JPH04349228A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JPH04349228A
JPH04349228A JP12094691A JP12094691A JPH04349228A JP H04349228 A JPH04349228 A JP H04349228A JP 12094691 A JP12094691 A JP 12094691A JP 12094691 A JP12094691 A JP 12094691A JP H04349228 A JPH04349228 A JP H04349228A
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JP
Japan
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photoelectric conversion
conversion signal
laser beam
light receiving
zero value
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Pending
Application number
JP12094691A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideyasu Endo
英康 遠藤
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、フォーカスサーボやト
ラッキングサーボを行う光ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、非点収差法等を用いてフォーカス
サーボを行う方法としては、特公昭53−39123号
公報、特公昭57−12188号公報等に開示されてい
るものがある。図6は、非点収差法を用いてフォーカス
サーボを行う光電変換信号検出回路とトラッキングサー
ボを行う光電変換信号検出回路の一例を示すものである
。これは、4分割された受光面a〜dを有する光検出素
子1と、これら各受光面a〜dと接続された加算器2a
〜2dと、これら各加算器2a〜2dと接続された差動
増幅器3a,3bとにより構成されている。
【0003】このような構成において、レーザービーム
は光検出素子1の受光面a〜dに入射し、これにより検
出された光電変換信号は加算器2a〜2dに送られ、こ
の加算器2a〜2dによりその出力は差動増幅器3a,
3bの正負の入力端子に入力され、出力値Vx,Vyと
して出力される。このようにして得られたフォーカスエ
ラー信号(Vx)とトラックエラー信号(Vy)を用い
てフォーカスサーボ及びトラッキングサーボを行うこと
ができる。この場合、図示しない対物レンズの光軸方向
の焦点位置では、前記光電変換信号はすべてほぼ等しい
値として出力される。
【0004】上述したような非点収差法を用いてフォー
カスサーボを行う際において、光軸方向のビーム位置を
検出する場合について考える。図7(a)は対物レンズ
と光ディスクとの間の距離が合焦時にある場合の様子を
示すものであり、この時入射するレーザビームのビーム
径は真円の状態となる。図7(b)(c)はその合焦時
から位置ズレした時の様子を示すものであり、(b)は
光ディスクがレンズ側に近づいた場合の様子を示し、(
c)は光ディスクがレンズ側から遠ざかった時の様子を
示すものであり、これらは共に楕円形状となりその方向
が異なる。このようにビーム形状の状態は大きく3つの
形に分類され、図7に示したような光電変換信号検出回
路を用いて非点収差法によりフォーカスサーボを行えば
、光ディスクが位置変動を起こしても、対物レンズを変
位させてビーム径を合焦時の真円の状態に調節すること
が可能となる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来よりもフ
ォーカスサーボの制御精度及び制御速度を向上させるた
めに、ビーム径が図7(a)の形状になる位置の付近に
おける検出感度を一段と向上させる必要がある。上述し
た場合の検出感度は、変位に対する検出信号(光電変換
信号)の大きさの関係で表わすことができる。図8は、
前述した光検出素子1の4分割された受光面a〜dを用
いて得られるビーム位置(横軸)と光電変換信号(縦軸
)との関係を示したものである。波形A1 はビーム形
状が真円の時の状態を示すものであり、この時のオフセ
ット電圧Voは零点の位置からかなり離れたところにあ
る。このようなことから検出感度を上げるために、波形
A1 を波形A2 まで増幅すると、オフセット電圧の
値はVoからVp点に上昇しその検出信号の上限値Vu
のためビーム検出範囲がD1 からD2 に狭くなり、
最悪の場合は検出できなくなってしまう。
【0006】次に、光軸と垂直な平面上のビーム位置を
検出する場合について考える。図9(a)はビーム4が
4分割受光素子1の中心部に位置する場合を示すもので
あり、図9(b)はX方向にビーム4が変位した場合の
様子を示すものである。このような光軸と直交する平面
方向でのフォーカスサーボでは、位置検出感度の向上を
行うために前述したような図8の場合と同様な制御を行
う必要があり、従ってこの場合にも検出感度に自ずと限
界が生じることになる。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明では
、レーザビームを複数に分割された受光面を有する光検
出素子に照射し、前記受光面により検出された光電変換
信号をアナログ信号に変換することによりフォーカスサ
ーボやトラッキングサーボを行う光ディスク装置におい
て、前記レーザビームが前記光検出素子の複数に分割さ
れた受光面のほぼ中心点に位置する時に検出される前記
光電変換信号を零値に設定する光電変換信号零値設定手
段を備えた光電変換信号検出回路を設けた。
【0008】請求項2記載の発明では、レーザビームを
複数に分割された受光面を有する光検出素子に照射し、
前記受光面により検出された光電変換信号をアナログ信
号に変換することによりフォーカスサーボやトラッキン
グサーボを行う光ディスク装置において、前記複数の受
光面から得られる光電変換信号の総和を負帰還させる光
電変換信号負帰還手段と、前記レーザビームが前記光検
出素子の複数に分割された受光面のほぼ中心点に位置す
る時に前記光電変換信号負帰還手段により得られた前記
光電変換信号を零値に設定する光電変換信号零値設定手
段とを備えた光電変換信号検出回路を設けた。
【0009】
【作用】請求項1記載の発明においては、光電変換信号
零値設定手段を設けたことにより、レーザービームが複
数の受光面の中心部に位置する時には、光電流による光
電変換信号(電流・電圧変換信号)がほぼ零値となるよ
うにオフセット電圧を決定するようにしたので、従来よ
りもビーム検出範囲を広くしかも高感度にすることが可
能となる。
【0010】請求項2記載の発明においては、さらに光
電変換信号負帰還手段を付加して複数の受光面から得ら
れる光電変換信号の総和を高ゲインの負帰還信号に変え
、その後、光電変換信号零値設定手段を用いて零値に位
置するオフセット電圧を得るようにしたので、光電変換
信号が変化(レーザービーム光量の変化)しても、オフ
セット電圧を変化させることなくレーザービームのビー
ム検出範囲を広くし高感度に保つことが可能となる。
【0011】
【実施例】本発明の第一の実施例を図1〜図3に基づい
て説明する。なお、前述した図6の光電変換信号検出回
路の構成と同一部分については同一符号を用い、その説
明については省略する。
【0012】図1に示す光電変換信号検出回路において
、光検出素子としての4分割受光素子1と加算器2a〜
2dとの間には、光電変換信号零値設定手段5が接続さ
れている。この光電変換信号零値設定手段5は、4個の
I/V変換回路5a〜5dから構成されている。これら
I/V変換回路5a〜5dは、レーザビームが光検出素
子1の4つに分割された受光面a〜dのほぼ中心部Oに
位置する時に検出される光電変換信号の一種であるオフ
セット電圧Voを零値に設定する働きがある。
【0013】このような構成において、4分割受光素子
1にレーザービームが照射されると光電流が発生し、そ
の光電流をI/V変換回路5a〜5dによりI/V(電
流、電圧)変換すると、光電変換信号としての電圧Va
,Vb,Vc,Vdが得られる。これらの電圧を加算器
2a〜2d、差動増幅器3a,3bに順次送ることによ
り、Vx=Va+Vc−(Vb+Vd)、Vy=Va+
Vd−(Vc+Vb)の値を得ることができ、これによ
り光軸方向の変位信号(Vx)と光軸と垂直な方向の変
位信号(Vy)とを得ることができる。
【0014】図2は、I/V変換回路5aの内部構成を
示すものであり、この場合、電流・電圧(I/V)変換
において、非反転入力端子側に電圧Vraを印加すると
、その反転の電流・電圧変換特性にオフセットとして+
Vraを加えたことになる。また、I/V変換回路5a
としては、図2の構成の代わりに図3のような構成でも
よく、光電流を抵抗Raで電流・電圧変換し、バッファ
(OPa)を介して非反転出力としてVaを得る。なお
、この場合のオフセット電圧はVra−Vsとなる。
【0015】図4はI/V変換回路5a〜5dのうちの
1素子に着目したビーム位置とI/V変換信号(検出信
号)との関係を示したものである。この図4は、前述し
た図3の非反転出力の場合の様子を示すものである。す
なわち、従来の波形A1 はオフセット電圧Vra−V
sによって波形B1 となり、これによりビーム位置が
4分割受光素子1の中心部Oにある時には波形A1 の
オフセット電圧Voはほぼ0の値に一致する。従って、
検出感度を上げる(すなわち、Ra→大)ことにより波
形B1 →B2 となっても、従来のA1 →A2 の
場合に比べて、ビーム位置の検出範囲をE2 点からE
1 点に広げることができる。
【0016】上述したように、光電変換信号零値設定手
段5を設け、レーザービームが4つの受光面a〜dの中
心部Oに位置する時には、光電流による光電変換信号(
電流・電圧変換信号)がほぼ零値となるようにオフセッ
ト電圧を決定するようにしたので、従来よりもビーム検
出範囲を広くとることができ、しかも、高感度に検出す
ることが可能となる。
【0017】次に、本発明の第二の実施例を図5に基づ
いて説明する。ここでは、光電変換信号検出回路は、前
述したような光電変換信号零値設定手段5を備えている
他に、光電変換信号負帰還手段6が接続されている。こ
の光電変換信号負帰還手段6は、アンプ6aとゲイン回
路6bとからなり、ゲイン回路6bはI/V変換回路5
a〜5dに接続され、光電変換信号負帰還手段6は4つ
の受光面a〜dから得られる光電変換信号の総和Vsを
負帰還させる働きがある。また、この場合、光電変換信
号零値設定手段5は、前述したような図2又は図3のよ
うな内部構成ではなく、図5に示すようなアンプ5a〜
5dを用いる。
【0018】従って、この場合、4分割受光素子1のど
の位置にレーザービームが位置していても、ここでは高
ゲインの負帰還を施しているため、信号の総和Vsが零
値となるようにオフセット電圧(前述した第一の実施例
の関連では、Vra、Vrb、Vrc、Vrd、又は、
Vs−Vra、Vs−Vrb、Vs−Vrc、Vs−V
rd)を決定することができるため、第一の実施例のよ
うに各々にはオフセット電圧を設定する必要がなくなる
。また、この場合、レーザービームが4分割受光素子1
の中心に位置する時には、アンプ5a〜5dの出力値は
Va=Vb=Vc=Vd≒0となる。
【0019】上述したように、4分割受光素子1の光電
流信号の総和を高ゲインの負帰還信号に変換し、オフセ
ット電圧としたので、光電流が変化(レーザービーム光
量の変化)しても、オフセット電圧を変化させることな
く、レーザービームの位置検出の範囲を広くとりしかも
その検出感度を高めることが可能となる。
【0020】
【発明の効果】請求項1記載の発明は、レーザビームを
複数に分割された受光面を有する光検出素子に照射し、
前記受光面により検出された光電変換信号をアナログ信
号に変換することによりフォーカスサーボやトラッキン
グサーボを行う光ディスク装置において、前記レーザビ
ームが前記光検出素子の複数に分割された受光面のほぼ
中心点に位置する時に検出される前記光電変換信号を零
値に設定する光電変換信号零値設定手段を備えた光電変
換信号検出回路を設けたので、レーザービームが複数の
受光面の中心部に位置する時には、光電流による光電変
換信号(電流・電圧変換信号)がほぼ零値となるように
オフセット電圧を決定することが可能となり、これによ
り、従来よりもビーム検出範囲を広くとることができ、
しかも、その検出感度を高めることが可能となるもので
ある。
【0021】請求項2記載の発明は、レーザビームを複
数に分割された受光面を有する光検出素子に照射し、前
記受光面により検出された光電変換信号をアナログ信号
に変換することによりフォーカスサーボやトラッキング
サーボを行う光ディスク装置において、前記複数の受光
面から得られる光電変換信号の総和を負帰還させる光電
変換信号負帰還手段と、前記レーザビームが前記光検出
素子の複数に分割された受光面のほぼ中心点に位置する
時に前記光電変換信号負帰還手段により得られた前記光
電変換信号を零値に設定する光電変換信号零値設定手段
とを備えた光電変換信号検出回路を設けたので、光電変
換信号負帰還手段を用いて複数の受光面から得られる光
電変換信号の総和を高ゲインの負帰還信号に変えること
により、光電変換信号が変化(レーザービーム光量の変
化)しても、オフセット電圧を変化させることなくレー
ザービームのビーム検出範囲を広くとりしかも高感度に
保つことが可能となるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施例である光電変換信号検出
回路を示す回路図である。
【図2】光電変換信号零値設定手段の内部構成の一例を
示す回路図である。
【図3】光電変換信号零値設定手段の内部構成の他の例
を示す回路図である。
【図4】光電変換信号とビーム位置との関係を示す特性
図である。
【図5】本発明の第二の実施例を示す回路図である。
【図6】従来の光電変換信号検出回路を示す回路図であ
る。
【図7】非点収差法により光軸方向のビーム位置を検出
する場合の受光素子の様子を示す正面図である。
【図8】従来における光電変換信号とビーム位置との関
係を示す特性図である。
【図9】光軸と垂直な平面上のビーム位置を検出する場
合の受光素子の様子を示す正面図である。
【符号の説明】
1        光検出素子 5        光電変換信号零値設定手段6   
     光電変換信号負帰還手段a〜d    受光
面 O        中心点

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  レーザビームを複数に分割された受光
    面を有する光検出素子に照射し、前記受光面により検出
    された光電変換信号をアナログ信号に変換することによ
    りフォーカスサーボやトラッキングサーボを行う光ディ
    スク装置において、前記レーザビームが前記光検出素子
    の複数に分割された受光面のほぼ中心点に位置する時に
    検出される前記光電変換信号を零値に設定する光電変換
    信号零値設定手段を備えた光電変換信号検出回路を設け
    たことを特徴とする光ディスク装置。
  2. 【請求項2】  レーザビームを複数に分割された受光
    面を有する光検出素子に照射し、前記受光面により検出
    された光電変換信号をアナログ信号に変換することによ
    りフォーカスサーボやトラッキングサーボを行う光ディ
    スク装置において、前記複数の受光面から得られる光電
    変換信号の総和を負帰還させる光電変換信号負帰還手段
    と、前記レーザビームが前記光検出素子の複数に分割さ
    れた受光面のほぼ中心点に位置する時に前記光電変換信
    号負帰還手段により得られた前記光電変換信号を零値に
    設定する光電変換信号零値設定手段とを備えた光電変換
    信号検出回路を設けたことを特徴とする光ディスク装置
JP12094691A 1991-05-27 1991-05-27 光ディスク装置 Pending JPH04349228A (ja)

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