JPH04340362A - 素子故障検出装置 - Google Patents
素子故障検出装置Info
- Publication number
- JPH04340362A JPH04340362A JP11144891A JP11144891A JPH04340362A JP H04340362 A JPH04340362 A JP H04340362A JP 11144891 A JP11144891 A JP 11144891A JP 11144891 A JP11144891 A JP 11144891A JP H04340362 A JPH04340362 A JP H04340362A
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- semiconductor devices
- semiconductor
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 74
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】［発明の目的］
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子を用いた変
換装置における半導体素子の故障を検出する素子故障検
出装置に関するものである。
換装置における半導体素子の故障を検出する素子故障検
出装置に関するものである。
【０００３】
【従来の技術】半導体装置を用いた変換装置が故障した
場合、従来は半導体素子をダイオードチェッカなどの検
査器具を用いて個別に検査する方法が多く用いられてい
る。
場合、従来は半導体素子をダイオードチェッカなどの検
査器具を用いて個別に検査する方法が多く用いられてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】半導体素子をダイオー
ドチェッカなどの検査器具を用いて、個別に検査する場
合は、検査器具が必要となるばかりでなく、個別に人間
の手で検査するため故障判別までに時間がかかる。また
、半導体素子に低圧の電圧をかけて試験すれば問題は生
じないが、変換装置の定格電圧を印加して試験すれば短
絡を招くという事故を発生することがあり、さらに変換
装置に半導体素子を組込んだ状態で試験すると、半導体
素子の周辺回路の影響を受け、誤判定を生ずるという可
能性もある。
ドチェッカなどの検査器具を用いて、個別に検査する場
合は、検査器具が必要となるばかりでなく、個別に人間
の手で検査するため故障判別までに時間がかかる。また
、半導体素子に低圧の電圧をかけて試験すれば問題は生
じないが、変換装置の定格電圧を印加して試験すれば短
絡を招くという事故を発生することがあり、さらに変換
装置に半導体素子を組込んだ状態で試験すると、半導体
素子の周辺回路の影響を受け、誤判定を生ずるという可
能性もある。
【０００５】本発明は、半導体素子を変換装置に組込ん
だままで、自動的に半導体素子の故障を判別できる素子
故障検出装置を提供することを目的としている。 ［発明の構成］
だままで、自動的に半導体素子の故障を判別できる素子
故障検出装置を提供することを目的としている。 ［発明の構成］
【０００６】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、直流
リアクトルを有する半導体変換装置の各半導体素子の故
障を検出する素子検出装置において、交流入力の各相の
過電流を検出するそれぞれの過電流検出回路と、各半導
体素子に上記直流リアクトルを介して順次交流電圧を印
加するためのゲート信号をゲートパルス発生回路を介し
て送ると共に、これに対応する各相の過電流検出回路の
出力から該当する半導体素子の故障を判別する素子故障
判別回路を備え、これによってダイオードチェッカなど
の検査器具を用いることなく、半導体素子を変換装置に
組込んだままで半導体素子の故障を自動的に検出できる
ようにしたものである。
リアクトルを有する半導体変換装置の各半導体素子の故
障を検出する素子検出装置において、交流入力の各相の
過電流を検出するそれぞれの過電流検出回路と、各半導
体素子に上記直流リアクトルを介して順次交流電圧を印
加するためのゲート信号をゲートパルス発生回路を介し
て送ると共に、これに対応する各相の過電流検出回路の
出力から該当する半導体素子の故障を判別する素子故障
判別回路を備え、これによってダイオードチェッカなど
の検査器具を用いることなく、半導体素子を変換装置に
組込んだままで半導体素子の故障を自動的に検出できる
ようにしたものである。
【０００７】
【実施例】本発明の一実施例を図１に示す。図１におい
て、１は交流電源、５〜１０は整流器部を構成する半導
体素子、１１〜１６は逆変換器部を構成する半導体素子
であり、直流リアクトル１７が整流器と逆変換器の間に
接続されている。変流器２，３，４はそれぞれ過電流検
出器１９，２０，２１と組合されて整流器入力部のＲ相
，Ｓ相，Ｔ相の過電流を検出する。２２は素子故障判別
回路、２３は各半導体素子にゲートパルスを送るゲート
パルス発生回路、１８は交流電動機である。
て、１は交流電源、５〜１０は整流器部を構成する半導
体素子、１１〜１６は逆変換器部を構成する半導体素子
であり、直流リアクトル１７が整流器と逆変換器の間に
接続されている。変流器２，３，４はそれぞれ過電流検
出器１９，２０，２１と組合されて整流器入力部のＲ相
，Ｓ相，Ｔ相の過電流を検出する。２２は素子故障判別
回路、２３は各半導体素子にゲートパルスを送るゲート
パルス発生回路、１８は交流電動機である。
【０００８】先ず、整流器部を構成する半導体素子５〜
１０の故障判別方法について説明する。素子故障判別回
路２２はゲートパルス発生回路２３を介して半導体素子
５，１１，１４に同時にゲートパルスを与える。これに
よって半導体素子９，１０には定格電圧が印加され、も
し半導体素子９が短絡故障していると、半導体素子５、
直流リアクトル１７、半導体素子１１、半導体素子１４
、半導体素子９の短絡が構成され、変流器２および３を
介して過電流検出回路１９および２０が過電流を検出す
る。
１０の故障判別方法について説明する。素子故障判別回
路２２はゲートパルス発生回路２３を介して半導体素子
５，１１，１４に同時にゲートパルスを与える。これに
よって半導体素子９，１０には定格電圧が印加され、も
し半導体素子９が短絡故障していると、半導体素子５、
直流リアクトル１７、半導体素子１１、半導体素子１４
、半導体素子９の短絡が構成され、変流器２および３を
介して過電流検出回路１９および２０が過電流を検出す
る。
【０００９】また半導体素子１０が短絡故障していたと
きは、半導体素子５、直流リアクトル１７、半導体素子
１１、半導体素子１４、半導体素子１０の短絡が構成さ
れ、変流器２および４を介して、過電流検出回路１９お
よび２１が過電流を検出する。
きは、半導体素子５、直流リアクトル１７、半導体素子
１１、半導体素子１４、半導体素子１０の短絡が構成さ
れ、変流器２および４を介して、過電流検出回路１９お
よび２１が過電流を検出する。
【００１０】上記の手順を、半導体素子５〜１０につい
て順次繰り返し、過電流検出回路１９，２０，２１の出
力をチェックすることによって半導体素子５〜１０の短
絡故障を検出することができる。なお、逆変換部でゲー
トパルスを与える半導体素子は、半導体素子１１，１４
、半導体素子１２，１５あるいは半導体素子１３，１６
のいずれの組合せでもよい。
て順次繰り返し、過電流検出回路１９，２０，２１の出
力をチェックすることによって半導体素子５〜１０の短
絡故障を検出することができる。なお、逆変換部でゲー
トパルスを与える半導体素子は、半導体素子１１，１４
、半導体素子１２，１５あるいは半導体素子１３，１６
のいずれの組合せでもよい。
【００１１】次に逆変換器部を構成する半導体素子１１
〜１６の故障判別方法について説明する。この場合は先
ず半導体素子１４の短絡故障を判別するために、素子故
障判別回路２２からゲートパルス発生回路２３を介して
半導体素子５，９，１１に同時にゲートパルスを与える
。これによって半導体素子１４に定格電圧が印加され、
もし半導体素子１４が短絡故障していると、判導体素子
５，直流リアクトル１７、半導体素子１１、半導体素子
１４、半導体素子９の短回路が構成され、変流器２，３
を介して過電流検出回路１９，２０が過電流を検出する
。なお、半導体素子１５または１６が短絡故障している
ときも電流を流す閉ループ回路は構成されるが、この場
合には閉ループ回路に交流電動機１６のコイルが直列に
挿入されるので、電流値は小さくなり、過電流とは明確
に区別できる。
〜１６の故障判別方法について説明する。この場合は先
ず半導体素子１４の短絡故障を判別するために、素子故
障判別回路２２からゲートパルス発生回路２３を介して
半導体素子５，９，１１に同時にゲートパルスを与える
。これによって半導体素子１４に定格電圧が印加され、
もし半導体素子１４が短絡故障していると、判導体素子
５，直流リアクトル１７、半導体素子１１、半導体素子
１４、半導体素子９の短回路が構成され、変流器２，３
を介して過電流検出回路１９，２０が過電流を検出する
。なお、半導体素子１５または１６が短絡故障している
ときも電流を流す閉ループ回路は構成されるが、この場
合には閉ループ回路に交流電動機１６のコイルが直列に
挿入されるので、電流値は小さくなり、過電流とは明確
に区別できる。
【００１２】上記の手順を半導体素子１１〜１６につい
て順次繰り返し、過電流検出回路１９，２０，２１の出
力をチェックすることによって半導体素子１１〜１６の
短絡故障を検出することができる。なお、この場合の整
流器部でゲートパルスを与える半導体素子は、逆変換器
部に電圧を印加できる２つの半導体素子の組合せであれ
ば、どれでもよく過電流を検出する交流器と過電流検出
回路が変わるだけである。
て順次繰り返し、過電流検出回路１９，２０，２１の出
力をチェックすることによって半導体素子１１〜１６の
短絡故障を検出することができる。なお、この場合の整
流器部でゲートパルスを与える半導体素子は、逆変換器
部に電圧を印加できる２つの半導体素子の組合せであれ
ば、どれでもよく過電流を検出する交流器と過電流検出
回路が変わるだけである。
【００１３】なお、本発明では半導体素子の短絡故障の
判別のために故意に短絡電流を流しているが、短絡電流
を流す回路には直流リアクトルが含まれているので半導
体素子にダメージを与えるような大きな短絡電流にはな
らない。
判別のために故意に短絡電流を流しているが、短絡電流
を流す回路には直流リアクトルが含まれているので半導
体素子にダメージを与えるような大きな短絡電流にはな
らない。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、半
導体素子を用いた変換装置において、半導体素子を変換
装置に組込んだまま、各半導体素子の短絡故障を判別す
ることができる。また、変換装置の定格電圧を印加して
検査するので中途半ぱな短絡故障状態の半導体素子につ
いても、明確に短絡故障していることを判定できる。な
お、本発明では、半導体素子が短絡故障している場合の
み故障を判別できるが、変換装置に使用されている半導
体素子の故障のほとんどが短絡故障であることを考えれ
ば、本発明は素子故障検出に対して極めて実用的である
。
導体素子を用いた変換装置において、半導体素子を変換
装置に組込んだまま、各半導体素子の短絡故障を判別す
ることができる。また、変換装置の定格電圧を印加して
検査するので中途半ぱな短絡故障状態の半導体素子につ
いても、明確に短絡故障していることを判定できる。な
お、本発明では、半導体素子が短絡故障している場合の
み故障を判別できるが、変換装置に使用されている半導
体素子の故障のほとんどが短絡故障であることを考えれ
ば、本発明は素子故障検出に対して極めて実用的である
。
【図１】本発明の一実施例を示す構成図。
１…交流電源、２〜４…変流器、５〜１６…サイリスタ
素子、１７…直流リアクトル、１８…交流電動機、１９
〜２１…過電流検出回路、２２…素子故障判別回路、２
３…ゲートパルス発生回路。
素子、１７…直流リアクトル、１８…交流電動機、１９
〜２１…過電流検出回路、２２…素子故障判別回路、２
３…ゲートパルス発生回路。
Claims (1)
- 【請求項１】 直流リアクトルを有する半導体変換装
置の各半導体素子の故障を検出する素子故障検出装置に
おいて、交流入力の各相の過電流を検出するそれぞれの
過電流検出回路と、各半導体素子に上記直流リアクトル
を介して順次交流電圧を印加するゲート信号をゲートパ
ルス発生回路を介して送ると共に、これに対応する各相
の過電流検出回路の出力から該当する半導体素子の故障
を判別する素子故障判別回路を備えたことを特徴とする
素子故障検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11144891A JPH04340362A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 素子故障検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11144891A JPH04340362A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 素子故障検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04340362A true JPH04340362A (ja) | 1992-11-26 |
Family
ID=14561465
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11144891A Pending JPH04340362A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 素子故障検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04340362A (ja) |
-
1991
- 1991-05-16 JP JP11144891A patent/JPH04340362A/ja active Pending
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