JPH04335148A - Auger electron spectroscope - Google Patents

Auger electron spectroscope

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JPH04335148A
JPH04335148A JP3105342A JP10534291A JPH04335148A JP H04335148 A JPH04335148 A JP H04335148A JP 3105342 A JP3105342 A JP 3105342A JP 10534291 A JP10534291 A JP 10534291A JP H04335148 A JPH04335148 A JP H04335148A
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JP
Japan
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signal
output
circuit system
counting circuit
energy spectrum
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Withdrawn
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JP3105342A
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Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Watanabe
正 渡辺
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Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enable a stage difference between a pulse mode and an analog current mode to be eliminated. CONSTITUTION:A control circuit 12 takes in both an output of a counter circuit 61 in pulse mode and a counter circuit 62 in analog current mode. The control circuit 12 monitors an output flag of a comparison circuit 10 and then enables an output of the counter circuit 61 when the output flag is F1 and an output of the counter circuit 62 when the output flag is F2. Then, a specified processing is performed to a spectrum which is obtained from these two counter circuits 61 and 62, thus enabling a continuous spectrum without any stage difference to be created. Also, the control circuit 12 controls a high voltage which is applied to an electron multiplier 1 for preventing damage when the output flag of the comparison circuit 10 is F3.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、オージェ電子分光装置
に係り、特にオージェ電子のエネルギースペクトル(以
下、単にスペクトルと称す)を得るための信号処理回路
系の構成に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an Auger electron spectrometer, and more particularly to the configuration of a signal processing circuit system for obtaining an energy spectrum of Auger electrons (hereinafter simply referred to as spectrum).

【0002】0002

【従来の技術】図4は従来のオージェ電子分光装置の信
号処理回路の構成例を示す図であり、図示しない試料か
ら放出されたオージェ電子は、チャンネルトロンまたは
マルチチャンネルプレート等で構成される検出器として
の電子増倍器1で検出され、増幅される。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a diagram showing an example of the configuration of a signal processing circuit of a conventional Auger electron spectrometer. Auger electrons emitted from a sample (not shown) are detected by a channeltron or multichannel plate, etc. It is detected and amplified by an electron multiplier 1 as a device.

【0003】電子増倍器1の出力は、単位時間当りのオ
ージェ電子の数が少ない場合にはパルス状となるので、
この場合には、スイッチ7を図の実線のように接続して
、パルスアンプ2を介して計数回路6でパルスを計数す
ることによりオージェ電子の強度を得ることができる。 また、電子増倍器1の出力は試料に照射するプローブ電
流の増加に伴って増加し、連続したアナログ電流として
検出可能となるので、このような状態においては、スイ
ッチ7を図4の破線の状態に接続し、リニアアンプ3で
電流増幅した後に電流/電圧変換器(以下、A/V変換
器と称す)4で電流を電圧に変換し、更に電圧/周波数
変換器(以下、V/F変換器と称す)5で電圧を周波数
に変換して、計数回路6で計数することによりオージェ
電子の強度を得ることができる。なお、以下においては
前者のパルスアンプ2からなる回路系によりオージェ電
子強度を得るモードをパルスモードと称し、後者のリニ
アアンプ3、A/V変換器4及びV/F変換器5からな
る回路系を用いてオージェ電子強度を得るモードをアナ
ログ電流モードと称す。
The output of the electron multiplier 1 becomes pulse-like when the number of Auger electrons per unit time is small.
In this case, the intensity of Auger electrons can be obtained by connecting the switch 7 as shown by the solid line in the figure and counting the pulses by the counting circuit 6 via the pulse amplifier 2. Furthermore, the output of the electron multiplier 1 increases as the probe current applied to the sample increases, and can be detected as a continuous analog current. After the current is amplified by a linear amplifier 3, the current is converted to voltage by a current/voltage converter (hereinafter referred to as an A/V converter) 4, and then the current is converted to a voltage by a voltage/frequency converter (hereinafter referred to as a V/F converter). The intensity of the Auger electrons can be obtained by converting the voltage into a frequency using a converter (referred to as a converter) 5 and counting the frequency using a counting circuit 6. Note that in the following, the former mode in which Auger electron intensity is obtained by a circuit system consisting of a pulse amplifier 2 will be referred to as a pulse mode, and the latter circuit system consisting of a linear amplifier 3, an A/V converter 4, and a V/F converter 5 will be referred to as a pulse mode. The mode in which the Auger electron intensity is obtained using is called the analog current mode.

【0004】スイッチ7の切り換え、即ちオージェ電子
強度をパルスモードで得るか、アナログ電流モードで得
るかという選択は、試料に照射するプローブ電流または
加速電圧に応じて何れのモードを採用するかを設定して
おいて、パルスモードでの計数値が所定の値以上になっ
た場合にはアナログ電流モードに切り換え、またはアナ
ログ電流モードでの計数値が所定の値以下になった場合
にはパルスモードに切り換えるようにするのが一般的で
ある。
[0004] Switching the switch 7, ie, selecting whether to obtain Auger electron intensity in pulse mode or analog current mode, sets which mode is adopted depending on the probe current or accelerating voltage applied to the sample. If the count value in pulse mode exceeds a predetermined value, switch to analog current mode, or switch to pulse mode if the count value in analog current mode falls below a predetermined value. It is common to switch between them.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、図4に示す
構成においては、スペクトルのダイナミックレンジが広
い場合には、パルスモードとアナログ電流モードとを使
用して一つのスペクトルを得ることになるが、その際、
パルスモードからアナログ電流モードへの切り換え位置
、及びその逆の切り換え位置において二つのモードで得
たスペクトルに段差を生じるという問題があった。その
様子を図5A,Bに示す。図5A,Bにおいてエネルギ
ーの「A」で示す領域はパルスモードで得たスペクトル
を示し、「B」で示す領域はアナログ電流モードで得た
スペクトルを示し、図5Aはパルスモードで得たスペク
トルの方がアナログ電流モードで得たスペクトルより高
い強度を示す場合の例であり、図5Bはその逆の場合の
例である。本発明は、上記の課題を解決するものであっ
て、パルスモードで得たスペクトルとアナログ電流モー
ドで得たスペクトルとを段差を生じることなく連続に接
続できるオージェ電子分光装置を提供することを目的と
するものである。
By the way, in the configuration shown in FIG. 4, if the dynamic range of the spectrum is wide, one spectrum is obtained using the pulse mode and the analog current mode. that time,
There has been a problem in that a step difference occurs in the spectra obtained in the two modes at the switching position from the pulse mode to the analog current mode and vice versa. The situation is shown in FIGS. 5A and 5B. In FIGS. 5A and 5B, the energy region indicated by "A" indicates the spectrum obtained in pulse mode, the region indicated by "B" indicates the spectrum obtained in analog current mode, and FIG. 5A shows the spectrum obtained in pulse mode. FIG. 5B shows an example where the intensity is higher than the spectrum obtained in the analog current mode, and FIG. 5B is an example of the opposite case. The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide an Auger electron spectrometer that can continuously connect a spectrum obtained in pulse mode and a spectrum obtained in analog current mode without creating a step. That is.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のオージェ電子分光装置は、パルス計数に
よりオージェ電子のエネルギースペクトルを求める第1
の計数回路系と、検出電流値を周波数に変換し、該変換
された周波数を計数することによりオージェ電子のエネ
ルギースペクトルを求める第2の計数回路系と、前記第
2の計数回路系の所定の位置の電圧、電流、周波数また
は計数値が予め定められた閾値未満であるときには第1
の信号を、それ以外であるときには第2の信号を出力す
る比較手段と、前記比較手段の出力が前記第1の信号の
ときには前記第1の計数回路系で得られたエネルギース
ペクトルを、前記第2の信号のときには前記第2の計数
回路系で得られたエネルギースペクトルを有効とする制
御手段とを備えることを特徴とし、更に制御手段は、前
記第1の計数回路系で得られたエネルギースペクトルと
、前記第2の計数回路系で得られたエネルギースペクト
ルとを前記閾値の値において連続に接続する演算を行う
ことを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the Auger electron spectrometer of the present invention provides a first method for determining the energy spectrum of Auger electrons by pulse counting.
a second counting circuit system that converts the detected current value into a frequency and calculates the energy spectrum of Auger electrons by counting the converted frequency; When the voltage, current, frequency or count value at the position is less than a predetermined threshold, the first
comparing means for outputting a second signal when the output of the comparing means is the first signal; and comparing the energy spectrum obtained by the first counting circuit system when the output of the comparing means is the first signal. 2, the control means makes effective the energy spectrum obtained by the second counting circuit system, and the control means further controls the energy spectrum obtained by the first counting circuit system. and the energy spectrum obtained by the second counting circuit system at the threshold value.

【0007】また、本発明のオージェ電子分光装置は、
電子増倍手段と、前記電子増倍手段の出力をパルス計数
することによりオージェ電子のエネルギースペクトルを
求める第1の計数回路系と、前記電子増倍手段の出力電
流値を周波数に変換し、該変換された周波数を計数する
ことによりオージェ電子のエネルギースペクトルを求め
る第2の計数回路系と、前記第2の計数回路系の所定の
位置の電圧、電流、周波数または計数値が予め定められ
た第1の閾値未満であるときには第1の信号を、前記第
1の閾値以上で且つ第2の閾値未満の値であるときには
第2の信号を、前記第2の閾値以上であるときには第3
の信号を出力する比較手段と、前記比較手段の出力が前
記第1の信号のときには前記第1の計数回路系で得られ
たエネルギースペクトルを、前記第2の信号のときには
前記第2の計数回路系で得られたエネルギースペクトル
をそれぞれ有効とし、更に前記第3の信号のときには前
記電子増倍手段に印加する高電圧を制御する制御手段と
を備えることを特徴とする。
[0007] Furthermore, the Auger electron spectrometer of the present invention includes:
an electron multiplier; a first counting circuit system that obtains the energy spectrum of Auger electrons by pulse counting the output of the electron multiplier; and a first counting circuit system that converts the output current value of the electron multiplier into a frequency; a second counting circuit system that calculates the energy spectrum of Auger electrons by counting the converted frequencies; When the value is less than the first threshold value, the first signal is transmitted; when the value is equal to or more than the first threshold value and less than the second threshold value, the second signal is transmitted; and when the value is equal to or more than the second threshold value, the third signal is transmitted.
comparing means for outputting a signal; and comparing means for outputting an energy spectrum obtained by the first counting circuit system when the output of the comparing means is the first signal, and outputting the energy spectrum obtained from the first counting circuit system when the output of the comparing means is the second signal; It is characterized by comprising a control means for validating each of the energy spectra obtained by the system, and further for controlling a high voltage applied to the electron multiplier when the third signal is present.

【0008】[0008]

【作用】制御回路12は計数回路61,62 の出力を
共に取り込む。このとき制御回路12は比較回路10の
出力フラグを監視し、フラグの内容に応じて計数回路6
1 または計数回路62 の出力を有効とし、これら二
つの計数回路61,62 から得られるスペクトルを段
差なく連続的に接続する処理を行う。また、制御回路1
2は比較回路10の出力フラグが所定の値の場合には、
電子増倍器1に印加する高電圧を制御して破損を防止す
る。
[Operation] The control circuit 12 takes in both the outputs of the counting circuits 61 and 62. At this time, the control circuit 12 monitors the output flag of the comparator circuit 10, and depending on the content of the flag, the control circuit 12
1 or the output of the counting circuit 62 is enabled, and processing is performed to connect the spectra obtained from these two counting circuits 61 and 62 continuously without any step difference. In addition, the control circuit 1
2 is when the output flag of the comparison circuit 10 is a predetermined value,
The high voltage applied to the electron multiplier 1 is controlled to prevent damage.

【0009】[0009]

【実施例】以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。 図1は本発明に係るオージェ電子分光装置の一実施例の
構成であり、図中、10は比較回路、11はD/A変換
器、12は制御回路、13は高電圧回路、14はリレー
を示す。なお、図4と同じものについては同一の符号を
付す。
Embodiments Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of an Auger electron spectrometer according to the present invention, in which 10 is a comparison circuit, 11 is a D/A converter, 12 is a control circuit, 13 is a high voltage circuit, and 14 is a relay. shows. Note that the same parts as in FIG. 4 are given the same reference numerals.

【0010】制御回路12はマイクロプロセッサで構成
され、計数回路61,62 から出力される計数値を取
り込んで後述する処理を行い、連続したスペクトルを生
成するものである。また、制御回路12は互いに異なる
値を有する二つのデジタル閾値TH1,TH2 を発生
する。これらのデジタル閾値はD/A変換器11により
アナログ信号に変換されて比較回路10に与えられる。 これらの閾値については後述するところから明らかとな
るが、閾値TH1 はパルスモードを採用する領域とア
ナログ信号モードを採用する領域とを切り換える計数値
に対応する電圧値であり、また閾値TH2(>TH1)
は高電圧回路13を制御する必要のある領域の計数値に
対応する電圧値である。 比較回路10はA/V変換器4の出力を閾値TH1,T
H2 と比較して、A/V変換器4の出力が、閾値TH
1 未満である場合にはフラグF1を出力し、TH1 
以上で且つTH2 未満である場合にはフラグF2を出
力し、TH2以上である場合にはフラグF3を出力する
。そして制御回路12は、比較回路10の出力フラグが
F1である場合にはパルスモードを採用して計数回路6
1 の出力を有効とし、F2である場合にはアナログ電
流モードを採用して計数回路62 の出力を有効とし、
F3である場合には電子増倍器1が破壊される危険があ
る領域であるとしてリレー14を開状態とする。
The control circuit 12 is composed of a microprocessor, and takes in the count values output from the counting circuits 61 and 62 and performs processing to be described later to generate a continuous spectrum. Furthermore, the control circuit 12 generates two digital thresholds TH1 and TH2 having different values. These digital threshold values are converted into analog signals by the D/A converter 11 and provided to the comparison circuit 10. These thresholds will become clear from what will be described later, but the threshold TH1 is a voltage value corresponding to the count value that switches between the region where the pulse mode is adopted and the region where the analog signal mode is adopted, and the threshold TH2 (>TH1 )
is a voltage value corresponding to a count value in a region where the high voltage circuit 13 needs to be controlled. A comparison circuit 10 sets the output of the A/V converter 4 to threshold values TH1 and T.
H2, the output of the A/V converter 4 is equal to the threshold TH
If it is less than 1, the flag F1 is output and TH1
If the value is above TH2 and less than TH2, flag F2 is output, and if it is TH2 or more, flag F3 is output. When the output flag of the comparator circuit 10 is F1, the control circuit 12 adopts the pulse mode and controls the counting circuit 6
1 is enabled, and if it is F2, the analog current mode is adopted and the output of the counting circuit 62 is enabled,
If it is F3, the relay 14 is opened because the area is at risk of destroying the electron multiplier 1.

【0011】次に図1に示す構成の動作を説明するが、
ここでは理解を容易にするために、同一の試料を用い、
電子増倍器1に印加する高電圧を一定に保った状態で試
料に照射する電流、即ちプローブ電流を増加したときの
オージェ電子の計数値を測定する場合を取り上げること
にする。試料から放出されたオージェ電子は電子増倍器
1で電気信号に変換され、増幅されてパルスアンプ2及
びリニアアンプ3に入力される。パルスアンプ2で増幅
された信号は計数回路61 に入力される。計数回路6
1 は入力されたパルスを計数して計数値を制御回路1
2に出力する。またリニアアンプ3で増幅された信号は
A/V変換器4で電圧に変換され、更にV/F変換器5
で周波数に変換されて計数回路62 に入力される。計
数回路62 は入力された信号を計数し、計数値を制御
回路12に出力する。
Next, the operation of the configuration shown in FIG. 1 will be explained.
Here, for ease of understanding, we use the same sample.
Let us consider a case where the count value of Auger electrons is measured when the current applied to the sample, that is, the probe current, is increased while the high voltage applied to the electron multiplier 1 is kept constant. Auger electrons emitted from the sample are converted into electrical signals by an electron multiplier 1, amplified, and input to a pulse amplifier 2 and a linear amplifier 3. The signal amplified by the pulse amplifier 2 is input to the counting circuit 61. Counting circuit 6
1 is the control circuit 1 that counts the input pulses and outputs the counted value.
Output to 2. Further, the signal amplified by the linear amplifier 3 is converted to voltage by the A/V converter 4, and further converted to a voltage by the V/F converter 5.
The signal is converted into a frequency and input to the counting circuit 62. The counting circuit 62 counts the input signals and outputs the counted value to the control circuit 12.

【0012】制御回路12は計数回路61,62 の出
力を同時に取り込むと共に、比較回路10から出力され
るフラグを監視し、フラグF3が出力されたことを検知
するとリレー14を動作させ、高電圧回路13と電子増
倍器1との接続を切断し、電子増倍器1に対する高電圧
の印加を停止させる。
The control circuit 12 simultaneously takes in the outputs of the counting circuits 61 and 62, monitors the flag output from the comparator circuit 10, and operates the relay 14 when it detects that the flag F3 has been output, thereby shutting down the high voltage circuit. 13 and the electron multiplier 1, and the application of high voltage to the electron multiplier 1 is stopped.

【0013】このときの計数回路61,62 の計数値
はプローブ電流の増加に伴って概略図2に示すように変
化する。図2において計数値曲線20は計数回路61 
による計数値の変化を示し、計数値曲線22は計数回路
62 による計数値の変化を示す。即ち、プローブ電流
が小さい場合にはパルスモードでは良好に計数できるが
、アナログ電流モードでは脈流となり良好なデータは得
られない。その様子は図2においては破線で示している
。しかし、アナログ電流モードではプローブ電流が増加
するに従って周波数が増加するので良好なデータが得ら
れるようになるが、その一方パルスモードではパルスの
重なりが生じ、複数個のパルスが重なって1個のパルス
として計数される度合が多くなるので、パルスの分離が
不能になり、計数値曲線20に示すように計数値は減少
していく。そこで、パルスモードによる計数値とアナロ
グ電流モードによる計数値のいずれを有効とするかを定
めるために閾値TH1 が設けられている。この閾値T
H1 は図2に示すように、パルスモードとアナログ電
流モードが共に良好なデータを出力する領域に設定され
る。
At this time, the count values of the counting circuits 61 and 62 change as shown schematically in FIG. 2 as the probe current increases. In FIG. 2, the count value curve 20 corresponds to the count circuit 61.
The count value curve 22 shows the change in the count value due to the counting circuit 62. That is, when the probe current is small, good counting can be performed in the pulse mode, but good data cannot be obtained in the analog current mode due to pulsating current. This situation is shown by broken lines in FIG. However, in analog current mode, the frequency increases as the probe current increases, allowing good data to be obtained, whereas in pulse mode, pulses overlap, and multiple pulses overlap to form a single pulse. As the number of pulses counted increases, it becomes impossible to separate the pulses, and the count value decreases as shown in the count value curve 20. Therefore, a threshold value TH1 is provided to determine which of the count values in the pulse mode and the count values in the analog current mode is valid. This threshold T
As shown in FIG. 2, H1 is set in a region where both pulse mode and analog current mode output good data.

【0014】そして、制御回路12は計数回路61,6
2 からの計数値を取り込む際に比較回路10から出力
されるフラグを監視し、フラグF1が出力されている場
合にはパルスモードを有効とし、フラグF2が出力され
ている場合にはアナログ電流モードを有効とする。
The control circuit 12 includes counting circuits 61, 6
The flag output from the comparator circuit 10 is monitored when taking in the count value from 2. If the flag F1 is output, the pulse mode is enabled, and if the flag F2 is output, the analog current mode is enabled. shall be valid.

【0015】しかし、プローブ電流が同じであってもパ
ルスモードによる計数値とアナログ電流モードによる計
数値とは一致しないのが一般的であるので、計数回路6
1 または62 からの計数値を取り込んだだけでは、
上述したように、また図2に示すように二つの計数値曲
線の接続部で段差が生じる。このような段差は主にV/
F変換が相対的に行われることに起因していると考えら
れる。即ち、V/F変換器5においては 0Vは 0H
zではなく、ある所定の周波数に変換され、また例えば
プローブ電流がIP1からIP2に変化したときにパル
スモードでは計数値が 2倍になったとしてもV/F変
換では周波数は 2倍にならないのが通常であり、その
結果、図2に示すように計数値曲線20と22とはオフ
セットと傾斜が異なったものとなる。
However, even if the probe current is the same, the count value in the pulse mode and the count value in the analog current mode generally do not match.
If you just import the count value from 1 or 62,
As described above, and as shown in FIG. 2, a step occurs at the connection between the two count value curves. Such a step is mainly caused by V/
This is thought to be due to the fact that F conversion is performed relatively. That is, in the V/F converter 5, 0V is 0H
Even if the count value is doubled in pulse mode when the probe current changes from IP1 to IP2, the frequency will not be doubled in V/F conversion. is normal, and as a result, the count curves 20 and 22 have different offsets and slopes, as shown in FIG.

【0016】そこで、制御回路12は、計数値曲線20
の有効部分である21と計数値曲線22とを連続した滑
らかな曲線とする処理を行う。この処理は種々の方法に
より行うことができるが、例えば、計数値曲線21と2
2のそれぞれについて切り換え位置近傍を近似する直線
の方程式を求め、図2に示す切り換え位置におけるアナ
ログ電流モードの計数値Bをパルスモードの計数値Aに
一致させると共に、計数値曲線22の傾斜βを計数値曲
線21の傾斜αに一致させる換算式を求め、当該換算式
によりアナログ電流モードでの計数値をパルスモードで
の計数値に換算することによって行うことができる。
Therefore, the control circuit 12 calculates the count value curve 20.
A process is performed to make the effective part 21 and the count value curve 22 into a continuous smooth curve. This process can be performed by various methods, for example, count value curves 21 and 2.
2, find the equation of a straight line that approximates the vicinity of the switching position, match the count value B of the analog current mode at the switching position shown in FIG. 2 with the count value A of the pulse mode, and adjust the slope β of the count value curve 22. This can be done by finding a conversion formula that matches the slope α of the count value curve 21 and converting the count value in the analog current mode into the count value in the pulse mode using the conversion formula.

【0017】次に、電子増倍器1に印加する高電圧の制
御について説明する。電子増倍器1は多くの電子が突入
すると破損してしまう。そこで、図2に示すように、電
子増倍器1が破損する計数値よりやや低い計数値に閾値
TH2 を設定し、当該閾値TH2に対応する電圧を比
較回路10に与える。そして、制御回路は比較回路10
から出力されるフラグを監視し、フラグF3が出力され
た場合には、常時は閉状態となされているリレー14を
開状態となし、電子増倍器1に対する高電圧の印加を停
止する。 これによって電子増倍器1の破損を防止することができ
る。
Next, control of the high voltage applied to the electron multiplier 1 will be explained. The electron multiplier 1 will be damaged if many electrons rush into it. Therefore, as shown in FIG. 2, the threshold value TH2 is set to a count value slightly lower than the count value at which the electron multiplier 1 is damaged, and a voltage corresponding to the threshold value TH2 is applied to the comparator circuit 10. The control circuit is a comparator circuit 10.
When the flag F3 is output, the relay 14, which is normally closed, is opened, and the application of high voltage to the electron multiplier 1 is stopped. This can prevent damage to the electron multiplier 1.

【0018】また、図1に示すように電子増倍器1に対
する高電圧の印加を停止するのではなく、電子増倍器1
に印加する電圧を低下させるようにしてもよく、これに
よれば、図1の構成では電子増倍器1は不動作となるの
で測定は終了となるのに対して、電子増倍器1は動作し
ているから測定を継続して行うことができる。その構成
例を図3に示す。図3において制御回路12は比較回路
10の出力フラグがF3であることを認識すると、高電
圧回路13の出力電圧を低下させるための指示を高電圧
回路13に与える。この指示は例えば高電圧回路13が
出力電圧を連続的に可変可能な場合には出力電圧値を与
えることによって行うことができ、また出力電圧が2段
階あるいはそれ以上の段階に段階的に切り換え可能な場
合には、どの段階とするかを与えることで行うことがで
きる。そして高電圧回路13は制御回路12からの指示
に従った電圧を出力する。これによって突入電流による
電子増倍器1の破損を防止することができる。
Furthermore, instead of stopping the application of high voltage to the electron multiplier 1 as shown in FIG.
According to this, in the configuration of FIG. 1, the electron multiplier 1 becomes inactive and the measurement ends, whereas the electron multiplier 1 Since it is working, measurements can be continued. An example of its configuration is shown in FIG. In FIG. 3, when the control circuit 12 recognizes that the output flag of the comparison circuit 10 is F3, it gives an instruction to the high voltage circuit 13 to lower the output voltage of the high voltage circuit 13. For example, if the high voltage circuit 13 is capable of continuously varying the output voltage, this instruction can be given by giving an output voltage value, or the output voltage can be switched stepwise into two or more stages. In such cases, this can be done by specifying which stage to use. The high voltage circuit 13 then outputs a voltage according to instructions from the control circuit 12. This can prevent damage to the electron multiplier 1 due to rush current.

【0019】以上、プローブ電流を増加させた場合につ
いて説明したが、プローブ電流を一定として、図示しな
いエネルギーアナライザにより検出するオージェ電子の
エネルギーを変化させた場合においても上述した処理が
行われることによって、スペクトルのダイナミックレン
ジが広い場合においても、段差のない連続したスペクト
ルが得られることは明らかである。
Although the case where the probe current is increased has been described above, the above-mentioned processing is performed even when the probe current is kept constant and the energy of Auger electrons detected by an energy analyzer (not shown) is changed. It is clear that even when the dynamic range of the spectrum is wide, a continuous spectrum without any steps can be obtained.

【0020】以上、本発明の実施例について説明したが
、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種々
の変形が可能である。例えば、上記実施例では閾値TH
1,TH2を電圧で与え、A/V変換器4の出力電圧と
の比較を行うものとしたが、これは電圧比較が安価且つ
容易に行えるためであり、電圧比較を行うことは本発明
の要旨とするところではない。従って、リニアアンプ3
の出力で比較を行ってもよいし、V/F変換器5の出力
で比較を行ってもよいし、更には計数回路62 の出力
である計数値で比較してもよいものである。
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications are possible. For example, in the above embodiment, the threshold value TH
1, TH2 is given as a voltage and compared with the output voltage of the A/V converter 4. This is because voltage comparison can be done inexpensively and easily, and performing voltage comparison is a part of the present invention. This is not the point. Therefore, linear amplifier 3
The comparison may be made using the output of the V/F converter 5, or even the count value that is the output of the counting circuit 62.

【0021】また、上記実施例ではリニアアンプ3、A
/V変換器4およびV/F変換器5をそれぞれ独立した
ものとして示したが、A/V変換器4はリニアアンプ3
と一体になってしてもよく、あるいはV/F変換器5と
一体になされて電流/周波数変換器となされていてもよ
い。なお後者の場合、比較回路10を電圧比較回路で構
成する場合には、比較回路10の前段に電流/周波数変
換器の出力を電圧に変換する周波数/電圧変換器を設け
る必要があることはいうまでもない。
Furthermore, in the above embodiment, the linear amplifiers 3, A
Although the A/V converter 4 and the V/F converter 5 are shown as being independent, the A/V converter 4 is connected to the linear amplifier 3.
Alternatively, it may be integrated with the V/F converter 5 to form a current/frequency converter. Note that in the latter case, if the comparator circuit 10 is configured with a voltage comparator circuit, it is necessary to provide a frequency/voltage converter for converting the output of the current/frequency converter into a voltage before the comparator circuit 10. Not even.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、スペクトルのダイナミックレンジが広く、パ
ルスモードとアナログ電流モードの双方を使用する場合
にも連続したエネルギースペクトルが得られるものであ
る。また、一つの比較回路で、パルスモードとアナログ
電流モードの切り換え位置と、電子増倍器の保護のため
の高電圧制御のタイミングとを得ることができるので、
安価に構成することができる。
[Effects of the Invention] As is clear from the above explanation, according to the present invention, the dynamic range of the spectrum is wide, and a continuous energy spectrum can be obtained even when using both pulse mode and analog current mode. be. In addition, one comparison circuit can obtain the switching position between pulse mode and analog current mode and the timing of high voltage control to protect the electron multiplier.
It can be constructed at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】  本発明の一実施例の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】  図1の動作を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of FIG. 1.

【図3】  本発明の他の実施例の構成を示す図である
FIG. 3 is a diagram showing the configuration of another embodiment of the present invention.

【図4】  オージェ電子分光装置の従来の信号処理回
路の構成例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of a conventional signal processing circuit of an Auger electron spectrometer.

【図5】  従来の問題点を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining conventional problems.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…電子増倍器、2…パルスアンプ、3…リニアアンプ
、4…A/V変換器、5…V/F変換器、61,62 
…計数回路、10…比較回路、11…D/A変換器、1
2…制御回路、13…高電圧回路、14…リレー。
1...Electron multiplier, 2...Pulse amplifier, 3...Linear amplifier, 4...A/V converter, 5...V/F converter, 61, 62
...Counting circuit, 10...Comparison circuit, 11...D/A converter, 1
2...Control circuit, 13...High voltage circuit, 14...Relay.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  パルス計数によりオージェ電子のエネ
ルギースペクトルを求める第1の計数回路系と、検出電
流値を周波数に変換し、該変換された周波数を計数する
ことによりオージェ電子のエネルギースペクトルを求め
る第2の計数回路系と、前記第2の計数回路系の所定の
位置の電圧、電流、周波数または計数値が予め定められ
た閾値未満であるときには第1の信号を、それ以外であ
るときには第2の信号を出力する比較手段と、前記比較
手段の出力が前記第1の信号のときには前記第1の計数
回路系で得られたエネルギースペクトルを、前記第2の
信号のときには前記第2の計数回路系で得られたエネル
ギースペクトルを有効とする制御手段とを備えることを
特徴とするオージェ電子分光装置。
1. A first counting circuit system for calculating the energy spectrum of Auger electrons by pulse counting; and a first counting circuit system for calculating the energy spectrum of Auger electrons by converting a detected current value into a frequency and counting the converted frequency. When the voltage, current, frequency, or count value at a predetermined position of the second counting circuit system and the second counting circuit system is less than a predetermined threshold, the first signal is sent, and otherwise, the second signal is sent. comparing means for outputting a signal; and comparing means for outputting an energy spectrum obtained by the first counting circuit system when the output of the comparing means is the first signal, and outputting the energy spectrum obtained from the first counting circuit system when the output of the comparing means is the second signal; 1. An Auger electron spectrometer, comprising: control means that makes effective the energy spectrum obtained by the system.
【請求項2】  前記制御手段は更に前記第1の計数回
路系で得られたエネルギースペクトルと、前記第2の計
数回路系で得られたエネルギースペクトルとを前記閾値
の値において連続に接続する演算を行うことを特徴とす
る請求項1記載のオージェ電子分光装置。
2. The control means further performs an operation for continuously connecting the energy spectrum obtained by the first counting circuit system and the energy spectrum obtained by the second counting circuit system at the threshold value. 2. The Auger electron spectrometer according to claim 1, wherein the Auger electron spectrometer performs the following steps.
【請求項3】  電子増倍手段と、前記電子増倍手段の
出力をパルス計数することによりオージェ電子のエネル
ギースペクトルを求める第1の計数回路系と、前記電子
増倍手段の出力電流値を周波数に変換し、該変換された
周波数を計数することによりオージェ電子のエネルギー
スペクトルを求める第2の計数回路系と、前記第2の計
数回路系の所定の位置の電圧、電流、周波数または計数
値が予め定められた第1の閾値未満であるときには第1
の信号を、前記第1の閾値以上で且つ第2の閾値未満の
値であるときには第2の信号を、前記第2の閾値以上で
あるときには第3の信号を出力する比較手段と、前記比
較手段の出力が前記第1の信号のときには前記第1の計
数回路系で得られたエネルギースペクトルを、前記第2
の信号のときには前記第2の計数回路系で得られたエネ
ルギースペクトルをそれぞれ有効とし、更に前記第3の
信号のときには前記電子増倍手段に印加する高電圧を制
御する制御手段とを備えることを特徴とするオージェ電
子分光装置。
3. An electron multiplier; a first counting circuit system for determining the energy spectrum of Auger electrons by pulse counting the output of the electron multiplier; a second counting circuit system that calculates the energy spectrum of Auger electrons by converting the converted frequency into If it is less than a predetermined first threshold, the first
a comparison means for outputting a second signal when the signal is equal to or greater than the first threshold value and less than the second threshold value, and outputs a third signal when the value is equal to or greater than the second threshold value; When the output of the means is the first signal, the energy spectrum obtained by the first counting circuit system is
control means for validating the energy spectrum obtained by the second counting circuit system when the signal is, and controlling a high voltage applied to the electron multiplier when the signal is the third signal. Features of Auger electron spectroscopy equipment.
JP3105342A 1991-05-10 1991-05-10 Auger electron spectroscope Withdrawn JPH04335148A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016018216A (en) * 2014-07-09 2016-02-01 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh Method for operation of laser scanning microscope

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