JPH04346480A - 光電変換装置 - Google Patents
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- JPH04346480A JPH04346480A JP3148172A JP14817291A JPH04346480A JP H04346480 A JPH04346480 A JP H04346480A JP 3148172 A JP3148172 A JP 3148172A JP 14817291 A JP14817291 A JP 14817291A JP H04346480 A JPH04346480 A JP H04346480A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はファクシミリやスキャナ
等の画像入力部に用いられる光電変換素子にに係り、特
に光導電層に薄膜半導体を用いた薄膜タイプの素子にお
いて、高解像度化を図る構造に関する。
等の画像入力部に用いられる光電変換素子にに係り、特
に光導電層に薄膜半導体を用いた薄膜タイプの素子にお
いて、高解像度化を図る構造に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ファクシミリやスキャナ等におけ
る画像入力部の小型化の要請を受けて、密着型イメ−ジ
センサの開発が活発に行われており、中でも光導電層に
薄膜半導体を用いた薄膜タイプの光電変換素子の開発が
数多く行われている。図42及び図43には、この種の
薄型タイプの光電変換素子の一例が示されており、図4
2は平面図を、図43は図42のR−R線断面図をそれ
ぞれ示している。同図において、光電変換素子は、絶縁
性基板80上に設けられた第1電極81と、この第1電
極81に対向して設けられた透光性の第2電極82と、
これら第1及び第2電極81,82間に配された光導電
層83とを有して成り、第1及び第2電極81,82並
びに光導電層83の外周面には、透光性の絶縁層84が
形成されている。更に、前述した第1電極81は絶縁層
84に形成された連通孔85を介して、絶縁層84の一
部を覆うように接合された第3電極86に接続されてい
る。そして、かかる構成の光電変換素子は、第2電極8
2の一方の面87を受光面として、入射光が透光性の絶
縁層84及び第2電極82を透過して光導電層83に入
射するようになっている。
る画像入力部の小型化の要請を受けて、密着型イメ−ジ
センサの開発が活発に行われており、中でも光導電層に
薄膜半導体を用いた薄膜タイプの光電変換素子の開発が
数多く行われている。図42及び図43には、この種の
薄型タイプの光電変換素子の一例が示されており、図4
2は平面図を、図43は図42のR−R線断面図をそれ
ぞれ示している。同図において、光電変換素子は、絶縁
性基板80上に設けられた第1電極81と、この第1電
極81に対向して設けられた透光性の第2電極82と、
これら第1及び第2電極81,82間に配された光導電
層83とを有して成り、第1及び第2電極81,82並
びに光導電層83の外周面には、透光性の絶縁層84が
形成されている。更に、前述した第1電極81は絶縁層
84に形成された連通孔85を介して、絶縁層84の一
部を覆うように接合された第3電極86に接続されてい
る。そして、かかる構成の光電変換素子は、第2電極8
2の一方の面87を受光面として、入射光が透光性の絶
縁層84及び第2電極82を透過して光導電層83に入
射するようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したような2つの
電極間に光導電層を配した構造は、一般にサンドイッチ
構造と称されるものであるが、このサンドイッチ構造を
有する素子、更には、ここでの説明は省略するが、従来
から周知のプレ−ナ構造を有する素子において、高解像
度化を図る場合、その達成し得る解像度は、先に述べた
受光面87の面積を如何に小さくできるかに左右される
。すなわち、前述の例で言えば、第1電極81,光導電
層83及び第2電極82の最小の微細加工精度、具体的
にはレジストのパタ−ニングおよびエッチング精度によ
って定まってくるものである。現在、これらレジストの
パタ−ニング及びエッチング精度は、5乃至10μm角
程度であるために、解像度としては、せいぜい600乃
至800DPI(42乃至32μmピッチ)程度であり
、より高い解像度を得るには限界があった。
電極間に光導電層を配した構造は、一般にサンドイッチ
構造と称されるものであるが、このサンドイッチ構造を
有する素子、更には、ここでの説明は省略するが、従来
から周知のプレ−ナ構造を有する素子において、高解像
度化を図る場合、その達成し得る解像度は、先に述べた
受光面87の面積を如何に小さくできるかに左右される
。すなわち、前述の例で言えば、第1電極81,光導電
層83及び第2電極82の最小の微細加工精度、具体的
にはレジストのパタ−ニングおよびエッチング精度によ
って定まってくるものである。現在、これらレジストの
パタ−ニング及びエッチング精度は、5乃至10μm角
程度であるために、解像度としては、せいぜい600乃
至800DPI(42乃至32μmピッチ)程度であり
、より高い解像度を得るには限界があった。
【0004】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
で、簡易な構造で、従来に比し、より高解像度を有する
光電変換素子を提供することを目的とするものである。 更に、本発明は、光の入射方向に十分な長さを確保し、
光の吸収効率を上げることができ、しかも画像入力装置
等に用いた場合にこれら装置の小型化を妨げることのな
い光導電層を提供することを目的とするものである。
で、簡易な構造で、従来に比し、より高解像度を有する
光電変換素子を提供することを目的とするものである。 更に、本発明は、光の入射方向に十分な長さを確保し、
光の吸収効率を上げることができ、しかも画像入力装置
等に用いた場合にこれら装置の小型化を妨げることのな
い光導電層を提供することを目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
、本発明に係る光電変換素子は、対向電極間に光導電層
を配した光電変換素子において、前記光導電層の膜の堆
積方向に直交する方向に臨む面を受光面としたものであ
る。また、対向電極間に光導電層を配し、この光導電層
の膜の堆積方向に直交する方向に臨む面を受光面とした
ものを、複数設けて成る光電変換素子において、前記複
数の受光面を結ぶ線がジグザグ状になるようこれら受光
面を配すると好ましい。
、本発明に係る光電変換素子は、対向電極間に光導電層
を配した光電変換素子において、前記光導電層の膜の堆
積方向に直交する方向に臨む面を受光面としたものであ
る。また、対向電極間に光導電層を配し、この光導電層
の膜の堆積方向に直交する方向に臨む面を受光面とした
ものを、複数設けて成る光電変換素子において、前記複
数の受光面を結ぶ線がジグザグ状になるようこれら受光
面を配すると好ましい。
【0006】
【作用】したがって、受光面は光導電層の膜の堆積方向
に直交する方向であり、特に、この面を画成する辺の内
、一方向は光導電層の膜の堆積方向に沿うため、その辺
の微細加工精度は、光導電層の堆積精度によって定まる
こととなるが、その精度は従来の受光面すなわち、光導
電層の堆積方向に臨む面の微細加工精度に比し高いため
、その分だけ解像度が高まり、より高解像度の光電変換
素子を提供することができることとなるものである。 また、本発明に係る光電変換素子を基板に配する場合、
受光面は基板に対して垂直方向となるが、光の入射方向
すなわち基板に平行する方向に光導電層を延ばせば、そ
れだけ光導電層における光の吸収効率を上げることがで
き、しかも基板の厚みを増すことがないので装置の薄型
化を阻むことがないものである。また、請求項2の発明
においては、従来の受光面と受光面の間に、更にもう一
つの受光面を、その両側に位置する受光面の並ぶ方向か
ら横へずらして設けたような構成であり、この横にずれ
た受光面によって、その両側に位置する受光面が捕捉で
きないような入射光が捕らえられることとなり、そのた
め、より解像度が向上した光電変換素子が提供できるも
のである。
に直交する方向であり、特に、この面を画成する辺の内
、一方向は光導電層の膜の堆積方向に沿うため、その辺
の微細加工精度は、光導電層の堆積精度によって定まる
こととなるが、その精度は従来の受光面すなわち、光導
電層の堆積方向に臨む面の微細加工精度に比し高いため
、その分だけ解像度が高まり、より高解像度の光電変換
素子を提供することができることとなるものである。 また、本発明に係る光電変換素子を基板に配する場合、
受光面は基板に対して垂直方向となるが、光の入射方向
すなわち基板に平行する方向に光導電層を延ばせば、そ
れだけ光導電層における光の吸収効率を上げることがで
き、しかも基板の厚みを増すことがないので装置の薄型
化を阻むことがないものである。また、請求項2の発明
においては、従来の受光面と受光面の間に、更にもう一
つの受光面を、その両側に位置する受光面の並ぶ方向か
ら横へずらして設けたような構成であり、この横にずれ
た受光面によって、その両側に位置する受光面が捕捉で
きないような入射光が捕らえられることとなり、そのた
め、より解像度が向上した光電変換素子が提供できるも
のである。
【0007】
【実施例】以下、本発明に係る光電変換素子の第1の実
施例について図1乃至図3を参照しながら説明する。図
1は第1の実施例における光電変換素子の平面図を、図
2は、図1のA−A線断面図を、図3は図1のB−B線
断面図を、それぞれ示している。本実施例の光電変換素
子は、ガラス等の部材から成る絶縁基板1と、この絶縁
基板1上に方形状に形成されたクロム(Cr)等の部材
から成る第1電極2と、この第1電極2上に離散的に複
数個形成された光導電層3と、アルミ等の金属から成り
前述した第1電極2に対向するように光導電層3上に設
けられた第2電極4と、前述した絶縁基板1,第1電極
2、第2電極4及び光導電層3を覆うポリイミド等の絶
縁性部材から成る絶縁層5とから構成されており、図示
された例においては、3つの光電変換素子が絶縁基板1
の長手軸方向に沿って設けられている構成となっている
。これら本実施例の光電変換素子を構成する第1電極2
等は、前述した絶縁基板1上に順次積層およびパタ−ニ
ングして形成されているものである。
施例について図1乃至図3を参照しながら説明する。図
1は第1の実施例における光電変換素子の平面図を、図
2は、図1のA−A線断面図を、図3は図1のB−B線
断面図を、それぞれ示している。本実施例の光電変換素
子は、ガラス等の部材から成る絶縁基板1と、この絶縁
基板1上に方形状に形成されたクロム(Cr)等の部材
から成る第1電極2と、この第1電極2上に離散的に複
数個形成された光導電層3と、アルミ等の金属から成り
前述した第1電極2に対向するように光導電層3上に設
けられた第2電極4と、前述した絶縁基板1,第1電極
2、第2電極4及び光導電層3を覆うポリイミド等の絶
縁性部材から成る絶縁層5とから構成されており、図示
された例においては、3つの光電変換素子が絶縁基板1
の長手軸方向に沿って設けられている構成となっている
。これら本実施例の光電変換素子を構成する第1電極2
等は、前述した絶縁基板1上に順次積層およびパタ−ニ
ングして形成されているものである。
【0008】また、各第2電極4は、絶縁層5を介して
第3電極7に接続されている。すなわち、第3電極7は
、絶縁層5に接合して第2電極4の長手軸方向に沿って
設けられると共に、絶縁層5の適宜な箇所にはコンタク
ト孔6が穿設されており、このコンタクト孔6を介して
、第2電極4と第3電極7とが接続されるようになって
いる。尚、本実施例において、コンタクト孔6は、第2
電極4の長手軸方向に沿って2つ設けられている。本実
施例の第1電極2は絶縁基板1と同様に帯状に形成され
ており、上述した光導電層3および第2電極4は、その
長手軸方向が第1電極2の短手軸方向に沿うように配置
されている。そして、本実施例おいては、光導電層3の
長手軸方向に現れる一方の端面8(図1及び図3参照)
を受光面としており、図1又は図3に白抜き矢印で示さ
れるように、入射光がこの受光面8に入射するようにな
っている。本実施例の光電変換素子を原稿読取装置等の
イメ−ジセンサとして用いる場合、主走査方向は、図2
に実線矢印で示されるごとく絶縁基板1及び第1電極2
の長手軸方向(図2において紙面左右方向)であり、副
走査方向は第1電極2等の積層方向(図2において紙面
上下方向)であり、同図において同じく実線矢印で示さ
れるごとくとなる。
第3電極7に接続されている。すなわち、第3電極7は
、絶縁層5に接合して第2電極4の長手軸方向に沿って
設けられると共に、絶縁層5の適宜な箇所にはコンタク
ト孔6が穿設されており、このコンタクト孔6を介して
、第2電極4と第3電極7とが接続されるようになって
いる。尚、本実施例において、コンタクト孔6は、第2
電極4の長手軸方向に沿って2つ設けられている。本実
施例の第1電極2は絶縁基板1と同様に帯状に形成され
ており、上述した光導電層3および第2電極4は、その
長手軸方向が第1電極2の短手軸方向に沿うように配置
されている。そして、本実施例おいては、光導電層3の
長手軸方向に現れる一方の端面8(図1及び図3参照)
を受光面としており、図1又は図3に白抜き矢印で示さ
れるように、入射光がこの受光面8に入射するようにな
っている。本実施例の光電変換素子を原稿読取装置等の
イメ−ジセンサとして用いる場合、主走査方向は、図2
に実線矢印で示されるごとく絶縁基板1及び第1電極2
の長手軸方向(図2において紙面左右方向)であり、副
走査方向は第1電極2等の積層方向(図2において紙面
上下方向)であり、同図において同じく実線矢印で示さ
れるごとくとなる。
【0009】ここで、受光面8の横方向(主走査方向)
の長さL1の加工精度は、この方向のパタ−ニング等の
処理(詳細は後述)が、フォトリソグラフィ−およびエ
ッチングにより行われることから、これらフォトリソグ
ラフィ−およびエッチング精度によって略決定されるも
のである。一方、受光面8の縦方向(副走査方向)の長
さL2(L1>L2)の加工精度は光導電層3の膜の堆
積方法(詳細は後述)によって略決定されるものである
が、その精度は、L1の加工精度の略1/10程度の0
.1乃至0.5μm程度と、従来に比し高精度である。 また、本実施例の光電変換素子においては、光の入射方
向は既に述べたように光導電層3の膜の堆積方向と直向
方向であるために、光の入射方向に沿う光導電層3の長
さL3(図3参照)が従来に比べ比較的長く確保できる
ようになっている。したがって、光導電層3に用いられ
る部材によって定まる同層3の光の吸収係数に応じて、
十分な長さを確保することができ、その結果、高感度の
素子となる。
の長さL1の加工精度は、この方向のパタ−ニング等の
処理(詳細は後述)が、フォトリソグラフィ−およびエ
ッチングにより行われることから、これらフォトリソグ
ラフィ−およびエッチング精度によって略決定されるも
のである。一方、受光面8の縦方向(副走査方向)の長
さL2(L1>L2)の加工精度は光導電層3の膜の堆
積方法(詳細は後述)によって略決定されるものである
が、その精度は、L1の加工精度の略1/10程度の0
.1乃至0.5μm程度と、従来に比し高精度である。 また、本実施例の光電変換素子においては、光の入射方
向は既に述べたように光導電層3の膜の堆積方向と直向
方向であるために、光の入射方向に沿う光導電層3の長
さL3(図3参照)が従来に比べ比較的長く確保できる
ようになっている。したがって、光導電層3に用いられ
る部材によって定まる同層3の光の吸収係数に応じて、
十分な長さを確保することができ、その結果、高感度の
素子となる。
【0010】次に、上述した光電変換素子の製造プロセ
スについて説明する。先ず、本実施例の絶縁基板1は、
ガラス部材を用いて成るものであるが、この部材の具体
例としては、例えば、コ−ニング7059が用いられる
。そして、この絶縁基板1上にクロム(Cr)をスパッ
タ法により500乃至1000オングストロ−ム程度の
膜厚で全面に着膜し、その後、このクロムをフォトリソ
法により所定の形状(本実施例においては図1及び図2
の紙面左方向に沿って帯状となる。)にパタ−ニングを
行うことによって、第1電極2が形成されることとなる
。次いで光導電膜を、プラズマCVD法により第1電極
2の一方の面(絶縁基板1が接合する面と反対側の面)
の全面に着膜する。本実施例の光導電膜は、pin型の
水素化アモルファスシリコン(a−Si:H)から成る
もので、p層はシラン(SiH4 )ガス中にジボラン
(B2 H6 )ガスを1%ド−ピングすることで、i
層はシラン(SiH4 )ガスのみを用いて、n層はシ
ラン(SiH4 )ガス中にホスフィン(PH3 )ガ
スをド−ピングすることで、それぞれ作製する。尚、本
実施例のプラズマCVD法における着膜温度は200乃
至250℃とし、上記p,i,n各層の膜厚は、例えば
、p層およびn層については200乃至1000オング
ストロ−ム程度に、i層については1乃至20μm程度
にそれぞれ設定されている。
スについて説明する。先ず、本実施例の絶縁基板1は、
ガラス部材を用いて成るものであるが、この部材の具体
例としては、例えば、コ−ニング7059が用いられる
。そして、この絶縁基板1上にクロム(Cr)をスパッ
タ法により500乃至1000オングストロ−ム程度の
膜厚で全面に着膜し、その後、このクロムをフォトリソ
法により所定の形状(本実施例においては図1及び図2
の紙面左方向に沿って帯状となる。)にパタ−ニングを
行うことによって、第1電極2が形成されることとなる
。次いで光導電膜を、プラズマCVD法により第1電極
2の一方の面(絶縁基板1が接合する面と反対側の面)
の全面に着膜する。本実施例の光導電膜は、pin型の
水素化アモルファスシリコン(a−Si:H)から成る
もので、p層はシラン(SiH4 )ガス中にジボラン
(B2 H6 )ガスを1%ド−ピングすることで、i
層はシラン(SiH4 )ガスのみを用いて、n層はシ
ラン(SiH4 )ガス中にホスフィン(PH3 )ガ
スをド−ピングすることで、それぞれ作製する。尚、本
実施例のプラズマCVD法における着膜温度は200乃
至250℃とし、上記p,i,n各層の膜厚は、例えば
、p層およびn層については200乃至1000オング
ストロ−ム程度に、i層については1乃至20μm程度
にそれぞれ設定されている。
【0011】光導電膜の形成に続いて、アルミニウム(
Al)をスパッタ法または蒸着法により500乃至10
00オングストロ−ム程度着膜し、所定の形状即ち、本
実施例においては、平面形状(図1に現れる形状)が図
1に示されるように長方形状で、その長手軸方向が第1
電極2短手軸方向に沿うようにパタ−ニングされ、第2
電極4が形成されることとなる。次に、前述の第2電極
4に用いたと同じレジストパタ−ンを用いて、先に形成
した光導電膜をドライエッチングによりパタ−ニングす
ることにより、平面形状が第2電極4よりやや大きめの
光導電層3が形成されることとなる。このドライエッチ
ングにおいては、サイドエッチングの際に第2電極4か
らひさし状に突き出た部分が生じるが、この部分は、ド
ライエッチングに用いたと同一のレジストパタ−ンを用
いて、ウェットエッチングを施すことにより除去する。
Al)をスパッタ法または蒸着法により500乃至10
00オングストロ−ム程度着膜し、所定の形状即ち、本
実施例においては、平面形状(図1に現れる形状)が図
1に示されるように長方形状で、その長手軸方向が第1
電極2短手軸方向に沿うようにパタ−ニングされ、第2
電極4が形成されることとなる。次に、前述の第2電極
4に用いたと同じレジストパタ−ンを用いて、先に形成
した光導電膜をドライエッチングによりパタ−ニングす
ることにより、平面形状が第2電極4よりやや大きめの
光導電層3が形成されることとなる。このドライエッチ
ングにおいては、サイドエッチングの際に第2電極4か
らひさし状に突き出た部分が生じるが、この部分は、ド
ライエッチングに用いたと同一のレジストパタ−ンを用
いて、ウェットエッチングを施すことにより除去する。
【0012】次いで、蒸着法またはスパッタ法によりポ
リイミド(日立化成製PIX−1400またはPIX−
8803,東レ製フォトニ−ス等)をロ−ルコ−トまた
はスピンコ−トで1乃至5μm程度の膜厚で塗布して絶
縁層5を形成し、前述した第2電極4が配された部位に
おいて、フォトリソグラフィ法によりコンタクト孔6を
形成する。尚、本実施例においては、各第2電極4毎に
2つのコタクト孔6を形成しているが、特にこの数に限
定されるものではないことは勿論である。
リイミド(日立化成製PIX−1400またはPIX−
8803,東レ製フォトニ−ス等)をロ−ルコ−トまた
はスピンコ−トで1乃至5μm程度の膜厚で塗布して絶
縁層5を形成し、前述した第2電極4が配された部位に
おいて、フォトリソグラフィ法によりコンタクト孔6を
形成する。尚、本実施例においては、各第2電極4毎に
2つのコタクト孔6を形成しているが、特にこの数に限
定されるものではないことは勿論である。
【0013】最後に、アルミニウム(Al)をスパッタ
法又は蒸着法により着膜し、フォトリソ法により所定の
形状すなわち、本実施例においては、平面形状(図1に
おいて現れる形状)が長方形状でかつその長手軸方向が
第2電極4の長手軸方向に沿うように、しかも第2電極
4が配された位置に対応した位置(図1参照)となるよ
うにパタ−ニングされて、第3電極7が形成され、光電
変換素子が完成する。尚、本実施例の光電変換素子にお
いては、光導電層3はpin型としたが、i型であって
も良い。また、第2電極4を形成する部材としては、本
実施例のアルミニウムに代えて酸化インジウム・スズ(
ITO)或いはクロム(Cr)等を、絶縁層5を形成す
る部材として、本実施例のポリイミドに代えて窒化シリ
コン(SiNx)、酸化シリコン(SiO2 )或いは
SiNxOy等を、それぞれ用いても良い。さらに、第
1乃至第3電極2,4,7を形成する部材としては、タ
ンタル(Ta)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni
)、タングステン(W)等の金属を,光導電層3を形成
する部材としては、a−Si化合物、CdS、CdSe
或いは有機半導体等を、それぞれ用いても良い。
法又は蒸着法により着膜し、フォトリソ法により所定の
形状すなわち、本実施例においては、平面形状(図1に
おいて現れる形状)が長方形状でかつその長手軸方向が
第2電極4の長手軸方向に沿うように、しかも第2電極
4が配された位置に対応した位置(図1参照)となるよ
うにパタ−ニングされて、第3電極7が形成され、光電
変換素子が完成する。尚、本実施例の光電変換素子にお
いては、光導電層3はpin型としたが、i型であって
も良い。また、第2電極4を形成する部材としては、本
実施例のアルミニウムに代えて酸化インジウム・スズ(
ITO)或いはクロム(Cr)等を、絶縁層5を形成す
る部材として、本実施例のポリイミドに代えて窒化シリ
コン(SiNx)、酸化シリコン(SiO2 )或いは
SiNxOy等を、それぞれ用いても良い。さらに、第
1乃至第3電極2,4,7を形成する部材としては、タ
ンタル(Ta)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni
)、タングステン(W)等の金属を,光導電層3を形成
する部材としては、a−Si化合物、CdS、CdSe
或いは有機半導体等を、それぞれ用いても良い。
【0014】次に、本実施例の光電変換素子をイメ−ジ
センサとして電子複写機等に用いた場合の例について、
図4を参照しつつ概略的に説明する。同図において、電
子複写機の原稿読取部の主要部の概略構成分が示されて
おり、本実施例における原稿読取部の主要部は、原稿9
に光を照射する光源10、原稿9からの反射光を光電変
換素子PSへ導く主反射鏡11と、この主反射鏡11と
光電変換素子PSとの間に配され、主反射鏡11からの
光を光電変換素子PSへ導くロッドレンズ・アレイ12
と、原稿9からの反射光の内、前述した主反射鏡11へ
向かう光路から外れた反射光を、光源10へ戻すための
副反射鏡13と、これら光源10等を収納する読取ユニ
ットハウジング14と、この読取ユニットハウジング1
4の上面に接合して設けられたプラテンガラス15と、
から構成されるものである。ここで、光電変換素子PS
は、適宜な支持部材16上に、受光面8(図3参照)を
ロッドレンズ・アレイ12側へ向けて設けてある。また
、主反射鏡11、ロッドレンズ・アレイ12、光電変換
素子PS及び支持部材16は、主光学系支持板17上に
それぞれ配設されて、更に、この主光学系支持板17は
、図示しないが、公知・周知の移動機構により読取ユニ
ットハウジング14内で水平方向(図4において紙面左
右方向)に移動自在に設けられ、書籍類の読取りの際に
生ずる焦点ずれを修正できるようにしてある。
センサとして電子複写機等に用いた場合の例について、
図4を参照しつつ概略的に説明する。同図において、電
子複写機の原稿読取部の主要部の概略構成分が示されて
おり、本実施例における原稿読取部の主要部は、原稿9
に光を照射する光源10、原稿9からの反射光を光電変
換素子PSへ導く主反射鏡11と、この主反射鏡11と
光電変換素子PSとの間に配され、主反射鏡11からの
光を光電変換素子PSへ導くロッドレンズ・アレイ12
と、原稿9からの反射光の内、前述した主反射鏡11へ
向かう光路から外れた反射光を、光源10へ戻すための
副反射鏡13と、これら光源10等を収納する読取ユニ
ットハウジング14と、この読取ユニットハウジング1
4の上面に接合して設けられたプラテンガラス15と、
から構成されるものである。ここで、光電変換素子PS
は、適宜な支持部材16上に、受光面8(図3参照)を
ロッドレンズ・アレイ12側へ向けて設けてある。また
、主反射鏡11、ロッドレンズ・アレイ12、光電変換
素子PS及び支持部材16は、主光学系支持板17上に
それぞれ配設されて、更に、この主光学系支持板17は
、図示しないが、公知・周知の移動機構により読取ユニ
ットハウジング14内で水平方向(図4において紙面左
右方向)に移動自在に設けられ、書籍類の読取りの際に
生ずる焦点ずれを修正できるようにしてある。
【0015】かかる構成において、光源10からの光は
読取ユニットハウジング14の開口部14a及びプラテ
ンガラス15を介して、原稿9に照射される。原稿9に
照射された光は、読取ユニットハウジング14内に設け
られた主反射鏡11へ向かって反射するようになってお
り、主反射鏡11において、水平方向へ光路変更される
。そして、主反射鏡11らの反射光は水平方向に設けら
れたロッドレンズ・アレイ12を介して光電変換素子P
Sへ導かれるようになっている。ここで、本実施例に示
すような装置における光電変換素子の配置と、従来装置
におけるそれとの違いを述べれば、本発明にかかる光電
変換素子によれば、光電変換素子を構成する光導電層3
の膜の堆積方向が読取ユニットハウジング14の縦方向
(図4において紙面上下方向)に沿うように配置してあ
る。これに対して、図42及び図43に示されるような
従来の光電変換素子を、図4に示される原稿読取装置に
用いる場合には、透光性の第2電極82をロッドレンズ
・アレイ12に向けて配置することとなる。すなわち、
従来の光電変換素子を用いる場合には、既に述べたよう
に最少の微細加工精度が5乃至10μm程度である第2
電極82が、読取ユニットハウジング14の縦方向(図
4において紙面上下方向)に沿うように配置されるのに
対し、本発明に係る光電変換素子を用いた場合、入射光
を受ける面は、第2電極4ではなく、光導電層3の膜の
堆積方向に直交する方向に臨む面8であり、この受光面
8の縦方向は光導電層3の膜の堆積方向であることから
、この方向の微細加工精度は、従来、受光面としていた
第2電極4のそれに比べ略1/10程度であるため、そ
れだけ、高解像度化となるものである。
読取ユニットハウジング14の開口部14a及びプラテ
ンガラス15を介して、原稿9に照射される。原稿9に
照射された光は、読取ユニットハウジング14内に設け
られた主反射鏡11へ向かって反射するようになってお
り、主反射鏡11において、水平方向へ光路変更される
。そして、主反射鏡11らの反射光は水平方向に設けら
れたロッドレンズ・アレイ12を介して光電変換素子P
Sへ導かれるようになっている。ここで、本実施例に示
すような装置における光電変換素子の配置と、従来装置
におけるそれとの違いを述べれば、本発明にかかる光電
変換素子によれば、光電変換素子を構成する光導電層3
の膜の堆積方向が読取ユニットハウジング14の縦方向
(図4において紙面上下方向)に沿うように配置してあ
る。これに対して、図42及び図43に示されるような
従来の光電変換素子を、図4に示される原稿読取装置に
用いる場合には、透光性の第2電極82をロッドレンズ
・アレイ12に向けて配置することとなる。すなわち、
従来の光電変換素子を用いる場合には、既に述べたよう
に最少の微細加工精度が5乃至10μm程度である第2
電極82が、読取ユニットハウジング14の縦方向(図
4において紙面上下方向)に沿うように配置されるのに
対し、本発明に係る光電変換素子を用いた場合、入射光
を受ける面は、第2電極4ではなく、光導電層3の膜の
堆積方向に直交する方向に臨む面8であり、この受光面
8の縦方向は光導電層3の膜の堆積方向であることから
、この方向の微細加工精度は、従来、受光面としていた
第2電極4のそれに比べ略1/10程度であるため、そ
れだけ、高解像度化となるものである。
【0016】図5及び図6には、第2の実施例が示され
ており、図5は第2の実施例における光電変換素子の平
面図を、図6は図5のC−C線断面図を、それぞれ示し
ており、以下、同図を参照しつつ第2の実施例について
説明する。尚、第1の実施例と同一の構成要素には、第
1の実施例と同一の符号を付してその説明を省略し、以
下、異なる点を中心に説明する。この第2の実施例にお
いては、光導電層3aが第1の実施例と異なり、絶縁基
板1に沿って帯状に連続的に設けられる一方、第1電極
2aを、離散的に設けた点が、第1の実施例と異なるも
のである。また、この第2の実施例においては、第2電
極4aに直接外部の配線が接続できるようにしているた
めに、第1の実施例で設けた絶縁層5と第3電極7は設
けられていない。
ており、図5は第2の実施例における光電変換素子の平
面図を、図6は図5のC−C線断面図を、それぞれ示し
ており、以下、同図を参照しつつ第2の実施例について
説明する。尚、第1の実施例と同一の構成要素には、第
1の実施例と同一の符号を付してその説明を省略し、以
下、異なる点を中心に説明する。この第2の実施例にお
いては、光導電層3aが第1の実施例と異なり、絶縁基
板1に沿って帯状に連続的に設けられる一方、第1電極
2aを、離散的に設けた点が、第1の実施例と異なるも
のである。また、この第2の実施例においては、第2電
極4aに直接外部の配線が接続できるようにしているた
めに、第1の実施例で設けた絶縁層5と第3電極7は設
けられていない。
【0017】更に、図7には、第3の実施例が示されて
おり、この実施例についても第1の実施例と同一構成要
素には同一の符号を付してその説明を省略し、以下、第
1の実施例と異なる点を中心に説明する。尚、同図は本
実施例における光電変換素子の正面図である。この第3
の実施例は、第1電極2bと第2電極4bとで、光導電
層3bをその左右(図7において紙面左右方向)側面か
ら挟持するように構成した点が、第1の実施例と異なっ
ているものである。したがって、光導電層3bの膜の堆
積方向に直交する方向に臨む面の一方を受光面8とする
点においては、第1の実施例と異なるものではなく、図
7においては、紙面表裏方向で受光することとなる。
おり、この実施例についても第1の実施例と同一構成要
素には同一の符号を付してその説明を省略し、以下、第
1の実施例と異なる点を中心に説明する。尚、同図は本
実施例における光電変換素子の正面図である。この第3
の実施例は、第1電極2bと第2電極4bとで、光導電
層3bをその左右(図7において紙面左右方向)側面か
ら挟持するように構成した点が、第1の実施例と異なっ
ているものである。したがって、光導電層3bの膜の堆
積方向に直交する方向に臨む面の一方を受光面8とする
点においては、第1の実施例と異なるものではなく、図
7においては、紙面表裏方向で受光することとなる。
【0018】図8乃至図10には、第4の実施例が示さ
れており、この実施例についても第1の実施例と同一構
成要素には同一の符号を付してその説明を省略し、以下
、第1の実施例と異なる点を中心に説明する。尚、図8
はこの第4の実施例における光電変換素子の平面図を、
図9は同光電変換素子の正面図を、図10は図8のD−
D線断面図を、それぞれ示している。この第4の実施例
は、入射光を遮る遮光層18を形成すると共に、その遮
光層18の一部に、入射光を受光面8に導くための開口
部19を形成し、隣接する光電変換素子との干渉を無く
して高解像度化を図ったものである。すなわち、遮光層
18は、その製造プロセスを言えば、絶縁層5の形成完
了後にアルミニウム(Al)をスパッタ法等により着膜
し、その後、フォトリソ法を用いたパタ−ニングにより
、図8乃至図10に示されるような形状(この第3電極
7の形状は第1の実施例におけるものと同一)の第3電
極7と同時に形成されるものである。本実施例における
遮光層18は、図10に示されるように絶縁層5の側面
から第3電極7が形成される絶縁層5の上面にかけて形
成されており、かつ光導電層3の受光面8に対向する部
位には、スリット状に開口部19が形成されている。し
たがって、隣接する光電変換素子へ入射する光の散乱等
により、本来その入射光を受光すべき光電変換素子以外
の素子が、その散乱等による光を受光することが防止さ
れることとなる。
れており、この実施例についても第1の実施例と同一構
成要素には同一の符号を付してその説明を省略し、以下
、第1の実施例と異なる点を中心に説明する。尚、図8
はこの第4の実施例における光電変換素子の平面図を、
図9は同光電変換素子の正面図を、図10は図8のD−
D線断面図を、それぞれ示している。この第4の実施例
は、入射光を遮る遮光層18を形成すると共に、その遮
光層18の一部に、入射光を受光面8に導くための開口
部19を形成し、隣接する光電変換素子との干渉を無く
して高解像度化を図ったものである。すなわち、遮光層
18は、その製造プロセスを言えば、絶縁層5の形成完
了後にアルミニウム(Al)をスパッタ法等により着膜
し、その後、フォトリソ法を用いたパタ−ニングにより
、図8乃至図10に示されるような形状(この第3電極
7の形状は第1の実施例におけるものと同一)の第3電
極7と同時に形成されるものである。本実施例における
遮光層18は、図10に示されるように絶縁層5の側面
から第3電極7が形成される絶縁層5の上面にかけて形
成されており、かつ光導電層3の受光面8に対向する部
位には、スリット状に開口部19が形成されている。し
たがって、隣接する光電変換素子へ入射する光の散乱等
により、本来その入射光を受光すべき光電変換素子以外
の素子が、その散乱等による光を受光することが防止さ
れることとなる。
【0019】図11及び図12には第5の実施例が示さ
れており、図11にはこの第5の実施例の光電変換素子
の平面図が、図12には図11のE−E線断面図が、そ
れぞれ示されている。本実施例についても、第1の実施
例と同一構成要素には同一の符号を付してその説明を省
略し、以下、異なる点を中心に説明する。この第5の実
施例は、基本的には第1の実施例と同一構成を有する光
電変換素子にマイクロレンズを設けた点を特徴とするも
のである。すなわち、光電変換素子の受光面8から所定
距離だけ離れた部位には、マイクロレンズ20が設けら
れ、このマイクロレンズ20の手前側(図12において
紙面右方向)から入射した光がマイクロレンズ20を介
して丁度受光面8に集光されるようになっている。本実
施例の光電変換素子おいては、第1電極2と絶縁基板1
との間に下部絶縁層21が形成される一方、上部絶縁層
5d(第1の実施例における絶縁層5に相当)にはコン
タクト孔6が一つ設けてある。上述の下部絶縁層21は
、絶縁基板1の所定位置にメタルマスクを用いて下部絶
縁層とし、更に、酸化シリコン膜をRFスパッタリング
法を用いて1.2μm程度着膜する。また、本実施例の
第1電極2の膜厚は1500オングストロ−ム程度に、
光導電層3の膜厚は3μm程度に、第2電極4dの膜厚
は600オングストロ−ム程度に、上部絶縁層5dの膜
厚は1.3オングストロ−ム程度に、それぞれ設定して
ある。
れており、図11にはこの第5の実施例の光電変換素子
の平面図が、図12には図11のE−E線断面図が、そ
れぞれ示されている。本実施例についても、第1の実施
例と同一構成要素には同一の符号を付してその説明を省
略し、以下、異なる点を中心に説明する。この第5の実
施例は、基本的には第1の実施例と同一構成を有する光
電変換素子にマイクロレンズを設けた点を特徴とするも
のである。すなわち、光電変換素子の受光面8から所定
距離だけ離れた部位には、マイクロレンズ20が設けら
れ、このマイクロレンズ20の手前側(図12において
紙面右方向)から入射した光がマイクロレンズ20を介
して丁度受光面8に集光されるようになっている。本実
施例の光電変換素子おいては、第1電極2と絶縁基板1
との間に下部絶縁層21が形成される一方、上部絶縁層
5d(第1の実施例における絶縁層5に相当)にはコン
タクト孔6が一つ設けてある。上述の下部絶縁層21は
、絶縁基板1の所定位置にメタルマスクを用いて下部絶
縁層とし、更に、酸化シリコン膜をRFスパッタリング
法を用いて1.2μm程度着膜する。また、本実施例の
第1電極2の膜厚は1500オングストロ−ム程度に、
光導電層3の膜厚は3μm程度に、第2電極4dの膜厚
は600オングストロ−ム程度に、上部絶縁層5dの膜
厚は1.3オングストロ−ム程度に、それぞれ設定して
ある。
【0020】図13にはマイクロレンズ20の製造プロ
セスの概略を説明するための説明図が示されており、以
下、同図を参照しつつその内容を説明する。尚、同図は
、本実施例の光電変換素子を側面から見た状態を示す側
面図である。本実施例のマイクロレンズ20の形成は、
絶縁基板1上に光電変換素子PSを形成した後に行われ
もので、先ず、溶剤に溶解させたアクリル系樹脂を絶縁
基板1上に塗布し、樹脂層22を形成する(図13の(
a)参照)。次に、フォトリソエッチングにより、マイ
クロレンズ20が設けられる位置とその周囲のみが残る
ように樹脂層22をパタ−ニングする(図13の(b)
参照)。そして、マイクロレンズ20完成時に光の入射
方向となる側(図13の(b)おいて紙面右側から左側
へ向かう方向)から電子ビ−ム(図13の(c)おいて
実線矢印及び点線矢印)を照射して、樹脂層22を所定
の形状(本実施例においては、図13の(c)に示すよ
うに凸レンズ形状)に硬化させて樹脂硬化部22aを形
成する(図13の(c)参照)。最後に樹脂硬化部22
a以外の余分な樹脂層22を溶解液により除去すること
で、マイクロレンズ20が完成する。
セスの概略を説明するための説明図が示されており、以
下、同図を参照しつつその内容を説明する。尚、同図は
、本実施例の光電変換素子を側面から見た状態を示す側
面図である。本実施例のマイクロレンズ20の形成は、
絶縁基板1上に光電変換素子PSを形成した後に行われ
もので、先ず、溶剤に溶解させたアクリル系樹脂を絶縁
基板1上に塗布し、樹脂層22を形成する(図13の(
a)参照)。次に、フォトリソエッチングにより、マイ
クロレンズ20が設けられる位置とその周囲のみが残る
ように樹脂層22をパタ−ニングする(図13の(b)
参照)。そして、マイクロレンズ20完成時に光の入射
方向となる側(図13の(b)おいて紙面右側から左側
へ向かう方向)から電子ビ−ム(図13の(c)おいて
実線矢印及び点線矢印)を照射して、樹脂層22を所定
の形状(本実施例においては、図13の(c)に示すよ
うに凸レンズ形状)に硬化させて樹脂硬化部22aを形
成する(図13の(c)参照)。最後に樹脂硬化部22
a以外の余分な樹脂層22を溶解液により除去すること
で、マイクロレンズ20が完成する。
【0021】本実施例のマイクロレンズ一体型光電変換
素子を、例えば、先に図4において示した構成を有する
電子複写装置等の原稿読取部に、第1の実施例の光電変
換素子代えて用いれば、光路長(図4で言えば、主反射
鏡11から光電変換素子PSまでの距離)を大幅に短縮
することとなり、そのため装置の小型化、薄型化を図る
ことができることとなるものである。
素子を、例えば、先に図4において示した構成を有する
電子複写装置等の原稿読取部に、第1の実施例の光電変
換素子代えて用いれば、光路長(図4で言えば、主反射
鏡11から光電変換素子PSまでの距離)を大幅に短縮
することとなり、そのため装置の小型化、薄型化を図る
ことができることとなるものである。
【0022】次に、図14乃至図16には第6の実施例
が示されており、図14は本実施例における光電変換素
子の平面図を、図15は図14のF−F線断面図を、図
16は図14のG−G線断面図を、それぞれ示している
。本実施例についても、第1の実施例と同一構成要素に
は同一の符号を付してその説明を省略し、以下、異なる
点を中心に説明する。本実施例の光電変換素子は、光導
電層3の膜の堆積方向に直交する方向に臨む面8が受光
面となることに加えて、光導電層3の膜の堆積方向に臨
む面をも受光面としている点に特徴があるものである。 すなわち、第2電極4は酸化インジウム・スズ等の透光
性部材から成る透明電極となっており、光電変換素子の
上面方向(図16の白抜き矢印イで示される方向)から
も受光可能となっている。尚、第2電極4の受光面積は
、第2電極4と第3電極7fとが上下方向(図16にお
いて紙面上下方向)において、オ−バ−ラップしている
ために、その分、第3電極7fに規制される状態となっ
ている。
が示されており、図14は本実施例における光電変換素
子の平面図を、図15は図14のF−F線断面図を、図
16は図14のG−G線断面図を、それぞれ示している
。本実施例についても、第1の実施例と同一構成要素に
は同一の符号を付してその説明を省略し、以下、異なる
点を中心に説明する。本実施例の光電変換素子は、光導
電層3の膜の堆積方向に直交する方向に臨む面8が受光
面となることに加えて、光導電層3の膜の堆積方向に臨
む面をも受光面としている点に特徴があるものである。 すなわち、第2電極4は酸化インジウム・スズ等の透光
性部材から成る透明電極となっており、光電変換素子の
上面方向(図16の白抜き矢印イで示される方向)から
も受光可能となっている。尚、第2電極4の受光面積は
、第2電極4と第3電極7fとが上下方向(図16にお
いて紙面上下方向)において、オ−バ−ラップしている
ために、その分、第3電極7fに規制される状態となっ
ている。
【0023】図17には、第6の実施例の光電変換素子
を、図4に示したと同様な原稿読取装置に用いた例が示
されており、図4に示されたと同一構成要素には同一符
号を付してその説明を省略し、以下、異なる点を中心に
説明すれば、先ず、この例においては、副反射鏡が2つ
、すなわち第1および第2の副反射鏡23a,23bが
設けられると共に、副ロッドレンズ・アレイ12aが設
けられている。また、光電変換素子PSは図4に示した
実施例と同様に、光導電層3の膜の堆積方向に直向する
方向に臨む面8が水平方向すなわち、ロッドレンズ・ア
レイ12方向を向くように、かつ第2電極4が上方向(
図7において紙面上方向)を向くように設けられている
。
を、図4に示したと同様な原稿読取装置に用いた例が示
されており、図4に示されたと同一構成要素には同一符
号を付してその説明を省略し、以下、異なる点を中心に
説明すれば、先ず、この例においては、副反射鏡が2つ
、すなわち第1および第2の副反射鏡23a,23bが
設けられると共に、副ロッドレンズ・アレイ12aが設
けられている。また、光電変換素子PSは図4に示した
実施例と同様に、光導電層3の膜の堆積方向に直向する
方向に臨む面8が水平方向すなわち、ロッドレンズ・ア
レイ12方向を向くように、かつ第2電極4が上方向(
図7において紙面上方向)を向くように設けられている
。
【0024】そして、第1副反射鏡23aは、原稿9か
らの反射光のうち、主反射鏡11へ向かう主光路から逸
れた光を水平方向(図17において紙面左右方向)へ反
射し、この反射光は副ロッドレンズ・アレイ12aを介
して第2副反射鏡23bに導かれるようになっている。 この第2副反射鏡23bに入射した光は、垂直方向(図
17において紙面上下方向)にある光電変換素子PSへ
向かって反射される。したがって、その反射光は、光電
変換素子PSの第2電極4の上面方向(図16において
白抜き矢印イ方向)から入射することとなる。尚、原稿
9からの主な反射光は図4で説明したと同様に、光電変
換素子PSの受光面8で受光される。したがって、この
第6の実施例の光電極変換素子においては、2方向から
受光が可能なように構成してあるため、上述したように
主光路の光を光電変換素子の端面である受光面8で受光
する一方、従来と同様に電極(本実施例においては第2
電極4)側をもう一つ受光面として、主光路から逸れた
光を、主光路とは別の光路を介して受光することができ
るため、素子の高感度化を図ることとなるものである。 尚、本実施例の光電変換素子は、必ずしも図17に示し
たように用いられなければならないものではなく、2つ
の受光面の内、いずれか一方のみを使用するようにして
もよいことは勿論である。
らの反射光のうち、主反射鏡11へ向かう主光路から逸
れた光を水平方向(図17において紙面左右方向)へ反
射し、この反射光は副ロッドレンズ・アレイ12aを介
して第2副反射鏡23bに導かれるようになっている。 この第2副反射鏡23bに入射した光は、垂直方向(図
17において紙面上下方向)にある光電変換素子PSへ
向かって反射される。したがって、その反射光は、光電
変換素子PSの第2電極4の上面方向(図16において
白抜き矢印イ方向)から入射することとなる。尚、原稿
9からの主な反射光は図4で説明したと同様に、光電変
換素子PSの受光面8で受光される。したがって、この
第6の実施例の光電極変換素子においては、2方向から
受光が可能なように構成してあるため、上述したように
主光路の光を光電変換素子の端面である受光面8で受光
する一方、従来と同様に電極(本実施例においては第2
電極4)側をもう一つ受光面として、主光路から逸れた
光を、主光路とは別の光路を介して受光することができ
るため、素子の高感度化を図ることとなるものである。 尚、本実施例の光電変換素子は、必ずしも図17に示し
たように用いられなければならないものではなく、2つ
の受光面の内、いずれか一方のみを使用するようにして
もよいことは勿論である。
【0025】図18乃至図20には第7の実施例が示さ
れており、図18は本第7の実施例における光電変換素
子の平面図を、図19は図18のH−H線断面図を、図
20は図18のI−I線断面図を、それぞれ示している
。以下、第1の実施例と同一の構成要素には同一符号を
付してその説明を省略し、異なる点を中心に説明する。 本実施例における光電変換素子は、発光素子を一体
に設けた点が、第1の実施例と異なるものである。すな
わち、本実施例の光電変換素子は、図19及び図20に
示されたように、絶縁基板1上に発光素子24を形成し
、その上に光電変換素子PSを形成して、積層構造とし
たもので、発光素子24は原稿を照射(使用方法の詳細
は後述)するための光源として用いられるものである。 本実施例の発光素子24は、発光用第1電極25aと、
発光用第1絶縁層26aと、発光層27と、発光用第2
絶縁層26bと、発光用第2電極25bとが、絶縁基板
1上に順に積層されて構成されているもので、電極25
a,25b間で挟まれた発光層27と絶縁層26a,2
6bとの界面で反射を繰り返し、最終的には側面端部(
図20における右側面)に光が出射されるようになって
いる。尚、本実施例における発光用第2電極25bは、
離散的に複数設けられているが、これらは外部で電気的
に相互に接続されており、各発光用第2電極25bは、
同一電位に維持されるようになっている。したがって、
発光素子24の駆動時には、個々の素子24が、例えば
順に一つずつ発光するのではなく、全ての発光素子24
が同時に発光するようになっている。このため、発光用
第2電極25bは本実施例の様に離散的に複数設ける代
わりに、発光用第1電極25aのように帯状に連続的に
設けてもよい。
れており、図18は本第7の実施例における光電変換素
子の平面図を、図19は図18のH−H線断面図を、図
20は図18のI−I線断面図を、それぞれ示している
。以下、第1の実施例と同一の構成要素には同一符号を
付してその説明を省略し、異なる点を中心に説明する。 本実施例における光電変換素子は、発光素子を一体
に設けた点が、第1の実施例と異なるものである。すな
わち、本実施例の光電変換素子は、図19及び図20に
示されたように、絶縁基板1上に発光素子24を形成し
、その上に光電変換素子PSを形成して、積層構造とし
たもので、発光素子24は原稿を照射(使用方法の詳細
は後述)するための光源として用いられるものである。 本実施例の発光素子24は、発光用第1電極25aと、
発光用第1絶縁層26aと、発光層27と、発光用第2
絶縁層26bと、発光用第2電極25bとが、絶縁基板
1上に順に積層されて構成されているもので、電極25
a,25b間で挟まれた発光層27と絶縁層26a,2
6bとの界面で反射を繰り返し、最終的には側面端部(
図20における右側面)に光が出射されるようになって
いる。尚、本実施例における発光用第2電極25bは、
離散的に複数設けられているが、これらは外部で電気的
に相互に接続されており、各発光用第2電極25bは、
同一電位に維持されるようになっている。したがって、
発光素子24の駆動時には、個々の素子24が、例えば
順に一つずつ発光するのではなく、全ての発光素子24
が同時に発光するようになっている。このため、発光用
第2電極25bは本実施例の様に離散的に複数設ける代
わりに、発光用第1電極25aのように帯状に連続的に
設けてもよい。
【0026】この発光素子24の製造プロセスについて
述べれば、先ず、発光用第1電極25aは、アルミニウ
ム(Al)等をスパッタ法により着膜してなるもので、
本実施例においては、図20の紙面表裏方向に帯状に、
かつ絶縁基板1の短手軸方向(図20において紙面左右
方向)において絶縁基板1の短手軸長より短く形成され
ている。発光用第1絶縁層26aは、シリコンナイトラ
イト(Si3 N4 )等の誘電材をスパッタリング法
やCVD法により、上述した発光用第1電極25a及び
絶縁基板1の上面に着膜形成される。次いで、発光層2
7は、ZnS:Mn,ZnS:TbF3 等をEB烝着
やスパッタ法により着膜して帯状に形成される。発光用
第2絶縁層26bは上述の発光用第1絶縁層26aと同
様に、Si3 N4 等の誘電材をスパッタリング法や
CVD法により着膜して形成される。また、発光用第2
電極25bは前述した発光用第1電極25aと同様に、
アルミニウム(Al)等をスパッタ法により着膜して形
成される。尚、発光用第2電極25bは、光電変換素子
PSの位置に対応して、離散的に複数設けられている(
図19参照)。上述のように発光素子24が形成された
後は、発光用第2電極26bの上部にポリイミド等のポ
リマ−又はSOG等の部材からなる分離用絶縁層28を
形成し、その上に光電変換素子PSが第1の実施例にお
いて既に説明したような製造プロセスにより形成される
。
述べれば、先ず、発光用第1電極25aは、アルミニウ
ム(Al)等をスパッタ法により着膜してなるもので、
本実施例においては、図20の紙面表裏方向に帯状に、
かつ絶縁基板1の短手軸方向(図20において紙面左右
方向)において絶縁基板1の短手軸長より短く形成され
ている。発光用第1絶縁層26aは、シリコンナイトラ
イト(Si3 N4 )等の誘電材をスパッタリング法
やCVD法により、上述した発光用第1電極25a及び
絶縁基板1の上面に着膜形成される。次いで、発光層2
7は、ZnS:Mn,ZnS:TbF3 等をEB烝着
やスパッタ法により着膜して帯状に形成される。発光用
第2絶縁層26bは上述の発光用第1絶縁層26aと同
様に、Si3 N4 等の誘電材をスパッタリング法や
CVD法により着膜して形成される。また、発光用第2
電極25bは前述した発光用第1電極25aと同様に、
アルミニウム(Al)等をスパッタ法により着膜して形
成される。尚、発光用第2電極25bは、光電変換素子
PSの位置に対応して、離散的に複数設けられている(
図19参照)。上述のように発光素子24が形成された
後は、発光用第2電極26bの上部にポリイミド等のポ
リマ−又はSOG等の部材からなる分離用絶縁層28を
形成し、その上に光電変換素子PSが第1の実施例にお
いて既に説明したような製造プロセスにより形成される
。
【0027】図21乃至図23には、上述の発光素子一
体型の光電変換素子を原稿読取装置に用いた場合の例が
概略図で示されており、以下、これらについて説明する
。先ず、図21には、図18乃至図20に示された光電
変換素子を密着型イメ−ジセンサとして用いた場合の例
が示されており、光電変換素子PSは、端面(受光面8
のある側の面)が下方向(図21において紙面下方向)
、すなわち原稿9方向を向くようにして水平移動機構2
9に取着されている。この水平移動機構29は光電変換
素子PSを副走査方向である横方向(図21の白抜き矢
印X方向)に移動するもので、公知・周知の構成を有す
る機構である。また、光電変換素子PSの端面(発光素
子24の端面も含む)には保護用の保護膜30が形成さ
れており、光電変換素子PS及び発光素子24の端面を
損傷等から防いでいる。そして、この保護膜30に略接
する状態で、原稿9が図示しない板状部材に載置される
ようになっている。尚、水平移動機構29には、光電変
換素子PS及び発光素子24とのインタ−フェイス用の
IC31が取着されている。
体型の光電変換素子を原稿読取装置に用いた場合の例が
概略図で示されており、以下、これらについて説明する
。先ず、図21には、図18乃至図20に示された光電
変換素子を密着型イメ−ジセンサとして用いた場合の例
が示されており、光電変換素子PSは、端面(受光面8
のある側の面)が下方向(図21において紙面下方向)
、すなわち原稿9方向を向くようにして水平移動機構2
9に取着されている。この水平移動機構29は光電変換
素子PSを副走査方向である横方向(図21の白抜き矢
印X方向)に移動するもので、公知・周知の構成を有す
る機構である。また、光電変換素子PSの端面(発光素
子24の端面も含む)には保護用の保護膜30が形成さ
れており、光電変換素子PS及び発光素子24の端面を
損傷等から防いでいる。そして、この保護膜30に略接
する状態で、原稿9が図示しない板状部材に載置される
ようになっている。尚、水平移動機構29には、光電変
換素子PS及び発光素子24とのインタ−フェイス用の
IC31が取着されている。
【0028】かかる構成において、水平移動機構29は
所定の速度で原稿9面上を移動して行くが、その移動過
程において、発光素子24からは、図21の下方向に向
かって光が出射され、原稿9に照射される。そして、原
稿9の濃淡に応じた光量の反射光が、光電変換素子PS
の受光面8へ向かって生じ、光電変換素子PSが、その
受光面8で原稿9からの反射光を捕らえることで原稿読
取りが行われることとなる。
所定の速度で原稿9面上を移動して行くが、その移動過
程において、発光素子24からは、図21の下方向に向
かって光が出射され、原稿9に照射される。そして、原
稿9の濃淡に応じた光量の反射光が、光電変換素子PS
の受光面8へ向かって生じ、光電変換素子PSが、その
受光面8で原稿9からの反射光を捕らえることで原稿読
取りが行われることとなる。
【0029】図22には、上述した図21の例に、更に
上下移動機構32を付加した原稿読取装置の概略構成が
示されている。すなわち、上下移動機構32は、基本的
に前述した水平移動機構29と同様な構成を有するもの
で、発光素子を一体に設けた本実施例の光電変換素子P
Sが、この上下移動機構32の可動部(図示せず)に取
り付けられている。また、上下移動機構32は、その可
動部の移動方向が、水平移動機構29の移動方向である
水平方向(図22の白抜き矢印X方向)と直交する方向
すなわち、垂直方向(図22の白抜き矢印Y方向)とな
るように水平移動機構29に取着されている。この構成
によれば、書籍等の原稿9が、例えば図22に示される
ように水平方向に平坦でなく、上下方向にうねっていて
も、上下移動機構32が、図示されないセンサにより検
出された原稿9のうねりに応じて、本実施例の光電変換
素子PSを上下方向(垂直方向)に移動するようになっ
ており、原稿にうねりがあっても、原稿面の画像を正確
に読み取ることができる。
上下移動機構32を付加した原稿読取装置の概略構成が
示されている。すなわち、上下移動機構32は、基本的
に前述した水平移動機構29と同様な構成を有するもの
で、発光素子を一体に設けた本実施例の光電変換素子P
Sが、この上下移動機構32の可動部(図示せず)に取
り付けられている。また、上下移動機構32は、その可
動部の移動方向が、水平移動機構29の移動方向である
水平方向(図22の白抜き矢印X方向)と直交する方向
すなわち、垂直方向(図22の白抜き矢印Y方向)とな
るように水平移動機構29に取着されている。この構成
によれば、書籍等の原稿9が、例えば図22に示される
ように水平方向に平坦でなく、上下方向にうねっていて
も、上下移動機構32が、図示されないセンサにより検
出された原稿9のうねりに応じて、本実施例の光電変換
素子PSを上下方向(垂直方向)に移動するようになっ
ており、原稿にうねりがあっても、原稿面の画像を正確
に読み取ることができる。
【0030】図23は、図18乃至図20に示した例と
は異なり、発光素子を一体形成したものではなく、光電
変換素子PSとは別体の光源33(例えばランプ、LE
D等から成る)を、遮光板34と共に光電変換素子PS
の外面に取り付けて、光電変換素子PSと共に移動可能
にした例である。尚、図示されないその他の構成部分は
、図21又は図22に示されたいずれの構成であっても
よいものである。また、光源33を光電変換素子PSの
端面(受光面8がある側)から離れて設ける場合、すな
わち原稿9から離れて、図23で言えば紙面上方向に設
ける場合には、図24に示すように絶縁基板1をガラス
等の透光性部材から成るものとし、光源(図24におい
ては図示せず)が設けられる側(図24において左側)
に絶縁基板1が位置するように構成すると、光源からの
光は、絶縁基板1の角部35を透過して原稿9に達する
こととなり、光源が原稿9から離間していることに伴う
原稿面への入射光量の不足を補うことができるものであ
る。
は異なり、発光素子を一体形成したものではなく、光電
変換素子PSとは別体の光源33(例えばランプ、LE
D等から成る)を、遮光板34と共に光電変換素子PS
の外面に取り付けて、光電変換素子PSと共に移動可能
にした例である。尚、図示されないその他の構成部分は
、図21又は図22に示されたいずれの構成であっても
よいものである。また、光源33を光電変換素子PSの
端面(受光面8がある側)から離れて設ける場合、すな
わち原稿9から離れて、図23で言えば紙面上方向に設
ける場合には、図24に示すように絶縁基板1をガラス
等の透光性部材から成るものとし、光源(図24におい
ては図示せず)が設けられる側(図24において左側)
に絶縁基板1が位置するように構成すると、光源からの
光は、絶縁基板1の角部35を透過して原稿9に達する
こととなり、光源が原稿9から離間していることに伴う
原稿面への入射光量の不足を補うことができるものであ
る。
【0031】図25乃至図27には第8の実施例として
、図18乃至図20で説明した発光素子を一体形成した
タイプの光電変換素子において、図8乃至図10で示し
たと基本的に同様な遮光層を設けた例が示されている。 ここで、図25は本例の光電変換素子の平面図を、図2
6は本例の光電変換素子の正面図を、図27は図25の
J−J線断面図を、それぞれ示している。尚、図1乃至
図3で説明した第1の実施例、図8乃至図10で説明し
た第4の実施例及び図18乃至図20で説明した第7の
実施例と、それぞれ同一の構成要素には同一の符号を付
してその説明を省略し、以下、これらの実施例と異なる
点を中心に本例の光電変換素子について説明する。
、図18乃至図20で説明した発光素子を一体形成した
タイプの光電変換素子において、図8乃至図10で示し
たと基本的に同様な遮光層を設けた例が示されている。 ここで、図25は本例の光電変換素子の平面図を、図2
6は本例の光電変換素子の正面図を、図27は図25の
J−J線断面図を、それぞれ示している。尚、図1乃至
図3で説明した第1の実施例、図8乃至図10で説明し
た第4の実施例及び図18乃至図20で説明した第7の
実施例と、それぞれ同一の構成要素には同一の符号を付
してその説明を省略し、以下、これらの実施例と異なる
点を中心に本例の光電変換素子について説明する。
【0032】本例の光電変換素子は、図18乃至図20
で説明した発光素子一体形成型の光電変換素子において
、図8乃至図10で説明したと同様の遮光層を形成した
点に特徴を有するものである。すなわち、遮光層18は
、基本的に図8乃至図10で説明したと同様に、受光面
8の前方(図27において紙面右方向)に絶縁層5を介
して形成されると共に、受光面8に臨む部位には開口部
19(図25参照)が切り欠かれているものである。
で説明した発光素子一体形成型の光電変換素子において
、図8乃至図10で説明したと同様の遮光層を形成した
点に特徴を有するものである。すなわち、遮光層18は
、基本的に図8乃至図10で説明したと同様に、受光面
8の前方(図27において紙面右方向)に絶縁層5を介
して形成されると共に、受光面8に臨む部位には開口部
19(図25参照)が切り欠かれているものである。
【0033】そして、発光素子24から出た光は、図示
しない原稿を照射し、その原稿で反射されて光電変換素
子PSへの入射光となる。この入射光は遮光層18に設
けられた開口部19を介して受光面8へ達することとな
るが、隣接する光電変換素子へ漏れた光は遮光層18に
より遮断されて、隣接する光電変換素子中での光電流の
発生に影響を与えることがない。このため、本例の光電
変換素子においては、発光素子を一体に形成したので、
本例の光電変換素子を原稿読取装置等に用いる場合には
、原稿照射用の光源を別体に設ける必要が無くなり、そ
のため配置に要する空間が節約できるので、装置の小型
化が図れる。そのうえ、光電変換素子の受光面8に対向
するように、開口部19を有する遮光層18を設けたこ
とで、開口部19を介して必要な光のみが受光面8に入
射することとなるので、本来、隣接する光電変換素子へ
入射すべき光までが入射してくるようなことが殆どなく
なり、解像度が向上することとなる。
しない原稿を照射し、その原稿で反射されて光電変換素
子PSへの入射光となる。この入射光は遮光層18に設
けられた開口部19を介して受光面8へ達することとな
るが、隣接する光電変換素子へ漏れた光は遮光層18に
より遮断されて、隣接する光電変換素子中での光電流の
発生に影響を与えることがない。このため、本例の光電
変換素子においては、発光素子を一体に形成したので、
本例の光電変換素子を原稿読取装置等に用いる場合には
、原稿照射用の光源を別体に設ける必要が無くなり、そ
のため配置に要する空間が節約できるので、装置の小型
化が図れる。そのうえ、光電変換素子の受光面8に対向
するように、開口部19を有する遮光層18を設けたこ
とで、開口部19を介して必要な光のみが受光面8に入
射することとなるので、本来、隣接する光電変換素子へ
入射すべき光までが入射してくるようなことが殆どなく
なり、解像度が向上することとなる。
【0034】図28及び図29には、第9の実施例が示
されており、図28は本例の光電変換素子の平面図を、
図29は図28のK−K線断面図を、それぞれ示してい
る。以下、これらの図を参照しつつ本例の光電変換素子
について説明するが、図1乃至図3に示した第1の実施
例と同一構成要素には同一の符号を付してその説明を省
略し、以下、異なる点を中心に説明するものとする。本
例は発光素子を一体形成した光電変換素子にあって、特
に、発光素子をカラ−化した点に特徴があるものである
。すなわち、本例においては、赤色発光素子36、緑色
発光素子37及び青色発光素子38の3つを積層した上
に、分離用絶縁層28を介して、基本的に第1の実施例
で示されたと同一構成の光電変換素子PSを積層して成
るものである。
されており、図28は本例の光電変換素子の平面図を、
図29は図28のK−K線断面図を、それぞれ示してい
る。以下、これらの図を参照しつつ本例の光電変換素子
について説明するが、図1乃至図3に示した第1の実施
例と同一構成要素には同一の符号を付してその説明を省
略し、以下、異なる点を中心に説明するものとする。本
例は発光素子を一体形成した光電変換素子にあって、特
に、発光素子をカラ−化した点に特徴があるものである
。すなわち、本例においては、赤色発光素子36、緑色
発光素子37及び青色発光素子38の3つを積層した上
に、分離用絶縁層28を介して、基本的に第1の実施例
で示されたと同一構成の光電変換素子PSを積層して成
るものである。
【0035】本例における3つの発光素子36,37,
38それ自体は、特に新規なものではなく、公知・周知
の構成を有するもので、ここでの詳細な説明は省略し、
その概略構成のみ述べれば、先ず、本例の赤色発光素子
36は、絶縁基板1上に形成された発光用第1電極39
上に、発光用絶縁層40a,40bで挟持された赤色発
光層41を配し,更にその上に発光用第2電極42を設
けて構成されている。緑色発光素子37は、発光用第2
電極42を赤色発光素子36と共通とし、この第2電極
42と発光用第3電極45との間に、発光用絶縁層43
a,43bで挟持された緑色発光層44を配して構成さ
れている。さらに、青色発光素子38は、発光用第3電
極45を緑色発光素子37と共通とし、この第3電極4
5と発光用第4電極48との間に,前述と同様に発光用
絶縁層46a,46bで挟持された青色発光層47が配
されている。尚、上述した各発光素子36,37,38
の積層順は、特に本例のものに限定されるものではない
ことは勿論である。
38それ自体は、特に新規なものではなく、公知・周知
の構成を有するもので、ここでの詳細な説明は省略し、
その概略構成のみ述べれば、先ず、本例の赤色発光素子
36は、絶縁基板1上に形成された発光用第1電極39
上に、発光用絶縁層40a,40bで挟持された赤色発
光層41を配し,更にその上に発光用第2電極42を設
けて構成されている。緑色発光素子37は、発光用第2
電極42を赤色発光素子36と共通とし、この第2電極
42と発光用第3電極45との間に、発光用絶縁層43
a,43bで挟持された緑色発光層44を配して構成さ
れている。さらに、青色発光素子38は、発光用第3電
極45を緑色発光素子37と共通とし、この第3電極4
5と発光用第4電極48との間に,前述と同様に発光用
絶縁層46a,46bで挟持された青色発光層47が配
されている。尚、上述した各発光素子36,37,38
の積層順は、特に本例のものに限定されるものではない
ことは勿論である。
【0036】上述した構成において、イメ−ジセンサと
して用いた場合の作動を簡単に述べれば、各発光素子3
6,37,38は、図18乃至図20で説明した第7の
実施例の実施例と同様に、各発光素子36,37,38
の積層方向と直交する方向(図29において紙面左右方
向)に臨む面から光を出し、この光が近傍に配置された
原稿9を照射し、その反射光が光電変換素子PSの受光
面8に入射して原稿読取りが行われるものである。ここ
で、発光素子36,37,38の駆動順は、先ず、発光
用第1電極39と発光用第2電極42との間に所定の駆
動電圧を印加し、赤色発光素子36を発光させる。次い
で、発光用第2電極42と発光用第3電極45との間に
所定の駆動電圧を印加し、緑色発光素子37を発光させ
、次に、発光用第3電極45と発光用第4電極48との
間に所定の駆動電圧の印加を行い、青色発光素子38を
発光させるようにし、以下、上述の順で循環的に順次各
発光素子36,37,38を発光させる。
して用いた場合の作動を簡単に述べれば、各発光素子3
6,37,38は、図18乃至図20で説明した第7の
実施例の実施例と同様に、各発光素子36,37,38
の積層方向と直交する方向(図29において紙面左右方
向)に臨む面から光を出し、この光が近傍に配置された
原稿9を照射し、その反射光が光電変換素子PSの受光
面8に入射して原稿読取りが行われるものである。ここ
で、発光素子36,37,38の駆動順は、先ず、発光
用第1電極39と発光用第2電極42との間に所定の駆
動電圧を印加し、赤色発光素子36を発光させる。次い
で、発光用第2電極42と発光用第3電極45との間に
所定の駆動電圧を印加し、緑色発光素子37を発光させ
、次に、発光用第3電極45と発光用第4電極48との
間に所定の駆動電圧の印加を行い、青色発光素子38を
発光させるようにし、以下、上述の順で循環的に順次各
発光素子36,37,38を発光させる。
【0037】一方、光電変換素子PSにおいては、上述
した発光素子36〜38の駆動順に従い、入射光によっ
て生ずる電荷を蓄積し、画素毎に個別化された第2電極
4から第3電極7を介して図示しない駆動用ICにより
順次時系列的に出力する様になっている。尚、この光電
変換素子PSからの信号読み出し方式は既に公知・周知
となっている作動であるのでここでの詳細な説明は省略
する。また、図28及び図29には示されていないが、
光電変換素子PS及び各発光素子36,37,38の外
部に露出している部分は、例えば、ポリイミドまたは薄
板ガラス等で覆い、保護層とするのが望ましい。
した発光素子36〜38の駆動順に従い、入射光によっ
て生ずる電荷を蓄積し、画素毎に個別化された第2電極
4から第3電極7を介して図示しない駆動用ICにより
順次時系列的に出力する様になっている。尚、この光電
変換素子PSからの信号読み出し方式は既に公知・周知
となっている作動であるのでここでの詳細な説明は省略
する。また、図28及び図29には示されていないが、
光電変換素子PS及び各発光素子36,37,38の外
部に露出している部分は、例えば、ポリイミドまたは薄
板ガラス等で覆い、保護層とするのが望ましい。
【0038】本例の光電変換素子を従来のものと比較す
ると、先ず、従来のいわゆる完全密着型のイメージセン
サにおいては、発光素子の積層方向(図29において紙
面上方向)に光が出射される構造となっていた。この為
、カラ−化する場合には、一画素毎に、少なくとも赤、
緑、青の各発光素子を1つずつ、合計3つの発光素子を
同一平面上に並設する必要があり、各発光素子に接続さ
れる配線の配置が複雑になり、製造プロセスの複雑化を
助長していた。また、上述の様な構成の為に、デ−タラ
インと電源ラインとが近接又は交差することが多く、そ
の場合、電源ラインからデ−タラインへのノイズの飛び
込みによる解像度の低下等の不都合を生じていた。とこ
ろが、本例によれば、既に述べたように、発光素子はそ
の積層方向と直交する方向から光を出射してかつ、光電
変換素子も、その積層方向(光導電層3の膜の堆積方向
)と直交する方向に望む面で受光する構造であるために
、従来と異なり、主走査方向(図29において紙面表裏
方向)において、一画素毎に3つの発光素子が同一平面
上に並ぶことがなくなる。しかも、この様に発光素子が
同一平面上で並ぶことがないため、従来と異なり配線が
交差することがなくなるので、それだけ電源ラインから
デ−タラインへのノイズの飛び込み等が少なくなり、確
実な駆動が得られる上に、小型化が図れると共に製造容
易となるものである。
ると、先ず、従来のいわゆる完全密着型のイメージセン
サにおいては、発光素子の積層方向(図29において紙
面上方向)に光が出射される構造となっていた。この為
、カラ−化する場合には、一画素毎に、少なくとも赤、
緑、青の各発光素子を1つずつ、合計3つの発光素子を
同一平面上に並設する必要があり、各発光素子に接続さ
れる配線の配置が複雑になり、製造プロセスの複雑化を
助長していた。また、上述の様な構成の為に、デ−タラ
インと電源ラインとが近接又は交差することが多く、そ
の場合、電源ラインからデ−タラインへのノイズの飛び
込みによる解像度の低下等の不都合を生じていた。とこ
ろが、本例によれば、既に述べたように、発光素子はそ
の積層方向と直交する方向から光を出射してかつ、光電
変換素子も、その積層方向(光導電層3の膜の堆積方向
)と直交する方向に望む面で受光する構造であるために
、従来と異なり、主走査方向(図29において紙面表裏
方向)において、一画素毎に3つの発光素子が同一平面
上に並ぶことがなくなる。しかも、この様に発光素子が
同一平面上で並ぶことがないため、従来と異なり配線が
交差することがなくなるので、それだけ電源ラインから
デ−タラインへのノイズの飛び込み等が少なくなり、確
実な駆動が得られる上に、小型化が図れると共に製造容
易となるものである。
【0039】次に、図30乃至図33において、第10
の実施例が示されており、図30は本例の光電変換素子
の平面図を、図31は同光電変換素子の正面図を、図3
2は図30のL−L線断面図を、図33は図30のM−
M線断面図を、それぞれ示している。本例においても、
第1の実施例と同一の構成要素については同一符号を付
してその説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明す
る。本例は複数の光電変換素子を並設するものにあって
、光電変換素子を構成する光導電層を第1の実施例に示
したように各光電変換素子毎に離散的に設けるのではな
く、連続的に形成した点に特徴を有するものである。
の実施例が示されており、図30は本例の光電変換素子
の平面図を、図31は同光電変換素子の正面図を、図3
2は図30のL−L線断面図を、図33は図30のM−
M線断面図を、それぞれ示している。本例においても、
第1の実施例と同一の構成要素については同一符号を付
してその説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明す
る。本例は複数の光電変換素子を並設するものにあって
、光電変換素子を構成する光導電層を第1の実施例に示
したように各光電変換素子毎に離散的に設けるのではな
く、連続的に形成した点に特徴を有するものである。
【0040】具体的には、本例の光導電層3iは、絶縁
基板1と同様に帯状に形成されて、その長手軸方向が絶
縁基板1のそれと一致するように配設されているもので
ある。 また、各光電変換素子の間には、隣接する光
電変換素子に入射する光の回り込み等による影響を防ぐ
為に遮光層50が形成されている。すなわち、本例の遮
光層50は、絶縁層5の表面に、例えば1乃至2μmの
膜厚でアルミニウムを着膜して成るもので、光電変換素
子において、絶縁基板1の短手軸方向に沿って設けられ
ており、受光面8に対向する部位は開口部51となって
いるものである。したがって、原稿(図示せず)から反
射してきた入射光(図30、図32及び図33において
白抜き矢印)は開口部51を介して受光面8に入射し、
隣接する光電変換素子に本来入射するべき光が、光電変
換素子の間を通って入射してくるようなことが遮光層5
0によって防がれることとなる。このため、隣接する光
電変換素子間が相互に影響しあうことがなくなり、解像
度が向上することとなる。
基板1と同様に帯状に形成されて、その長手軸方向が絶
縁基板1のそれと一致するように配設されているもので
ある。 また、各光電変換素子の間には、隣接する光
電変換素子に入射する光の回り込み等による影響を防ぐ
為に遮光層50が形成されている。すなわち、本例の遮
光層50は、絶縁層5の表面に、例えば1乃至2μmの
膜厚でアルミニウムを着膜して成るもので、光電変換素
子において、絶縁基板1の短手軸方向に沿って設けられ
ており、受光面8に対向する部位は開口部51となって
いるものである。したがって、原稿(図示せず)から反
射してきた入射光(図30、図32及び図33において
白抜き矢印)は開口部51を介して受光面8に入射し、
隣接する光電変換素子に本来入射するべき光が、光電変
換素子の間を通って入射してくるようなことが遮光層5
0によって防がれることとなる。このため、隣接する光
電変換素子間が相互に影響しあうことがなくなり、解像
度が向上することとなる。
【0041】本実施例の光電変換素子の製造プロセスに
ついて、光導電層を離散的に形成していた従来のもの、
例えば第1の実施例に示されたものとの比較において説
明すれば、本実施例の場合、第1の実施例に説明したと
同様に光導電膜を着膜し、その後、第2電極4と共に、
同一のレジストパタ−ンを用いてパタ−ニングすること
で、光導電層3iの形成が完了するものである。一方、
図1乃至図3に示された第1の実施例の構造を有するも
のにおいては、第2電極4を所定の形状にパタ−ニング
した後に、同一のレジストパタ−ンを用いて光導電層3
をドライエッチング法によりパタ−ニングし、更に、こ
のエッチングにおけるサイドエッチングの結果、ひさし
状に突き出た第2電極4の構成部材である例えばアルミ
ニウムを、同一のレジストパタ−ンを用いてウェットエ
ッチングにより除去するという工程を必要としていたが
、本実施例の光電変換素子の製造においては、これらの
工程が全く必要なくなる。したがって、この工程数の削
減により、従来に比して短時間で製造することができ、
そのため、本例の光電変換素子を用いた原稿読取装置に
あっては、その装置価格が低廉になるというものである
。尚、遮光層50は帯電防止の観点から接地状態にして
おくことが望ましい。
ついて、光導電層を離散的に形成していた従来のもの、
例えば第1の実施例に示されたものとの比較において説
明すれば、本実施例の場合、第1の実施例に説明したと
同様に光導電膜を着膜し、その後、第2電極4と共に、
同一のレジストパタ−ンを用いてパタ−ニングすること
で、光導電層3iの形成が完了するものである。一方、
図1乃至図3に示された第1の実施例の構造を有するも
のにおいては、第2電極4を所定の形状にパタ−ニング
した後に、同一のレジストパタ−ンを用いて光導電層3
をドライエッチング法によりパタ−ニングし、更に、こ
のエッチングにおけるサイドエッチングの結果、ひさし
状に突き出た第2電極4の構成部材である例えばアルミ
ニウムを、同一のレジストパタ−ンを用いてウェットエ
ッチングにより除去するという工程を必要としていたが
、本実施例の光電変換素子の製造においては、これらの
工程が全く必要なくなる。したがって、この工程数の削
減により、従来に比して短時間で製造することができ、
そのため、本例の光電変換素子を用いた原稿読取装置に
あっては、その装置価格が低廉になるというものである
。尚、遮光層50は帯電防止の観点から接地状態にして
おくことが望ましい。
【0042】次に、第11の実施例として、上述した第
10の実施例における光電変換素子に発光素子を一体形
成したものが、図34乃至図36に示されており、以下
、同図を参照しつつ本例の光電変換素子について説明す
る。尚、第1の実施例及び第10の実施例と同一構成要
素については、同一の符号を付してその説明を省略し、
以下、異なる点を中心に説明する。ここで、図34は、
本例の光電変換素子の平面図を、図35は本例の光電変
換素子の正面図を、図36は図34のN−N線断面図を
、それぞれ示している。本実施例は、図18乃至図20
に示した第7の実施例と基本的に同様にして、絶縁基板
1上に発光素子24を形成し、その上面に上述した第1
0の実施例の光電変換素子を形成し、発光素子との一体
化を図ったものである。この様な構成とすることにより
、光電変換素子とは別個に光学系を設ける必要のない、
完全密着型のイメ−ジセンサを提供できることとなるも
のである。
10の実施例における光電変換素子に発光素子を一体形
成したものが、図34乃至図36に示されており、以下
、同図を参照しつつ本例の光電変換素子について説明す
る。尚、第1の実施例及び第10の実施例と同一構成要
素については、同一の符号を付してその説明を省略し、
以下、異なる点を中心に説明する。ここで、図34は、
本例の光電変換素子の平面図を、図35は本例の光電変
換素子の正面図を、図36は図34のN−N線断面図を
、それぞれ示している。本実施例は、図18乃至図20
に示した第7の実施例と基本的に同様にして、絶縁基板
1上に発光素子24を形成し、その上面に上述した第1
0の実施例の光電変換素子を形成し、発光素子との一体
化を図ったものである。この様な構成とすることにより
、光電変換素子とは別個に光学系を設ける必要のない、
完全密着型のイメ−ジセンサを提供できることとなるも
のである。
【0043】図37乃至図39には、光電変換素子を2
層にして、より高感度化及び高解像度化を図ったものが
、第12の実施例として示されており、図37は本例の
光電変換素子の平面図を、図38は図37のP−P線断
面図を、図39は図38のQ−Q線断面図を、それぞれ
示している。尚、本例においても、第1の実施例と同一
構成要素については同一符号を付してその説明を省略し
、以下、異なる点を中心に説明する。この実施例は、所
定の間隔で配置された下部光電変換素子(図37及び図
38においてPS1,PS2)の上(図38において紙
面上方向)に、上部光電変換素子(図37及び図38に
おいてPS3〜5)を積層すると共に、上部光電変換素
子を横方向(図37及び図38において紙面横方向)に
おいて、下部光電変換素子の間に位置するように配した
ものである。したがって、例えば、各受光面の中心を線
で結んだと仮定するとその線は、ジグザグ状になるもの
である。
層にして、より高感度化及び高解像度化を図ったものが
、第12の実施例として示されており、図37は本例の
光電変換素子の平面図を、図38は図37のP−P線断
面図を、図39は図38のQ−Q線断面図を、それぞれ
示している。尚、本例においても、第1の実施例と同一
構成要素については同一符号を付してその説明を省略し
、以下、異なる点を中心に説明する。この実施例は、所
定の間隔で配置された下部光電変換素子(図37及び図
38においてPS1,PS2)の上(図38において紙
面上方向)に、上部光電変換素子(図37及び図38に
おいてPS3〜5)を積層すると共に、上部光電変換素
子を横方向(図37及び図38において紙面横方向)に
おいて、下部光電変換素子の間に位置するように配した
ものである。したがって、例えば、各受光面の中心を線
で結んだと仮定するとその線は、ジグザグ状になるもの
である。
【0044】下部光電変換素子PS1,2は、基本的に
第1の実施例(図1乃至図3参照)に示された光電変換
素子と同一の構成を有しているものであるが、第3電極
7kが横方向に延びて各下部光電変換素子PS1,PS
2に対して共通の構成要素になっている点が異なってい
るものである。また、各下部光電変換素子PS1,PS
2は、横方向(図38おいて紙面左右方向)において、
所定の間隔を隔てて設けられているもので、この間隔は
、例えば、図1乃至図3において示された第1の実施例
と同一である。上部光電変換素子PS3,4,5は、上
述した第3電極7kに直接接合するように第3電極7k
の上面(図38において絶縁層5kと接合する面と反対
側の面)に設けられた上層第1電極2mと、この上層第
1電極2m上に形成された光導電層3と、絶縁層5mを
介して光導電層3と接続される上層第2電極65と、か
ら構成されるもので、第1の実施例で言えば第2電極4
(図1乃至図3参照)に相当するものがなく、第1実施
例の第3電極7に相当する上層第2電極65が、直接光
導電層3に接合している点が、第1の実施例に示された
光電変換素子と異なっているものである。更に、図38
の例で言えば、上部光電変換素子PS4は、横方向(図
38において紙面左右方向)で、下部光電変換素子PS
1とPS2の丁度中間に位置するように設けられている
。尚、この上部光電変換素子の位置は本実施例のように
、必ずしも下部光電変換素子間の中間である必要はない
ものである。 また、上層第2電極2mは、絶縁層5
mに穿設されたコンタクト孔6kを介して光導電層3に
接続されている。上述の構成における光電変換素子の製
造プロセスについては、第1の実施例に述べたものと基
本的に異なるところがないので、ここでの詳細な説明は
省略する。
第1の実施例(図1乃至図3参照)に示された光電変換
素子と同一の構成を有しているものであるが、第3電極
7kが横方向に延びて各下部光電変換素子PS1,PS
2に対して共通の構成要素になっている点が異なってい
るものである。また、各下部光電変換素子PS1,PS
2は、横方向(図38おいて紙面左右方向)において、
所定の間隔を隔てて設けられているもので、この間隔は
、例えば、図1乃至図3において示された第1の実施例
と同一である。上部光電変換素子PS3,4,5は、上
述した第3電極7kに直接接合するように第3電極7k
の上面(図38において絶縁層5kと接合する面と反対
側の面)に設けられた上層第1電極2mと、この上層第
1電極2m上に形成された光導電層3と、絶縁層5mを
介して光導電層3と接続される上層第2電極65と、か
ら構成されるもので、第1の実施例で言えば第2電極4
(図1乃至図3参照)に相当するものがなく、第1実施
例の第3電極7に相当する上層第2電極65が、直接光
導電層3に接合している点が、第1の実施例に示された
光電変換素子と異なっているものである。更に、図38
の例で言えば、上部光電変換素子PS4は、横方向(図
38において紙面左右方向)で、下部光電変換素子PS
1とPS2の丁度中間に位置するように設けられている
。尚、この上部光電変換素子の位置は本実施例のように
、必ずしも下部光電変換素子間の中間である必要はない
ものである。 また、上層第2電極2mは、絶縁層5
mに穿設されたコンタクト孔6kを介して光導電層3に
接続されている。上述の構成における光電変換素子の製
造プロセスについては、第1の実施例に述べたものと基
本的に異なるところがないので、ここでの詳細な説明は
省略する。
【0045】また、本実施例の光電変換素子から外部回
路への信号線の引き出しは、次のようになされる。すな
わち、第3電極7kは、既に述べたように、各下部光電
変換素子に対して共用する構成となっており、同時に上
部光電変換素子の各々に対しては、各第1電極2mに接
合していることから、第3電極7kに接続される電線(
図示せず)は、共通線となる。したがって、上部光電変
換素子においては、第3電極7kに常時バイアス電圧が
印加され、原稿(図示せず)面の濃淡に応じた反射光が
各上部光電変換素子に入射することにより発生する電荷
が、上層第2電極65より出力信号として取り出される
こととなる。一方、下部光電変換素子においては、第3
電極7kから上述の上部光電変換素子と同様に、常時バ
イアス電圧が印加され、原稿面の濃淡に応じた反射光が
各下部光電変換素子に入射することにより発生する電荷
が、第1電極2kより上部光電変換素子と同様に出力信
号として取り出されることとなる。
路への信号線の引き出しは、次のようになされる。すな
わち、第3電極7kは、既に述べたように、各下部光電
変換素子に対して共用する構成となっており、同時に上
部光電変換素子の各々に対しては、各第1電極2mに接
合していることから、第3電極7kに接続される電線(
図示せず)は、共通線となる。したがって、上部光電変
換素子においては、第3電極7kに常時バイアス電圧が
印加され、原稿(図示せず)面の濃淡に応じた反射光が
各上部光電変換素子に入射することにより発生する電荷
が、上層第2電極65より出力信号として取り出される
こととなる。一方、下部光電変換素子においては、第3
電極7kから上述の上部光電変換素子と同様に、常時バ
イアス電圧が印加され、原稿面の濃淡に応じた反射光が
各下部光電変換素子に入射することにより発生する電荷
が、第1電極2kより上部光電変換素子と同様に出力信
号として取り出されることとなる。
【0046】上述のような構成おいて、例えば、第1の
実施例に示されたように、同一直線上に複数の光電変換
素子を配設したものと比べれば、本例においては、上部
光電変換素子を、下部光電変換素子の間で、しかも下部
光電変換素子の配列方向(図38において紙面左右方向
)と直交する方向にずらせて配置したので、下部光電変
換素子が全くあるいは十分に捕捉できない光を、上部光
電変換素子において受光することができ、そのため、第
1の実施例に示したものに比べて、より感度及び解像度
が向上することとなるものである。
実施例に示されたように、同一直線上に複数の光電変換
素子を配設したものと比べれば、本例においては、上部
光電変換素子を、下部光電変換素子の間で、しかも下部
光電変換素子の配列方向(図38において紙面左右方向
)と直交する方向にずらせて配置したので、下部光電変
換素子が全くあるいは十分に捕捉できない光を、上部光
電変換素子において受光することができ、そのため、第
1の実施例に示したものに比べて、より感度及び解像度
が向上することとなるものである。
【0047】最後に、これまで説明した光電変換素子の
一応用例が第13の実施例として、図40及び図41に
示されている。ここで、図40は本応用例におけるイオ
ン投射複写機用マ−キングヘッドの概略の構成を示す構
成図を、図41は図40に示されたマ−キングヘッドを
構成するアレイの一素子あたりの電気的接続状態を表す
回路図を、それぞれ示している。先ず、この応用例に用
いる光電変換素子としては、発光素子を一体形成したも
の以外であれば、これまで説明した中のいずれのもので
もよいが、特に好適なものとしては、図1乃至図3に示
した第1の実施例における光電変換素子、図5及び図6
に示した第2の実施例における光電変換素子、図7に示
した第3の実施例における光電変換素子及び図14乃至
図16に示した第6の実施例における光電変換素子等が
挙られる。
一応用例が第13の実施例として、図40及び図41に
示されている。ここで、図40は本応用例におけるイオ
ン投射複写機用マ−キングヘッドの概略の構成を示す構
成図を、図41は図40に示されたマ−キングヘッドを
構成するアレイの一素子あたりの電気的接続状態を表す
回路図を、それぞれ示している。先ず、この応用例に用
いる光電変換素子としては、発光素子を一体形成したも
の以外であれば、これまで説明した中のいずれのもので
もよいが、特に好適なものとしては、図1乃至図3に示
した第1の実施例における光電変換素子、図5及び図6
に示した第2の実施例における光電変換素子、図7に示
した第3の実施例における光電変換素子及び図14乃至
図16に示した第6の実施例における光電変換素子等が
挙られる。
【0048】本例は、本発明に係る光電変換素子を、イ
オン投射複写機に用いられる、いわゆるマ−キングヘッ
ドを構成する受光素子として用いた場合の一例である。 イオン投射複写機の構造、作動については、既に公知・
周知であるので(例えば特開昭62−89069号公報
等参照)、ここでの詳細な説明は省略する。マ−キング
ヘッドはイオン投射複写機を構成するもので、これにつ
いても公知・周知であるので、ここでの詳細な説明は省
略するが、図40にはその概略構成が示されており、以
下、その概略構成を同図に基づいて説明する。同図にお
いて、本例のマ−キングヘッド60は、複数の変調電極
61と、この変調電極61の数と同数の光電変換素子P
Sと、同じく光電変換素子PSと同数の薄膜トランジス
タ(以下「TFT」と言う)62等を絶縁基板63上に
一体に形成してなるもので、よく知られているように、
光電変換素子PSが図示しない原稿からの反射光を受け
、その導通抵抗の変化に応じて変調電極61の印加電圧
を変化させて、この変調電極61近傍を通過するイオン
流の密度に変化を与えるものである。尚、図40は、実
際の機構的配置を示すものではなく、あくまでマ−キン
グヘッドの構成を説明するための例示にすぎない。
オン投射複写機に用いられる、いわゆるマ−キングヘッ
ドを構成する受光素子として用いた場合の一例である。 イオン投射複写機の構造、作動については、既に公知・
周知であるので(例えば特開昭62−89069号公報
等参照)、ここでの詳細な説明は省略する。マ−キング
ヘッドはイオン投射複写機を構成するもので、これにつ
いても公知・周知であるので、ここでの詳細な説明は省
略するが、図40にはその概略構成が示されており、以
下、その概略構成を同図に基づいて説明する。同図にお
いて、本例のマ−キングヘッド60は、複数の変調電極
61と、この変調電極61の数と同数の光電変換素子P
Sと、同じく光電変換素子PSと同数の薄膜トランジス
タ(以下「TFT」と言う)62等を絶縁基板63上に
一体に形成してなるもので、よく知られているように、
光電変換素子PSが図示しない原稿からの反射光を受け
、その導通抵抗の変化に応じて変調電極61の印加電圧
を変化させて、この変調電極61近傍を通過するイオン
流の密度に変化を与えるものである。尚、図40は、実
際の機構的配置を示すものではなく、あくまでマ−キン
グヘッドの構成を説明するための例示にすぎない。
【0049】本実施例において、光電変換素子PSは、
図示しないが基板63端面に配されて、光導電層(図示
せず)の膜の堆積方向と直交する方向(基板63に平行
する方向)から受光できるようにしてある。かかる構成
において、図41を参照しつつ、マ−キングヘッド60
の作動について概略的に説明する。図41は、マ−キン
グヘッド60を構成する一素子における電気的接続を示
しており、光電変換素子PSとTFT62とは直列接続
されており、光電変換素子PSの一端は電源供給線(電
圧V)に接続され、TFT62のソ−スは接地され、ゲ
−トは図示しないクロック発生器に接続されている。ま
た、光電変換素子PSの他端と、TFT62のドレイン
と、変調電極61とは共に接続状態となっている。クロ
ック発生器は所定の周期のクロック信号を発生し、その
信号はTFT62のゲ−トに入力されるようになってい
る。そして、このクロック信号がTFT62に入力され
ると、TFT62は導通状態となるために、光電変換素
子PSの作動状態に拘らず、変調電極61は接地電位に
保持される。一方、TFT62にクロック信号が入力さ
れず、かつ光電変換素子PSに光が入射している場合、
光電変換素子PSは、入射光量に応じた導通抵抗を示す
ために、変調電極61には、その光電変換素子PSの導
通抵抗に反比例した電圧が印加されることとなる。した
がって、よく知られているように、変調電極61には光
電変換素子PSの作動に応じてすなわち、原稿(図示せ
ず)からの反射光の有無とその光の強弱に応じて、変調
電極61に印加される電圧値が変化し、この結果、変調
電極61の近傍を通路とするイオン流の密度に必要な変
化を与えることとなるものである。
図示しないが基板63端面に配されて、光導電層(図示
せず)の膜の堆積方向と直交する方向(基板63に平行
する方向)から受光できるようにしてある。かかる構成
において、図41を参照しつつ、マ−キングヘッド60
の作動について概略的に説明する。図41は、マ−キン
グヘッド60を構成する一素子における電気的接続を示
しており、光電変換素子PSとTFT62とは直列接続
されており、光電変換素子PSの一端は電源供給線(電
圧V)に接続され、TFT62のソ−スは接地され、ゲ
−トは図示しないクロック発生器に接続されている。ま
た、光電変換素子PSの他端と、TFT62のドレイン
と、変調電極61とは共に接続状態となっている。クロ
ック発生器は所定の周期のクロック信号を発生し、その
信号はTFT62のゲ−トに入力されるようになってい
る。そして、このクロック信号がTFT62に入力され
ると、TFT62は導通状態となるために、光電変換素
子PSの作動状態に拘らず、変調電極61は接地電位に
保持される。一方、TFT62にクロック信号が入力さ
れず、かつ光電変換素子PSに光が入射している場合、
光電変換素子PSは、入射光量に応じた導通抵抗を示す
ために、変調電極61には、その光電変換素子PSの導
通抵抗に反比例した電圧が印加されることとなる。した
がって、よく知られているように、変調電極61には光
電変換素子PSの作動に応じてすなわち、原稿(図示せ
ず)からの反射光の有無とその光の強弱に応じて、変調
電極61に印加される電圧値が変化し、この結果、変調
電極61の近傍を通路とするイオン流の密度に必要な変
化を与えることとなるものである。
【0050】この様に、マ−キングヘッド60の受光素
子として本発明に係る光電変換素子を用いた場合と従来
のものとを比較すると、先ず、従来のマ−キングヘッド
においては、受光素子が基板63に垂直な方向で受光す
る構成であり、また、その受光面はせいぜい小さく出来
たとしても、5〜10μm角程度であったため、多数の
変調電極と受光素子とをアレイ状に構成する必要のある
この種のマ−キングヘッドにあっては、平面的にある程
度の大きさとなり、基板の縮小化にも限界があった。と
ころが、本発明に係る光電変換素子を用いた場合には、
既に説明したように、基板に平行する方向を入射光の光
路としており、特に、基板63に垂直方向は光導電層の
膜の堆積方向であり、この方向の加工精度は既述した通
り従来の受光面の加工精度の約1/10程度であるため
に、その占有面積および占有体積が従来に比し十分小さ
くなり、基板の縮小化が容易となるものである。また、
図4等で説明した様に、光路を基板に平行にできるので
、同一平面上にセルフォッグレンズ等の光学系を配する
ことができるために、装置の薄型化となるものである。
子として本発明に係る光電変換素子を用いた場合と従来
のものとを比較すると、先ず、従来のマ−キングヘッド
においては、受光素子が基板63に垂直な方向で受光す
る構成であり、また、その受光面はせいぜい小さく出来
たとしても、5〜10μm角程度であったため、多数の
変調電極と受光素子とをアレイ状に構成する必要のある
この種のマ−キングヘッドにあっては、平面的にある程
度の大きさとなり、基板の縮小化にも限界があった。と
ころが、本発明に係る光電変換素子を用いた場合には、
既に説明したように、基板に平行する方向を入射光の光
路としており、特に、基板63に垂直方向は光導電層の
膜の堆積方向であり、この方向の加工精度は既述した通
り従来の受光面の加工精度の約1/10程度であるため
に、その占有面積および占有体積が従来に比し十分小さ
くなり、基板の縮小化が容易となるものである。また、
図4等で説明した様に、光路を基板に平行にできるので
、同一平面上にセルフォッグレンズ等の光学系を配する
ことができるために、装置の薄型化となるものである。
【0051】
【発明の効果】本発明によれば、対向電極間に光導電層
を配置し、この光導電層の膜の堆積方向に対し直交する
方向を光の入射方向として該方向に臨む前記光導電層の
面を受光面としたので、この光導電層の膜の堆積方向に
おける微細加工の精度は、従来の受光面すなわち光導電
層の膜の堆積方向に臨む面における最小微細加工精度の
略1/10程度であることから、その分だけ解像度が向
上した光電変換素子を提供することができるものである
。また、光導電層の膜の堆積方向に直交する方向に臨む
面を受光面したので、光電変換素子が設けられる基板上
において、受光面はこの基板に垂直方向となる一方、基
板に平行する方向でかつ光の入射方向に光導電層を長く
できるため、光の吸収効率を容易に向上することができ
、そのため、高感度の光電変換素子を提供することがで
きる。更に、複数の受光面を、これら受光面を結ぶ架空
の線がジグザグ状となるように配したので、同一直線上
に配した従来構成のものでは、隣接する受光面間に入射
するような光であって、特にその隣接受光面が並ぶ線上
から横へずれた位置における光を捕らえることができな
かったものが、受光できることとなるために、より感度
及び解像度が向上するという顕著な効果を奏するもので
ある。
を配置し、この光導電層の膜の堆積方向に対し直交する
方向を光の入射方向として該方向に臨む前記光導電層の
面を受光面としたので、この光導電層の膜の堆積方向に
おける微細加工の精度は、従来の受光面すなわち光導電
層の膜の堆積方向に臨む面における最小微細加工精度の
略1/10程度であることから、その分だけ解像度が向
上した光電変換素子を提供することができるものである
。また、光導電層の膜の堆積方向に直交する方向に臨む
面を受光面したので、光電変換素子が設けられる基板上
において、受光面はこの基板に垂直方向となる一方、基
板に平行する方向でかつ光の入射方向に光導電層を長く
できるため、光の吸収効率を容易に向上することができ
、そのため、高感度の光電変換素子を提供することがで
きる。更に、複数の受光面を、これら受光面を結ぶ架空
の線がジグザグ状となるように配したので、同一直線上
に配した従来構成のものでは、隣接する受光面間に入射
するような光であって、特にその隣接受光面が並ぶ線上
から横へずれた位置における光を捕らえることができな
かったものが、受光できることとなるために、より感度
及び解像度が向上するという顕著な効果を奏するもので
ある。
【図1】 本発明に係る光電変換素子の第1の実施例
における平面図である。
における平面図である。
【図2】 図1のA−A線断面図である。
【図3】 図1のB−B線断面図である。
【図4】 第1の実施例に示された光電変換素子を原
稿読取装置に用いた場合の主要部の概略構成を示す縦断
面図である。
稿読取装置に用いた場合の主要部の概略構成を示す縦断
面図である。
【図5】 本発明に係る光電変換素子の第2の実施例
における平面図である。
における平面図である。
【図6】 図5のC−C線断面図である。
【図7】 本発明に係る光電変換素子の第3の実施例
における正面図である。
における正面図である。
【図8】 本発明に係る光電変換素子の第4の実施例
における平面図である。
における平面図である。
【図9】 第4の実施例における光電変換素子の正面
図である。
図である。
【図10】 図8のD−D線断面図である。
【図11】 本発明に係る光電変換素子の第5の実施
例における平面図である。
例における平面図である。
【図12】 図11のE−E線断面図である。
【図13】 第5の実施例の光電変換素子に設けられ
るマイクロレンズの製造プロセスを説明するための説明
図である。
るマイクロレンズの製造プロセスを説明するための説明
図である。
【図14】 本発明に係る光電変換素子の第6の実施
例における平面図である。
例における平面図である。
【図15】 図14のF−F線断面図である。
【図16】 図14のG−G線断面図である。
【図17】 第6の実施例の光電変換素子を原稿読取
装置に用いた場合の主要部の概略構成を示す縦断面図で
ある。
装置に用いた場合の主要部の概略構成を示す縦断面図で
ある。
【図18】 本発明に係る光電変換素子の第7の実施
例における平面図である。
例における平面図である。
【図19】 図18のH−H線断面図である。
【図20】 図18のI−I線断面図である。
【図21】 第7の実施例の光電変換素子を原稿読取
装置に用いた場合の主要部の概略構成を説明するための
概略図である。
装置に用いた場合の主要部の概略構成を説明するための
概略図である。
【図22】 図21に示された構成の装置において垂
直方向の移動機構を付加した場合の概略構成を説明する
ための概略図である。
直方向の移動機構を付加した場合の概略構成を説明する
ための概略図である。
【図23】 図21に示さた応用例の一部を変形した
例を示す概略図である。
例を示す概略図である。
【図24】 図23に示された応用例における光電変
換素子の原稿側の先端部近傍の拡大正面図である。
換素子の原稿側の先端部近傍の拡大正面図である。
【図25】 本発明に係る光電変換素子の第8の実施
例における平面図である。
例における平面図である。
【図26】 第8の実施例における光電変換素子の正
面図である。
面図である。
【図27】 図25のJ−J線断面図である。
【図28】 本発明に係る光電変換素子の第9の実施
例における平面図である。
例における平面図である。
【図29】 図28のK−K線断面図である。
【図30】 本発明に係る光電変換素子の第10の実
施例における平面図である。
施例における平面図である。
【図31】 第10の実施例おける光電変換素子の正
面図である。
面図である。
【図32】 図30のL−L線断面図である。
【図33】 図30のM−M線断面図である。
【図34】 本発明に係る光電変換素子の第11の実
施例における平面図である。
施例における平面図である。
【図35】 第11の実施例における光電変換素子の
正面図である。
正面図である。
【図36】 図34のN−N線断面図である。
【図37】 第12の実施例における光電変換素子の
平面図である。
平面図である。
【図38】 図37のP−P線断面図である。
【図39】 図38のQ−Q線断面図である。
【図40】 本発明に係る光電変換素子を用いるイオ
ン投射複写機のマ−キングヘッドの概略構成を説明する
ための概略図である。
ン投射複写機のマ−キングヘッドの概略構成を説明する
ための概略図である。
【図41】 マ−キングヘッドの一素子における電気
的接続状態を示す回路図である。
的接続状態を示す回路図である。
【図42】 従来の光電変換素子の一例を示す平面図
である。
である。
【図43】 図42のR−R線断面図である。
1,1b…絶縁基板、2,2a,2k,2m…第1電極
3,3a,3k…光導電層、4,4a,4b,4d…第
2電極 5,5k,5m…絶縁層、6,6k…コンタクト孔、7
,7k…第3電極 8…受光面、18…遮光層、19…開口部,20…マイ
クロレンズ 24…発光素子
3,3a,3k…光導電層、4,4a,4b,4d…第
2電極 5,5k,5m…絶縁層、6,6k…コンタクト孔、7
,7k…第3電極 8…受光面、18…遮光層、19…開口部,20…マイ
クロレンズ 24…発光素子
Claims (2)
- 【請求項1】 対向電極間に光導電層を配した光電変
換素子において、前記光導電層の膜の堆積方向に直交す
る方向に臨む面を受光面としたことを特徴とする光電変
換素子。 - 【請求項2】 対向電極間に光導電層を配し、この光
導電層の膜の堆積方向に直交する方向に臨む面を受光面
としたものを、複数設けて成る光電変換素子において、
前記複数の受光面を結ぶ線がジグザグ状になるようこれ
ら複数の受光面を配したことを特徴とする光電変換素子
。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3148172A JP2684873B2 (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 光電変換装置 |
US08/463,306 US5767559A (en) | 1991-05-24 | 1995-06-05 | Thin film type photoelectric conversion device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3148172A JP2684873B2 (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 光電変換装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04346480A true JPH04346480A (ja) | 1992-12-02 |
JP2684873B2 JP2684873B2 (ja) | 1997-12-03 |
Family
ID=15446860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3148172A Expired - Fee Related JP2684873B2 (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2684873B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015119113A (ja) * | 2013-12-19 | 2015-06-25 | 野洲メディカルイメージングテクノロジー株式会社 | アクティブマトリクスアレイ基板、信号処理装置、受光装置及び表示装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5715481A (en) * | 1980-07-03 | 1982-01-26 | Nec Corp | Solid state image pickup device |
JPH01273363A (ja) * | 1988-04-25 | 1989-11-01 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 横型受光素子 |
JPH02192769A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-30 | Fujitsu Ltd | 半導体受光素子 |
-
1991
- 1991-05-24 JP JP3148172A patent/JP2684873B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5715481A (en) * | 1980-07-03 | 1982-01-26 | Nec Corp | Solid state image pickup device |
JPH01273363A (ja) * | 1988-04-25 | 1989-11-01 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 横型受光素子 |
JPH02192769A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-30 | Fujitsu Ltd | 半導体受光素子 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015119113A (ja) * | 2013-12-19 | 2015-06-25 | 野洲メディカルイメージングテクノロジー株式会社 | アクティブマトリクスアレイ基板、信号処理装置、受光装置及び表示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2684873B2 (ja) | 1997-12-03 |
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