JPH0441623Y2 - - Google Patents

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JPH0441623Y2
JPH0441623Y2 JP1985143700U JP14370085U JPH0441623Y2 JP H0441623 Y2 JPH0441623 Y2 JP H0441623Y2 JP 1985143700 U JP1985143700 U JP 1985143700U JP 14370085 U JP14370085 U JP 14370085U JP H0441623 Y2 JPH0441623 Y2 JP H0441623Y2
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phase
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input signal
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、信号の位相を遅延する位相遅延回
路に係り、特に、高域での周波数帯域において、
一定レベルの位相遅延出力を取り出すようにした
ものに関する。
〔従来の技術〕
位相同期ループ(PLL)は、第4図に示すよ
うに、入力端子2に加えられる入力信号Viと電圧
制御発振器4が発生した発振出力Vpとを位相比
較器6に加えて両者の位相を比較し、位相比較器
6かその位相差に応じた出力を低域フイルタ8に
加える。そして、低域フイルタ8で平滑されて得
られた直流電圧は、電圧制御発振器4に制御入力
として加えられ、電圧制御発振器4によつてその
直流電圧に応じた周波数の発振出力Vpを得る。
したがつて、PLLは、このようなループ動作を
経て自動周波数制御を実現し、出力端子10から
入力信号Viによつて定まる周波数にロツクした発
振出力Vpを取り出すことができる。
ところで、この位相比較器6には、第5図に示
すように、マルチプライヤによるIC化に適した
位相比較器が用いられる。(東京電機大出版局発
行「PLLの基本と応用」角田秀夫著のP.85以下に
記載) この位相比較回路6において、入力端子12
a,12bに入力信号Vi、入力端子14a,14
bに電圧制御発振器4の発振出力Vpが加えられ、
入力信号Viと発振出力Vpとの位相比較結果であ
る両入力信号間の誤差電圧が出力電圧16から取
り出される。
このような位相比較器6では、入力信号間の位
相差が90°のときを基準にして、位相が進みまた
遅れに応じて正負の誤差電圧が出力端子16に生
じ、完全にロツクした場合には、入力信号間の位
相差は90°となり、この場合の誤差電圧は0とな
る。そして、平均誤差電圧Vdと入力信号電圧Vi
および位相角φとの間には、次の関係がある。
Vd=Kd・Vicosφ ただし、Kdは位相比較器の変換定数〔V/
rad〕である。
〔考案が解決しようとする問題点〕
このような位相比較器の前記式中の位相角φで
表される入力位相差を位相遅延回路を用いて検出
する場合、前記関係式から明らかなように、入力
端子12a,12bと入力端子14a,12bと
の各入力レベルによつて誤差電圧が変化するた
め、周波数帯域に関係なく各入力信号レベルを揃
えなければ、入力位相差の正確な掲出およびその
評価をすることができない。
このような位相比較器の誤差電圧を電磁遅延線
を用いて検出し、あるいは評価を行う場合、電磁
遅延線の遅延出力の減衰両を遅延周波数によつて
異なるため、高周波信号における位相比較におい
て、その誤差電圧を正確に検出し、評価すること
ができない。
そこで、この考案は、位相比較器の高周波領域
での誤差電圧の検出を正確に行うことにより、位
相比較器の適正な評価ができる位相遅延回路を提
供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この考案の位相遅延回路は、位相同期ループに
電圧制御発振器4とともに設置されて入力信号と
前記電圧制御発振器の出力信号とを受けて両者の
位相比較を行い、前記電圧制御発振器に加えるべ
き制御電圧として位相比較出力を発生する位相比
較器6の前段側に設置される位相遅延回路であつ
て、予め設定した異なる周波数帯域毎に分割した
前記入力信号を受け、この位相を遅延させる複数
の位相遅延手段(電磁遅延線24A,24B,2
4C)と、これらの位相遅延手段で得られる位相
遅延出力中の高周波域側の位相遅延出力レベルを
基準にしてそのレベルに他の前記位相遅延出力の
レベルを揃えるレベル調整手段(出力回路34
A,34B,34C、可変抵抗50A,50B)
と、このレベル調整手段から得られた前記周波数
帯域毎の前記位相遅延出力を個別に選択して取り
出して前記位相比較器に入力する信号選択手段
(スイツチ回路36)とを備えたことを特徴とす
る。
〔作用〕
したがつて、この考案の位相遅延回路によれ
ば、位相同期ループにおいて、予め設定された異
なる周波数帯域毎に入力信号の位相を位相遅延手
段によつて遅延させることにより、周波数帯域毎
に入力信号の位相遅延出力を取り出すとともに、
各レベルをレベル調整手段によつて調整して揃え
た後、選択手段によつて周波数帯域毎に取り出す
ことができる。
〔実施例〕
以下、この考案の実施例を図面を参照して説明
する。
第1図はこの考案の位相遅延回路の実施例を示
す。
第1図において、入力端子20には遅延すべき
基準入力としての入力信号Vfioが加えられ、この
入力信号Vfioは、バツフア回路22を介して入力
信号Vfioに対する出力信号の周波数帯域ごとに位
相遅延手段として設置された電磁遅延線(DLY)
24A,24B,24Cに加えられる。この実施
例の場合、入力信号Vfioに対する出力信号の周波
数帯域を3分割し、その分割された周波数帯域の
遅延を担当するDLY24A,24B,24Cが
設置されており、バツフア回路22からの入力信
号Vfioは、それぞれキヤパシタ26および抵抗2
8を介してDLY24A,24B,24Cに加え
られている。
各DLY24A,24B,24Cから取り出さ
れた入力信号Vfioの遅延信号は、抵抗30および
キヤパシタ32を経て各DLY24A,24B,
24Cごとに設置された出力回路34A,34
B,34Cに加えられる。各出力回路34A,3
4B,34Cは、各DLY24A,24B,24
Cの出力レベルが入力信号Vfioに対する出力信号
の周波数によつて異なるため、そのレベルを減衰
量に応じて補正することにより出力レベルを揃え
るレベル調整手段として設置されている。
そして、出力回路34A,34B,34Cを以
て周波数帯域毎にレベル調整されて同一レベルに
揃えられた各位相遅延出力は、選択手段としての
スイツチ回路36によつて任意に選択されて出力
端子38から位相遅延出力Vfputとして取り出さ
れる。この場合、スイツチ回路36は機械的スイ
ツチあるいは電子スイツチで構成され、接点a,
b,cの切換えによつてDLY24A,24B,
24Cの遅延信号を選択し、遅延出力Vfputを得
ることができる。
第2図は、前記実施例のDLY24A,24B,
24Cの等価回路を示す。このDLY24A,2
4B,24Cは、入力端子40aと出力端子42
aとの間にインダクタ44が設けられ、このイン
ダクタ44に一定の間隔で形成された中間タツプ
と、共通端子としての入力端子40b、出力端子
42bとの間に複数のキヤパシタ461,462
…46oを設置したものである。
したがつて、このようなDLY24A,24B,
24Cを用いて第1図に示すように、位相遅延回
路を構成すれば、入力信号Vfioに対する出力信号
の周波数に応じて遅延出力Vfputを取り出すこと
ができ、その遅延出力Vfputについて、周波数に
よる減衰量を出力回路34A,34B,34Cに
よつて周波数帯域ごとに補正するので、出力レベ
ルが一致した遅延出力Vfputを得ることができる。
このような位相遅延回路によれば、第5図に示し
た位相比較器の入力端子12a,12bに入力信
号Vfioを加え、同時に、入力端子14a,14b
に同レベルの遅延出力Vfputを加えることによつ
て、高周波での周波数帯域において、出力端子1
6から正確な誤差電圧Vdを検出することができ、
位相比較器の適切な評価を行うことができる。
第3図は、前記実施例の出力回路34A,34
B,34Cの具体的な構成例を示す。
すなわち、この実施例の出力回路34A,34
Bは、バツフア増幅器48A,48Bとレベル調
整手段としての可変抵抗50A,50Bで構成
し、また、出力回路34Cは、単にバツフア増幅
器で構成したものである。したがつて、このよう
な出力回路34A,34Bでは、バツフア増幅器
48A,48Bの遅延信号のレベルを可変抵抗5
0A,50Bで個別に調整してスイツチ回路36
を介して遅延出力Vfputとして取り出し、また、
出力回路34Cの遅延信号をスイツチ回路36を
介して遅延出力Vfputとして取り出す。この場合、
DLY24Cを高域側に設定し、出力回路34C
の出力減衰量が他の出力回路34A,34Bのそ
れより大きい場合、出力回路34Cの出力レベル
を基準にして可変抵抗50A,50Bの抵抗値を
加減することにより、各出力レベルを揃えること
ができ、高周波アナログ信号における位相比較器
の正確な誤差電圧Vdの検出およびその評価を行
うことができる。
〔考案の効果〕
以上説明したように、この考案によれば、位
相同期ループにおいて、予め設定した異なる周波
数帯域毎に入力信号の位相を遅延させ、各位相遅
延出力のレベルを揃えた後、周波数帯域毎の遅延
出力を個別に選択して取り出すことができるの
で、その位相遅延出力を位相同期ループにおける
高周波アナログ信号を用いて位相比較器の正確な
誤差電圧の検出とともに、その位相比較器の評価
を用いることでき、適正な位相同期制御を行なう
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の位相遅延回路の実施例を示
す回路図、第2図はこの考案の位相遅延回路の実
施例における電磁遅延線の等価回路を示す回路
図、第3図は第1図に示した出力回路の具体的な
回路構成例を示す回路図、第4図は位相同期ルー
プを示すブロツク図、第5図は第4図に示した位
相同期ループの位相比較器を示す回路図である。 4……電圧制御発振器、6……位相比較器、2
4A,24B,24C……電磁遅延線(位相遅延
手段)、34A,34B,34C……出力回路
(レベル調整手段)、50A,50B……可変抵抗
(レベル調整手段)、36……スイツチ回路(信号
選択手段)。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 位相同期ループに電圧制御発振器とともに設置
    されて入力信号と前記電圧制御発振器の出力信号
    とを受けて両者の位相比較を行い、前記電圧制御
    発振器に加えるべき制御電圧として位相比較出力
    を発生する位相比較器の前段側に設置される位相
    遅延回路であつて、 予め設定した異なる周波数帯域毎に分割した前
    記入力信号を受け、その位相を遅延させる複数の
    位相遅延手段と、 これら位相遅延手段で得られる位相遅延出力中
    の高周波域側の位相遅延出力レベルを基準にして
    そのレベルに他の前記位相遅延出力のレベルを揃
    えるレベル調整手段と、 このレベル調整手段から得られた前記周波数帯
    域毎の前記位相遅延出力を個別に選択して取り出
    して前記位相比較器に入力する信号選択手段と、 を備えたことを特徴とする位相遅延回路。
JP1985143700U 1985-09-20 1985-09-20 Expired JPH0441623Y2 (ja)

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JPS6251820U JPS6251820U (ja) 1987-03-31
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5929003A (ja) * 1982-08-09 1984-02-16 Agency Of Ind Science & Technol 半透性を有する高分子膜体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5929003A (ja) * 1982-08-09 1984-02-16 Agency Of Ind Science & Technol 半透性を有する高分子膜体

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