JPH0440344A - 浮遊粒子濃度の測定装置 - Google Patents

浮遊粒子濃度の測定装置

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JPH0440344A
JPH0440344A JP14663490A JP14663490A JPH0440344A JP H0440344 A JPH0440344 A JP H0440344A JP 14663490 A JP14663490 A JP 14663490A JP 14663490 A JP14663490 A JP 14663490A JP H0440344 A JPH0440344 A JP H0440344A
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optical
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JP14663490A
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Yasushi Zaitsu
財津 靖史
Kazuteru Aragai
和照 新貝
Koichi Endo
幸一 遠藤
Hiroshi Hoshikawa
星川 寛
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は道路、トンネル、空港1港湾などにおいて霧、
雨、粉塵、煤煙などによる視認性の度合いを浮遊粒子濃
度として光学的に測定する装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、上記のような目的を持つ装置として、例えば煙霧
透過針と呼ばれる装置が知られている。
この装置は距MLだけ翻して対向配置した投光部と受光
部とからなり、投光部から出射する光ビームを受光部で
受け、出射した光ビームの強度■。
と受光した光ビームの強度■を測定することにより、(
1)式に示す透過率Tや+21式に示す吸光度Kを電気
信号として出力するものである。
透過率:T−1/Is        (11吸光度:
 K−(1/L) log(J/ L ) −42)〔
発明が解決しようとする課題〕 このような装置における最大の問題は、装置の経時変化
の補正のしかたである。装置が経時変化を起こす主な要
因は、 ■ 光軸のずれ ■ 外乱光の入射 ■ 光学窓やレンズの汚れ ■ 装置内の1成部材の長期的経時変化などがある。こ
れらのうち、■、■の問題を解決する方法として、光フ
ァイバーを用いた方法が特開昭59−116037号公
報、特開昭59−133450号公報に記載されている
。この方法では■に起因する問題を除去することはでき
るが、■に起因する問題に関しては十分な補正を行なう
ことができない。
即ち、この方法では、投光部の光学窓またはレンズを通
過した光の一部を光ファイバーに入射させ、光ファイバ
ーの他端からの出射光を受光部の光学窓またはレンズに
入射させることにより、光学窓やレンズの汚れに応じた
補正を行なうものであるが、光学窓やレンズの汚れが均
一でない場合には、光ファイバーの入射端および出射端
近傍の汚れを測定に関与する光路全体の汚れとして補正
してしまうという欠点がある。■、■の問題に対しては
、従来投光部と受光部間の光路長を50〜100mに設
定していたものを数mの光路長とし、光路を短縮するこ
とにより光軸のずれや外乱光の入射の影響を除くという
対策が採られでいるが、この場合にも■、■即ち光学窓
やレンズの汚れ、または装置内の構成部材の長期的経時
変化についての補正が必要となる。
本発明は上述の点に鑑みてなされたものであり、その目
的はこのような数m程度の短光路で光学窓やレンズの汚
れ、または装置内の構成部材の長期的経時変化を有効に
補正することが可能な浮遊粒子濃度測定装置を提供する
ことにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記のIfを解決するために本発明の浮遊粒子濃度測定
装置は次のように構成したものである。
a、平行なレーザ光を出射する投光部と、b、レーザ光
を受光し受光量に応じた電気信号を出力する受光部と、 C1投光部と受光部間の被測定空間に形成される光路に
測定の校正時のみ挿入され、両端面に光学窓を備え内部
に濾過した清浄な空気を充填した光路筒 とを有する。
さらに、これを自動化するために、 a、平行なレーザ光を出射する投光部と、b、レーザ光
を受光し受光量に応じた電気信号を出力する受光部と、 C1投光部と受光部間の被測定空間に配置され両端部が
円板からなる回転筒と、 d1回転筒の各円板にそれぞれ両端面の光学窓を埋め込
み内部に濾過した清浄な空気が充填され、測定の校正時
に回転筒の回転により各光学窓がそれぞれ投光部と受光
部に設けた光学窓と封抗位1になる〜つの光路筒と、 e回転筒の各円板にそれぞれ埋め込んで形成され、測定
時に回転筒の回転により埋め込み部が投光部と受光部に
設けた光学窓と対抗位置になり両端が開口した二つの防
塵筒、 f、前記光路筒の各光学窓の汚染を防止し、前記各円板
の外周に取り付けた防塵部材 とから構成したものである。
〔作用〕
本発明の浮遊粒子濃度測定装置は上記のように構成し、
平行度の高いコヒーレントなレーザ光を用いて、投光部
と受光部間の光路に挿入する光路筒内を光エネルギーを
損なうことなく通過させ、この光路筒内には浮遊性の粒
子状物質を含んでいないから、光ビームは投光部と受光
部に設けた光学窓に付着した汚れの影響のみを受けるこ
とになり、この状態で補正を行なうことにより、光学窓
の汚れや装置構成部材の長期的な経時変化に対する効果
的な補正が可能となる。また−1光路筒とともに防塵筒
を備え、校正時と測定時にこれらを切り替えて光路に挿
入することにより、測定時の投光部と受光部の光学窓の
汚れを低減することができる。
〔実施例〕
以下、本発明を実施例に基づき説明する。
第1図は本発明の浮遊粒子濃度測定装置の構成部材の配
置を示す模式図である。この装置は投光部上と受光部I
を所定の間隔に配置し、これらの間に光路筒を挿入する
ことにより、測定時の補正を行なうものであるが、第1
図では同じ光路筒に関して二つの状態を示してあり、投
光部上と受光部1の間を通る光ビーム4の光路から外れ
た状態の断面図で示した光路筒ハと、これを光路内に挿
入した状態を点線で示した光路筒ハとして表わしている
第1図において、投光部上は光源5.光源用駆動回路6
.投光レンズ7および第1の光学窓8aを有する。光ビ
ーム4はコヒーレントな光を用いるので、光源5はレー
ザ光源とするが、実用的なレーザ光として波長633n
s+のHe−Neレーザ光や波長670n−の半導体レ
ーザ光がある。光路周辺の空間の空気が測定対象である
から、光路は解放状態として空気の流れを阻害しないよ
うにしなければならない、そこで人の目に対する安全性
を考慮して光ビーム4の強度は最大1−一以下とする。
光ビーム4の径はビームの平行度を保つために太くする
必要があるが、He−Noレーザ光のビーム径は約1鶴
程度であり、このビームは1ミリラジアン程度の広がり
角を持つため、例えば5mの光路長では10m程度まで
広がってしまう、光路の全長に亘って測定条件を均一に
するためにも、光ビーム4の径が大幅に変化するのを避
けねばならないので、He−Neレーザ光を用いるとき
は、投光レンズ7にビームエキスパンダを用いてビーム
径を太くする。
光ビーム4の径の大きさは10鶴程度が適当である。
半導体レーザ光の場合には、光源5からの出射ビームの
広がり角が非常に大きいため、・適当な焦点距離のコリ
メータレンズを投光レンズ7として用い、10鶴程度の
出射ビーム径とすることができる。
このとき出射ビームの断面形状は楕円形となる。
第1の光学窓8aは投光部上と外界とを隔てるものであ
るが、投光レンズ7をそのまま窓とすることもできる。
受光部1は第1の光学窓8b、受光レンズ9.受光レン
ズ9の視野を限定するアパーチャー10.光電変換器1
1.回路12を有する。光電変換器11には通常フォト
ダイオードを用いるが、必要に応じて光源5の波長のみ
を選択的に透過する光学フィルタをその前面に用いる。
この光学フィルタにより、外乱光の入射の影響を大幅に
低減することができる8回路12は光電変換器11から
の電流信号を電圧信号に変換した後、適当な増幅とフィ
ルタリング処理を行ない、測定出力13を得る機能を持
つ、この他、外乱光の影響を受は難くするために光源5
を強度変調し、その変調周波数の信号のみを増幅する回
路を設ける場合もあるが、そのときは光源5を半導体レ
ーザ装置とし、光源用駆動回路6に変調回路を設ける。
光路筒ハまたは赴は、光ビーム4の径が10fi程度の
場合、内径20鶴程度の筒とし、その内部は光の反射を
防止するために、黒色つや消し塗装を行なう。光路筒ハ
または赴の両端部には光ビーム4の波長を通過する第2
の光学窓14aおよび14bを設け、内部をフィルタ1
5で濾過した空気で満たした後、全体を気密とする。但
し、必要に応じて内部空気の熱的な体積変化を許容する
とき、フィルタ15を介して内部空気と外気との流通を
行なうことができる。このフィルタ15により第2の光
学窓14Bおよび14bへの結露などを防ぐという効果
もある。
以上、本発明の浮遊粒子濃度測定装置の概要を述べたが
、次にこの装置を用いた測定の際に、光学窓の汚れによ
る経時変化を補正するための操作について説明する0本
発明では測定時は投光部上と受光部1との間に光路筒を
挿入せず、第1図の光路筒ハの状態にしておき、ここで
得られた測定値を補正するとき光路筒ハの挿入位置とな
るように、光ビームの通過位置に出し入れするものであ
る。そして本発明ではコヒーレントな光によって形成し
た細く平行度の高い光ビーム4を用いる点に特徴を持っ
ている。従来はインコヒーレントな光源からの光ビーム
を使っていたため、光ビームの平行度が低く、数mの光
路長では光ビームが広がってしまい、実用的な大きさの
光路筒を、光エネルギーを損なうことなく道通させるの
が困難となる。また、光路の長さ方向にビーム径が変化
すると、場所によって特性値が変化し、安定な測定を行
なうことができない0例えばインコヒーレント光による
光ビームの広がりを光ビーム強度が最大点く光軸上)の
1/e” (=13.5%)になるビーム径で示すと、
出射端で10fi程度のビーム径が5mの光路で約0.
4〜1m程度の広がりを持ってしまう、これに対して本
発明の装置に用いられるコヒーレントな光ビーム4では
、出射端ビーム径を10鶴とすると、5mの光路端にお
けるビーム径は1O05鶴程度となり、内径約20鶴の
光路筒動向を光エネルギーを損なうことなく通過させる
ことができる。
このような光ビーム4に対し、本発明の装置は、両端に
透明な第2の光学窓14a、 14bを有し、内部に浮
遊性の粒子状物質を含んでいない光路筒ハを、光路筒ハ
内を光ビーム4の全エネルギーが通過する形で投光部上
と受光部1の間に、光路筒用のように挿入することによ
り、光路内に粒子状物質を含まない環境を容易に再現性
よく作り出すことができる。この状態で光ビーム4は投
光部上と受光部1の第1の光学窓8aおよび8bに付着
した汚れによる影響のみを受けることになる。したがっ
て、投光部上と受光部1間の光路に光路筒ハを挿入した
状態で補正を行なうことにより、第1の光学窓8aと8
bの汚れによる影響と装置構成部材の長期的な経時変化
の補正が可能である。このとき第2の光学窓14a、 
14bによっても光の吸収が生ずるため、同時にその影
響も合わせて補正することができる。
本発明の1!置では、通常の測定は光路筒が光路内にな
い状態(ハ)で行ない、補正が必要なときのみ光路筒を
光路内に挿入した状態(蝕)で行なうものであって、こ
の光路筒打または共は光ビーム4の全エネルギーを通過
させるから、前述の公報に記載されている方法で生ずる
ような光学窓の汚れに関する補正上の不都合を生ずるこ
とはない。
さらに本発明の装置は上記の操作を回転体を用いて自動
的に行なうこともできる。第2図18+はその装置構成
の概要を一部断面図で示した模式図であり、第2図山)
は第2図1alのA−A断面図である。
第2図1alの第1図と共通部分を同一符号で表わしで
ある。第2図1alにおける投光部上と受光部又および
第1の光4学窓8a、8bについては、第1図と同じで
あるから説明を省略する。この装置では第2図18+、
(b)のように両端部が円板16aと16bからなり中
心軸17を有する回転体■を用い、この回転体1Bに第
2の光学窓19a、19bを備えた第1図に示したもの
と同様な光路筒匙と、二つの防塵筒20a20bを嵌め
込んである。防塵筒20a 、 20bは互いに連続し
ておらず、一端は被測定空間内で開口部を有し、測定時
に用いるものである0回転体旦の回転は、例えば受光部
2に配!したモータ21の回転をローラ22を介して円
板16bに伝え、回転角を制御することにより、第1の
光学窓8a、8bと第2の光学窓19a、’19bとが
対向する位!、または第1の光学窓8a、8bと防塵筒
20a、20bの取り付は部の関口端とが対向する位置
を選択する。このときは、回転体旦の中心軸17は投光
部上と受光部蛮に固定し、中心軸17と円板16a、 
16bの間には図示してない軸受けを用いて回転体旦の
回転を円滑に行なわせることができる。もしくは、回転
体旦の回転はローラ22を用いることなく、中心軸】7
を両端で円板16aと16bに直結し、中心軸17を直
接モータ21で駆動することにより行なうこともできる
0以上のようにして、この装置では防塵筒20a、20
bまたは光路筒3Cを第1の光学窓8a、8bに位置合
わせし、測定または補正を行なうが、円板16a、16
bは、測定または補正に必要とする個所以外の部分は黒
色に塗装しであるので、例えば第2開山)に点線で示し
た不透明部23の位置を利用して受光部1のゼロ調整を
行なう、光路筒鉦は100%透過率の補正時に用いるが
、光路筒柱の第2の光学窓19a、19bに汚れが付着
しないようにするため、円板16a、 16bと投光部
上、受光部1とは、はぼ密着状態となるようにし円板1
6a、 16bの外周を防塵部材24a、24bで覆っ
ている。
第2図(4)、伽)に示した装置には、防塵筒20a。
20bを用いることにより、第1の光学窓8a、8bが
汚れるのを抑制し、光路筒柱による補正の精度を上げる
とともに、第1の光学窓8a、8bの交換韻度を減らす
ことができるという利点もある。
〔発明の効果〕
投光部と受光部間の測定空間に浮遊する粒状物質を光学
的に測定する比較的短光路の浮遊粒子濃度測定装置は、
従来光軸のずれや外乱光の入射の影響が少ないという利
点はあるものの、光学窓やレンズの汚れによる経時変化
の補正に関しては満足する装置が得られていなかったの
に対し、本発明では実施例で述べた如く、平行度の高い
レーザ光と、両端に光学窓を持ち内部に浮遊粒状物質を
含まない光路筒を用いて、補正が必要なときはこの光路
筒を投光部と受光部間の光路に挿入し、浮遊粒状物質を
含まない環境を容易に再現性よく作り出すことができる
ようにしたため、光学窓の汚れや装置内の構成部材の長
期的な経時変化の補正を極めて有効に行なうことが可能
となった。
また、光路筒とともに防塵筒を備え、校正時と測定時に
これらを切り替えて光路に挿入することにより、測定時
に生ずる投光部と受光部の光学窓の汚れを低減し、メン
テナンスの頻度を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の浮遊粒子濃度測定装置の構成部材の配
置を示す模式図、第2図1at、(blは本発明の装置
の第1図とは異なる実施例を示した模式図である。 ↓:投光部、i:受光部、ハ、 Lb、 Ax E光路
筒、4:光ビーム、5:光源、6:光源用駆動回路、7
:投光レンズ、8a、8b:第1の光学窓、9:受光レ
ンズ、10ニアパーチヤー、11:光電変換器、12;
回路、13:測定出力、14a、 14b、 19a、
 19b :第2の光学窓、15:フィルタ、16a、
 16b :円板、17:中心軸、■=回転体、20a
、 20b :防塵筒、21:モータ、22:ローラ、
23:不透明部、24a。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)投光部と受光部間に浮遊する粒子状物質の濃度を光
    学的に測定する装置であって、 a、平行なレーザ光を出射する投光部と、 b、前記レーザ光を受光し受光量に応じた電気信号を出
    力する受光部と、 c、前記投光部と前記受光部間の被測定空間に形成され
    る光路に測定の校正時のみ挿入され、両端面に光学窓を
    備え内部に濾過した清浄な空気を充填した光路筒 とを有することを特徴とする浮遊粒子濃度の測定装置。 2)投光部と受光部間に浮遊する粒子状物質の濃度を光
    学的に測定する装置であって、 a、平行なレーザ光を出射する投光部と、 b、前記レーザ光を受光し受光量に応じた電気信号を出
    力する受光部と、 c、前記投光部と前記受光部間の被測定空間に配置され
    両端部が円板からなる回転筒と、 d、この回転筒の各円板にそれぞれ両端面の光学窓を埋
    め込み内部に濾過した清浄な空気が充填され、測定の校
    正時に前記回転筒の回転により前記各光学窓がそれぞれ
    前記投光部と前記受光部に設けた光学窓と対抗位置にな
    る一つの光路筒と、 e、前記回転筒の各円板にそれぞれ埋め込んで形成され
    、測定時に前記回転筒の回転により埋め込み部が前記投
    光部と前記受光部に設けた光学窓と対抗位置になり両端
    が開口した二つの防塵筒と、 f、前記光路筒の各光学窓の汚染を防止し、前記各円板
    の外周に取り付けた防塵部材 とを有することを特徴とする浮遊粒子濃度の測定装置。
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