式からVPを計算するのに、マイクロコン
ピユータ３１でのプログラムに従つた計算では10
ミリ程度の時間を要するのが普通である。これら
の時間を考慮すれば、第４図ａに示す従来方法に
よる１回の測定時間は （1ms＋10ms）×２＝22ms 程度必要とし、アナログ信号の入力周期をこの時
間よりも短縮できない。そして、検体がセンサの
検出範囲にある時間が50ミリ秒とすれば検体の状
態を２回（２箇所）しか検査できないことにな
る。
力手段の定数である。KP，TPを例えばKP＝10V，
TP＝100μSとすると、VP＝1VのときにtP＝900μS
でありVP＞1VのときにはtP＜900μSである。従つ
て、マイクロコンピユータ３１がインターバルタ
イマ３０Ａを用いてtPを入力するのに要する時間
は１ミリ秒程度又はそれ以下である。これに対し
て、(2)式からVPを計算するのに、マイクロコン
ピユータ３１でのプログラムに従つた計算では10
ミリ程度の時間を要するのが普通である。これら
の時間を考慮すれば、第４図ａに示す従来方法に
よる１回の測定時間は （1ms＋10ms）×２＝22ms 程度必要とし、アナログ信号の入力周期をこの時
間よりも短縮できない。そして、検体がセンサの
検出範囲にある時間が50ミリ秒とすれば検体の状
態を２回（２箇所）しか検査できないことにな
る。
これに対して、本発明装置では、第４図ｂに示
すように、検体がセンサの検出範囲にある間はtP
のみを連続的に入力し、その間の最小値（もしく
は最大値）のみを記憶更新しておき、検体がその
検出範囲を外れたときにtPから計算したVPとtS入
力によるVSの計算値とを初めて比較するため、
アナログ信号VPの入力周期がtPを測定する時間と
ほぼ等しくなつて、例えば上述の例では約１ミリ
秒まで短縮できる。即ち、検体が検出範囲を外れ
るまでの50ミリ秒間に検体の状態を50回程度入力
でき、検出面全面に渡つた状態検出になつて検出
精度を大幅に向上できることを意味するし、従来
と同じ検出精度とすれば20倍以上の高速測定を可
能にすることを意味する。
すように、検体がセンサの検出範囲にある間はtP
のみを連続的に入力し、その間の最小値（もしく
は最大値）のみを記憶更新しておき、検体がその
検出範囲を外れたときにtPから計算したVPとtS入
力によるVSの計算値とを初めて比較するため、
アナログ信号VPの入力周期がtPを測定する時間と
ほぼ等しくなつて、例えば上述の例では約１ミリ
秒まで短縮できる。即ち、検体が検出範囲を外れ
るまでの50ミリ秒間に検体の状態を50回程度入力
でき、検出面全面に渡つた状態検出になつて検出
精度を大幅に向上できることを意味するし、従来
と同じ検出精度とすれば20倍以上の高速測定を可
能にすることを意味する。
なお、アナログ信号VPの入力に対応する時間
幅信号tPの記憶更新には、最小値（又は最大値）
１つだけなく最小値に近いいくつかの値も記憶更
新しておき、最小値が他の記憶値よりも極端に小
さいときにはこれをノイズによる最小値として無
視して次に小さい値又は平均値を最小値として採
用することにより、突発的なノイズ例えばランプ
の発光や電源ラインに乗るスパイクノイズ等の外
乱からの影響を取除いた信頼性の高い検査を可能
にする。
幅信号tPの記憶更新には、最小値（又は最大値）
１つだけなく最小値に近いいくつかの値も記憶更
新しておき、最小値が他の記憶値よりも極端に小
さいときにはこれをノイズによる最小値として無
視して次に小さい値又は平均値を最小値として採
用することにより、突発的なノイズ例えばランプ
の発光や電源ラインに乗るスパイクノイズ等の外
乱からの影響を取除いた信頼性の高い検査を可能
にする。
以上のとおり、本発明によれば、検体がセンサ
検出範囲にある間は該センサの検出信号に対応す
るパルス幅信号の最大値又は最小値のみを記憶更
新しておき、検体がセンサ検出範囲を外れたとき
にアナログ信号レベルの計算と基準値の入力計算
及び両者の比較を行なつて検体の良否判別をする
ため、検体状態の検出精度を向上しながら高速測
定も可能にする効果がある。
検出範囲にある間は該センサの検出信号に対応す
るパルス幅信号の最大値又は最小値のみを記憶更
新しておき、検体がセンサ検出範囲を外れたとき
にアナログ信号レベルの計算と基準値の入力計算
及び両者の比較を行なつて検体の良否判別をする
ため、検体状態の検出精度を向上しながら高速測
定も可能にする効果がある。
第１図は従来の自動検査装置の構成図、第２図
は第１図におけるコントローラの構成図、第３図
は電圧−周波数変換器構成図ａと要部波形図ｂ，
第４図はコントローラにおける信号処理を示す従
来フローチヤートａと本発明のフローチヤート
ｂ、第５図は本発明の一実施例を示す構成図、第
６図は第５図におけるコントローラの構成図であ
る。 １……搬送装置、２……検体、６……電圧−周
波数変換器、７……信号絶縁器、８……インター
バルタイマ、９……マイクロコンピユータ、１０
……定電流源、１１……積分器、１２……コンパ
レータ、１３……ワンシヨツト回路、２１……光
源ランプ、２２……基準物体、２３，２４……光
センサ、２５……位置センサ、２６……コントロ
ーラ、２７……排除機、２８Ａ，２８Ｂ……電圧
−周波数変換器、２９Ａ，２９Ｂ……信号絶縁
器、３０Ａ，３０Ｂ……インターバルタイマ、３
１……マイクロコンピユータ。
は第１図におけるコントローラの構成図、第３図
は電圧−周波数変換器構成図ａと要部波形図ｂ，
第４図はコントローラにおける信号処理を示す従
来フローチヤートａと本発明のフローチヤート
ｂ、第５図は本発明の一実施例を示す構成図、第
６図は第５図におけるコントローラの構成図であ
る。 １……搬送装置、２……検体、６……電圧−周
波数変換器、７……信号絶縁器、８……インター
バルタイマ、９……マイクロコンピユータ、１０
……定電流源、１１……積分器、１２……コンパ
レータ、１３……ワンシヨツト回路、２１……光
源ランプ、２２……基準物体、２３，２４……光
センサ、２５……位置センサ、２６……コントロ
ーラ、２７……排除機、２８Ａ，２８Ｂ……電圧
−周波数変換器、２９Ａ，２９Ｂ……信号絶縁
器、３０Ａ，３０Ｂ……インターバルタイマ、３
１……マイクロコンピユータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 搬送される被検査物の状態を検出してアナロ
グ信号を出力する被検査物用センサと、 被検査物の基準物体の状態を検出してアナログ
信号を出力する基準物体用センサと、 被検査物が上記被検査物用センサの検出範囲内
にあることを検出する位置センサと、 上記被検査物用センサと基準物体用センサから
の両アナログ信号を夫々対応する周波数を持つパ
ルス信号に変換する手段を有するコントローラと
を備えた自動検査装置であつて、 上記コントローラは、被検査物が上記位置セン
サの検出範囲内にあることを上記位置センサの検
出信号から判定する第１の判定手段と、この判定
手段の判定が被検査物が上記位置センサの検出範
囲内にある判定になるときに上記被検査物用セン
サの出力から変換した上記パルス信号の幅を連続
的に計測する第１の計測手段と、上記幅の計測値
の最大値又は最小値を記憶更新しておく記憶手段
と、上記第１の判定手段の判定が被検査物が上記
被検査物用センサの検出範囲を外れたことの判定
になるときに上記基準物体用センサの出力から変
換した上記パルス信号の幅を計測する第２の計測
手段と、この第２の計測手段が計測した幅から上
記基準物体用センサのアナログ信号レベルを基準
値として算出する第１の演算手段と、上記記憶手
段が記憶する上記最大値又は最小値から被検査物
用センサのアナログ信号レベルを算出する第２の
演算手段と、上記両演算手段の出力の大小比較に
よつて被検査物の良否判定をする第２の判定手段
とを備えたことを特徴とする自動検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP459883A JPS59128435A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 自動検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP459883A JPS59128435A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 自動検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59128435A JPS59128435A (ja) | 1984-07-24 |
| JPH0445776B2 true JPH0445776B2 (ja) | 1992-07-27 |
Family
ID=11588479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP459883A Granted JPS59128435A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 自動検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59128435A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8934095B2 (en) | 2002-02-21 | 2015-01-13 | Vita Zahnfabrik H. Rauter Gmbh & Co. Kg | Miniaturized system and method for measuring optical characteristics |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5760974A (en) * | 1980-09-02 | 1982-04-13 | Honda Motor Co Ltd | Vehicle steering system |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6124445Y2 (ja) * | 1979-04-10 | 1986-07-22 |
-
1983
- 1983-01-14 JP JP459883A patent/JPS59128435A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5760974A (en) * | 1980-09-02 | 1982-04-13 | Honda Motor Co Ltd | Vehicle steering system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8934095B2 (en) | 2002-02-21 | 2015-01-13 | Vita Zahnfabrik H. Rauter Gmbh & Co. Kg | Miniaturized system and method for measuring optical characteristics |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59128435A (ja) | 1984-07-24 |
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