JPH04343448A - Wafer grasping device - Google Patents

Wafer grasping device

Info

Publication number
JPH04343448A
JPH04343448A JP3145352A JP14535291A JPH04343448A JP H04343448 A JPH04343448 A JP H04343448A JP 3145352 A JP3145352 A JP 3145352A JP 14535291 A JP14535291 A JP 14535291A JP H04343448 A JPH04343448 A JP H04343448A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
movable
gripping
fingers
finger
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3145352A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobuhito Nunotani
伸仁 布谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP3145352A priority Critical patent/JPH04343448A/en
Publication of JPH04343448A publication Critical patent/JPH04343448A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To realize a wafer grasping device which can effectively grasp a wafer by a predetermined grasping force with higher positional accuracy than that of prior art and make possible to automate both-side surface soldering steps of the wafer as desired, in the device provided at an end of an arm of a robot, etc., to hold it at the end face of the wafer. CONSTITUTION:First and second movable fingers 32, 37 in which pawls in contact with an end face of a wafer 1 (e.g. rotary rollers provided at the side with a V-shaped groove in contact with the wafer) are rotatably provided at the end, and the first movable finger 32 driving mechanism for pressing the end face of the wafer by the pawls of the finger 32 to move it in the longitudinal direction to bring the end face of the wafer into contact with the pawls of the second movable fingers 37, 38 and holding the wafer 1 between at least three or more pawls of the first and second movable fingers, are provided.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、ロボット等のアーム先
端部に取り付けて用いられるウェーハ把持装置に関し、
特に半導体ウェーハの端面を挟持し、位置精度よく把持
でき、把持状態での確実な保持性を維持できる把持装置
に係るものである。
[Field of Industrial Application] The present invention relates to a wafer gripping device that is attached to the tip of an arm of a robot, etc.
In particular, the present invention relates to a gripping device that can grip the end face of a semiconductor wafer with good positional accuracy and maintain reliable retention in the gripped state.

【0002】0002

【従来の技術】半導体装置のウェーハを把持する装置の
第1の従来例を図10に示す。同図の装置は、ウェーハ
1を真空吸着するバキューム孔5aを有する吸着部8と
、この吸着部8に連結された基体9と、真空ポンプに連
結され基体9を介して上記吸着部8と連結するバキュー
ムホース5bとで構成されている。この従来装置による
ウェーハ1の把持は、図11に示すように、ウェーハ1
を吸着部8の表面に載置し、真空吸着により行なう。 また吸着したウェーハ1を吸着部8から取り外すときに
は、真空を常圧に戻すことにより行なう。
2. Description of the Related Art A first conventional example of a device for gripping a wafer of a semiconductor device is shown in FIG. The apparatus shown in the figure includes a suction part 8 having a vacuum hole 5a for vacuum suctioning a wafer 1, a base body 9 connected to this suction part 8, and a base body 9 connected to a vacuum pump and connected to the suction part 8 through the base body 9. It is composed of a vacuum hose 5b. The gripping of the wafer 1 by this conventional device is as shown in FIG.
is placed on the surface of the suction unit 8, and vacuum suction is performed. Further, when the sucked wafer 1 is removed from the sucking section 8, the vacuum is returned to normal pressure.

【0003】図10に示した把持装置は、構造が簡単で
安価であるが、把持の信頼性に問題が多い。例えば図1
1に示すように、ウェーハ1の吸着面に垂直方向の引っ
張り力Tには強いが、吸着面に平行方向の力Sに対して
は非常に弱いことが原因となり、ウェーハを落下させる
ことがある。またこの把持方法では、あらかじめ設定さ
れたウェーハ上の吸着位置と、実際に吸着された吸着位
置との間に誤差が生じるため、精度よくウェーハの把持
ができない等の問題点がある。
The gripping device shown in FIG. 10 has a simple structure and is inexpensive, but there are many problems in gripping reliability. For example, Figure 1
1, it is strong against the tensile force T perpendicular to the suction surface of the wafer 1, but very weak against the force S parallel to the suction surface, which may cause the wafer to fall. . Furthermore, this gripping method has the problem that the wafer cannot be gripped accurately because an error occurs between the preset suction position on the wafer and the actual suction position on the wafer.

【0004】半導体ウェーハを把持する装置の第2の従
来例を図12に示す。この装置は、底板と、この底板の
両端部上に立設された一対の端板2,3及びカバー4か
らなる基体を有し,この基体の内側に機構部分が設けら
れている。すなわち一対の端板2,3に一対のガイドシ
ャフト6,7が互いに平行に取り付けられ、このガイド
シャフト6,7に一対の可動体10,11が滑動かつ互
いに弾性体により引き合って支持されている。この一対
の可動体10,11の一方、すなわちこの例では、基体
の一端部側に配置された可動体10の中央上部に可動指
12が取り付けられている。この可動指12は、基体の
一端部端板2を貫通して、その前方に延出し、その先端
部にはウェーハ1を把持するための支持爪14が取り付
けられている。また可動指12の基端部は、可動体11
に形成された溝内に挿入されている。またこの可動体1
1にはラック19が取り付けられ、ラツク19と歯合す
るピニオン20が、底板に固定されたモータの出力軸に
取り付けられている。また基体の一方の端板2の外端に
は、固定指17,18が取り付けられ、それぞれの先端
部には、可動指12に取り付けられた支持爪14と同様
の支持爪15,16が設けられる。
A second conventional example of a device for gripping a semiconductor wafer is shown in FIG. This device has a base body consisting of a bottom plate, a pair of end plates 2 and 3 erected on both ends of the bottom plate, and a cover 4, and a mechanical part is provided inside the base body. That is, a pair of guide shafts 6 and 7 are attached to a pair of end plates 2 and 3 in parallel with each other, and a pair of movable bodies 10 and 11 are supported by the guide shafts 6 and 7 in a sliding manner and being attracted to each other by elastic bodies. . A movable finger 12 is attached to the upper center of one of the pair of movable bodies 10 and 11, that is, in this example, the movable body 10 is disposed on one end side of the base. The movable finger 12 extends forward through the end plate 2 at one end of the base, and a support claw 14 for gripping the wafer 1 is attached to the tip thereof. Further, the base end of the movable finger 12 is connected to the movable body 11.
It is inserted into the groove formed in the. Also, this movable body 1
A rack 19 is attached to the rack 1, and a pinion 20 that meshes with the rack 19 is attached to the output shaft of a motor fixed to the bottom plate. Further, fixed fingers 17 and 18 are attached to the outer end of one end plate 2 of the base body, and support claws 15 and 16 similar to the support claw 14 attached to the movable finger 12 are provided at the tip of each of the fixed fingers 17 and 18. It will be done.

【0005】この図に示す従来装置によるウェーハの把
持は、上記支持爪14,15,16間に介挿されたウェ
ーハ1(1点鎖線で示す)を、上記基体内に設けられた
機構を作動させることにより、可動指12を滑動させ、
可動指12と固定指17,18との間で把持することに
より行なわれる。なお把持したウェーハの解放は、上記
把持動作の逆であり、上記動作と逆の順序で動作する。
The conventional device shown in this figure grips a wafer by moving the wafer 1 (indicated by a dashed line) inserted between the supporting claws 14, 15, and 16 by operating a mechanism provided in the base body. By doing so, the movable finger 12 is slid,
This is done by gripping between the movable finger 12 and fixed fingers 17 and 18. Note that releasing the gripped wafer is the opposite of the above-mentioned gripping operation, and is performed in the reverse order of the above-mentioned operation.

【0006】上記図12に示した把持装置は、第1の従
来例の真空吸着による把持装置に比べ、精度よく確実に
ウェーハを把持できる。しかしウェーハを把持する際に
可動指12の運動方向と逆方向に、一時的に外力が加わ
った場合、例えば、ある面上に固着したウェーハを可動
指12によりはがし取るとき、或いはウェーハを滑らせ
て移動するときのように面の摩擦力が急激に変化する場
合、可動指12の移動速度は一定でなくなり、可動体1
0,11の間隔は一時的に広がる。その後外力がなくな
ると、ウェーハは外力が加わる前の可動指12の運動方
向に急激に移動することになる。さらに固定指17,1
8のように、一対の把持指の一方が固定指であるため、
外力を緩衝吸収することができず、把持しているウェー
ハを破損してしまう可能性が大きいという問題点がある
。さらにこの把持装置は、ウェーハを把持している状態
で、可動指12にウェーハを押圧する外力が働いた場合
、一対の把持指の一方が固定指であるため、外力を緩衝
吸収することができず、把持しているウェーハを破損し
てしまう可能性が大きいという問題点があった。
The gripping device shown in FIG. 12 can grip a wafer more accurately and reliably than the first prior art gripping device using vacuum suction. However, when an external force is temporarily applied in the direction opposite to the direction of movement of the movable fingers 12 when gripping a wafer, for example, when a wafer stuck on a certain surface is peeled off by the movable fingers 12, or when the wafer is slipped When the frictional force of the surface changes rapidly, as when moving by hand, the moving speed of the movable finger 12 is no longer constant, and the movable body
The interval between 0 and 11 temporarily widens. After that, when the external force is removed, the wafer rapidly moves in the direction of movement of the movable finger 12 before the external force was applied. Furthermore, the fixed finger 17,1
As shown in 8, since one of the pair of grasping fingers is a fixed finger,
There is a problem in that the external force cannot be buffered and absorbed, and there is a high possibility that the wafer being gripped will be damaged. Furthermore, in this gripping device, when an external force that presses the wafer is applied to the movable fingers 12 while gripping the wafer, one of the pair of gripping fingers is a fixed finger, so that the external force can be buffered and absorbed. First, there is a problem in that there is a high possibility that the wafer being gripped will be damaged.

【0007】半導体ウェーハを把持する第3の従来例を
図13を参照して説明する。この例は、ウェーハの両面
に形成された電極または電極パッド上に半田付けを行な
うような工程で使用されるものである。従来工程では、
ウェーハ1aをピンセット13で挟み、そのまま半田槽
19の中へ浸し、数秒間半田槽の中に保持した後、すば
やく引き上げウェーハ1aの両面に半田を付けていた。
A third conventional example of gripping a semiconductor wafer will be explained with reference to FIG. 13. This example is used in a process in which soldering is performed on electrodes or electrode pads formed on both sides of a wafer. In the conventional process,
The wafer 1a was held between the tweezers 13, dipped into the solder bath 19, held in the solder bath for several seconds, and then quickly pulled up to apply solder to both sides of the wafer 1a.

【0008】上記ウェーハの両面半田付け作業は、人手
作業で行なわれており、溶けた半田を扱うので300℃
以上の高温になり、火傷の危険性や、作業中の室温の上
昇、溶けた半田から発生するガスなどで、作業環境の悪
化と健康上の問題がある。また、人手作業で行なうため
に個人差があり、半田の付着程度等品質に多少のバラツ
キが発生し、安定した品質のものができないという問題
があるし、半田槽の中への挿入時に割れてしまうウェー
ハも出てくる。さらにピンセットでウェーハの両面から
挟み込むので、ピンセットで挟まれた部分の素子は半田
が付着しないまま残ってしまい、歩留まり低下の原因に
もなっている。
[0008] The above-mentioned soldering work on both sides of the wafer is carried out manually, and since molten solder is handled, the temperature is 300°C.
The higher the temperature, the higher the risk of burns, the rise in room temperature during work, and the gases generated from melted solder, which worsens the working environment and poses health problems. In addition, since it is done manually, there are individual differences, and there is some variation in quality such as the degree of solder adhesion, making it impossible to produce products of stable quality.In addition, there is a problem that it may crack when inserted into the solder bath. There are also wafers that need to be put away. Furthermore, since the wafer is pinched from both sides with tweezers, the parts sandwiched by the tweezers remain without solder adhering to them, which also causes a decrease in yield.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】これまで述べたように
、ウェーハ主面を真空吸着して把持する装置は、ウェー
ハの吸着面に平行な外力に対しては把持力が非常に弱く
、またウェーハ吸着時、あらかじめ設定された吸着位置
と実際に吸着された吸着位置の間に誤差が生ずる等のた
め、ウェーハの把持位置の精度が悪く、またウェーハ把
持中にウェーハが動いたり、落下したりする把持の不確
実という課題がある。
[Problems to be Solved by the Invention] As mentioned above, the device that vacuum-chucks and grips the main surface of a wafer has a very weak gripping force against external forces parallel to the suction surface of the wafer; During suction, an error may occur between the preset suction position and the actual suction position, resulting in poor wafer gripping position accuracy, and the wafer may move or fall while being held. There is an issue of uncertainty in grasping.

【0010】また最近試みられている第2の従来例の把
持装置では、上述の問題点は軽減されるが、この装置の
把持指は、一方が可動指、他方が固定指という構成のた
め、ウェーハを把持するとき、またはウェーハ把持中に
おいて、可動指にウェーハを押圧する方向の衝撃力が加
わると、ウェーハを破損する可能性が大きいという問題
点がある。
[0010] A second conventional gripping device that has been recently attempted alleviates the above-mentioned problems, but since the gripping fingers of this device are configured such that one is a movable finger and the other is a fixed finger, There is a problem in that when an impact force is applied to the movable fingers in a direction that presses the wafer when the wafer is being gripped or while the wafer is being gripped, there is a high possibility that the wafer will be damaged.

【0011】本発明の目的は、アーム先端部などに設け
られるウェーハ把持装置において、ウェーハを把持する
とき、または把持中に位置精度よく確実にウェーハを把
持することができるとともに、把持指に外力が加わった
場合でもウェーハを破損することがないウェーハ把持装
置を提供し、また他の目的は、ウェーハの両面半田付け
における前記問題点を解決し、工程の自動化を可能とす
るウェーハの把持装置を提供することである。
An object of the present invention is to enable a wafer gripping device provided at the tip of an arm to grip a wafer reliably with high positional accuracy when or during gripping, and to prevent external force from being applied to the gripping fingers. Another object of the present invention is to provide a wafer gripping device that does not damage the wafer even if the wafer is touched, and another object of the present invention is to provide a wafer gripping device that solves the above-mentioned problems in double-sided soldering of wafers and makes it possible to automate the process. It is to be.

【0012】0012

【課題を解決するための手段】本発明のウェーハ把持装
置は、アームの先端部に設けられるウェーハ把持装置に
おいて、(a)長手方向に移動できる第一の可動指と,
(b)第1可動指の先端部に回動自在に取り付けられ、
ウェーハ端面に当接してウェーハを支持する支持爪と、
(c)第1可動指と並列に設けられる第2可動指と、(
d)第2可動指の先端部に回動自在に取り付けられ、ウ
ェーハ端面に当接してウェーハを支持する支持爪と、(
e)第1可動指の支持爪でウェーハ端面を押して第2可
動指の支持爪にウェーハ端面を当接し、第1及び第2の
可動指の前記支持爪でウェーハを挟持する第1可動指駆
動機構とを具備することを特徴とするものである。
[Means for Solving the Problems] The wafer gripping device of the present invention includes (a) a first movable finger that can move in the longitudinal direction;
(b) rotatably attached to the tip of the first movable finger;
a support claw that supports the wafer by coming into contact with the wafer end surface;
(c) a second movable finger provided in parallel with the first movable finger;
d) a support claw rotatably attached to the tip of the second movable finger and supporting the wafer by contacting the wafer end surface;
e) A first movable finger drive that pushes the wafer end surface with the support claw of the first movable finger, brings the wafer end surface into contact with the support claw of the second movable finger, and holds the wafer between the support claws of the first and second movable fingers. The invention is characterized by comprising a mechanism.

【0013】[0013]

【作用】ウェーハを把持する際、第1可動指は、ウェー
ハ端面を押してあらかじめ設定された一定距離移動する
ので、常に一定の力でウェーハを確実に把持できる。ウ
ェーハ把持指は、第1及び第2可動指から成り、固定指
を含まないことと、各可動指の先端部に取り付けられた
支持爪は回動自在であること等により、可動指にウェー
ハを押圧する外力が加わっても、緩衝作用があり、ウェ
ーハの破損を軽減できる。また支持爪は回動自在である
のでウェーハを支持するとき、多少の位置ずれがあって
も、把持動作中に位置補正が行なわれ、ウェーハの把持
位置の精度が良い。複数の支持爪によりウェーハ端面を
当接して把持するので、製品となる基板面を傷つけない
。本発明のウェーハ把持装置の構成では、ウェーハの把
持、解放の自動化が容易であり、所望により可動指及び
支持爪に半田が付着しない材質を使用することにより、
ウェーハの両面半田付け作業の自動化が可能となる。
[Operation] When gripping a wafer, the first movable finger pushes the end face of the wafer and moves a preset distance, so the wafer can be reliably gripped with a constant force at all times. The wafer gripping fingers consist of first and second movable fingers, do not include fixed fingers, and the supporting claws attached to the tips of each movable fingers are rotatable, so that the wafer can be held by the movable fingers. Even if an external pressing force is applied, it has a buffering effect and can reduce damage to the wafer. Furthermore, since the supporting claws are rotatable, even if there is some positional deviation when supporting the wafer, the position is corrected during the gripping operation, and the wafer gripping position is highly accurate. Since the end surface of the wafer is held in contact with the plurality of supporting claws, the surface of the substrate that will become the product will not be damaged. With the configuration of the wafer gripping device of the present invention, it is easy to automate the gripping and releasing of the wafer, and if desired, by using a material that does not adhere solder to the movable fingers and supporting claws,
It becomes possible to automate the soldering work on both sides of wafers.

【0014】[0014]

【実施例】図1は、本発明のウェーハ把持装置の第1実
施例の構成を模式的に示す一部破砕平面図であり、図2
はこの装置のII−II線(図1の一点鎖線参照)断面
図である。又、図14は、図1に示す把持装置の基体内
部の機構部分の拡大平面図である。
[Embodiment] FIG. 1 is a partially exploded plan view schematically showing the configuration of a first embodiment of the wafer gripping device of the present invention, and FIG.
is a sectional view taken along the line II-II (see the dashed line in FIG. 1) of this device. Moreover, FIG. 14 is an enlarged plan view of a mechanical part inside the base of the gripping device shown in FIG.

【0015】この把持装置は、底板21の両端部上に設
けられた一対の端板22,23及びカバー24から成る
基体25を有し、この基体25の内部に機構部分が設け
られている。一対の端板22,23に一対のガイドシャ
フト26,27が取り付けられ、これらガイドシャフト
26,27にボールブッシュを介して一対の可動体30
,31が滑動可能に支持されている。
This gripping device has a base body 25 consisting of a pair of end plates 22 and 23 provided on both ends of a bottom plate 21 and a cover 24, and a mechanical portion is provided inside this base body 25. A pair of guide shafts 26 and 27 are attached to a pair of end plates 22 and 23, and a pair of movable bodies 30 are connected to these guide shafts 26 and 27 via ball bushes.
, 31 are slidably supported.

【0016】一対の可動体30,31の一方、すなわち
この例では可動体30の中央上部に第1の可動指32が
取り付けられている。第1可動指32は、基体25の端
板22を貫通してその前方に延出し、その先端部には、
ウェーハ端面に当接してウェーハ1を把持するための支
持爪34が取り付けられている。
A first movable finger 32 is attached to one of the pair of movable bodies 30, 31, that is, to the upper center of the movable body 30 in this example. The first movable finger 32 extends forward through the end plate 22 of the base body 25, and has a distal end thereof.
A support claw 34 for gripping the wafer 1 by coming into contact with the wafer end face is attached.

【0017】また他方の可動体31の上部には2本の第
2可動指37,38が取り付けられている。この第2可
動指37,38は、第1可動指32と同一平面上に位置
するように基体25の端板22を貫通して、その前方に
延出し、その各先端部には、第1可動指の支持爪34と
同様の支持爪35,36が取り付けられている。また第
1可動指32に取り付けられた支持爪34と、第2可動
指37,38に取り付けられた支持爪35,36は、取
り付け部分を中心に回転する機構(図3,図4参照)と
なっている。
Two second movable fingers 37 and 38 are attached to the upper part of the other movable body 31. The second movable fingers 37 and 38 extend forward through the end plate 22 of the base body 25 so as to be located on the same plane as the first movable finger 32. Support claws 35 and 36 similar to the support claws 34 of the movable fingers are attached. Furthermore, the support claw 34 attached to the first movable finger 32 and the support claws 35, 36 attached to the second movable fingers 37, 38 have a mechanism that rotates around the attachment part (see FIGS. 3 and 4). It has become.

【0018】また可動体31の中央内部には、弾性体5
0が収納されている。この弾性体50は、ねじ51によ
って端板22内に一端を固定されたピン52に装着され
ている。可動体31は、ウェーハ端面が方向60bに移
動し、支持爪35,36に接触するまでは、弾性体50
によって、端板22側に引き寄せられている。したがっ
てウェーハ端面が爪35,36に接触した後さらに上記
移動を続けると、弾性体50は、第2可動指35,36
を引き戻す方向60aの力すなわち把持力を発生させる
Furthermore, an elastic body 5 is provided inside the center of the movable body 31.
0 is stored. This elastic body 50 is attached to a pin 52 whose one end is fixed within the end plate 22 by a screw 51. The movable body 31 moves along the elastic body 50 until the end surface of the wafer moves in the direction 60b and contacts the support claws 35 and 36.
It is pulled toward the end plate 22 side by this. Therefore, when the wafer end surface continues to move as described above after contacting the claws 35 and 36, the elastic body 50
A force in a direction 60a that pulls back, that is, a gripping force is generated.

【0019】さらに可動体31の内部には、端板22と
可動体31との距離d1 を測定する近接センサー43
がねじ44で固定されている。また近接センサー43に
は、距離d1 が所定値を越えたとき信号を外部制御装
置に送出する端子45がついている。
Further, inside the movable body 31, there is a proximity sensor 43 for measuring the distance d1 between the end plate 22 and the movable body 31.
are fixed with screws 44. The proximity sensor 43 is also provided with a terminal 45 that sends a signal to an external control device when the distance d1 exceeds a predetermined value.

【0020】また可動体30には、その移動距離を制限
するためのガイド溝46を有するラック39が、位置決
めピン47a,47bによってガイドシャフト26,2
7に平行移動可能に取り付けられる。またラック39と
歯合するピニオン40が底板21に固定されたモータの
出力軸に取り付けられている。ここで位置決めピン47
a,47bとガイド溝46の一端との距離の余裕は、可
動体31が端板22に接触しているとき、第2可動指3
7,38と端板22との間に生じる距離d2 と同等か
、それよりも短くしなければならない。
Further, in the movable body 30, a rack 39 having a guide groove 46 for limiting the movement distance is connected to the guide shafts 26, 2 by positioning pins 47a, 47b.
7 so that it can move in parallel. Further, a pinion 40 that meshes with the rack 39 is attached to the output shaft of a motor fixed to the bottom plate 21. Here, positioning pin 47
a, 47b and one end of the guide groove 46, when the movable body 31 is in contact with the end plate 22, the second movable finger 3
It must be equal to or shorter than the distance d2 between 7, 38 and the end plate 22.

【0021】第2可動指37の先端部から突出してセン
サー48が設けられ、把持されるウェーハの有無を検知
し、端子49より信号を外部制御装置に送出する。
A sensor 48 is provided protruding from the tip of the second movable finger 37 to detect the presence or absence of a wafer to be gripped, and sends a signal from a terminal 49 to an external control device.

【0022】また可動体30の内部には、外部から第1
可動指32に加わる衝撃力を緩衝する弾性体53が収納
され、金具54をラック39にねじ55によって取り付
けることによって封入している。また金具54は、図示
してないが第1可動指32の外部に取り付けられた外部
制御装置へ信号を送出する出力端子を持つリミットスイ
ッチのレバーに接触しておりドグ金具(スイッチを開閉
する押し金具)としての機能を持つ。ここで上記リミッ
トスイッチは、可動体30があらかじめ設定された移動
範囲を越えた場合、この把持装置の動作を制止するため
のもので、制御信号を送出する機能があれば良いが、上
記レバーは微小な力に対しても作動する必要がある。
[0022] Also, inside the movable body 30, a first
An elastic body 53 that buffers the impact force applied to the movable finger 32 is housed, and the metal fitting 54 is enclosed by being attached to the rack 39 with screws 55. Although not shown, the metal fitting 54 is in contact with a lever of a limit switch that has an output terminal that sends a signal to an external control device attached to the outside of the first movable finger 32. It has the function of a metal fitting). Here, the limit switch is for stopping the operation of this gripping device when the movable body 30 exceeds a preset movement range, and it is sufficient if it has a function to send a control signal, but the lever is It is necessary to operate even in response to minute forces.

【0023】また第1可動指32は、ガイドシャフト2
6,27に沿って直線運動するとともに弾性体53を介
して固定部材に取り付けられ、第2可動指37,38は
、ガイドシャフト26,27に沿って直線移動可能に、
弾性体50を介して固定部材に取り付けられ、支持爪3
4,35,36に加わるウェーハを押圧する方向の衝撃
力を緩衝吸収する機能を持っている。
Furthermore, the first movable finger 32 is connected to the guide shaft 2.
The second movable fingers 37, 38 are linearly movable along the guide shafts 26, 27 and attached to the fixed member via the elastic body 53.
It is attached to the fixed member via the elastic body 50, and the support claw 3
It has the function of buffering and absorbing the impact force applied to the wafers 4, 35, and 36 in the direction of pressing the wafer.

【0024】なお端板23の外側には、この把持装置を
、例えばロボットアームに取り付けるためのフランジ部
59が設けられている。
A flange portion 59 is provided on the outside of the end plate 23 for attaching this gripping device to, for example, a robot arm.

【0025】次に、この把持装置の動作について述べる
。まず上記モータをあらかじめ設定された回転数だけ回
転させ、ラック39,ピニオン40から成る駆動機構を
介して可動体30を矢印60aの方向に前進させると、
可動指32,37,38の先端部に取り付けられた支持
爪34,35,36の間隔が広がる。支持爪34,35
,36の間隔は、ウェーハ1を十分余裕をもって挿入で
きる広さにする。この状態のとき、可動体30と可動体
31とは互いに接触しないように設定してある。この状
態で、例えばこの把持装置を支持するロボットアームを
駆動して、支持爪34,35,36の間にウェーハ1を
介挿する。
Next, the operation of this gripping device will be described. First, the motor is rotated by a preset number of rotations, and the movable body 30 is moved forward in the direction of the arrow 60a via the drive mechanism consisting of the rack 39 and pinion 40.
The spacing between the support claws 34, 35, and 36 attached to the tips of the movable fingers 32, 37, and 38 is widened. Support claws 34, 35
, 36 is made wide enough to allow insertion of the wafer 1 with sufficient margin. In this state, the movable body 30 and the movable body 31 are set so as not to come into contact with each other. In this state, the wafer 1 is inserted between the support claws 34, 35, and 36 by driving, for example, a robot arm that supports this gripping device.

【0026】しかるのち、上記モータをあらかじめ設定
された回転数だけ逆回転させて可動体30を後退させ、
ウェーハ1に支持爪34を接触させて引き寄せ、さらに
支持爪35,36に接触させてウェーハ1を支持爪34
,35,36で挟む。
[0026] Thereafter, the motor is reversely rotated by a preset number of rotations to move the movable body 30 backward;
The wafer 1 is brought into contact with the support claw 34 and pulled, and further brought into contact with the support claws 35 and 36 to pull the wafer 1 into the support claw 34.
, 35, and 36.

【0027】図3に第2可動指37(または38)に取
り付けられた支持爪35(または36)の断面図を、ま
た図4に基体25から延出した第2可動指37及び38
の先端部に取り付けられた支持爪35及び36の斜視図
を示す。支持爪35(または36)は、V字溝を持った
ローラで、第2可動指37(または38)にねじ止めさ
れたピン53を回転軸として、自由に両方向に回転でき
るように取り付けられている。第1可動指32に取り付
けられる支持爪34も支持爪35及び36と同様の構造
で、取り付け部分を中心に自由に回動できるようになっ
ている。
FIG. 3 shows a sectional view of the support claw 35 (or 36) attached to the second movable finger 37 (or 38), and FIG.
A perspective view of support claws 35 and 36 attached to the tip of the figure is shown. The support claw 35 (or 36) is a roller with a V-shaped groove, and is attached so that it can freely rotate in both directions about a pin 53 screwed to the second movable finger 37 (or 38) as a rotation axis. There is. The support claw 34 attached to the first movable finger 32 has the same structure as the support claws 35 and 36, and can freely rotate around the attachment portion.

【0028】このように支持爪34,35,36は、自
身が自由に回動できるようになっているため、ウェーハ
のような円板状のものを挟むとき、ウェーハの端面がロ
ーラに接触し、ウェーハと共に回転して、ウェーハの中
心を精度よく把持することができる。というのも、図5
に示すように、可動指37,38に固定された支持爪だ
と、ウェーハのような薄い板状のものを把持すると、支
持爪のV字溝の部分にウェーハ端部が挟まってしまい、
3点で支持しなければならないところを2点で支持して
しまうということが起こり、ウェーハを運ぶ途中でウェ
ーハがぐらつく可能性もあり、ウェーハの位置精度が悪
くなる。なお符号35a及び36aは可動指に固定され
た支持爪をあらわす。
[0028] Since the support claws 34, 35, and 36 are designed to be able to rotate freely themselves, when holding a disc-shaped object such as a wafer, the end surface of the wafer does not come into contact with the rollers. , can rotate together with the wafer and grip the center of the wafer with high precision. This is because Figure 5
As shown in the figure, when the supporting claws are fixed to the movable fingers 37 and 38, when a thin plate-like object such as a wafer is gripped, the end of the wafer gets caught in the V-shaped groove of the supporting claws.
The wafer may be supported at two points when it should be supported at three points, and the wafer may wobble during transportation, resulting in poor wafer positioning accuracy. Note that numerals 35a and 36a represent support claws fixed to the movable fingers.

【0029】把持したウェーハの解放は、上記把持動作
の逆であり、上記動作と逆の順序で動作するので、その
説明を省略する。
Releasing the gripped wafer is the opposite of the gripping operation described above and is performed in the reverse order of the above operation, so a description thereof will be omitted.

【0030】上記のように把持装置を構成すると、モー
タの回転を一定回転数だけ回転させれば、常に一定の力
でウェーハを把持できるので、把持力を精度よく調整す
ることができ、特にこわれやすい薄いウェーハを破損変
形することなく、確実に把持できるので落下などによる
ウェーハの破損を防止できる。またモータの出力トルク
を大きくすることで、ウェーハを引き寄せる力は大きく
でき、他方ウェーハを支持する力は、弾性体50によっ
て必要最小限とすることができる。
When the gripping device is configured as described above, the wafer can be gripped with a constant force by rotating the motor at a constant number of revolutions, so the gripping force can be adjusted with high accuracy, and it is especially easy to avoid breakage. Since it can securely grip thin wafers that are easily susceptible to damage or deformation, it can prevent damage to the wafers due to dropping, etc. Furthermore, by increasing the output torque of the motor, the force that draws the wafer can be increased, while the force that supports the wafer can be minimized by the elastic body 50.

【0031】またウェーハの位置誤差についても、支持
爪34,35,36に回転機構があるため、把持すると
きのウェーハの位置が多少ずれていても、把持すると支
持爪の回転に合わせてウェーハも回転し、把持中に誤差
補正が行なわれ、精度良く位置決めできる。
Regarding the positional error of the wafer, since the supporting claws 34, 35, and 36 have a rotation mechanism, even if the position of the wafer is slightly shifted when the wafer is grasped, the wafer will be rotated as the supporting claws rotate. Error correction is performed during rotation and gripping, allowing for highly accurate positioning.

【0032】さらにこの把持装置は、機構部分が基体2
5内に収容され、把持部分に複雑な構成がなく、小形に
形成されているので、小さな把持スペースでウェーハを
把持することができる。
Furthermore, in this gripping device, the mechanism portion is attached to the base body 2.
5, the gripping portion does not have a complicated structure and is formed in a small size, so that the wafer can be gripped in a small gripping space.

【0033】また可動指32,37,38と可動体30
,31を介してこれを支えるガイドシャフト26,27
との間隔が小さく、モーメントを発生しないので、ウェ
ーハを把持する支持爪を精度よく位置決めでき、ウェー
ハを精度よく把持できる。
Furthermore, the movable fingers 32, 37, 38 and the movable body 30
, 31 to support the guide shafts 26, 27.
Since the distance between the wafer and the wafer is small and no moment is generated, the supporting claws that grip the wafer can be positioned with high accuracy, and the wafer can be gripped with high precision.

【0034】次に図6、図7及び図8を参照し、本発明
の第2の実施例について説明する。本実施例のウェーハ
把持装置は、半田槽の中へウェーハを直接挿入し、ウェ
ーハの自動半田付けを行なう装置等において、ロボット
等のアーム先端に設けられるウェーハ把持装置である。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 6, 7 and 8. The wafer gripping device of this embodiment is a wafer gripping device installed at the tip of an arm of a robot or the like in a device that directly inserts a wafer into a solder bath and performs automatic soldering of the wafer.

【0035】この把持装置は、底板61の両端に設けら
れた一対の端板62,63及びカバー64から成る基体
65を有し、基体65の内側に機構部分が設けられてい
る。一対の端板62,63に一対のガイドシャフト66
,67が取り付けられ、これらガイドシャフト66,6
7にボールブッシュ68,69を介して、一対の可動体
70,71が動けるように支持されている。上記可動体
70,71の一方、この実施例では可動体70の中央に
第1の可動指72が取り付けられており、可動指72は
、材質は半田の付着しないもの、例えばチタン等ででき
ていて、基体65の一方の端板62を貫通して、その前
方に延出し、その先端部には、ウェーハ端面に当接して
ウェーハ1aを把持するための支持爪74a,74bを
有している。支持爪74a,74bは、可動指72と同
様、半田の付着しない材質のものが使用される。また支
持爪は、図8に示すように、ウェーハ1aの端面を挟み
込めるように側面にV字状の溝82が付けられている。 またもう一方の可動体71には、第2の可動指77,7
8が取り付けられ、第1可動指72と同様に、端板62
を貫通し、前方に延出した先端部には、V字溝の付いた
支持爪75,76が取り付けられている。また上記支持
爪74a,74b,75,76は、基部となる可動指7
2,77,78に対し、僅かながら隙間を持ち、自由に
正逆両方向に自転できる構造となっている。また第1及
び第2の可動指には、放熱と熱伝達とを少なくする目的
で、数箇所の穴が開けてある。さらに可動体70には、
ラック79がガイドシャフト66,67と平行移動する
ように取り付けられており、ラック79とかみ合うピニ
オン80が底板61に固定されたモータ81の出力軸に
取り付けられている。
This gripping device has a base body 65 consisting of a pair of end plates 62 and 63 provided at both ends of a bottom plate 61 and a cover 64, and a mechanical portion is provided inside the base body 65. A pair of guide shafts 66 on a pair of end plates 62 and 63
, 67 are attached, and these guide shafts 66, 6
A pair of movable bodies 70 and 71 are movably supported by ball bushes 68 and 69 at 7 . A first movable finger 72 is attached to the center of one of the movable bodies 70 and 71, in this embodiment, the movable body 70, and the movable finger 72 is made of a material to which solder does not adhere, such as titanium. The support claws 74a and 74b extend forward through one end plate 62 of the base body 65, and have support claws 74a and 74b at their tips for contacting the wafer end face and gripping the wafer 1a. . Like the movable fingers 72, the support claws 74a and 74b are made of a material to which solder does not adhere. Further, as shown in FIG. 8, the supporting claws have a V-shaped groove 82 on the side surface so as to be able to sandwich the end surface of the wafer 1a. Further, the other movable body 71 has second movable fingers 77, 7.
8 is attached, and similarly to the first movable finger 72, the end plate 62
Support claws 75 and 76 with V-shaped grooves are attached to the distal end portions extending forward. Furthermore, the support claws 74a, 74b, 75, and 76 are connected to the movable finger 7 that serves as the base.
2, 77, and 78, it has a structure that allows it to freely rotate in both forward and reverse directions with a slight gap. Further, the first and second movable fingers are provided with several holes for the purpose of reducing heat radiation and heat transfer. Furthermore, the movable body 70 has
A rack 79 is attached to move in parallel with the guide shafts 66 and 67, and a pinion 80 that meshes with the rack 79 is attached to the output shaft of a motor 81 fixed to the bottom plate 61.

【0036】次にこの把持装置の動作について説明する
。まずモータ81をあらかじめ設定された回転数だけ回
転させ、ピニオン80,ラック79から成る駆動機構を
介して、可動体70を第1可動指72が延びている方向
に前進させ、第1及び第2の可動指72及び77,78
に取り付けてあるウェーハ支持爪の間隔を広げる。この
ときの広さは、支持爪74a,74bと支持爪75,7
6の間にウェーハが十分余裕をもって入る広さにする。 この状態のとき可動体70と71どうしは接触しない距
離に設定してある。この状態で、例えばロボットアーム
の先端に本把持装置を取り付け、ロボットを動作させ、
所定の位置に置かれたウェーハが、支持爪74a,74
b,75,76の間にある位置にする。
Next, the operation of this gripping device will be explained. First, the motor 81 is rotated by a preset number of rotations, and the movable body 70 is advanced in the direction in which the first movable finger 72 extends via a drive mechanism consisting of the pinion 80 and the rack 79, and the first and second movable fingers 72 are moved forward. movable fingers 72, 77, 78
Widen the distance between the wafer support claws attached to the wafer. The width at this time is the support claws 74a, 74b and the support claws 75, 7.
Make sure that the space between 6 and 6 is large enough to accommodate the wafer with enough room. In this state, the distance between the movable bodies 70 and 71 is set so that they do not come into contact with each other. In this state, for example, attach the gripping device to the tip of the robot arm, operate the robot,
The wafer placed in a predetermined position is supported by the support claws 74a, 74.
Set it to a position between b, 75, and 76.

【0037】その後モータ81を、あらかじめ設定され
た回転数だけ逆回転させ、可動体70を後退させ、支持
爪74a,74bでウェーハ1aを引き寄せ、支持爪7
5,76との間にウェーハ1aを挟み込む。このとき図
8に示すように、ウェーハ1aは支持爪74a,74b
,75,76のV字状の溝82の間に挟まれるとともに
、支持爪が自在に回転するので、ウェーハ1aの中心が
ずれていていも、引き寄せている最中に一方の支持爪、
例えば支持爪75へ早く接触したとしても、ウェーハ1
aの外周に沿って支持爪75が回転し、ウェーハ1aを
支持爪74a,74b,75,76で挟むことができる
After that, the motor 81 is reversely rotated by a preset number of rotations, the movable body 70 is moved backward, and the wafer 1a is pulled by the support claws 74a and 74b.
The wafer 1a is sandwiched between the wafers 5 and 76. At this time, as shown in FIG. 8, the wafer 1a is
, 75, 76, and the supporting claws rotate freely, so even if the center of the wafer 1a is shifted, one of the supporting claws,
For example, even if the wafer 1 contacts the support claw 75 early,
The support claws 75 rotate along the outer periphery of a, and the wafer 1a can be held between the support claws 74a, 74b, 75, and 76.

【0038】上記の動作で把持されたウェーハ1aは、
図9に示すように、ロボットアーム83等の動作により
、半田槽84の中へ可動指72,77,78ごと浸され
るが、可動指及び支持爪は、半田となじみのないチタン
等の材質を使うことで、可動指上への半田の付着を防ぎ
、さらにはウェーハ1aを挟んでいる支持爪74a,7
4b,75,76に半田が残り、ウェーハ1aと支持爪
74a,74b,75,76がくっつくとか、支持爪部
分に半田が集まるようなこともない。
The wafer 1a gripped by the above operation is
As shown in FIG. 9, the movable fingers 72, 77, and 78 are immersed into the solder bath 84 by the operation of the robot arm 83, etc., but the movable fingers and support claws are made of a material such as titanium that is not compatible with solder. This prevents solder from adhering to the movable fingers, and also prevents the support claws 74a, 7 that sandwich the wafer 1a.
There is no possibility that the wafer 1a and the supporting claws 74a, 74b, 75, 76 will stick to each other, or that solder will remain on the supporting claws 4b, 75, 76, or that solder will not collect on the supporting claws.

【0039】上記第2実施例の把持装置においては、次
の効果が得られる。すなわち(a)ウェーハを把持する
際、一定回転数で可動指を動かすため、常に一定の把持
力となり、破損しやすいウェーハ等を把持するのに適し
ている。(b)支持爪が回転することにより、ウェーハ
を3点以上で支持ができ、把持中にウェーハの位置補正
も行なわれるので、把持するときの多少の位置ずれも許
容できる。(c)半田槽内へ挿入する部分を半田が付着
しない材質にすることで、ウェーハと支持爪との間に半
田液の残りが付着して固まることを防止でき、余分な半
田を使うこともなく、支持爪付近の素子も良品となる。 (d)半田槽内へ挿入する可動指を長くとることで、半
田の液面から駆動源を離すことができ、半田の熱から守
ることができる。(e)ウェーハの外周を把持するため
、製品となるべき素子を傷付けずに半田付けができ、歩
留まりの向上が図れる。(f)ウェーハの自動把持、解
放ができるので、ロボットなどと組み合わせて、キャリ
アからキャリアへの自動化が容易となり、人体へ及ぼし
ていた危険(火傷、有害ガス、作業環境など)を回避す
ることができ、安全性が向上する。
The gripping device of the second embodiment described above provides the following effects. That is, (a) when gripping a wafer, the movable fingers are moved at a constant rotational speed, so the gripping force is always constant, making it suitable for gripping easily damaged wafers and the like. (b) By rotating the support claws, the wafer can be supported at three or more points, and the position of the wafer is also corrected while being held, so that some positional deviations can be tolerated when being held. (c) By making the part that is inserted into the solder bath made of a material that does not allow solder to adhere, it is possible to prevent residual solder from adhering and hardening between the wafer and the support claw, and to avoid using excess solder. Therefore, the elements near the support claws were also good. (d) By making the movable fingers inserted into the solder tank long, the driving source can be kept away from the solder liquid level and can be protected from the heat of the solder. (e) Since the outer periphery of the wafer is gripped, soldering can be performed without damaging the elements to be manufactured, and the yield can be improved. (f) Wafers can be automatically gripped and released, making it easy to automate carrier-to-carrier operations in combination with robots, etc., and avoid dangers to the human body (burns, harmful gas, work environment, etc.) This improves safety.

【0040】第1及び第2実施例における第1可動指駆
動機構は、底板に固定されたモータ,その出力軸に取り
付けられたピニオン,ピニオンに歯合するラック,ラッ
クが取り付けられる可動体及び可動体を長手方向に移動
させるガイドシャフト等から構成され、モータの回転を
ラックとピニオンで可動体の直線運動に変換しているが
、これに限定されない。例えばモータの代わりにエア駆
動による回転運動の伝達でもよいし、リンク機構やベル
ト等の他の動力の伝達機構でもよい。またエアシリンダ
等により、直接可動体に直線運動させてもよい。
The first movable finger drive mechanism in the first and second embodiments includes a motor fixed to the bottom plate, a pinion attached to its output shaft, a rack meshing with the pinion, a movable body to which the rack is attached, and a movable body. It consists of a guide shaft that moves the body in the longitudinal direction, and the rotation of the motor is converted into linear motion of the movable body using a rack and pinion, but the movable body is not limited thereto. For example, instead of a motor, rotational motion may be transmitted by air drive, or other power transmission mechanisms such as a link mechanism or a belt may be used. Alternatively, the movable body may be directly moved linearly by an air cylinder or the like.

【0041】また上記第1、第2実施例では、第1可動
指を挟んで左、右に第2可動指を設けてあるが、これに
限定されない。例えば第2可動指を挟んで左右に第1可
動指を設けてもよい。すなわち中央の第2可動指を短く
し左右の第1可動指を長くして、左右の第1可動指でウ
ェーハを引き寄せる機構であってもよい。また中央の第
2可動指を長くして、左右の第1可動指を短くし、第1
可動指でウェーハ端面を押して第2可動指の爪にウェー
ハを当接するようにしてもよい。また一本の可動指先端
部に設けられる支持爪は、1つまたは複数個のいずれで
あってもよい。
Further, in the first and second embodiments, the second movable fingers are provided on the left and right sides of the first movable finger, but the present invention is not limited to this. For example, first movable fingers may be provided on either side of the second movable finger. That is, a mechanism may be used in which the second movable finger at the center is shortened and the first movable fingers on the left and right sides are lengthened, and the wafer is pulled together by the first movable fingers on the left and right sides. In addition, the second movable finger in the center is lengthened, the left and right first movable fingers are shortened, and the second movable finger in the center is shortened.
The wafer may be brought into contact with the claw of the second movable finger by pushing the end surface of the wafer with the movable finger. Furthermore, the number of support claws provided on the tip of one movable finger may be one or more.

【0042】[0042]

【発明の効果】これまで詳述したように、本発明により
、アーム先端部などに設けられるウェーハ把持装置にお
いて、ウェーハを把持するとき、または把持中に、位置
精度よく確実にウェーハを把持することができるととも
に把持指に外力が加わった場合でもウェーハを破損する
ことがないウェーハ把持装置を提供することができ、ま
た本発明により、ウェーハの両面半田付けにおける前記
従来の問題点を解決し、工程の自動化を可能とするウェ
ーハの把持装置を提供することができた。
[Effects of the Invention] As described above in detail, the present invention enables a wafer gripping device provided at the tip of an arm to reliably grip a wafer with high positional accuracy when or during gripping of a wafer. It is possible to provide a wafer gripping device that can hold a wafer without damaging the wafer even when an external force is applied to the gripping fingers, and also solves the conventional problems in double-sided soldering of a wafer and improves the process. We were able to provide a wafer gripping device that enables automation.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明のウェーハ把持装置の第1実施例の構成
を模式的に示す一部破砕平面図である。
FIG. 1 is a partially exploded plan view schematically showing the configuration of a first embodiment of a wafer gripping device of the present invention.

【図2】図1に示すウェーハ把持装置の部分断面図であ
る。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view of the wafer gripping device shown in FIG. 1;

【図3】図1に示すウェーハ把持装置の第2可動指に取
り付けられた支持爪の断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of a support claw attached to a second movable finger of the wafer gripping device shown in FIG. 1;

【図4】図1に示すウェーハの把持装置の第2可動指と
その支持爪の斜視図である。
4 is a perspective view of a second movable finger and its supporting claw of the wafer gripping device shown in FIG. 1; FIG.

【図5】可動指に支持爪が固定して取り付けられた状態
を示す断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing a state in which a support claw is fixedly attached to a movable finger.

【図6】本発明のウェーハ把持装置の第2実施例の構成
を模式的に示す一部破砕平面図である。
FIG. 6 is a partially exploded plan view schematically showing the configuration of a second embodiment of the wafer gripping device of the present invention.

【図7】図6に示すウェーハ把持装置の断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view of the wafer gripping device shown in FIG. 6;

【図8】図6に示すウェーハ把持装置の支持爪の正面図
である。
8 is a front view of a support claw of the wafer gripping device shown in FIG. 6. FIG.

【図9】本発明の第2実施例のウェーハ把持装置をロボ
ットのアーム先端部に取り付け、ウェーハの両面半田付
けを行なう斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view of a wafer gripping device according to a second embodiment of the present invention attached to the tip of a robot arm to perform double-sided soldering of a wafer.

【図10】ウェーハ把持装置の第1の従来例を示す斜視
図である。
FIG. 10 is a perspective view showing a first conventional example of a wafer gripping device.

【図11】図10のウェーハ把持装置の問題点を説明す
るための該装置の部分断面図である。
FIG. 11 is a partial cross-sectional view of the wafer gripping device shown in FIG. 10 for explaining a problem with the device.

【図12】ウェーハ把持装置の第2の従来例の構成を示
す平面図である。
FIG. 12 is a plan view showing the configuration of a second conventional example of a wafer gripping device.

【図13】従来のウェーハの両面半田付け作業を説明す
る図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a conventional double-sided wafer soldering operation.

【図14】図1に示すウェーハ把持装置の基体内部の機
構部分の一部破砕拡大平面図である。
14 is a partially exploded enlarged plan view of a mechanical part inside the base of the wafer gripping device shown in FIG. 1; FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1a  ウェーハ 25,65  基体 26,27,66,67  ガイドシャフト30,31
,70,71  可動体 32,72  第1可動指 34,74  支持爪 35,36,75,76  支持爪
1, 1a Wafer 25, 65 Base body 26, 27, 66, 67 Guide shaft 30, 31
, 70, 71 Movable body 32, 72 First movable finger 34, 74 Support claw 35, 36, 75, 76 Support claw

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】アームの先端部に設けられるウェーハ把持
装置において、(a)長手方向に移動できる第一の可動
指と,(b)第1可動指の先端部に回動自在に取り付け
られ、ウェーハ端面に当接してウェーハを支持する支持
爪と、(c)第1可動指と並列に設けられる第2可動指
と、(d)第2可動指の先端部に回動自在に取り付けら
れ、ウェーハ端面に当接してウェーハを支持する支持爪
と、(e)第1可動指の支持爪でウェーハ端面を押して
第2可動指の支持爪にウェーハ端面を当接し、第1及び
第2の可動指の前記支持爪でウェーハを挟持する第1可
動指駆動機構とを具備することを特徴とするウェーハ把
持装置。
1. A wafer gripping device provided at the tip of the arm, including (a) a first movable finger that is movable in the longitudinal direction; (b) rotatably attached to the tip of the first movable finger; (c) a second movable finger provided in parallel with the first movable finger; (d) rotatably attached to the tip of the second movable finger; (e) a support claw that supports the wafer by contacting the wafer end surface; A wafer gripping device comprising: a first movable finger drive mechanism that grips a wafer with the supporting claws of the fingers.
JP3145352A 1991-05-21 1991-05-21 Wafer grasping device Pending JPH04343448A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3145352A JPH04343448A (en) 1991-05-21 1991-05-21 Wafer grasping device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3145352A JPH04343448A (en) 1991-05-21 1991-05-21 Wafer grasping device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04343448A true JPH04343448A (en) 1992-11-30

Family

ID=15383210

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3145352A Pending JPH04343448A (en) 1991-05-21 1991-05-21 Wafer grasping device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04343448A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11116046A (en) * 1997-10-20 1999-04-27 Mecs Corp Robot hand for wafer carrying robot
US6618645B2 (en) 1998-12-02 2003-09-09 Newport Corporation Method of using a specimen sensing end effector to determine angular orientation of a specimen
JP2010186850A (en) * 2009-02-12 2010-08-26 Yaskawa Electric Corp Substrate holding hand, substrate holding mechanism, substrate transport device including the same, and manufacturing device
CN102310410A (en) * 2010-07-02 2012-01-11 芝浦机械电子株式会社 Gripping device, transfer device, processing device, and manufacturing method for electronic device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11116046A (en) * 1997-10-20 1999-04-27 Mecs Corp Robot hand for wafer carrying robot
US6618645B2 (en) 1998-12-02 2003-09-09 Newport Corporation Method of using a specimen sensing end effector to determine angular orientation of a specimen
US6898487B2 (en) 1998-12-02 2005-05-24 Newport Corporation Specimen sensing and edge gripping end effector
JP2010186850A (en) * 2009-02-12 2010-08-26 Yaskawa Electric Corp Substrate holding hand, substrate holding mechanism, substrate transport device including the same, and manufacturing device
CN102310410A (en) * 2010-07-02 2012-01-11 芝浦机械电子株式会社 Gripping device, transfer device, processing device, and manufacturing method for electronic device
KR101284483B1 (en) * 2010-07-02 2013-07-16 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 Gripping device, transfer device, processing device, and manufacturing method for electronic device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9882333B2 (en) Gripping and assembling device for flexible object
JPS61216388A (en) Knob array method and apparatus for handing electric part
WO2010004636A1 (en) Robot and its teaching method
JP2018125388A (en) Substrate holding hand and substrate transfer device
JP4984259B2 (en) Sample holding mechanism
WO2017203945A1 (en) Workpiece gripping device and workpiece gripping method
TWI566323B (en) Wafer conveying method and device
CN113165169A (en) Substrate transfer robot and substrate transfer method
WO2016166952A1 (en) Substrate conveying robot and end effector for same
TW201221487A (en) Substrate breaking apparatus
JP5612849B2 (en) Edge grip device, transfer robot including the same, and wafer release method for semiconductor process
JP7343306B2 (en) Transfer robot
JPH04343448A (en) Wafer grasping device
TWI722464B (en) Substrate conveying device and its operating method
JP2002184853A (en) Apparatus for grasping wafer
CN113056815A (en) Manipulator and robot with same
JP5827046B2 (en) Plate member support device and support method, and plate member transport device
JP2016209992A (en) Robot device, robot controlling method, program, and record medium
JP2018058154A (en) Cutting device and mounting method of cutting means
JPH0318435Y2 (en)
JP5428370B2 (en) Substrate gripping hand, substrate gripping mechanism, and substrate transport apparatus and manufacturing apparatus having the same
JP7167924B2 (en) ROBOT HAND, ROBOT DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE MANUFACTURING METHOD
JP2716046B2 (en) Robot hand
JP7195492B2 (en) Cable attachment device and robot
JPH07116973A (en) Press brake robot device