JPH04332806A - 画像認識装置 - Google Patents
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- JPH04332806A JPH04332806A JP3102644A JP10264491A JPH04332806A JP H04332806 A JPH04332806 A JP H04332806A JP 3102644 A JP3102644 A JP 3102644A JP 10264491 A JP10264491 A JP 10264491A JP H04332806 A JPH04332806 A JP H04332806A
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- NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 3-morpholin-4-yl-1-oxa-3-azonia-2-azanidacyclopent-3-en-5-imine;hydrochloride Chemical group Cl.[N-]1OC(=N)C=[N+]1N1CCOCC1 NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30148—Semiconductor; IC; Wafer
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、スモールアウトライン
パッケージ（ＳＯＰ）の集積回路素子（ハイブリッドＩ
Ｃ）等の電子部品のリード部の寸法や外観等の検査や、
印刷配線板への電子部品の実装位置や実装姿勢等が適切
であるか否の外観検査等、電子デイバイス等の被検査物
の外観検査等に使用する画像認識装置に関するものであ
る。
パッケージ（ＳＯＰ）の集積回路素子（ハイブリッドＩ
Ｃ）等の電子部品のリード部の寸法や外観等の検査や、
印刷配線板への電子部品の実装位置や実装姿勢等が適切
であるか否の外観検査等、電子デイバイス等の被検査物
の外観検査等に使用する画像認識装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】集積回路素子（ＩＣ）等の電子部品や電
子デイバイスの外観検査、例えば、外部の電気回路に電
気的に接続するリード部が樹脂モールド部Ｍの左右両側
に多数配列された集積回路素子（ＩＣ）において、その
右のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５と左のリー
ド部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５の各々の長さ寸法や
歪み、及び隣接するリード部の間隔が所定の値の許容範
囲にあるか否かを検査する装置として、従来は、図５の
ようなものがあった。
子デイバイスの外観検査、例えば、外部の電気回路に電
気的に接続するリード部が樹脂モールド部Ｍの左右両側
に多数配列された集積回路素子（ＩＣ）において、その
右のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５と左のリー
ド部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５の各々の長さ寸法や
歪み、及び隣接するリード部の間隔が所定の値の許容範
囲にあるか否かを検査する装置として、従来は、図５の
ようなものがあった。
【０００３】即ち、符号１００はＩＣを載置する透明な
ガラス台で、該ガラス台１００はステップモータ１０１
にて水平面上をＸ方向及びＹ方向に移動可能に構成され
ている。符号１０２は前記ガラス台１００の下方からＩ
Ｃを照らす照明器具、符号１０３は対物顕微鏡付の撮像
手段（カメラ）、符号１０４はコンピュータ等の中央処
理装置（ＣＰＵ）で、前記のカメラで撮影したリード部
の画像データを画像処理する。
ガラス台で、該ガラス台１００はステップモータ１０１
にて水平面上をＸ方向及びＹ方向に移動可能に構成され
ている。符号１０２は前記ガラス台１００の下方からＩ
Ｃを照らす照明器具、符号１０３は対物顕微鏡付の撮像
手段（カメラ）、符号１０４はコンピュータ等の中央処
理装置（ＣＰＵ）で、前記のカメラで撮影したリード部
の画像データを画像処理する。
【０００４】また、中央処理装置１０４には、予め検査
すべきＩＣのリード部の本数、各リード部の平面視形状
、隣接するリード部の標準的な間隔距離、及びその許容
誤差等の基準データを記憶させておき、前記画像処理し
たリード部の検出データと、前記基準データとを比較し
、良品か不良品かの判別を実行するものである。符号１
０５はモニタ用テレビ等のＣＲＴ（表示装置）である。
すべきＩＣのリード部の本数、各リード部の平面視形状
、隣接するリード部の標準的な間隔距離、及びその許容
誤差等の基準データを記憶させておき、前記画像処理し
たリード部の検出データと、前記基準データとを比較し
、良品か不良品かの判別を実行するものである。符号１
０５はモニタ用テレビ等のＣＲＴ（表示装置）である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、対物顕微鏡
、ひいてはカメラの分解能は光学レンズ系の倍率が大き
い程高くなる一方、視野は倍率が大きい程小さくなる。 検査精度を高めるべく光学レンズ系の倍率を高めると、
前記視野が小さくなるので、電子部品等の被検査物の検
査取り込み範囲が限られることになる。特に、前述のよ
うにスモールアウトラインパッケージ（ＳＯＰ）の集積
回路素子は樹脂モールドＭの左右両側にリード部を突出
配列しているので、図６に示すように、円形の光学系視
野１０６内で、一方のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４
，Ａ５の列しか撮像範囲（モニタ画面）１０７（図６の
一点鎖線の矩形で示す）に取り込めないので、他方のリ
ード部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５を撮像（検査）す
るにはカメラ１０３またはガラス台１００を、移動させ
なければならない。従って、電子デイバイスの外観検査
のために前記のカメラ１０３等の移動回数が多くなり、
検査能率を向上できないし、前記のカメラ１０３または
ガラス台１００を大きく移動させる機構が必要となり、
また、その移動により集積回路素子が視野から外れない
ように制御することや移動後に撮像範囲内に取り込んだ
部分が同じ集積回路素子に対するものであるかの判別を
しなければならず、制御が複雑になるという問題があっ
た。
、ひいてはカメラの分解能は光学レンズ系の倍率が大き
い程高くなる一方、視野は倍率が大きい程小さくなる。 検査精度を高めるべく光学レンズ系の倍率を高めると、
前記視野が小さくなるので、電子部品等の被検査物の検
査取り込み範囲が限られることになる。特に、前述のよ
うにスモールアウトラインパッケージ（ＳＯＰ）の集積
回路素子は樹脂モールドＭの左右両側にリード部を突出
配列しているので、図６に示すように、円形の光学系視
野１０６内で、一方のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４
，Ａ５の列しか撮像範囲（モニタ画面）１０７（図６の
一点鎖線の矩形で示す）に取り込めないので、他方のリ
ード部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５を撮像（検査）す
るにはカメラ１０３またはガラス台１００を、移動させ
なければならない。従って、電子デイバイスの外観検査
のために前記のカメラ１０３等の移動回数が多くなり、
検査能率を向上できないし、前記のカメラ１０３または
ガラス台１００を大きく移動させる機構が必要となり、
また、その移動により集積回路素子が視野から外れない
ように制御することや移動後に撮像範囲内に取り込んだ
部分が同じ集積回路素子に対するものであるかの判別を
しなければならず、制御が複雑になるという問題があっ
た。
【０００６】本発明は、この技術的課題を解決して、検
査効率を向上させた画像認識装置を提供することにある
。
査効率を向上させた画像認識装置を提供することにある
。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
、本発明は、電子デイバイス等の被検査物の外観検査等
を行う画像認識装置において、対物顕微鏡またはカメラ
等の光学レンズ系の適宜位置に、キュービクルプリズム
を、被検査物の左右両側からの入射光が互いに右左に入
れ代わって射出するように配置したものである。
、本発明は、電子デイバイス等の被検査物の外観検査等
を行う画像認識装置において、対物顕微鏡またはカメラ
等の光学レンズ系の適宜位置に、キュービクルプリズム
を、被検査物の左右両側からの入射光が互いに右左に入
れ代わって射出するように配置したものである。
【０００８】
【実施例】次に実施例について説明すると、符号１はス
モールアウトラインパッケージ（ＳＯＰ）の集積回路素
子で、その樹脂モールド部２の左右両側には、リード部
Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５の列とリード部Ｂ１，Ｂ
２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５の列とを突出してある。符号３は
本発明の画像認識装置で、集積回路素子１を載置する透
明なガラス台４と、該ガラス台４を水平方向のＸ方向及
びＹ方向に移動可能に駆動するためのステップモータ５
（一方のモータは図示せず）と、前記ガラス台４の下方
から集積回路素子１を照らす照明器具６と、対物拡大レ
ンズまたは対物顕微鏡７ａ付きの撮像手段（カメラ）７
と、コンピュータ等の中央処理装置（ＣＰＵ）８と、モ
ニタテレビ等の表示装置９等からなり、前記ガラス台４
と撮像手段７との間には、２つのキュービクルプリズム
１０，１１を上下位置に適宜間隔で配置した支持筒１２
を備える。
モールアウトラインパッケージ（ＳＯＰ）の集積回路素
子で、その樹脂モールド部２の左右両側には、リード部
Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５の列とリード部Ｂ１，Ｂ
２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５の列とを突出してある。符号３は
本発明の画像認識装置で、集積回路素子１を載置する透
明なガラス台４と、該ガラス台４を水平方向のＸ方向及
びＹ方向に移動可能に駆動するためのステップモータ５
（一方のモータは図示せず）と、前記ガラス台４の下方
から集積回路素子１を照らす照明器具６と、対物拡大レ
ンズまたは対物顕微鏡７ａ付きの撮像手段（カメラ）７
と、コンピュータ等の中央処理装置（ＣＰＵ）８と、モ
ニタテレビ等の表示装置９等からなり、前記ガラス台４
と撮像手段７との間には、２つのキュービクルプリズム
１０，１１を上下位置に適宜間隔で配置した支持筒１２
を備える。
【０００９】前記キュービクルプリズム１０，１１は、
断面正方形の角柱状の透明体からなり、その角柱の長手
軸線１３，１４に沿う４側面が互いに９０度づつ異なる
偏角プリズムである。前記下方のキュービクルプリズム
１０の配置姿勢を次のようにする。即ち、図１、図２に
示すように、ガラス台４の上表面に対して、キュービク
ルプリズム１０の長手軸線１３は平行であり、且つ、キ
ュービクルプリズムの左右下側面１０ａ，１０ｂがガラ
ス台４の上表面に対して４５度傾斜するように配置する
。また、ガラス台４上に載置した集積回路素子１におけ
る右側のリード部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５の列方
向と、キュービクルプリズム１０の右下側側面１０ｂの
長手方向（前記長手軸線１３に沿う方向）とを略平行状
に配置する。換言すると、前記集積回路素子１における
左側のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５の列方向
と、キュービクルプリズム１０の左下側側面１０ａの長
手方向とを略平行状となす。
断面正方形の角柱状の透明体からなり、その角柱の長手
軸線１３，１４に沿う４側面が互いに９０度づつ異なる
偏角プリズムである。前記下方のキュービクルプリズム
１０の配置姿勢を次のようにする。即ち、図１、図２に
示すように、ガラス台４の上表面に対して、キュービク
ルプリズム１０の長手軸線１３は平行であり、且つ、キ
ュービクルプリズムの左右下側面１０ａ，１０ｂがガラ
ス台４の上表面に対して４５度傾斜するように配置する
。また、ガラス台４上に載置した集積回路素子１におけ
る右側のリード部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５の列方
向と、キュービクルプリズム１０の右下側側面１０ｂの
長手方向（前記長手軸線１３に沿う方向）とを略平行状
に配置する。換言すると、前記集積回路素子１における
左側のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５の列方向
と、キュービクルプリズム１０の左下側側面１０ａの長
手方向とを略平行状となす。
【００１０】換言すると、キュービクルプリズム１０に
おける左下側側面１０ａに対する、集積回路素子１から
の入射光の入射角が４５度で、当該下側側面１０ａでの
屈折角が、プリズム材料の空気に対する屈折率ｎの場合
、 ｓｉｎ−１（ ｓｉｎ４５ °／ｎ） 度であり、
前記左の下側側面１０ａと平行な右上側側面１０ｄに対
する射出角が４５度となるものである。このようにする
と、被検査物である集積回路素子の左右両側からの入射
光が互いに右左に入れ代わって射出する。
おける左下側側面１０ａに対する、集積回路素子１から
の入射光の入射角が４５度で、当該下側側面１０ａでの
屈折角が、プリズム材料の空気に対する屈折率ｎの場合
、 ｓｉｎ−１（ ｓｉｎ４５ °／ｎ） 度であり、
前記左の下側側面１０ａと平行な右上側側面１０ｄに対
する射出角が４５度となるものである。このようにする
と、被検査物である集積回路素子の左右両側からの入射
光が互いに右左に入れ代わって射出する。
【００１１】また上方のキュービクルプリズム１１は、
その長手軸線１４を前記キュービクルプリズム１０の長
手軸線１３と平面視で直交するように配置し、且つ上方
のキュービクルプリズム１１の正方形断面の配置関係は
、前記下方のキュービクルプリズム１０と同じく、頂角
部が上下垂直方向と水平方向とに向くように、配置する
のである。この上方のキュービクルプリズム１１の存在
により、下方のキュービクルプリズム１０を通過した光
の光学収差（デイストーション）を是正する。
その長手軸線１４を前記キュービクルプリズム１０の長
手軸線１３と平面視で直交するように配置し、且つ上方
のキュービクルプリズム１１の正方形断面の配置関係は
、前記下方のキュービクルプリズム１０と同じく、頂角
部が上下垂直方向と水平方向とに向くように、配置する
のである。この上方のキュービクルプリズム１１の存在
により、下方のキュービクルプリズム１０を通過した光
の光学収差（デイストーション）を是正する。
【００１２】また、前記撮像手段７は二次元ＣＣＤ撮像
素子等を含む。中央処理装置（ＣＰＵ）８は、前記の撮
像手段７で撮影したリード部の画像データを画像処理す
る。中央処理装置８には、初期値や、比較演算などの制
御プログラムを予め記憶させた読み取り専用メモリ（Ｒ
ＯＭ）や、画像処理等の検出データ等をその都度記憶し
演算時に出力する読み書き可能メモリ（ＲＡＭ）及び入
出力インターフェイス等を備える。中央処理装置８には
、予め検査すべき集積回路素子１のリード部の本数、各
リード部の平面視形状、隣接するリード部の標準的な間
隔距離、及びその許容誤差等の基準データをＲＡＭ等に
入力して記憶させておき、前記画像処理したリード部の
データと、前記基準データとを比較し、良品か不良品か
の判別を実行し、不良品には所定の不良マークを付する
か、マニピュレータ１５にて図示しない不良品回収箱に
排出する。良品は同じくマニピュレータ１５にて良品収
納箱等に順序良く収納する。
素子等を含む。中央処理装置（ＣＰＵ）８は、前記の撮
像手段７で撮影したリード部の画像データを画像処理す
る。中央処理装置８には、初期値や、比較演算などの制
御プログラムを予め記憶させた読み取り専用メモリ（Ｒ
ＯＭ）や、画像処理等の検出データ等をその都度記憶し
演算時に出力する読み書き可能メモリ（ＲＡＭ）及び入
出力インターフェイス等を備える。中央処理装置８には
、予め検査すべき集積回路素子１のリード部の本数、各
リード部の平面視形状、隣接するリード部の標準的な間
隔距離、及びその許容誤差等の基準データをＲＡＭ等に
入力して記憶させておき、前記画像処理したリード部の
データと、前記基準データとを比較し、良品か不良品か
の判別を実行し、不良品には所定の不良マークを付する
か、マニピュレータ１５にて図示しない不良品回収箱に
排出する。良品は同じくマニピュレータ１５にて良品収
納箱等に順序良く収納する。
【００１３】なお、モニタ用テレビ等のＣＲＴ（表示装
置）９でオペレータが監視し、手作業等で良品の選別作
業を実行するようにしても良い。前述のように、キュー
ビクルプリズム１０を被検査物である集積回路素子１と
撮像手段７との光学レンズ系の中途位置に配設すると、
図４に示すように、集積回路素子１の樹脂モールド部２
の右側に配列されたリード部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，
Ｂ５の先端と、左側列のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ
４，Ａ５の先端とが、光学視野１６の中央部において、
互いに相対向して位置するように、前記キュービクルプ
リズム１０により偏向されるから、撮像手段７による矩
形状の撮像手範囲１７内の中央寄り部位に一つの集積回
路素子１における左右両側のリード部が一度に取り込ま
れることになる。
置）９でオペレータが監視し、手作業等で良品の選別作
業を実行するようにしても良い。前述のように、キュー
ビクルプリズム１０を被検査物である集積回路素子１と
撮像手段７との光学レンズ系の中途位置に配設すると、
図４に示すように、集積回路素子１の樹脂モールド部２
の右側に配列されたリード部Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，
Ｂ５の先端と、左側列のリード部Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ
４，Ａ５の先端とが、光学視野１６の中央部において、
互いに相対向して位置するように、前記キュービクルプ
リズム１０により偏向されるから、撮像手段７による矩
形状の撮像手範囲１７内の中央寄り部位に一つの集積回
路素子１における左右両側のリード部が一度に取り込ま
れることになる。
【００１４】従って、この状態で画像データを中央処理
装置８に読み込み、各リード部の外観形状、隣接するリ
ード部の間隔の良否など検査すれば良いのであり、検査
するために、一旦撮像範囲１７内に一つの集積回路素子
１が入るように撮像手段７またはガラス台４を移動させ
た後には、もはやこれらを移動させる必要がなく、検査
作業を効率よく迅速に実行できる。
装置８に読み込み、各リード部の外観形状、隣接するリ
ード部の間隔の良否など検査すれば良いのであり、検査
するために、一旦撮像範囲１７内に一つの集積回路素子
１が入るように撮像手段７またはガラス台４を移動させ
た後には、もはやこれらを移動させる必要がなく、検査
作業を効率よく迅速に実行できる。
【００１５】また、一つの集積回路素子１における左右
両側のリード部を一つの光学的視野内に収めるために光
学レンズ系の倍率を従来のように下げる必要もないから
、分解能も向上する。なお、光学的収差を厳密に除去し
なくても検査精度に影響がないときには、前記キュービ
クルプリズムは２つでなく一つだけでも良い。また、キ
ュービクルプリズムは、被検査物に対する光学レンズ系
のうち、対物レンズより後（撮像手段側）に配置しても
良いのは言うまでもない。さらに照明装置６にて被検査
物に照射して反射した光が、前記キュービクルプリズム
に入るように設定しても良い。
両側のリード部を一つの光学的視野内に収めるために光
学レンズ系の倍率を従来のように下げる必要もないから
、分解能も向上する。なお、光学的収差を厳密に除去し
なくても検査精度に影響がないときには、前記キュービ
クルプリズムは２つでなく一つだけでも良い。また、キ
ュービクルプリズムは、被検査物に対する光学レンズ系
のうち、対物レンズより後（撮像手段側）に配置しても
良いのは言うまでもない。さらに照明装置６にて被検査
物に照射して反射した光が、前記キュービクルプリズム
に入るように設定しても良い。
【００１６】本発明は、被検査物が半導体や集積回路素
子等の電子部品ばかりでなく、印刷配線板への集積回路
素子等の電子部品の半田付け状態を検査するためや、そ
の他の微小な被検査物の外観検査にも利用できることは
いうまでもない。
子等の電子部品ばかりでなく、印刷配線板への集積回路
素子等の電子部品の半田付け状態を検査するためや、そ
の他の微小な被検査物の外観検査にも利用できることは
いうまでもない。
【００１７】
【発明の作用及び効果】以上要するに、本発明によれば
、電子デイバイス等の被検査物の外観検査等を行う画像
認識装置において、対物顕微鏡またはカメラ等の光学レ
ンズ系の適宜位置に、キュービクルプリズムを、被検査
物の左右両側からの入射光が互いに右左に入れ代わって
射出するように配置したものであるから、被検査物の外
周寄り部位の外観検査を必要とする場合、その外周寄り
部位をキュービクルプリズムの偏角作用により光学的視
野の中央寄り部位に配置させることができ、被検査物ま
たは撮像手段を移動させる手間を省くことができるから
、検査効率を大幅に向上させることができるという、顕
著な効果を奏するのである。
、電子デイバイス等の被検査物の外観検査等を行う画像
認識装置において、対物顕微鏡またはカメラ等の光学レ
ンズ系の適宜位置に、キュービクルプリズムを、被検査
物の左右両側からの入射光が互いに右左に入れ代わって
射出するように配置したものであるから、被検査物の外
周寄り部位の外観検査を必要とする場合、その外周寄り
部位をキュービクルプリズムの偏角作用により光学的視
野の中央寄り部位に配置させることができ、被検査物ま
たは撮像手段を移動させる手間を省くことができるから
、検査効率を大幅に向上させることができるという、顕
著な効果を奏するのである。
【図１】本発明の画像認識装置の概略図である。
【図２】要部斜視図である。
【図３】図２の ＩＩＩ−ＩＩＩ 矢視図である。
【図４】撮像結果の一例を示す図である。
【図５】従来の装置の概略図である。
【図６】従来装置よる撮像結果を示す図である。
１ 集積回路素子２，Ｍ
樹脂モールド部３
画像認識装置４，１００
ガラス台５，１０１ ステップ
モータ６，１０２ 照明装置７
撮像手段１０３
カメラ ８，１０４ 中央処理装置９，１０
５ 表示装置Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ
４，Ｂ５ リード部Ａ１，Ａ２
，Ａ３，Ａ４，Ａ５ リード部
１０，１１ キュービクルプリズム
１２ 支持筒
樹脂モールド部３
画像認識装置４，１００
ガラス台５，１０１ ステップ
モータ６，１０２ 照明装置７
撮像手段１０３
カメラ ８，１０４ 中央処理装置９，１０
５ 表示装置Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ
４，Ｂ５ リード部Ａ１，Ａ２
，Ａ３，Ａ４，Ａ５ リード部
１０，１１ キュービクルプリズム
１２ 支持筒
Claims (1)
- 【請求項１】電子デイバイス等の被検査物の外観検査等
を行う画像認識装置において、対物顕微鏡またはカメラ
等の光学レンズ系中の適宜位置に、キュービクルプリズ
ムを、被検査物の左右両側からの入射光が互いに右左に
入れ代わって射出するように配置したことを特徴とする
画像認識装置。
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