JPH0438304B2 - - Google Patents
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- JPH0438304B2 JPH0438304B2 JP61030287A JP3028786A JPH0438304B2 JP H0438304 B2 JPH0438304 B2 JP H0438304B2 JP 61030287 A JP61030287 A JP 61030287A JP 3028786 A JP3028786 A JP 3028786A JP H0438304 B2 JPH0438304 B2 JP H0438304B2
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- trigger signal
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- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 23
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
- H01J31/501—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system
- H01J31/502—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system with means to interrupt the beam, e.g. shutter for high speed photography
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/40—Circuit details for pick-up tubes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、ストリーク管を利用して、ほぼ同一
周期で繰り返す発光現象の個々の発光時間波形を
分離して計測する等の計測に適した２種掃引スト
リークカメラ装置に関する。
周期で繰り返す発光現象の個々の発光時間波形を
分離して計測する等の計測に適した２種掃引スト
リークカメラ装置に関する。
（従来の技術）
高速で変化する発光現象等の時間的な強度分布
の変化を計測する装置としてストリークカメラが
知られている。
の変化を計測する装置としてストリークカメラが
知られている。
このストリークカメラで使用されるストリーク
管は光電陰極と蛍光面との間に偏向電極を配置し
た電子管である。
管は光電陰極と蛍光面との間に偏向電極を配置し
た電子管である。
ストリーク管の光電陰極に光が入射させられる
と、光電陰極は入射光の経時変化に対応して、順
次光電子を放出し、時間的に変化する光電子ビー
ムが形成される。
と、光電陰極は入射光の経時変化に対応して、順
次光電子を放出し、時間的に変化する光電子ビー
ムが形成される。
この光電子ビームが螢光面方向に移動する過程
で前記偏向電極で電界を作用させると、光電子ビ
ームは螢光面上で一方向に掃引され、入射光の強
度変化が螢光面上の光電子ビームの掃引方向（時
間軸方向）の揮度変化として現れる。
で前記偏向電極で電界を作用させると、光電子ビ
ームは螢光面上で一方向に掃引され、入射光の強
度変化が螢光面上の光電子ビームの掃引方向（時
間軸方向）の揮度変化として現れる。
こうして、出力螢光面上に現れた象は、ストリ
ーク像と呼ばれ、これを写真に撮つたり、TVカ
メラで撮像した後、この出力像の掃引方向に沿つ
た明るさの分布を定量することにより、被測定光
の強度の経時変化を知ることができる。
ーク像と呼ばれ、これを写真に撮つたり、TVカ
メラで撮像した後、この出力像の掃引方向に沿つ
た明るさの分布を定量することにより、被測定光
の強度の経時変化を知ることができる。
そして、単掃引形のストリークカメラ装置は一
つの発光現象の観測に、シンクロスキヤンストリ
ークカメラ装置は繰り返し発光現象をその発光に
同期した掃引により螢光面上に発光現象のストリ
ーク像を重ね観察するのに利用されている。
つの発光現象の観測に、シンクロスキヤンストリ
ークカメラ装置は繰り返し発光現象をその発光に
同期した掃引により螢光面上に発光現象のストリ
ーク像を重ね観察するのに利用されている。
（発明が解決しようとする問題点）
分光測光の光源としてモード同期色素レーザが
良く知られている。
良く知られている。
モード同期色素レーザは繰り返し周波数100M
Hz程度である。
Hz程度である。
このようなモード同期色素レーザの光パルス波
形を観測する場合で、かつ、その連続した一つ一
つの出力パルスの波形をそれぞれ観測したいとい
う要求がある。
形を観測する場合で、かつ、その連続した一つ一
つの出力パルスの波形をそれぞれ観測したいとい
う要求がある。
この場合、前述のシンクロスキヤンストリーク
カメラ装置では、ストリーク管の螢光面上の同一
位置に発光現象のストリーク像が重なつて観測さ
れる。
カメラ装置では、ストリーク管の螢光面上の同一
位置に発光現象のストリーク像が重なつて観測さ
れる。
ところがストリーク管の螢光面には残光と呼ば
れる現象があり、この残光時間が数十マイクロ秒
程度あるため、100MHzというような高速に繰り
返す現象は螢光面上で重なつてしまい、分離して
観測することは困難である。また螢光面上の２次
元ストリーク像を100MHzもの高速度に読みだす
ことは困難である。
れる現象があり、この残光時間が数十マイクロ秒
程度あるため、100MHzというような高速に繰り
返す現象は螢光面上で重なつてしまい、分離して
観測することは困難である。また螢光面上の２次
元ストリーク像を100MHzもの高速度に読みだす
ことは困難である。
また、前述の単掃引形ストリークカメラ装置で
は掃引の最大繰り返し周波数は1KHz程度であり、
100MHz程度で繰り返す現象から、連続した一つ
一つの出力パルスの波形をそれぞれ観測すること
は不可能である。
は掃引の最大繰り返し周波数は1KHz程度であり、
100MHz程度で繰り返す現象から、連続した一つ
一つの出力パルスの波形をそれぞれ観測すること
は不可能である。
本発明の目的は前述の問題を解決し、従来不可
能であつた連続した高速繰り返し現象の個々の波
形観測が可能な２種掃引ストリークカメラ装置を
提供することにある。
能であつた連続した高速繰り返し現象の個々の波
形観測が可能な２種掃引ストリークカメラ装置を
提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
前記目的を達成するために、本発明による２種
掃引ストリークカメラ装置は、イメージ管の集束
電子レンズ系の後段で時間軸方向の偏向電界を発
生する第１偏向電極および前記偏向電界と略直角
方向の偏向電界を発生する第２偏向電極を設けた
ストリーク管と、 前記ストリーク管の動作電圧を供給する直流高
圧発生部と、 繰り返し被測定光に同期した第１トリガ信号を
得るための第１トリガ信号発生部と、 前記第１トリガ信号に同期して正弦波またはラ
ンプ偏向電圧を第１偏向電極に印加して偏向電界
を発生させる第１偏向電圧発生部と、 被測定光の波形観測を開始する第２トリガ信号
を発生する第２トリガ信号発生部と、 前記第２トリガ信号により前記偏向電界よりは
時間的変化率が小さい偏向電界を前記第２偏向電
極に発生させる第２偏向電圧発生部と、 前記第２トリガ信号に同期してストリーク管に
ゲート動作を行わせるゲート電圧発生部から構成
されている。
掃引ストリークカメラ装置は、イメージ管の集束
電子レンズ系の後段で時間軸方向の偏向電界を発
生する第１偏向電極および前記偏向電界と略直角
方向の偏向電界を発生する第２偏向電極を設けた
ストリーク管と、 前記ストリーク管の動作電圧を供給する直流高
圧発生部と、 繰り返し被測定光に同期した第１トリガ信号を
得るための第１トリガ信号発生部と、 前記第１トリガ信号に同期して正弦波またはラ
ンプ偏向電圧を第１偏向電極に印加して偏向電界
を発生させる第１偏向電圧発生部と、 被測定光の波形観測を開始する第２トリガ信号
を発生する第２トリガ信号発生部と、 前記第２トリガ信号により前記偏向電界よりは
時間的変化率が小さい偏向電界を前記第２偏向電
極に発生させる第２偏向電圧発生部と、 前記第２トリガ信号に同期してストリーク管に
ゲート動作を行わせるゲート電圧発生部から構成
されている。
前記第１偏向電圧発生部は被測定光に同期した
正弦波を第１偏向電極に印加するか、または高速
繰り返しランプ電圧を印加するように構成されて
いる。
正弦波を第１偏向電極に印加するか、または高速
繰り返しランプ電圧を印加するように構成されて
いる。
前記第２偏向電圧発生部は第２トリガ信号に同
期してランプ偏向電圧を第２偏向電極に印加する
偏向電圧発生部であり、この電圧によりストリー
ク像の発生する位置が順次ずらされる。
期してランプ偏向電圧を第２偏向電極に印加する
偏向電圧発生部であり、この電圧によりストリー
ク像の発生する位置が順次ずらされる。
前記ストリーク管は、光電陰極、メツシユ電
極、集束電極、開口を持つ陽極、互いに直交する
方向に電界を発生する第１偏向電極、第２偏向電
極、螢光面がこの順序で真空容器内に配置されて
いる。そして、前記ゲート電圧発生部は、第２ト
リガ信号に同期して第２偏向電極による偏向が行
われている期間、前記ストリーク管の光電陰極ま
たはマイクロチヤンネルプレートにゲート電圧を
印加しストリーク管を動作させる。
極、集束電極、開口を持つ陽極、互いに直交する
方向に電界を発生する第１偏向電極、第２偏向電
極、螢光面がこの順序で真空容器内に配置されて
いる。そして、前記ゲート電圧発生部は、第２ト
リガ信号に同期して第２偏向電極による偏向が行
われている期間、前記ストリーク管の光電陰極ま
たはマイクロチヤンネルプレートにゲート電圧を
印加しストリーク管を動作させる。
また、前記ゲート電圧発生部は、第２トリガ信
号と第１トリガ信号に同期して前記第１偏向電極
に現れる戻り掃引の期間をのぞき第２偏向電極に
よる偏向が行われている期間、前記ストリーク管
の光電陰極またはマイクロチヤンネルプレートに
ゲート電圧を印加しストリーク管を動作させるよ
うにすることもできる。
号と第１トリガ信号に同期して前記第１偏向電極
に現れる戻り掃引の期間をのぞき第２偏向電極に
よる偏向が行われている期間、前記ストリーク管
の光電陰極またはマイクロチヤンネルプレートに
ゲート電圧を印加しストリーク管を動作させるよ
うにすることもできる。
（実施例）
本発明は図面等を参照して、さらに詳しく説明
する。
する。
第１図は本発明による２重掃引ストリークカメ
ラの実施例を示すブロツク図である。
ラの実施例を示すブロツク図である。
ストリーク管１０の真空容器内には光電陰極
１、メツシユ電極２、集束電極３、中央に開口を
有する陽極板４、第１偏向電極５、第２偏向電極
６、MCP７、螢光面８が設けられている。
１、メツシユ電極２、集束電極３、中央に開口を
有する陽極板４、第１偏向電極５、第２偏向電極
６、MCP７、螢光面８が設けられている。
第２偏向電極６の掃引方向は第１偏向電極５の
掃引方向に直交するように設けられている。
掃引方向に直交するように設けられている。
直流高圧電圧発生部９から前記ストリーク管１
０の電極の各部に動作電圧が供給されている。
０の電極の各部に動作電圧が供給されている。
ストリーク管１０の光電陰極１には基準電位点
（接地電位）から−5KV、メツシユ電極には−
4KV、集束電極３には−4KV、陽極板４にはOV
（接地電位）が印加されている。
（接地電位）から−5KV、メツシユ電極には−
4KV、集束電極３には−4KV、陽極板４にはOV
（接地電位）が印加されている。
また螢光面８、第１偏向電極５の片側の偏向
板、第２偏向電極６の片側の偏向板、それぞれ基
準電位点（接地電位）に接続されている。
板、第２偏向電極６の片側の偏向板、それぞれ基
準電位点（接地電位）に接続されている。
被測定光源１２が原発振器１１に同期して、
80MHzの繰り返し放射光を発生している場合を例
にして説明する。
80MHzの繰り返し放射光を発生している場合を例
にして説明する。
被測定発光源１２からの放射光は光学スリツト
板１３に入射され、スリツトを通過した光はリレ
ーレンズ１４により前記ストリーク管１０の光電
陰極に集光される。
板１３に入射され、スリツトを通過した光はリレ
ーレンズ１４により前記ストリーク管１０の光電
陰極に集光される。
第１トリガ信号発生部２３にも原発振器１１の
出力の一部が遅延回路１５を介して接続され、波
形成形され、第１トリガ信号として第１偏向電圧
発生部１８に接続される。
出力の一部が遅延回路１５を介して接続され、波
形成形され、第１トリガ信号として第１偏向電圧
発生部１８に接続される。
第１偏向電圧発生部１８に入力された第１トリ
ガ信号は高周波増幅回路１６で増幅され、同調回
路１７を介して出力される。
ガ信号は高周波増幅回路１６で増幅され、同調回
路１７を介して出力される。
これにより第１偏向電圧発生部１８は、前記第
１トリガ信号に同期した正弦波を発生する。
１トリガ信号に同期した正弦波を発生する。
この正弦波は偏向電圧としてストリーク管１０
の第１偏向電極５に接続される。
の第１偏向電極５に接続される。
遅延回路１５の遅延時間の調整により、被測定
光と第１偏向電極の偏向電圧の位相関係を任意に
選ぶことができる。
光と第１偏向電極の偏向電圧の位相関係を任意に
選ぶことができる。
第２トリガ信号発生部１９は外部または内部ト
リガにより、放射光の観測開始のタイミングを与
える第２トリガ信号を発生する。
リガにより、放射光の観測開始のタイミングを与
える第２トリガ信号を発生する。
第２トリガ信号は第２偏向電圧発生部２０およ
びゲート電圧発生部２２に接続されている。
びゲート電圧発生部２２に接続されている。
第２偏向電圧発生部２０は、第２トリガ信号に
同期したランプ電圧（一定の傾斜で変化する電
圧）を発生する。
同期したランプ電圧（一定の傾斜で変化する電
圧）を発生する。
このランプ電圧は偏向電圧としてストリーク管
１０の第２偏向電極６に接続される。
１０の第２偏向電極６に接続される。
水平位置調整回路２１は第２偏向電圧発生部２
０のランプ電圧出力に直流電圧を重畳させて、ス
トリーク像の水平方向の位置を調整する回路であ
る。ゲート電圧発生部２２は前記第２トリガ信号
により、光電陰極１とマイクロチヤンネルプレー
ト７をゲートするのに必要な２種類のゲート電圧
を発生する。
０のランプ電圧出力に直流電圧を重畳させて、ス
トリーク像の水平方向の位置を調整する回路であ
る。ゲート電圧発生部２２は前記第２トリガ信号
により、光電陰極１とマイクロチヤンネルプレー
ト７をゲートするのに必要な２種類のゲート電圧
を発生する。
ゲート電圧発生部２２の発生するゲート電圧は
ストリーク管１０の光電陰極１とマイクロチヤン
ネルプレート７に接続される。
ストリーク管１０の光電陰極１とマイクロチヤン
ネルプレート７に接続される。
第２図は前記実施例の動作例を示す波形図であ
る。
る。
第１偏向電極５に600Vp−ｐ、第２偏向電極６
に600Vp−ｐの電圧を印加する。
に600Vp−ｐの電圧を印加する。
この実施例のストリーク管１０の第１偏向電極
５の偏向感度は50mm／KV、第２偏向電極６の偏
向感度は28mm／KVである。
５の偏向感度は50mm／KV、第２偏向電極６の偏
向感度は28mm／KVである。
ストリーク管１０の出力螢光面７の直径が15mm
であるとき、前記各偏向による螢光面上の軌跡は
第２図の破線をたどる。
であるとき、前記各偏向による螢光面上の軌跡は
第２図の破線をたどる。
第１偏向電圧発生部１８は第１トリガ信号に同
期して80MHzの正弦波偏向を行い、第２偏向電圧
発生部は第２トリガ信号により200ns／600Vのラ
ンプ電圧偏向を行う。
期して80MHzの正弦波偏向を行い、第２偏向電圧
発生部は第２トリガ信号により200ns／600Vのラ
ンプ電圧偏向を行う。
また、第２トリガ信号によりゲート電圧発生部
２２はストリーク管１０にゲート電圧を印加し第
２偏向電圧発生部の偏向期間だけストリーク管を
動作させ、この観測期間外の入射光によるノイズ
を除去する。
２２はストリーク管１０にゲート電圧を印加し第
２偏向電圧発生部の偏向期間だけストリーク管を
動作させ、この観測期間外の入射光によるノイズ
を除去する。
すなわち、第２偏向電圧発生部に加えられる偏
向電界の時間的変化率は、第１偏向電界の変化率
より小さくこの例では蛍光面に３個のストリーク
像が現れることになる。
向電界の時間的変化率は、第１偏向電界の変化率
より小さくこの例では蛍光面に３個のストリーク
像が現れることになる。
第３図は入射光の波形と螢光面の像を対比して
示したグラフである。
示したグラフである。
第３図に示すように、被測定光である80MHzで
繰り返す光パルス個々のストリーク像が螢光面上
の左から右に並んで観測され、光パルス個々の位
相、パルス幅、立ち上がり時間、立ち下がり時間
等が測定できる。
繰り返す光パルス個々のストリーク像が螢光面上
の左から右に並んで観測され、光パルス個々の位
相、パルス幅、立ち上がり時間、立ち下がり時間
等が測定できる。
第４図は前記実施例装置のさらに他の使用例を
示すグラフである。
示すグラフである。
この使用例は前記使用例に比較して第２偏向電
圧発生部２０の偏向時間を第１偏向電圧発生部１
８の正弦波偏向の周期より十分長く取つたもので
ある。
圧発生部２０の偏向時間を第１偏向電圧発生部１
８の正弦波偏向の周期より十分長く取つたもので
ある。
そのため、第４図に示すように、光パルスの
個々は横方向に極めて近接して現れる。
個々は横方向に極めて近接して現れる。
これにより、連続した被測定光の全体における
位相変動、パルス幅変動を観測することができ
る。パルス幅が狭い部分のストリーク像は時間軸
方向に短く現れている。
位相変動、パルス幅変動を観測することができ
る。パルス幅が狭い部分のストリーク像は時間軸
方向に短く現れている。
第５図は、第１偏向電圧とゲート電圧を前述と
は別の波形で印加するされに他の実施例の波形図
である。
は別の波形で印加するされに他の実施例の波形図
である。
第５図に示すように、第１偏向電圧発生部１８
の発生する偏向電圧は必ずしも正弦波でなくても
良い。
の発生する偏向電圧は必ずしも正弦波でなくても
良い。
この実施例では第１偏向電圧発生部１８を第１
トリガ信号発生部２３から信号に同期して第５図
に示す鋸歯状の偏向電圧を発生するようにしてあ
る。
トリガ信号発生部２３から信号に同期して第５図
に示す鋸歯状の偏向電圧を発生するようにしてあ
る。
またゲート電圧発生部２２を前記鋸歯状の偏向
電圧にも同期するようにして、偏向の戻り掃引期
間ゲートを閉じストリーク管の動作を止め、戻り
掃引（帰線期間に相当するV+→V-の掃引）によ
る２重露光を防止している。
電圧にも同期するようにして、偏向の戻り掃引期
間ゲートを閉じストリーク管の動作を止め、戻り
掃引（帰線期間に相当するV+→V-の掃引）によ
る２重露光を防止している。
（発明の効果）
以上詳しく説明したように、本発明による２重
掃引ストリークカメラ装置は、第１偏向電極およ
び前記偏向電界と略直角方向の偏向電界を発生す
る第２偏向電極を設けたストリーク管と、前記ス
トリーク管の動作電圧を供給する直流高圧発生部
と、繰り返し被測定光に同期した第１トリガ信号
を得るための第１トリガ信号発生部と、前記第１
トリガ信号に同期して正弦波またはランプ偏向電
圧を第１偏向電極に印加して偏向電界を発生させ
る第１偏向電圧発生部と、被測定光の波形観測を
開始する第２トリガ信号を発生する第２トリガ信
号発生部と、前記第２トリガ信号により前記偏向
電界より小さい時間的変化率の偏向電界を前記第
２偏向電極に発生させる第２偏向電圧発生部と、
前記第２トリガ信号に同期してストリーク管にゲ
ート動作を行わせるゲート電圧発生部から構成さ
れている。
掃引ストリークカメラ装置は、第１偏向電極およ
び前記偏向電界と略直角方向の偏向電界を発生す
る第２偏向電極を設けたストリーク管と、前記ス
トリーク管の動作電圧を供給する直流高圧発生部
と、繰り返し被測定光に同期した第１トリガ信号
を得るための第１トリガ信号発生部と、前記第１
トリガ信号に同期して正弦波またはランプ偏向電
圧を第１偏向電極に印加して偏向電界を発生させ
る第１偏向電圧発生部と、被測定光の波形観測を
開始する第２トリガ信号を発生する第２トリガ信
号発生部と、前記第２トリガ信号により前記偏向
電界より小さい時間的変化率の偏向電界を前記第
２偏向電極に発生させる第２偏向電圧発生部と、
前記第２トリガ信号に同期してストリーク管にゲ
ート動作を行わせるゲート電圧発生部から構成さ
れている。
したがつて、繰り返し発光等を順次ずらして螢
光面上に発生させることがどきる。
光面上に発生させることがどきる。
そのため、従来技術では不可能だつた、100M
Hz程度で繰り返す高速光現象個々の波形の分離観
測、連続した被測定光の位相変動、パルス幅変動
の測定が可能になつた。
Hz程度で繰り返す高速光現象個々の波形の分離観
測、連続した被測定光の位相変動、パルス幅変動
の測定が可能になつた。
第１図は本発明による２重掃引ストリークカメ
ラ装置の第１の実施例を示すブロツク図である。
第２図は前記実施例の動作を説明するための波形
図である。第３図は前記動作例における入射光の
波形とストリーク像を対比して示したグラフであ
る。第４図はさらに他の動作例における入射光の
波形とストリーク像を対比して示したグラフであ
る。第５図は、本発明による２重掃引ストリーク
カメラ装置の第２の実施例の動作波形を示す波形
図である。 １…ストリーク管の光電陰極、２…メツシユ電
極、３…集束電極、４…陽極板、５…第１偏向電
極、６…第２偏向電極、７…マイクロチヤンネル
プレート、８…螢光面、９…直流高圧発生部、１
０…ストリーク管、１１…原発振器、１２…被測
定光発光源、１３…スリツト板、１５…遅延回
路、１６…高周波増幅回路、１７…同調回路、１
８…第１偏向電圧発生部、１９…第２トリガ信号
発生部、２０…第２偏向電圧発生部、２１…水平
位置調整回路、２２…ゲート電圧発生部、２３…
第１トリガ信号発生部。
ラ装置の第１の実施例を示すブロツク図である。
第２図は前記実施例の動作を説明するための波形
図である。第３図は前記動作例における入射光の
波形とストリーク像を対比して示したグラフであ
る。第４図はさらに他の動作例における入射光の
波形とストリーク像を対比して示したグラフであ
る。第５図は、本発明による２重掃引ストリーク
カメラ装置の第２の実施例の動作波形を示す波形
図である。 １…ストリーク管の光電陰極、２…メツシユ電
極、３…集束電極、４…陽極板、５…第１偏向電
極、６…第２偏向電極、７…マイクロチヤンネル
プレート、８…螢光面、９…直流高圧発生部、１
０…ストリーク管、１１…原発振器、１２…被測
定光発光源、１３…スリツト板、１５…遅延回
路、１６…高周波増幅回路、１７…同調回路、１
８…第１偏向電圧発生部、１９…第２トリガ信号
発生部、２０…第２偏向電圧発生部、２１…水平
位置調整回路、２２…ゲート電圧発生部、２３…
第１トリガ信号発生部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ イメージ管の集束電子レンズ系の後段で時間
軸方向の偏向電界を発生する第１偏向電極および
前記偏向電界と略直角方向の偏向電界を発生する
第２偏向電極を設けたストリーク管と、 前記ストリーク管の動作電圧を供給する直流高
圧発生部と、 繰り返し被測定光に同期した第１トリガ信号を
得るための第１トリガ信号発生部と、 前記第１トリガ信号に同期して正弦波またはラ
ンプ偏向電圧を第１偏向電極に印加して偏向電界
を発生させる第１偏向電圧発生部と、 被測定光の波形観測を開始する第２トリガ信号
を発生する第２トリガ信号発生部と、 前記第２トリガ信号により前記偏向電界よりは
時間的変化率が小さい偏向電界を前記第２偏向電
極に発生させる第２偏向電圧発生部と、 前記第２トリガ信号に同期してストリーク管に
ゲート動作を行わせるゲート電圧発生部から構成
した２重掃引ストリークカメラ装置。 ２ 前記第１偏向電圧発生部は被測定光に同期し
た正弦波を第１偏向電極に印加する偏向電圧発生
部である特許請求の範囲第１項記載の２種掃引ス
トリークカメラ装置。 ３ 前記第１偏向電圧発生部は被測定光に同期し
た高速繰り返しランプ電圧を第１偏向電極に印加
する偏向電圧発生部である特許請求の範囲第１項
記載の２重掃引ストリークカメラ装置。 ４ 前記第２偏向電圧発生部は第２トリガ信号に
同期してランプ偏向電圧を第２偏向電極に印加す
る偏向電圧発生部である特許請求の範囲第１項記
載の２重掃引ストリークカメラ装置。 ５ 前記ストリーク管は、光電陰極、メツシユ電
極、集束電極、開口を持つ陽極、互いに直交する
方向に電界を発生する第１偏向電極、第２偏向電
極、蛍光面がこの順序で真空容器内に配置された
ストリーク管である特許請求の範囲第１項記載の
２重掃引ストリークカメラ装置。 ６ 前記ゲート電圧発生部は、第２トリガ信号に
同期して第２偏向電極による偏向が行われている
期間前記ストリーク管の光電陰極またはマイクロ
チヤンネルプレートにゲート電圧を印加しストリ
ーク管を動作させるゲート電圧発生部である特許
請求の範囲第５項記載の２重掃引ストリークカメ
ラ装置。 ７ 前記ゲート電圧発生部は、第２トリガ信号と
第１トリガ信号に同期して前記第１偏向電極に現
れる戻り掃引の期間をのぞき第２偏向電極による
偏向が行われている期間、前記ストリーク管の光
電陰極またはマイクロチヤンネルプレートにゲー
ト電圧を印加しストリーク管を動作させるゲート
電圧発生部である特許請求の範囲第５項記載の２
重掃引ストリークカメラ装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61030287A JPS62188915A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | ２重掃引ストリ−クカメラ装置 |
| US07/014,445 US4740685A (en) | 1986-02-14 | 1987-02-13 | Double sweep streak camera device |
| GB8703542A GB2188220B (en) | 1986-02-14 | 1987-02-16 | Streak camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61030287A JPS62188915A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | ２重掃引ストリ−クカメラ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62188915A JPS62188915A (ja) | 1987-08-18 |
| JPH0438304B2 true JPH0438304B2 (ja) | 1992-06-24 |
Family
ID=12299504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61030287A Granted JPS62188915A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | ２重掃引ストリ−クカメラ装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4740685A (ja) |
| JP (1) | JPS62188915A (ja) |
| GB (1) | GB2188220B (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0644012B2 (ja) * | 1986-12-23 | 1994-06-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 電気信号観測装置 |
| JPS649325A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-12 | Hamamatsu Photonics Kk | Light waveform observing instrument |
| DE3884490T2 (de) * | 1987-07-14 | 1994-01-27 | Hamamatsu Photonics Kk | Einrichtung zum Abtasten, Analysieren und Anzeigen eines elektrischen Signals. |
| JPS6489877A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-05 | Hamamatsu Photonics Kk | Ultrahigh speed continuous image pickup device |
| GB2211983B (en) * | 1987-11-04 | 1992-03-18 | Imco Electro Optics Ltd | Improvements in or relating to a streaking or framing image tube |
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| JPH0670612B2 (ja) * | 1989-03-08 | 1994-09-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | ストリークカメラ装置 |
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| CN103048652B (zh) * | 2013-01-23 | 2014-08-20 | 哈尔滨工业大学 | 带多个偏转电场的无狭缝成像条纹管及其成像处理方法 |
| JP6401600B2 (ja) * | 2014-12-18 | 2018-10-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | ストリーク管及びそれを含むストリーク装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4243878A (en) * | 1977-07-07 | 1981-01-06 | Ralph Kalibjian | Ultra-fast framing camera tube |
| US4682020A (en) * | 1984-03-01 | 1987-07-21 | Alfano Robert R | Picosecond gated light detector |
| US4661694A (en) * | 1985-09-13 | 1987-04-28 | Corcoran Vincent J | Infrared streak camera |
-
1986
- 1986-02-14 JP JP61030287A patent/JPS62188915A/ja active Granted
-
1987
- 1987-02-13 US US07/014,445 patent/US4740685A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-02-16 GB GB8703542A patent/GB2188220B/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62188915A (ja) | 1987-08-18 |
| GB2188220B (en) | 1989-11-08 |
| US4740685A (en) | 1988-04-26 |
| GB2188220A (en) | 1987-09-23 |
| GB8703542D0 (en) | 1987-03-25 |
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|---|---|---|---|
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