JPH0443670A - 半導体装置 - Google Patents
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- JPH0443670A JPH0443670A JP14997590A JP14997590A JPH0443670A JP H0443670 A JPH0443670 A JP H0443670A JP 14997590 A JP14997590 A JP 14997590A JP 14997590 A JP14997590 A JP 14997590A JP H0443670 A JPH0443670 A JP H0443670A
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- H01L2224/92242—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
- H01L2224/92247—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体装置に用いられるリードフレームの構
造に関するものである。
造に関するものである。
(従来の技術)
IC,LSIなどの半導体装置の組立て技術において、
リードフレームは、重要な部品である。
リードフレームは、重要な部品である。
リードフレームのインナーリードと半導体素子とを電気
的に接続してから、これらを樹脂やセラミツタなどのパ
ッケージで封止するのが半導体装置の製造における一般
的な技術である。とくに、樹脂封止に用いられるリード
フレームには、アイランド部が設けられており半導体素
子は、その上に固定されるようになっている(第4図(
a)参照)。
的に接続してから、これらを樹脂やセラミツタなどのパ
ッケージで封止するのが半導体装置の製造における一般
的な技術である。とくに、樹脂封止に用いられるリード
フレームには、アイランド部が設けられており半導体素
子は、その上に固定されるようになっている(第4図(
a)参照)。
これを用いた半導体装置の製造は、次の通りである。第
4図(b)は、この半導体装置の断面図を示している。
4図(b)は、この半導体装置の断面図を示している。
まず1表面が平滑なリードフレームlO中央のアイラン
ド部2に搭載された半導体素子(ペレット)3と、アイ
ランド部2を取り囲むように配置された複数のインナー
リート1とを金やアルミニウムなどの細線からなるボン
ディングワイヤ6で接続する。その後、上型および下型
の合わせ面に形成されたキャビティの中央部にペレット
3が位置するようにリードフレーム10を上型と下型と
で挟持した状態でキャビティ内に樹脂を圧送して充填す
ることにより、アイランド部2に搭載されたペレット3
.ボンディングワイヤ6およびインナーリード1などが
所定の形状に成形された樹脂7の中に埋設されて封止さ
れるものである。
ド部2に搭載された半導体素子(ペレット)3と、アイ
ランド部2を取り囲むように配置された複数のインナー
リート1とを金やアルミニウムなどの細線からなるボン
ディングワイヤ6で接続する。その後、上型および下型
の合わせ面に形成されたキャビティの中央部にペレット
3が位置するようにリードフレーム10を上型と下型と
で挟持した状態でキャビティ内に樹脂を圧送して充填す
ることにより、アイランド部2に搭載されたペレット3
.ボンディングワイヤ6およびインナーリード1などが
所定の形状に成形された樹脂7の中に埋設されて封止さ
れるものである。
その後、アウターリードに錫メツキを行い、さらに、カ
ッテングおよびベンディング等の成形をして製品を完成
させる。
ッテングおよびベンディング等の成形をして製品を完成
させる。
なお、図に示すように、ワイヤボンディングを容易に実
行できるように、アイランド部は、周囲のインナーリー
ド部分よりも1段低く形成されている。近年、前記半導
体装置の高密度化、高集積化は益々進み、それにつれて
ペレットの大型化が進行している。ところで、ペレット
のサイズが大きくなるに伴って、アイランド部の大きさ
は、当然大きくしなければならないのに、ICパッケー
ジの基板実装においてはより多くのパッケージを高密度
実装しなければならず、従ってICパッケージの外形寸
法の大型化には限界がある。このためパッケージを大き
くすることなくより大型なペレットに対応しなければな
らない必要に迫られている。現在の技術では、インナー
リードなどのリード部分を短くすることが検討されてい
るが、このようにすると、封止樹脂からリードが抜ける
事故が発生する可能性があり、さらに、これに対する種
々の検討が行われているのが現状である。
行できるように、アイランド部は、周囲のインナーリー
ド部分よりも1段低く形成されている。近年、前記半導
体装置の高密度化、高集積化は益々進み、それにつれて
ペレットの大型化が進行している。ところで、ペレット
のサイズが大きくなるに伴って、アイランド部の大きさ
は、当然大きくしなければならないのに、ICパッケー
ジの基板実装においてはより多くのパッケージを高密度
実装しなければならず、従ってICパッケージの外形寸
法の大型化には限界がある。このためパッケージを大き
くすることなくより大型なペレットに対応しなければな
らない必要に迫られている。現在の技術では、インナー
リードなどのリード部分を短くすることが検討されてい
るが、このようにすると、封止樹脂からリードが抜ける
事故が発生する可能性があり、さらに、これに対する種
々の検討が行われているのが現状である。
(発明が解決しようとする課題)
前述のように、現在の技術は、半導体装置の高集積化に
ともなうペレットの大型化に十分対応できず、パッケー
ジからリード抜けが発生する可能性もあるなど問題が多
い。
ともなうペレットの大型化に十分対応できず、パッケー
ジからリード抜けが発生する可能性もあるなど問題が多
い。
本発明は、このような事情によって成されたもので、リ
ード抜けの発生のない信頼性の高いパッケージを有する
半導体装置を提供することを目的としている。
ード抜けの発生のない信頼性の高いパッケージを有する
半導体装置を提供することを目的としている。
(課題を解決するための手段)
本発明は、ペレットを載置するアイランド部と、インナ
ーリードと、アウターリードとを備えたリードフレーム
を具備した半導体装置に関するものであり、アイランド
部に切欠き部を形成し、インナーリード先端を切欠き部
内に配置したことを特徴としている。リードフレームが
接着されるペレットの主表面は、たとえば、ポリイミド
樹脂。
ーリードと、アウターリードとを備えたリードフレーム
を具備した半導体装置に関するものであり、アイランド
部に切欠き部を形成し、インナーリード先端を切欠き部
内に配置したことを特徴としている。リードフレームが
接着されるペレットの主表面は、たとえば、ポリイミド
樹脂。
シリコーン樹脂のような絶縁薄膜で被覆さオtており、
短絡のないように処置されている。但し、ボンディング
ワイヤが接続されるペレット上の電極パットは、被覆さ
れないで露出している。また、切欠き部の形状は角形、
半円形、半楕円形など任意の形状を採り得るし、複数の
インナーリードを1つの切欠き部に配置することも可能
であり、さらに、インナーリード先端の形状に応じて替
えることができる。
短絡のないように処置されている。但し、ボンディング
ワイヤが接続されるペレット上の電極パットは、被覆さ
れないで露出している。また、切欠き部の形状は角形、
半円形、半楕円形など任意の形状を採り得るし、複数の
インナーリードを1つの切欠き部に配置することも可能
であり、さらに、インナーリード先端の形状に応じて替
えることができる。
(作用)
インナーリードは、アイランド部の切欠き部に入ってい
るのでその分インナーリートの長さを長くする事ができ
、ペレットの大型化の傾向に対処できる。
るのでその分インナーリートの長さを長くする事ができ
、ペレットの大型化の傾向に対処できる。
(実施例1)
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の実施例1に用いられるリードフレー
ムの平面図、第2図(a)〜(cl)は、リードフレー
ムにペレットを載置し、両者を電気的に接続し、樹脂モ
ールドするまでの工程を示す断面図である。リードフレ
ーム10は、たとえば、Fe −42N1合金やCu等
を材料としている。シー1−材やコイル材等を素材とし
てこれを洗浄しレジストを塗布した後に乾燥さゼ、リー
ドフレームパターンの焼きっけを行って現像し、次1こ
エツチングを施してレジス1〜を除去し、切断しオフセ
ラミル検査をしたあと、短冊自動メツキラインでスポノ
]−^u、Ag。
ムの平面図、第2図(a)〜(cl)は、リードフレー
ムにペレットを載置し、両者を電気的に接続し、樹脂モ
ールドするまでの工程を示す断面図である。リードフレ
ーム10は、たとえば、Fe −42N1合金やCu等
を材料としている。シー1−材やコイル材等を素材とし
てこれを洗浄しレジストを塗布した後に乾燥さゼ、リー
ドフレームパターンの焼きっけを行って現像し、次1こ
エツチングを施してレジス1〜を除去し、切断しオフセ
ラミル検査をしたあと、短冊自動メツキラインでスポノ
]−^u、Ag。
等のメツキを施してリードフレームを形成する。
この方法を用いないで、打ち抜きプレス加工を用いるこ
ともできる。リーIへフレームの板厚は1通常0.15
〜0 、251111程度である。リー1−フレーム1
0の1単位は、フレームとダムに囲まれており、この中
にアイラン1〜部2とインナーリード1とが配置されて
いる。アイランド部2は、ダイパーを通してフレームに
支持されている。アイランド2のインナーリード1と対
向するに2辺には、インナーリード1の各リードに対応
して切欠き部9を形成する。そして、各切欠き部9には
、各々対応するインナーリード2の先端が入り込んでい
る。この実施例では、角形に切欠きが形成されている(
第1図)。第2図(a)は、第1図のA−A’断面図で
ある。この図ではインナーリード1とアイランド部2は
同一の平面に形成されている。このリードフレーム10
に、たとえば、メモリのような半導体ベレット3が接着
される。ペレット3の主表面にはあらかじめ電極パッド
部をのぞいて、たとえば、ポリイミド樹脂のような絶縁
薄膜4が形成さ九ており、この薄膜4とリードフレーム
10とが絶縁ペースト5(エポキシ樹脂等)によって接
着されている。電極パッド部(図示せず)上には、絶縁
薄膜4は形成されておらず、このパッドは、インナーリ
ード1の先端と切欠き部9に囲まれた部分に置かれるよ
うに、ペレット3をリードフレーム10に貼り着ける(
第2図(b))。次に、第2図(c)に示すように、た
とえば金細線のようにボンディングワイヤ6をペレット
3上の電極パッドとインナーリード1の先端に接続する
。接続には、たとえば、金線を通したキャピラリを用い
、金線を水素炎等で加熱溶融して固定する。
ともできる。リーIへフレームの板厚は1通常0.15
〜0 、251111程度である。リー1−フレーム1
0の1単位は、フレームとダムに囲まれており、この中
にアイラン1〜部2とインナーリード1とが配置されて
いる。アイランド部2は、ダイパーを通してフレームに
支持されている。アイランド2のインナーリード1と対
向するに2辺には、インナーリード1の各リードに対応
して切欠き部9を形成する。そして、各切欠き部9には
、各々対応するインナーリード2の先端が入り込んでい
る。この実施例では、角形に切欠きが形成されている(
第1図)。第2図(a)は、第1図のA−A’断面図で
ある。この図ではインナーリード1とアイランド部2は
同一の平面に形成されている。このリードフレーム10
に、たとえば、メモリのような半導体ベレット3が接着
される。ペレット3の主表面にはあらかじめ電極パッド
部をのぞいて、たとえば、ポリイミド樹脂のような絶縁
薄膜4が形成さ九ており、この薄膜4とリードフレーム
10とが絶縁ペースト5(エポキシ樹脂等)によって接
着されている。電極パッド部(図示せず)上には、絶縁
薄膜4は形成されておらず、このパッドは、インナーリ
ード1の先端と切欠き部9に囲まれた部分に置かれるよ
うに、ペレット3をリードフレーム10に貼り着ける(
第2図(b))。次に、第2図(c)に示すように、た
とえば金細線のようにボンディングワイヤ6をペレット
3上の電極パッドとインナーリード1の先端に接続する
。接続には、たとえば、金線を通したキャピラリを用い
、金線を水素炎等で加熱溶融して固定する。
次に、ペレット3.ボンディングワイヤ6、インナーリ
ード】などをモールド金型の上型および下型(図示せず
)の合わせ面に形成される所定の形状のキャビティに位
置させて、たとえばトランスファ成形法などでキャビテ
ィに樹脂を充填することによって所定の形状に成形され
た樹脂などで構成されるパッケージ7に封止する。樹脂
封止後は、アウターリードに錆止め用に錫メツキ等を施
し、リードフレームの不要部なカットし、アウターリー
ドを基板実装の方法に応じて所望の形状に加工する。
ード】などをモールド金型の上型および下型(図示せず
)の合わせ面に形成される所定の形状のキャビティに位
置させて、たとえばトランスファ成形法などでキャビテ
ィに樹脂を充填することによって所定の形状に成形され
た樹脂などで構成されるパッケージ7に封止する。樹脂
封止後は、アウターリードに錆止め用に錫メツキ等を施
し、リードフレームの不要部なカットし、アウターリー
ドを基板実装の方法に応じて所望の形状に加工する。
本発明では、このように、アイランド部2の切欠き部9
にまでインナーリードJの先端が達するように設計され
ているので、ペレット3が大型化しても、パッケージ7
を大きくすることなく、又、インナーリード1を格別短
くすることもないので、リードの抜けを十分防止するこ
とができる。さらに、ペレットとアイランドの接合面積
をできるだけ大きくしてペレットはがれを防止すること
も可能になる。
にまでインナーリードJの先端が達するように設計され
ているので、ペレット3が大型化しても、パッケージ7
を大きくすることなく、又、インナーリード1を格別短
くすることもないので、リードの抜けを十分防止するこ
とができる。さらに、ペレットとアイランドの接合面積
をできるだけ大きくしてペレットはがれを防止すること
も可能になる。
(実施例2)
第3図は、実施例2における半導体装置の断面図である
。ここでは、第1図(a)に示されたリードフレーム1
0を用いる。ペレソトコ3.リードフレーム10.絶縁
薄膜4およびエポキシ樹脂などの樹脂パッケージ7等は
、前の実施例と同様な構成であるが、実施例2では、ペ
レット3の底部に、たとえば、ポリイミド樹脂やシリコ
ーン樹脂などからなる衛!!緩和用のクツション材8を
形成した事に特徴がある。たとえば、ペレツ1−31−
の電極パッドとインナーツー110間を金線などのボン
ディングワイヤ6で結線する場合に熱圧着法を用いたと
する。この方法は、金属の融点以下の温度で。
。ここでは、第1図(a)に示されたリードフレーム1
0を用いる。ペレソトコ3.リードフレーム10.絶縁
薄膜4およびエポキシ樹脂などの樹脂パッケージ7等は
、前の実施例と同様な構成であるが、実施例2では、ペ
レット3の底部に、たとえば、ポリイミド樹脂やシリコ
ーン樹脂などからなる衛!!緩和用のクツション材8を
形成した事に特徴がある。たとえば、ペレツ1−31−
の電極パッドとインナーツー110間を金線などのボン
ディングワイヤ6で結線する場合に熱圧着法を用いたと
する。この方法は、金属の融点以下の温度で。
双方の金属の洗浄面を加圧接触し、溶融することなく金
属の拡散によって接合させるものである。
属の拡散によって接合させるものである。
ペレッl−3やリードフレーム10を約300℃に加熱
した後、ベレッ1〜:3の電極パッド(アルミニウム)
およびインナーリー1〜】のAu、Agのメツキ層やA
uPdの厚膜に、キャピラリを用いて、それぞれ金線を
加圧接触させて接合する。その際に、ペレット3は、ペ
レットを載置する基板に直接強く押しっけられるので、
破損し易くなるが、このクツション材8がペレットの破
損を効果的に防ぐことができる。従来は、底部がアイラ
ンド部が接合されており、これがクツション材の役割を
果たしている。
した後、ベレッ1〜:3の電極パッド(アルミニウム)
およびインナーリー1〜】のAu、Agのメツキ層やA
uPdの厚膜に、キャピラリを用いて、それぞれ金線を
加圧接触させて接合する。その際に、ペレット3は、ペ
レットを載置する基板に直接強く押しっけられるので、
破損し易くなるが、このクツション材8がペレットの破
損を効果的に防ぐことができる。従来は、底部がアイラ
ンド部が接合されており、これがクツション材の役割を
果たしている。
なお、リードフレームのアイランド部にはワイヤボンデ
ィング用のベレット位置決め用の開口部を設けることも
できるが1.m:からペレソl〜表面に観察することが
でき、この開口部内の観察結果によってボンディングポ
ジションを決める事ができる。
ィング用のベレット位置決め用の開口部を設けることも
できるが1.m:からペレソl〜表面に観察することが
でき、この開口部内の観察結果によってボンディングポ
ジションを決める事ができる。
以上のように、本発明によれば、パッケージサイズ咎大
きくすることなく、大型ベレットに対応できるパッケー
ジを提供することができる。また、インナーリードは、
パッケージの内部に深く存在しているためリード抜けを
防止することができる。さらに、ペレットはがれを防止
することもできる。
きくすることなく、大型ベレットに対応できるパッケー
ジを提供することができる。また、インナーリードは、
パッケージの内部に深く存在しているためリード抜けを
防止することができる。さらに、ペレットはがれを防止
することもできる。
第1図は本発明の実施例1のリードフレームの平面図、
・第2図(a)は第1図のリードフレームのA−A’断
面図、第2図(b)は(a)のリードフレームにペレッ
トを接着した状態を示す断面図、第2図(c)はリード
フレームとペレットとを結線した状態を示す断面図、第
2図(d)は樹脂封止した状態を示す断面図、第3図は
実施例2の半導体装置の断面図、第4図(a)は従来の
リードフレームの平面図、第4図(b)は従来の半導体
装置の断面図である。 1・・・インナーリード、 3・・・ペレット。 5・・・絶縁ペースト、 7・・・モールド樹脂、 9・・・切欠き部、 2・・・アイランド部、 4・・・絶縁薄膜、 6・・・ボンディングワイヤ、 8・・・クツション材、 10・・・リードフレーム。
・第2図(a)は第1図のリードフレームのA−A’断
面図、第2図(b)は(a)のリードフレームにペレッ
トを接着した状態を示す断面図、第2図(c)はリード
フレームとペレットとを結線した状態を示す断面図、第
2図(d)は樹脂封止した状態を示す断面図、第3図は
実施例2の半導体装置の断面図、第4図(a)は従来の
リードフレームの平面図、第4図(b)は従来の半導体
装置の断面図である。 1・・・インナーリード、 3・・・ペレット。 5・・・絶縁ペースト、 7・・・モールド樹脂、 9・・・切欠き部、 2・・・アイランド部、 4・・・絶縁薄膜、 6・・・ボンディングワイヤ、 8・・・クツション材、 10・・・リードフレーム。
Claims (1)
- 半導体素子を載置するアイランド部と、インナーリー
ドと、アウターリードとを備えたリードフレームを用い
た半導体装置において、前記アイランド部に切欠き部を
形成し、前記インナーリードの先端を前記切欠き部内に
配置したことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14997590A JPH0443670A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14997590A JPH0443670A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0443670A true JPH0443670A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15486723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14997590A Pending JPH0443670A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0443670A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4318727A1 (de) * | 1992-06-05 | 1993-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | Halbleitervorrichtung mit LOC-Struktur sowie dazugehöriges Herstellungsverfahren und dazugehöriger Zuführungsdraht-Rahmen |
JP2009275371A (ja) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 自動車用ドア |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP14997590A patent/JPH0443670A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4318727A1 (de) * | 1992-06-05 | 1993-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | Halbleitervorrichtung mit LOC-Struktur sowie dazugehöriges Herstellungsverfahren und dazugehöriger Zuführungsdraht-Rahmen |
US5724726A (en) * | 1992-06-05 | 1998-03-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of making leadframe for lead-on-chip (LOC) semiconductor device |
DE4318727C2 (de) * | 1992-06-05 | 1998-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit LOC-Struktur sowie dazugehöriger Zuführungsdrahtrahmen |
JP2009275371A (ja) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 自動車用ドア |
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