SU997113A1 - Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком - Google Patents
Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком Download PDFInfo
- Publication number
- SU997113A1 SU997113A1 SU813328093A SU3328093A SU997113A1 SU 997113 A1 SU997113 A1 SU 997113A1 SU 813328093 A SU813328093 A SU 813328093A SU 3328093 A SU3328093 A SU 3328093A SU 997113 A1 SU997113 A1 SU 997113A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- capacitors
- leakage current
- rejection
- rejecting
- current
- Prior art date
Links
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
Изобретение относитс к радиоэлектронной технике и может быть использовано в производстве конденсаторов с оксидным диэлектриком. Известен сГгособ испытаний конденсаторов с оксидным диэлектриком, заключающийс в измерении дисперсии тока зар да (или разр да) при подаче медленно возрастающего напр жени или синусоидсшьного напр жени инфразвуковых частот 1. Конденсаторы разбраковывают- по величине отклонени от среднего значени измер емого тока b данной выборке. Недостатком данного спо соба вл етс очень низка чувствительность , что делает этот способ применимым дл конденса;торов системы металл-оксид-металл. Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс способ отбраковки конденсаторов с оксид ным диэлектриком, включающий измерение тока утечки L23, Конденсатор считаетс годным, если величина измер емого тока мень ше величины, нормированной техническими услови ми дл данного типа конденсаторов . Считаетс при этом, что чем меньше ток утечки конденсатора, тем более он надежен в эксплуатации. Поэтому дл особоответственной аппаратуры из готовых изделий делецот выборку конденсаторов с минимальными TOKaiIra утечки. На практике, однако, даже в этом случае некоторые конденсаторы при эксплуатации быстро выход т из стро . Цель изобретени - повышение точности отбраковки. Цель достигаетс тем, что согласно способу отбраковки конд ецсаторов с оксидным диэлектриком, включающему измерение тока утечки, одновременно с измерение тока утечки измер ют флуктуацию его, а отбраковку конденсаторов производ т по аномальному значению флуктуации тока утечки. Пример. Конденсаторы танта ловые типа К52-1 номинала 100 В 3,3 мкф в количестве 24 шт. после изготовлени разбраковываютс по вели чине тока утечки обычным способом; на конденсатор подаетс рабочее напр жение 100 В и измер етс ток утечки. Все конденсаторы признанЬ годными, так как величина тока утечки у всех конденсаторов меньше 1 мкА. Затем эти конденсаторы разбраковываютс по предлагаемому спо собу: на конденсатор подаетс номинальное (рабочее) напр жение 100.В и измер етс , величина тока утечки и его флуктуации. Спектр флуктуации изучаетс с помощью анализатора , позвол ющего проводить изучение спектра сразу в двухстах равноотсто щих точках. Измеренные вели чины усредн ютс в режиме накопле ни (линейного или экспоненциального ) с помощью многоканального нако.пител за врем 2 мин. Обнаружено , что на двух конденсаторах из всех измеренныхфлуктуации тока зйачительно (свыше 10 раз } больше, чем на остапьнЕлх, при этом по величине тока утечки все конденсаторы удовлетвор ют, требовани м технических условий. Испытани на надежность показывают, что ток утечки конденсаторов , имеющих аномально большое зна чение флуктуации тока, растёт в процессе испытани /, а у -остальных конде саторов - падает.
Предлагаемой способ отбраковки конденсат .роВ «о- оксидным диэлектриком позвол ет повысить достоверност указанной операции, так как одновре-v
Менно с отбраковкой вно дефектных конденсаторов вы вл ютс издели , потенциально ненадежные при эксплуатации .
При этом можно без дополнительных 3атрат времени проводить разбраковку всех изготавливаемых конденсаторов по качеству диэлектрической изол ции.
Claims (2)
- ° Формула изобретениСпособ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком, включающий измерени тока утечки, отличающийс тем, что, с целью повышени точности отбраковки, одновременн с измерением тока.утечки измер ют флуктуацию тока ут(, а отбраковку конденсаторов производ т по аномальному значению флуктуации тока утечки .Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе , 1. Патент Японии 47-49660, кл. 59 Е 3122, 13.12.72.
- 2. Закгейм Л.Н. Электрические конденсаторы. М.-Л., Госэнергойздат, 1963, с. 272 (прототип).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813328093A SU997113A1 (ru) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813328093A SU997113A1 (ru) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU997113A1 true SU997113A1 (ru) | 1983-02-15 |
Family
ID=20973127
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813328093A SU997113A1 (ru) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU997113A1 (ru) |
-
1981
- 1981-07-17 SU SU813328093A patent/SU997113A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5757192A (en) | Method and apparatus for detecting a bad cell in a storage battery | |
US6687631B2 (en) | Laplace transform impedance spectrometer and its measurement method | |
US5393495A (en) | Method and apparatus for testing gases, particularly breath alcohol | |
WO1997017829B1 (en) | Variable voltage component tester | |
US5150059A (en) | Method and apparatus for testing the condition of insulating system | |
US8461849B1 (en) | Multivariate predictive insulation resistance measurement | |
KR20030030035A (ko) | 축전기의 절연저항 측정방법 및 절연저항 측정장치 | |
US2961606A (en) | Capacitor testing device | |
CN109683028B (zh) | 一种静电检测方法及装置 | |
KR100349084B1 (ko) | 커패시터의 검사 방법 | |
US4071817A (en) | High temperature electrochemical cell tester | |
SU997113A1 (ru) | Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком | |
US4904946A (en) | Method for evaluating insulating films | |
CN115980230A (zh) | 液相色谱-质谱联用仪校准装置及其校准方法 | |
KR20090100303A (ko) | 콘덴서의 절연성 검사 방법 | |
JPH03176678A (ja) | Icテスタのac評価方法 | |
SU930406A1 (ru) | Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком | |
CN113552419B (zh) | 一种间接检测mlcc介质陶瓷晶格缺陷的方法 | |
JPS6279375A (ja) | 絶縁膜の評価方法 | |
CN115308520B (zh) | 多通道依次采样电流的延时时间的确定方法、程序和电路 | |
SU1337837A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол качества изготовлени высоковольтной изол ции | |
Hegeduš et al. | High resistance measurement based on industrial datalogger | |
JPH0129062B2 (ru) | ||
SU588514A1 (ru) | Способ отбраковки изделий с высоковольтной изол цией | |
RU2069405C1 (ru) | Способ контроля качества оксидно-полупроводниковых конденсаторов |