JPH0438613A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents
薄膜磁気ヘッドInfo
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- JPH0438613A JPH0438613A JP14343190A JP14343190A JPH0438613A JP H0438613 A JPH0438613 A JP H0438613A JP 14343190 A JP14343190 A JP 14343190A JP 14343190 A JP14343190 A JP 14343190A JP H0438613 A JPH0438613 A JP H0438613A
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- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概要]
対向する多層構造の磁極を有する薄膜磁気ヘッドに関し
、 飽和磁束密度及び透磁率が高く、データのり一ド/ライ
ト特性が良好な薄膜磁気ヘッドを提供することを目的と
し、 前記磁極には、メッキ成膜層と真空成膜層とで形成する
ように構成する。
、 飽和磁束密度及び透磁率が高く、データのり一ド/ライ
ト特性が良好な薄膜磁気ヘッドを提供することを目的と
し、 前記磁極には、メッキ成膜層と真空成膜層とで形成する
ように構成する。
[産業上の利用分野]
本発明は、対向する多層構造の磁極を有する薄膜磁気ヘ
ッドに関する。
ッドに関する。
磁気ディスク装置において、記憶容量の増加にともない
、高密度記録が要望され、このため、薄膜磁気ヘッドが
用いられている。従来の薄膜磁気ヘッドは、製造方法の
容易さより、N1−Feをメッキにより形成し、磁極と
している場合が多い。
、高密度記録が要望され、このため、薄膜磁気ヘッドが
用いられている。従来の薄膜磁気ヘッドは、製造方法の
容易さより、N1−Feをメッキにより形成し、磁極と
している場合が多い。
[従来の技術]
次に図面を用いて従来例を説明する。第7図は従来の薄
膜ヘッドの一例を示す平面図、第8図は第7図における
A−A断面図、第9図は真空成膜の製造方法を説明する
図、第10図はメッキ成膜の製造方法を説明する図であ
る。
膜ヘッドの一例を示す平面図、第8図は第7図における
A−A断面図、第9図は真空成膜の製造方法を説明する
図、第10図はメッキ成膜の製造方法を説明する図であ
る。
第7図及び第8図において、1は基板となるウェハ、2
はウェハ1上に形成された下部磁極、3は下部磁極2上
に形成されたギヤツブ祠、4はギヤツブ祠31に形成さ
れた絶縁膜、5は絶縁膜4上にスパイラル状にパターン
化された銅のコイル、6はコイル5を覆う絶縁膜、7は
絶縁膜6」二に形成されたパーマロイの上部磁極である
。8は磁気記録媒体で、この磁気記録媒体は第7図にお
いて、矢印方向に移動し、データのリード/ライトがな
される。
はウェハ1上に形成された下部磁極、3は下部磁極2上
に形成されたギヤツブ祠、4はギヤツブ祠31に形成さ
れた絶縁膜、5は絶縁膜4上にスパイラル状にパターン
化された銅のコイル、6はコイル5を覆う絶縁膜、7は
絶縁膜6」二に形成されたパーマロイの上部磁極である
。8は磁気記録媒体で、この磁気記録媒体は第7図にお
いて、矢印方向に移動し、データのリード/ライトがな
される。
ところで、近年、上部及び下部の磁極2,7は、リード
またはライト特性の向上のために、メッキによる多層膜
、あるいは、真空成膜による多層化が進められている。
またはライト特性の向上のために、メッキによる多層膜
、あるいは、真空成膜による多層化が進められている。
次に、第9図を用いて真空成膜の製造方法を説明する。
ウェハ1上に真空成膜(スパッタリング。
蒸着等)で、多層膜11を形成する(ステップ1)そし
て、多層膜11上にフォトレジストで残したいパターン
を形成する(ステップ2)。
て、多層膜11上にフォトレジストで残したいパターン
を形成する(ステップ2)。
イオンミーリングやスパッタエッチ等で不要な部分を除
去する(ステップ3)。
去する(ステップ3)。
最後に、フォトレジスト12を除去する(ステップ4)
。
。
次に、第10図を用いて、メッキ成膜の製造方法を説明
する。
する。
まず、ウェハ1上に電極となる薄膜13をスパッタや蒸
着によって形成する(ステップ1)。
着によって形成する(ステップ1)。
フォトレジスト14を用いて、メッキを行いたイハター
ンを形成する(ステップ2)。
ンを形成する(ステップ2)。
第1のメッキ15を行なう(ステップ3)。
第2のメッキ16を行なう(ステップ4)。
フォトレジスト14を除去する(ステップ5)。
最後に、イオンミーリングやスパッタエッチ等の手法で
、不要な薄膜13を除去する(ステップ6)[発明が解
決しようとする課題] ところで、このような磁気ヘッドにおいて、分離型ヘッ
ドでない限り、1つの素子でデータのリド/ライトを行
なう。データのライト時においては、磁気ギャップから
多くの磁束が発生することが好ましい。よって、磁極2
.7の飽和密度(BS)が大きいことが有利である。
、不要な薄膜13を除去する(ステップ6)[発明が解
決しようとする課題] ところで、このような磁気ヘッドにおいて、分離型ヘッ
ドでない限り、1つの素子でデータのリド/ライトを行
なう。データのライト時においては、磁気ギャップから
多くの磁束が発生することが好ましい。よって、磁極2
.7の飽和密度(BS)が大きいことが有利である。
また、データのリード時においては、磁気記録媒体8か
ら発生する磁束をより効果的に吸収するために、透磁率
(μ)の高い磁極2,7が必要である。
ら発生する磁束をより効果的に吸収するために、透磁率
(μ)の高い磁極2,7が必要である。
透磁率の高い膜は、メッキ成膜では得られないので、通
常真空成膜法が用いられている。
常真空成膜法が用いられている。
一方、飽和磁束密度の高い膜は、真空成膜、メッキ成膜
でも得られるが、以下の理由により、メッキ成膜の方が
有利である。
でも得られるが、以下の理由により、メッキ成膜の方が
有利である。
■膜厚の均一性が真空成膜の場合はよくない。
第11図に示すように、例えば、上部コア7のように段
差がある部分に、真空成膜を行なう場合において、成膜
方向に対して斜めの部分の膜厚t2、t4は、他の部分
の膜厚tl+i3よりも薄くなる。■真空成膜で磁極パ
ターンを形成することは、磁極が厚くなるにしたがって
、むずかしくなる。
差がある部分に、真空成膜を行なう場合において、成膜
方向に対して斜めの部分の膜厚t2、t4は、他の部分
の膜厚tl+i3よりも薄くなる。■真空成膜で磁極パ
ターンを形成することは、磁極が厚くなるにしたがって
、むずかしくなる。
例えば、第12図に示すように、膜厚の差が大きくなり
、部分的に下地の膜が大きく削られることが発生する。
、部分的に下地の膜が大きく削られることが発生する。
特に、斜めの部分は削られるスピードが速いために、そ
の差が拡大される。
の差が拡大される。
また、第13図に示すように、第9図に示すステップ3
において、必要な磁性膜パターンの廻りに削られた磁性
膜の粒子20が付着し、除去することがむずかしい。
において、必要な磁性膜パターンの廻りに削られた磁性
膜の粒子20が付着し、除去することがむずかしい。
更に、第14図に示すように、厚い磁性膜をパターン形
成するためには、厚いフォトレジスト12が必要であり
、その場合、レジスト12端面はテーパとなる。このテ
ーパがイオンミーリングされると、多層膜11の端面も
テーパがついてしまう。
成するためには、厚いフォトレジスト12が必要であり
、その場合、レジスト12端面はテーパとなる。このテ
ーパがイオンミーリングされると、多層膜11の端面も
テーパがついてしまう。
また、磁気記録媒体8に対向する浮上面の磁極の形状が
第15図に示すようにテーパがついてしまう。ここで、
glが大きいと電磁変換特性の効率が悪くなる。
第15図に示すようにテーパがついてしまう。ここで、
glが大きいと電磁変換特性の効率が悪くなる。
また、g2が大きいと、上部磁極7を下部磁極2上に形
成する場合、マージンがなく外れてしまう等の障害か発
生する。
成する場合、マージンがなく外れてしまう等の障害か発
生する。
本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、その目的
は、飽和磁束密度及び透磁率が高く、ブタのリード/ラ
イト特性が良好な薄膜磁気ヘッドを提供することにある
。
は、飽和磁束密度及び透磁率が高く、ブタのリード/ラ
イト特性が良好な薄膜磁気ヘッドを提供することにある
。
[課題を解決するための手段]
第1図は本発明の原理図である。図において、30.3
3は対向する多層構造の磁極である。
3は対向する多層構造の磁極である。
この磁極30.33は、メッキ成膜層31,35と真空
成膜層32.34とで形成されている。
成膜層32.34とで形成されている。
[作用]
第1図に示す薄膜磁気ヘッドにおいて、磁極30.33
はそれぞれ、飽和磁束密度及び透磁率の高いメッキ成膜
層31.,35及び透磁率の高い真空成膜層32.34
とで構成されているので、ブタのリード/ライト特性が
良好である。
はそれぞれ、飽和磁束密度及び透磁率の高いメッキ成膜
層31.,35及び透磁率の高い真空成膜層32.34
とで構成されているので、ブタのリード/ライト特性が
良好である。
[実施例]
次に、図面を用いて本発明の一実施例を説明する。第2
図は本発明の一実施例の薄膜磁気ヘッドの平面構成図で
ある第3図におけるC−C断面図、第3図は本発明の一
実施例の薄膜磁気ヘッドの平面図、第4図は第3図にお
けるB−B断面、第5図は第2図における下部磁極の製
造方法を説明する構成図、第6図は第2図における上部
磁極の製造方法を説明する図である。
図は本発明の一実施例の薄膜磁気ヘッドの平面構成図で
ある第3図におけるC−C断面図、第3図は本発明の一
実施例の薄膜磁気ヘッドの平面図、第4図は第3図にお
けるB−B断面、第5図は第2図における下部磁極の製
造方法を説明する構成図、第6図は第2図における上部
磁極の製造方法を説明する図である。
まず、第2図乃至第4図を用いて本実施例の薄膜磁気ヘ
ッドの構成を説明する。下部磁極の製造方法を説明する
。第3図及び第4図において、41は基板となるウェハ
、42はウェハ41上に形成された下部磁極、43は下
部磁極42上に形成されたギャップ材、44はキャップ
材43上に形成された絶縁膜、45は絶縁膜44上にス
パイラル状にパターン化された銅のコイル、46はコイ
ル45を覆う絶縁膜、47は絶縁膜46上に形成された
パーマロイの上部磁極である。48は磁気記録媒体で、
この磁気記録媒体は第3図において、矢印方向に移動し
、データのリード/ライトがなされる。
ッドの構成を説明する。下部磁極の製造方法を説明する
。第3図及び第4図において、41は基板となるウェハ
、42はウェハ41上に形成された下部磁極、43は下
部磁極42上に形成されたギャップ材、44はキャップ
材43上に形成された絶縁膜、45は絶縁膜44上にス
パイラル状にパターン化された銅のコイル、46はコイ
ル45を覆う絶縁膜、47は絶縁膜46上に形成された
パーマロイの上部磁極である。48は磁気記録媒体で、
この磁気記録媒体は第3図において、矢印方向に移動し
、データのリード/ライトがなされる。
次に、第2図において、下部磁極42は、ウニ1141
側より、導電膜層51.メッキ成膜層52及び真空成膜
層53より構成されている。
側より、導電膜層51.メッキ成膜層52及び真空成膜
層53より構成されている。
一方、上部磁極47はギャップ材43側より、第1の真
空成膜層、第2の真空成膜層55及びメッキ成膜層56
より構成されている。
空成膜層、第2の真空成膜層55及びメッキ成膜層56
より構成されている。
次に、第5図を用いて、下部磁極42の製造方法につい
て説明を行なう。まず、ウェハ41上に導電膜(電極と
なる薄膜)51をスパッタや蒸着等の手法で形成する(
ステップ1)。
て説明を行なう。まず、ウェハ41上に導電膜(電極と
なる薄膜)51をスパッタや蒸着等の手法で形成する(
ステップ1)。
次に、フォトレジスト6
いたいパターンを形成する(ステップ2)。
メッキ成膜層52を形成する(ステップ3)。
更に、真空成膜層53を形成する(ステップ4)。この
時、真空成膜53の形成前の洗浄(有機洗浄,02プラ
ズマ、イオンミーリング)を行ってもよい。
時、真空成膜53の形成前の洗浄(有機洗浄,02プラ
ズマ、イオンミーリング)を行ってもよい。
そして、フォトレジスト61を除去する(ステップ5)
。
。
最後に、導電膜51の不要部分をイオンミーリングやス
パッタエッチで除去をする(ステップ6)次に、第6図
を用いて上部磁極47の製造方法について説明を行なう
。
パッタエッチで除去をする(ステップ6)次に、第6図
を用いて上部磁極47の製造方法について説明を行なう
。
まず、キャップ材43上に、第1の真空成膜層54を形
成する(ステップ1)。
成する(ステップ1)。
第1の真空成膜層54上に第2の真空成膜層55をスパ
ッタや蒸着等の手法で形成する(ステップ2)。尚、こ
のステップは省略するしてもよい。
ッタや蒸着等の手法で形成する(ステップ2)。尚、こ
のステップは省略するしてもよい。
次に、フォトレジスト62により、メッキを行いたいパ
ターンを形成する(ステップ3)。
ターンを形成する(ステップ3)。
メッキ成膜層56を形成する(ステップ4)。
フォトレジスト62を除去する(ステップ5)。
イオンミーリングやスパッタ等の手法で、不要部分を除
去する(ステップ6)。
去する(ステップ6)。
上記構成によれば、下部磁極42,上部磁極47はそれ
ぞれ、飽和磁束密度及び透磁率の高いメッキ成膜層及び
透磁率の高い真空成膜層とで構成されているので、デー
タのリード/ライト特性が良好となる。
ぞれ、飽和磁束密度及び透磁率の高いメッキ成膜層及び
透磁率の高い真空成膜層とで構成されているので、デー
タのリード/ライト特性が良好となる。
尚、本発明は上記実施例に限るものではない。
例えば、上記実施例においては、下部磁極42と上部磁
極47の対向面に真空成膜層を配置したが、メッキ成膜
層であってもよい。
極47の対向面に真空成膜層を配置したが、メッキ成膜
層であってもよい。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、磁極には、メッキ
成膜層と真空成膜層とで形成するように構成したことに
より、飽和磁束密度及び透磁率が高く、データのリード
/ライト特性が良好な薄膜磁気ヘッドを実現できる。
成膜層と真空成膜層とで形成するように構成したことに
より、飽和磁束密度及び透磁率が高く、データのリード
/ライト特性が良好な薄膜磁気ヘッドを実現できる。
第1図は本発明の原理図、
第2図は本発明の一実施例の薄膜磁気ヘッドの平面構成
図である第3図におけるC−C断面図、第3図は本発明
の一実施例の薄膜磁気ヘッドの平面図、 第4図は第3図におけるB−B断面、 第5図は第2図における下部磁極の製造方法を説明する
構成図、 第6図は第2図における上部磁極の製造方法を説明する
図、 第7図は従来の薄膜ヘッドの一例を示す平面図、第8図
は第7図におけるA−A断面図、第9図は真空成膜の製
造方法を説明する図、第10図はメッキ成膜の製造方法
を説明する図、第11図は第1の問題点を説明する図、
第12図は第2の問題点を説明する図、第13図は第3
の問題点を説明する図、第14図は第4の問題点を説明
する図、第15図は第5の問題点を説明する図である。 第1図乃至第6図において 30.31は磁極、 31.35,52.56はメッキ成膜層、32.34.
53,54.55は真空成膜層、42は下部磁極、 47は上部磁極、 51は導電膜である。
図である第3図におけるC−C断面図、第3図は本発明
の一実施例の薄膜磁気ヘッドの平面図、 第4図は第3図におけるB−B断面、 第5図は第2図における下部磁極の製造方法を説明する
構成図、 第6図は第2図における上部磁極の製造方法を説明する
図、 第7図は従来の薄膜ヘッドの一例を示す平面図、第8図
は第7図におけるA−A断面図、第9図は真空成膜の製
造方法を説明する図、第10図はメッキ成膜の製造方法
を説明する図、第11図は第1の問題点を説明する図、
第12図は第2の問題点を説明する図、第13図は第3
の問題点を説明する図、第14図は第4の問題点を説明
する図、第15図は第5の問題点を説明する図である。 第1図乃至第6図において 30.31は磁極、 31.35,52.56はメッキ成膜層、32.34.
53,54.55は真空成膜層、42は下部磁極、 47は上部磁極、 51は導電膜である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 対向する多層構造の磁極(30、33)を有する薄膜磁
気ヘッドにおいて、 前記磁極(30、33)には、メッキ成膜層(31、3
5)と真空成膜層(32、34)とで形成されたことを
特徴とする薄膜磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2143431A JP2813036B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 薄膜磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2143431A JP2813036B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 薄膜磁気ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0438613A true JPH0438613A (ja) | 1992-02-07 |
JP2813036B2 JP2813036B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=15338560
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2143431A Expired - Fee Related JP2813036B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 薄膜磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2813036B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5329109A (en) * | 1976-08-31 | 1978-03-18 | Hitachi Ltd | Magnetic substance forming method of thin film magnetic head |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP2143431A patent/JP2813036B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5329109A (en) * | 1976-08-31 | 1978-03-18 | Hitachi Ltd | Magnetic substance forming method of thin film magnetic head |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2813036B2 (ja) | 1998-10-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |