SU997113A1 - Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком - Google Patents

Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком Download PDF

Info

Publication number
SU997113A1
SU997113A1 SU813328093A SU3328093A SU997113A1 SU 997113 A1 SU997113 A1 SU 997113A1 SU 813328093 A SU813328093 A SU 813328093A SU 3328093 A SU3328093 A SU 3328093A SU 997113 A1 SU997113 A1 SU 997113A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
capacitors
leakage current
rejection
rejecting
current
Prior art date
Application number
SU813328093A
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Николаевич Дьяконов
Юрий Степанович Капшин
Валерий Мустафьевич Муждаба
Иосиф Вульфович Нетупский
Валентин Алексеевич Носкин
Самуил Давидович Ханин
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4816
Ленинградский Институт Ядерной Физики Им.Б.П.Константинова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4816, Ленинградский Институт Ядерной Физики Им.Б.П.Константинова filed Critical Предприятие П/Я Г-4816
Priority to SU813328093A priority Critical patent/SU997113A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU997113A1 publication Critical patent/SU997113A1/ru

Links

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

Изобретение относитс  к радиоэлектронной технике и может быть использовано в производстве конденсаторов с оксидным диэлектриком. Известен сГгособ испытаний конденсаторов с оксидным диэлектриком, заключающийс  в измерении дисперсии тока зар да (или разр да) при подаче медленно возрастающего напр жени  или синусоидсшьного напр жени  инфразвуковых частот 1. Конденсаторы разбраковывают- по величине отклонени  от среднего значени  измер емого тока b данной выборке. Недостатком данного спо соба  вл етс  очень низка  чувствительность , что делает этот способ применимым дл  конденса;торов системы металл-оксид-металл. Наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  способ отбраковки конденсаторов с оксид ным диэлектриком, включающий измерение тока утечки L23, Конденсатор считаетс  годным, если величина измер емого тока мень ше величины, нормированной техническими услови ми дл  данного типа конденсаторов . Считаетс  при этом, что чем меньше ток утечки конденсатора, тем более он надежен в эксплуатации. Поэтому дл  особоответственной аппаратуры из готовых изделий делецот выборку конденсаторов с минимальными TOKaiIra утечки. На практике, однако, даже в этом случае некоторые конденсаторы при эксплуатации быстро выход т из стро . Цель изобретени  - повышение точности отбраковки. Цель достигаетс  тем, что согласно способу отбраковки конд ецсаторов с оксидным диэлектриком, включающему измерение тока утечки, одновременно с измерение тока утечки измер ют флуктуацию его, а отбраковку конденсаторов производ т по аномальному значению флуктуации тока утечки. Пример. Конденсаторы танта ловые типа К52-1 номинала 100 В 3,3 мкф в количестве 24 шт. после изготовлени  разбраковываютс  по вели чине тока утечки обычным способом; на конденсатор подаетс  рабочее напр жение 100 В и измер етс  ток утечки. Все конденсаторы признанЬ годными, так как величина тока утечки у всех конденсаторов меньше 1 мкА. Затем эти конденсаторы разбраковываютс  по предлагаемому спо собу: на конденсатор подаетс  номинальное (рабочее) напр жение 100.В и измер етс , величина тока утечки и его флуктуации. Спектр флуктуации изучаетс  с помощью анализатора , позвол ющего проводить изучение спектра сразу в двухстах равноотсто щих точках. Измеренные вели чины усредн ютс  в режиме накопле ни  (линейного или экспоненциального ) с помощью многоканального нако.пител  за врем  2 мин. Обнаружено , что на двух конденсаторах из всех измеренныхфлуктуации тока зйачительно (свыше 10 раз } больше, чем на остапьнЕлх, при этом по величине тока утечки все конденсаторы удовлетвор ют, требовани м технических условий. Испытани  на надежность показывают, что ток утечки конденсаторов , имеющих аномально большое зна чение флуктуации тока, растёт в процессе испытани /, а у -остальных конде саторов - падает.
Предлагаемой способ отбраковки конденсат .роВ «о- оксидным диэлектриком позвол ет повысить достоверност указанной операции, так как одновре-v
Менно с отбраковкой  вно дефектных конденсаторов вы вл ютс  издели , потенциально ненадежные при эксплуатации .
При этом можно без дополнительных 3атрат времени проводить разбраковку всех изготавливаемых конденсаторов по качеству диэлектрической изол ции.

Claims (2)

  1. ° Формула изобретени 
    Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком, включающий измерени  тока утечки, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности отбраковки, одновременн с измерением тока.утечки измер ют флуктуацию тока ут(, а отбраковку конденсаторов производ т по аномальному значению флуктуации тока утечки .
    Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе , 1. Патент Японии 47-49660, кл. 59 Е 3122, 13.12.72.
  2. 2. Закгейм Л.Н. Электрические конденсаторы. М.-Л., Госэнергойздат, 1963, с. 272 (прототип).
SU813328093A 1981-07-17 1981-07-17 Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком SU997113A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813328093A SU997113A1 (ru) 1981-07-17 1981-07-17 Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813328093A SU997113A1 (ru) 1981-07-17 1981-07-17 Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU997113A1 true SU997113A1 (ru) 1983-02-15

Family

ID=20973127

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813328093A SU997113A1 (ru) 1981-07-17 1981-07-17 Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU997113A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5757192A (en) Method and apparatus for detecting a bad cell in a storage battery
US6687631B2 (en) Laplace transform impedance spectrometer and its measurement method
US5393495A (en) Method and apparatus for testing gases, particularly breath alcohol
WO1997017829B1 (en) Variable voltage component tester
US5150059A (en) Method and apparatus for testing the condition of insulating system
US8461849B1 (en) Multivariate predictive insulation resistance measurement
KR20030030035A (ko) 축전기의 절연저항 측정방법 및 절연저항 측정장치
US2961606A (en) Capacitor testing device
CN109683028B (zh) 一种静电检测方法及装置
KR100349084B1 (ko) 커패시터의 검사 방법
US4071817A (en) High temperature electrochemical cell tester
SU997113A1 (ru) Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком
US4904946A (en) Method for evaluating insulating films
CN115980230A (zh) 液相色谱-质谱联用仪校准装置及其校准方法
KR20090100303A (ko) 콘덴서의 절연성 검사 방법
JPH03176678A (ja) Icテスタのac評価方法
SU930406A1 (ru) Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком
CN113552419B (zh) 一种间接检测mlcc介质陶瓷晶格缺陷的方法
JPS6279375A (ja) 絶縁膜の評価方法
CN115308520B (zh) 多通道依次采样电流的延时时间的确定方法、程序和电路
SU1337837A1 (ru) Способ неразрушающего контрол качества изготовлени высоковольтной изол ции
Hegeduš et al. High resistance measurement based on industrial datalogger
JPH0129062B2 (ru)
SU588514A1 (ru) Способ отбраковки изделий с высоковольтной изол цией
RU2069405C1 (ru) Способ контроля качества оксидно-полупроводниковых конденсаторов