JPH04350819A - 可変位相板 - Google Patents

可変位相板

Info

Publication number
JPH04350819A
JPH04350819A JP12623591A JP12623591A JPH04350819A JP H04350819 A JPH04350819 A JP H04350819A JP 12623591 A JP12623591 A JP 12623591A JP 12623591 A JP12623591 A JP 12623591A JP H04350819 A JPH04350819 A JP H04350819A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
variable phase
phase plate
inner part
outer part
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12623591A
Other languages
English (en)
Inventor
Minehiro Sotozaki
峰広 外崎
Kiyoshi Osato
潔 大里
Hiroshi Suganuma
菅沼 洋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP12623591A priority Critical patent/JPH04350819A/ja
Publication of JPH04350819A publication Critical patent/JPH04350819A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば自動焦点計等の
焦点位置の検出、光学ピックアップレーザ光のスポット
径の縮小等に用いられる可変位相板に係わる。
【0002】
【従来の技術】米国特許第4,861,975号明細書
において開示された可変位相板は、光透過性の圧電体よ
り成り、これに照射する光ビームの例えば周辺部と中央
部とに位相差が生じるように、圧電体の周辺部と中央部
とに独別に導電層を被着してそれぞれ電圧を印加し、圧
電体の厚さを連続的に変化させてこの圧電体を通過させ
る光に局部的に位相差を生じさせ、焦点距離を電気的に
可動とするデバイスである。
【0003】図7はこの可変位相板の原理を示したもの
である。図7において、21は例えば円盤状のPLZT
(ランタン置換チタン酸ジルコン酸鉛)等の光透過性の
圧電体で、この圧電体21の一方の面上の外側部1と内
側部2とに、例えばITO(インジウム・スズ複合酸化
物)等の光透過性の導電層4A及び4Bをそれぞれ被着
し、独別に電圧を印加し得るようになしたものである。 5は電源である。この可変位相板20の各導電層4A及
び4Bに適切な電圧を印加して、外側部1を例えば矢印
vで示す圧電体21の厚さ方向に縮小させ、この状態で
例えば光ビームbを透過させる。この場合、可変位相板
20の内側部2を通過した光は光路長が外側部1を通過
した光に比して大となって、外側部1と内側部2におい
て位相差が生じることとなり、印加電圧を適切に選定し
てこの位相差を最適化することによって、レンズLを通
過した後リフレクター16の表面において線iをもって
模式的に強度分布を示すように、光が集光されるように
なすことができ、例えば光学ピックアップのレーザ光の
線幅を小とすることができる。
【0004】またこのことを利用して、例えば図8に示
す焦点位置検出装置を構成することができる。図8にお
いて、12はビームスプリッターで、これと対向して可
変位相板20を配置し、ビームスプリッター12を通過
した光ビームbが、可変位相板21を通ってコリメータ
レンズ14を介してリフレクター16において反射し、
再び可変位相板21を通過してビームスプリッター12
で反射し、集光レンズ17を介してディテクター18に
おいて電気信号として検出され、増幅器19を介してフ
ィードバック回路22に入力される。この回路22から
の出力が、上述のコリメータレンズ14のレンズ駆動装
置15に入力される。
【0005】この場合、ディテクター18で検出される
信号は、コリメータレンズ14の位置によってその出力
電圧が変化し、リフレクター16が焦点位置にあったと
き、2次高調波が検出される。従って、ディテクター1
8によって2次高調波を検出することによって、焦点位
置を検出することができる。即ち、上述したような光路
差を生じさせる可変位相板を用いることによって、焦点
位置を検出する信号を得ることができる。
【0006】しかしながら、上述の構造の可変位相板2
0を用いる場合、図9において矢印vで示すように、圧
電体の外側部及び内側部の厚さが連続的に変化して圧電
体全体が振動することとなり、振動の解析が困難で、ま
たその制御が難しく最適な位相差を与える構造を実際に
得ることは難しかった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述したよ
うな可変位相板において、再現性よくかつ制御性よく位
相差を生じさせて、焦点位置を確実に検出し得る可変位
相板を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明可変位相板の一例
の略線的拡大斜視図を図1に示す。本発明は、図1に示
すように、光透過性の圧電体より成る外側部1と内側部
2とが弾性体3を介して弾力性をもって接着されて構成
され、外側部1と内側部2との少なくとも一方の面には
独別に、他の面には共通又は独別に光透過性の導電層4
S1及び4S2,4C1及び4C2が被着されて成り、
外側部1と内側部2に被着した導電層4S1及び4S2
,4C1及び4C2に印加する電圧を変化させて外側部
1と内側部2との厚みを独別に変化させ、外側部1と内
側部2とを通過する光に位相差を生じさせる。
【0009】
【作用】上述したように、本発明可変位相板では、光透
過性の圧電体より成る外側部1と内側部2とを別体とし
て構成し、これら外側部1と内側部2とを弾力性をもっ
て接着される構成とするため、これら外側部1と内側部
2とにそれぞれ導電層4S1及び4S2,4C1及び4
C2を被着して、独別に電圧を印加することによって、
各部1及び2の厚さをほぼ独立して変化させることがで
きる。
【0010】従って、このような可変位相板20による
位相の変化量は、一例として内部2のみを変化した場合
を図2に模式的に示すように、その厚さは位置の変化に
対して矩形波状に変化することとなり、その解析の簡単
化をはかることができて、位相変化の再現性を向上させ
、かつ制御性を向上させることができる。
【0011】
【実施例】以下本発明可変位相板の一例を、図1の斜視
図及びこの図1の一部を切り欠いて示した図3の斜視図
、更にその理解を容易にするために、製造工程を示す図
4及び図5を参照して詳細に説明する。
【0012】先ず図3を参照して本発明可変位相板20
の一例の構成を説明する。この例では、例えば方形の光
透過性の圧電板6の中心部に例えば円形の内側部2を設
け、これを取り囲む周縁部を外側部1とした場合で、こ
れら外側部1と内側部2とは、接着剤等より成る所要の
弾力性を有する弾性体3によって接着されて成る。そし
て外側部1の主面即ち圧電板6の主面6S上には、外側
部1と同パターンの即ち中心部に内側部2と同径の円孔
を有するパターンとして導電層4S1が被着される。ま
た内側部2上にもこれと同パターン即ちほぼ円形パター
ンの導電層4C1が被着されて成る。一方、これらの圧
電板6の裏面6R上にも同様に、外側部1及び内側部2
と同パターンの導電層4S2及び4C2が被着されて成
る。
【0013】このような構成の可変位相板20に対し、
図1に示すように、例えば外側部1上の導電層4S1と
、裏面の導電層4S2とに所要の電圧を電源5によって
印加して、外側部1のみの厚さを変化させることができ
る。そしてこの状態で、例えば断面円形の光ビームbを
、例えば圧電板6上から照射して、この可変位相板20
を通過した後の光ビームを、例えばその外周部と内周部
とにおいて位相が異なるようになすことができる。
【0014】上述の構成による可変位相板20の製造方
法を、図4及び図5を参照して説明する。先ず、図4A
に示すように、例えばPLZTより成る光透過性の圧電
板6を用意する。そして、図4Bに示すように、この圧
電板6に対して超音波加工機等によってその中心部を例
えば円形に打ち抜いて中心孔1Cを有する外側部1を形
成し、一方図4Cに示すように、この打ち抜いた中心部
の円盤状の内側部2は、その周面2Sを研磨する等して
、外側部1の中心孔1C内に所要の裕度をもって嵌合せ
しめるようになす。
【0015】そして図5Aに示すように、この外側部1
の中心孔1C内に内側部2を嵌合してエポキシ樹脂系ま
たは特殊シリコーン変性ポリマーより成る、例えば可視
光に対して透過性を有する接着剤等の弾性体3によって
この外側部1と内側部2とを嵌合接着する。これにより
、外側部1と内側部2とより成る圧電板6を構成する。 そして更にこれら外側部1及び内側部2より成る圧電板
6を治具7上にワックス等によって固定し、圧電板6の
両面即ち主面6Sと裏面6Rとを研磨する。
【0016】そしてこの後例えば図5Bに示すように、
外側部1の上面1Sと、裏面6R上即ち外側部1及び内
側部2の裏面上とに全面的に、真空蒸着等により例えば
ITO等の透明導電体をイオンプラズマ中で100 ℃
以下の例えば80℃程度の低温下において被着した後、
フォトリソグラフィによるパターンエッチングを行って
、図3に示すように、光透過性の導電層4S1及び4C
1,4S2及び4C2をそれぞれ分離して形成するか或
いは裏面の導電層4S2及び4C2を裏面6Rに全面的
に形成した導電層によって共通電極とすることもできる
【0017】又は、例えば図6に示すように、主面6S
上の電極4S1をリング状にするなど種々の構成とする
ことができる。
【0018】そしてこのような構成において、図1に示
すように、例えば外側部1上の導電層4S1と、裏面6
R上の導電層4S2とに所要の例えば直流電圧を印加し
て、外側部1のみを圧電効果によって厚さを変化させ、
この外側部1と内側部2とを通過する光ビームbの中心
部と周辺部とにおいて位相差を生じさせることができる
【0019】このような可変位相板20を、例えば図8
において説明した焦点位置検出装置に用いる場合、可変
位相板20における位相差の変化を、図2に示すように
簡単化することができることから設計の簡便化、更にこ
れによる製作時の再現性及び制御性の向上をはかること
ができて、目的とする位相差を高精度に生じさせること
ができて、焦点位置の検出精度の向上をはかることがで
きる。
【0020】このように、可変位相板20を用いた焦点
位置検出装置では、可変位相板により生じさせる位相差
を適切に選定することができることによって、図10に
示すように、リフレクター即ち対象物上での光強度分布
を、矢印aで示すように、中心に集中させて、そのスペ
クトルを幅狭とすることができる。従ってこの焦点位置
検出装置を例えば8ミリカメラ等に適用する場合、同一
のレンズの開口数N.A.をもって高解像度化をはかる
ことができる。
【0021】即ち、集光系におけるレンズ固有の焦点深
度に対し、その焦点深度以下の微細な焦点距離を検出し
、光の解像度を高めることができる。
【0022】尚、上述の例においては、可変位相板20
の外側部1にのみ電圧を印加する場合を説明したが、そ
の他例えば内側部2にのみ電圧を印加して、図2に示す
ように、内側部2のみがその厚さを変化するようになし
たり、または両外側部1及び内側部2にそれぞれ直流電
圧又は交流電圧を独別に印加する等、種々の動作態様を
採ることができる。
【0023】また、外側部1と内側部2との形状は、上
述の実施例の他、種々の形状構成を採ることができる。
【0024】尚、本発明は上述したように8mmカメラ
への適用のみならず、顕微鏡その他各種光学系に適用す
ることができる。
【0025】
【発明の効果】上述したように、本発明可変位相板によ
れば、その位相差を連続的にではなく段階的にいわゆる
矩形波状に生じさせることができるため、その解析及び
設計を単純化することができ、これにより再現性よくか
つ制御性よく位相差を生じさせることができて、これを
例えば焦点距離検出装置に用いる場合は、焦点距離をよ
り再現性よくかつ制御性よく検出することができる。
【0026】また、本発明可変位相板を例えば8ミリカ
メラ、顕微鏡等に用いる場合、更にその解像度を再現性
よくかつ制御性よく向上させることができる。
【0027】更にまた光磁気ディスクの読み出し等の各
種光学ピックアップのレーザ光スポットの縮小化を再現
性よくかつ制御性よく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明可変位相板の一例の略線的拡大斜視図で
ある。
【図2】本発明可変位相板による位相変化量の一例を示
す模式図である。
【図3】本発明可変位相板の一例の一部を切り欠いた略
線的拡大斜視図である。
【図4】本発明可変位相板の一例の製造工程図である。
【図5】本発明可変位相板の一例の製造工程図である。
【図6】本発明可変位相板の他の例の略線的拡大斜視図
である。
【図7】可変位相板を用いた可変焦点距離装置を示す構
成図である。
【図8】焦点位置検出装置を示す構成図である。
【図9】従来の可変位相板による位相変化量を示す模式
図である。
【図10】光ビームの強度分布を示す模式図である。
【符号の説明】
1  外側部 2  内側部 3  弾性体 4S1  導電層 4S2  導電層 4C1  導電層 4C2  導電層 5  電源 6  圧電板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光透過性の圧電体より成る外側部と内
    側部とが弾性体を介して弾力性をもって接着されて構成
    され、上記外側部と上記内側部との少なくとも一方の面
    には独別に、他の面には共通又は独別に光透過性の導電
    層が被着されて成り、上記外側部と上記内側部に被着し
    た上記導電層に印加する電圧を変化させて上記外側部と
    上記内側部との厚みを独別に変化させ、上記外側部と上
    記内側部とを通過する光に位相差を生じさせることを特
    徴とする可変位相板。
JP12623591A 1991-05-29 1991-05-29 可変位相板 Pending JPH04350819A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12623591A JPH04350819A (ja) 1991-05-29 1991-05-29 可変位相板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12623591A JPH04350819A (ja) 1991-05-29 1991-05-29 可変位相板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04350819A true JPH04350819A (ja) 1992-12-04

Family

ID=14930137

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12623591A Pending JPH04350819A (ja) 1991-05-29 1991-05-29 可変位相板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04350819A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6259550B1 (en) 1996-06-18 2001-07-10 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Phase-modulating microstructures for highly integrated surface light modulators
JP2010152066A (ja) * 2008-12-25 2010-07-08 Seiko Epson Corp 画像表示装置および光源装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6259550B1 (en) 1996-06-18 2001-07-10 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Phase-modulating microstructures for highly integrated surface light modulators
JP2010152066A (ja) * 2008-12-25 2010-07-08 Seiko Epson Corp 画像表示装置および光源装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4927241A (en) Optical imaging system having an electronically variable focal length and optical image sensor provided with such a system
US6320699B1 (en) Aberration correcting apparatus and optical apparatus using the same
US20100224767A1 (en) Photodetector, method for manufacturing the same, and photodetection system
US4830498A (en) Position detecting device
KR100931278B1 (ko) 광 헤드 및 광학 장치
US5226029A (en) Electric charge image recording medium and recording/reproducing apparatus
JPH04350819A (ja) 可変位相板
US4833314A (en) Variable phase stop for use in interferometers
JP2001100174A (ja) 光学素子、光ヘッド及び光記録再生装置
JP3821542B2 (ja) アクチュエータ、変形可能ミラーの組立て方法並びに組立て装置、及び光学装置
JPH10302302A (ja) 光ピックアップ装置
JP3885251B2 (ja) 光学異方性回折格子、その駆動方法及びそれを用いた光ヘッド装置
JP4211140B2 (ja) 光学素子、光学ピックアップ、及び光ディスク装置
JPH05128580A (ja) 光学式ヘツド装置
JP3183564B2 (ja) 光ディスク装置ならびに光ディスク装置に適用される光ヘッド装置及び液晶装置
JPS63103207A (ja) レンズの焦点位置制御装置
JPH09258150A (ja) 電気光学レンズ
JPS6337829A (ja) トラツキングサ−ボ装置
CN114002892A (zh) 液晶锥透镜及其驱动方法和基于液晶锥透镜的成像装置
JPS63103445A (ja) 光デイスクのフオ−カシング制御装置
JPH02310540A (ja) 自動焦点用光集束性薄膜導波路
JPH05241111A (ja) 集光装置
JPH06302008A (ja) 光ピックアップ装置
SU1137515A1 (ru) Устройство воспроизведени информации с отражающего носител
EP0303630B1 (en) Variable phase stop for use in interferometers