JPH04320090A - Electronic component connecting equipment - Google Patents

Electronic component connecting equipment

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JPH04320090A
JPH04320090A JP3086966A JP8696691A JPH04320090A JP H04320090 A JPH04320090 A JP H04320090A JP 3086966 A JP3086966 A JP 3086966A JP 8696691 A JP8696691 A JP 8696691A JP H04320090 A JPH04320090 A JP H04320090A
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JP
Japan
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electronic component
processing light
processing
light
connecting device
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JP3086966A
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Japanese (ja)
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Yasuo Izumi
康夫 和泉
Masaru Yamauchi
大 山内
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a method for stably performing soldering on a substrate by using an automatic equipment without damaging the characteristics of many kinds of electronic components including less heat-resistant electronic components and unwashable electronic components. CONSTITUTION:Characterized is that processing rays of light are guided from a processing light irradiation means through an optical fiber to a suction nozzle 21 consisting of a light- permeable material and a processing light scanning means 27 that is provided on a axis of the suction nozzle 21, and by their scanning and irradiation through the suction nozzle 21 consisting of the light-permeable material are connected electronic components on a substrate 41. Further, a dichroic mirror 3 is provided in the middle of the light axis of the processing ray of light, a recognition optical system capable of recognizing the peripheral section of the suction nozzle 21 coaxially with the processing ray of light and a shape-detection means 37 capable of detecting the shape in a radiation position of the processing rays of light irradiation are provided, the rays of light required for recognition and the rays of light required for shape-detection can be constantly scanned in relation to the coaxial incidence with the processing rays of light by means of the mirror driving source, and the periphery of the irradiation position of the processing says of light are always recognizable and shape- detectable. And the shape of the processing rays of light to be radiated is controlled on the basis of the information to make it possible to connect the electronic components on the substitute.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品を回路基板に
接続する接続装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connecting device for connecting electronic components to a circuit board.

【0002】0002

【従来の技術】従来、電子部品を回路基板に装着する際
には、回路基板の電子部品装着位置に接着剤を塗布する
とともに、電極にリフロー用半田を塗布し、一方、電子
部品供給部において装着すべき電子部品を吸着ノズルに
て吸着し、この吸着した電子部品を前記回路基板の電子
部品装着位置まで搬送して装着することによって接着剤
にて仮固定し、回路基板に対するすべての電子部品の装
着が終了すると、この回路基板をリフロー炉に挿入し、
リフロー用半田をリフローさせ、半田にて本固定すると
ともに電気的な接続をおこなっていた。
[Prior Art] Conventionally, when mounting electronic components on a circuit board, an adhesive is applied to the electronic component mounting position on the circuit board, and reflow solder is applied to the electrodes. The electronic components to be mounted are picked up by a suction nozzle, and the picked up electronic components are transported to the electronic component mounting position on the circuit board and mounted, temporarily fixed with adhesive, and all the electronic components are attached to the circuit board. Once the installation is complete, insert this circuit board into a reflow oven,
The reflow solder was reflowed, the solder was used to secure the parts, and the electrical connections were made.

【0003】また、弱耐熱性を有するために、上記のよ
うに一括にリフロー半田付けができない電子部品や、水
晶発振子のように超音波洗浄ができない電子部品を基板
に半田付けする際には、図23から図26に示すリフロ
ーにより半田付けをおこなっていた。図23は、弱耐熱
性電子部品を手作業により半田付けする方法。図24は
、弱耐熱性電子部品を低温リフロー半田付けする方法で
あり、これは、複数の電子部品からなる複合モジュール
部品96のような弱耐熱性電子部品を半田付けする場合
、他の電子部品と同時に一括リフローにより半田付けを
実施すれば、複合モジュール部品96上の電子部品を電
気的に結合していた半田が溶融してしまい、モジュール
としての電気的な特性が破壊されてしまうので、通常、
この複合モジュール部品については、低温リフローによ
り半田付けを実施している。また、図25は、水晶発振
子のように超音波洗浄ができない電子部品を手付け作業
により基板に半田付けするフロー図。図26には、図2
3及び図25にフローを示した手作業による半田付け作
業の様子を示す。
[0003] Furthermore, when soldering to a board electronic components that cannot be reflow soldered all at once as described above due to their weak heat resistance, and electronic components that cannot be ultrasonically cleaned such as crystal oscillators, , soldering was performed by the reflow process shown in FIGS. 23 to 26. FIG. 23 shows a method for manually soldering weak heat-resistant electronic components. FIG. 24 shows a method of low-temperature reflow soldering of weakly heat-resistant electronic components. If soldering is performed at the same time by batch reflow, the solder that electrically connects the electronic components on the composite module component 96 will melt and the electrical characteristics of the module will be destroyed. ,
This composite module component is soldered using low-temperature reflow. Moreover, FIG. 25 is a flowchart for manually soldering an electronic component, such as a crystal oscillator, that cannot be cleaned by ultrasonic waves to a board. In Figure 26, Figure 2
3 and 25 show the flow of manual soldering work.

【0004】0004

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように回路基板の電子部品装着位置に接着剤を塗布する
とともに、電極にリフロー用半田を塗布し、一方、電子
部品供給部において装着すべき電子部品を吸着ノズルに
て吸着し、この吸着した電子部品を前記回路基板の電子
部品装着位置まで搬送して装着することによって接着剤
にて仮固定し、回路基板に対するすべての電子部品の装
着が終了すると、この回路基板をリフロー炉に挿入し、
リフロー用半田をリフローさせ、半田にて本固定すると
ともに電気的な接合をおこなう方法においては、接着剤
による電子部品の拘束力が小さいため、電子部品を仮固
定した状態での回路基板の搬送等の取り扱いが難しく、
作業性が悪いという問題があった。尚、接着剤の拘束力
を強くすることも考えられるが、回路基板に接着剤を塗
布する際に、糸ひき状態が発生して安定に塗布すること
が困難になり、著しく生産性が悪くなるという問題点が
あった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, as described above, adhesive is applied to the electronic component mounting position of the circuit board, and reflow solder is applied to the electrodes. The components are picked up by a suction nozzle, and the picked up electronic components are transported to the electronic component mounting position on the circuit board and mounted, temporarily fixed with adhesive, and the mounting of all electronic components to the circuit board is completed. Then, insert this circuit board into a reflow oven,
In the method of reflowing the reflow solder, permanently fixing it with solder, and making electrical connections, the binding force of the adhesive on the electronic components is small, so it is necessary to transport the circuit board with the electronic components temporarily fixed. difficult to handle,
There was a problem with poor workability. In addition, it is possible to strengthen the binding force of the adhesive, but when applying the adhesive to the circuit board, a stringy state will occur, making it difficult to apply the adhesive stably, which will significantly reduce productivity. There was a problem.

【0005】更には、回路基板に電子部品を装着して接
着剤で仮固定する工程と、回路基板をリフロー炉に挿入
して電子部品を回路基板に本固定する工程の2つの工程
を必要とするので、面積生産性が低いという問題があっ
た。
Furthermore, it requires two steps: the step of mounting the electronic components on the circuit board and temporarily fixing them with adhesive, and the step of inserting the circuit board into a reflow oven and permanently fixing the electronic components to the circuit board. Therefore, there was a problem of low area productivity.

【0006】また、弱耐熱性を有するために、上記のよ
うに一括にリフロー半田付けができない電子部品や、水
晶発振子のように洗浄ができない電子部品を基板に半田
付けする場合、これを多くの場合、図26に示すように
手作業により実施しているのが現状であるため、作業者
の熟練度合により半田付け品質が左右されやすいうえに
、半田付け品質のばらつきを減少することが難しく、量
産には向かないという問題があった。さらに、洗浄がで
きない電子部品を基板に手作業にて半田付けする際には
、図26に示すように半田ごて98で、基板電極部と電
子部品を予熱しておいてから半田95を供給して溶融さ
せ、接続部に流し込むことにより両者を電気的に接続す
るため、半田が溶融する際に微小な半田ボール99が飛
散し、この半田ボールが基板の電子回路上に滞留すれば
、電子回路自体の機能を損なうという潜在的な課題を存
在するので、通常の洗浄可能な電子部品については、半
田付け後に一括洗浄していたが、水晶発振子97を内蔵
するような電子部品については、洗浄時に超音波が加わ
ると水晶発振子を破壊する可能性があるため洗浄が不可
能であり、打つ手がないという問題を有していた。また
、複数の電子部品からなる複合モジュール部品96のよ
うな弱耐熱性電子部品を低温半田により基板の電極部に
低温リフロー半田付けする場合、低温半田の融点は約1
50℃であり、一方この複合モジュール部品を構成する
電子部品を接続する半田として使われている共晶半田の
融点が183℃と接近しているために、厳しい低温リフ
ロー半田付けの温度管理をおこなわないと複合モジュー
ル部品を構成する電子部品を接続している共晶半田が溶
融することになり、そのモジュールとしての電気的な特
性を破壊してしまうという問題点を有している。
[0006] Furthermore, when soldering to a board electronic components that cannot be reflow soldered all at once as described above or electronic components that cannot be cleaned, such as crystal oscillators, due to their weak heat resistance, a large number of electronic components are used. In this case, as shown in Figure 26, soldering is currently performed manually, so the quality of soldering tends to be affected by the skill level of the operator, and it is difficult to reduce variations in soldering quality. The problem was that it was not suitable for mass production. Furthermore, when manually soldering electronic components that cannot be cleaned to a board, the solder 95 is supplied after preheating the board electrodes and electronic components with a soldering iron 98 as shown in FIG. The two are electrically connected by melting the solder and pouring it into the connection part, so when the solder melts, minute solder balls 99 scatter, and if these solder balls stay on the electronic circuit of the board, electronic Since there is a potential issue of damaging the function of the circuit itself, normally washable electronic components are cleaned all at once after soldering, but electronic components with a built-in crystal oscillator 97 are If ultrasonic waves are applied during cleaning, there is a possibility that the crystal oscillator will be destroyed, so cleaning is impossible and there is no solution. In addition, when low-temperature reflow soldering of a weakly heat-resistant electronic component such as the composite module component 96 consisting of multiple electronic components to the electrode part of the board using low-temperature solder, the melting point of the low-temperature solder is approximately 1
50℃, while the melting point of the eutectic solder used to connect the electronic components that make up this composite module component is close to 183℃, so strict temperature control is required for low-temperature reflow soldering. Otherwise, there is a problem in that the eutectic solder connecting the electronic components constituting the composite module components will melt, destroying the electrical characteristics of the module.

【0007】そこで、本発明は、上記従来の問題に鑑み
、弱耐熱性電子部品や、洗浄不可能な電子部品を含む多
種類の電子部品を、その特性を損なうことなく、自動機
により安定して基板上に半田付けする方法及びその手段
を提供することを目的とする。
Therefore, in view of the above-mentioned conventional problems, the present invention has been developed to stabilize various types of electronic components, including weakly heat-resistant electronic components and electronic components that cannot be cleaned, using an automatic machine without impairing their characteristics. It is an object of the present invention to provide a method and means for soldering onto a board.

【0008】また、電子部品の装着と本固定を1工程で
おこなって生産性を向上できる電子部品接合方法及びそ
の装置を提供することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a method and apparatus for joining electronic components that can improve productivity by mounting and permanently fixing electronic components in one step.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、透光材からなる吸着ノズルと、前記吸着
ノズルの軸心上に設けられた加工光線走査手段に、加工
光線を加工光線照射手段から光ファイバーにより導き、
前記透光材からなる吸着ノズルを通して走査し照射する
ことにより電子部品を基板上に接続することを特徴とす
る。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides a suction nozzle made of a translucent material and a processing beam scanning means provided on the axis of the suction nozzle. Guided by optical fiber from the processing light irradiation means,
The present invention is characterized in that electronic components are connected to the substrate by scanning and irradiating light through the suction nozzle made of the light-transmitting material.

【0010】さらに、前記加工光線の光軸途中にダイク
ロイックミラーを設け、加工光線と同軸に吸着ノズル周
辺部を認識できる認識光学系と加工光線照射位置での形
状を検出できる形状検出手段を配設し、認識に必要な光
線および形状検出に必要な光線が上記鏡駆動源により加
工光線と同軸落射の関係で共に走査可能であり、常に加
工光線照射位置周辺が認識可能かつ形状検出可能である
。そしてこれらの情報をもとに照射する加工光線の形状
を制御し、電子部品を基板上に接続することが可能であ
る。
Furthermore, a dichroic mirror is provided in the middle of the optical axis of the processing light beam, and a recognition optical system that can recognize the peripheral area of the suction nozzle and a shape detection means that can detect the shape at the processing light irradiation position are arranged coaxially with the processing light beam. However, the light beam necessary for recognition and the light beam necessary for shape detection can be scanned together by the mirror driving source in a coaxial incident relationship with the processing light beam, so that the vicinity of the processing light irradiation position can always be recognized and the shape detected. Based on this information, it is possible to control the shape of the processing light beam and connect electronic components to the substrate.

【0011】[0011]

【作用】本発明によると、吸着ノズルを通して電子部品
の接合位置に加工光線を走査して照射することによって
、電子部品の装着工程時に半田付けなどの加工や処理を
おこなうことができる。また、電子部品の装着時に、電
子部品の電極部を基板電極部上に当接させた状態で、各
電極部に順次加工光線を走査して照射し、あらかじめ基
板電極部上に塗布された半田をリフローさせることによ
り両者を接合し、リフロー炉でのリフロー工程をなくす
こともできる。また、従来より加工光線を用いて電子部
品の半田付けをおこなう際に、基板または電子部品に対
して熱的なダメージをあたえることがあったが、前記加
工光線の光軸途中にダイクロイックミラーを設け、加工
光線と同軸に吸着ノズル周辺部を認識できる認識光学系
と加工光線照射位置での形状を検出できる形状検出手段
を配設し、認識に必要な光線および形状検出に必要な光
線が上記鏡駆動源により加工光線と同軸落射の関係で共
に走査可能であり、常に加工光線照射位置周辺が認識可
能かつ形状検出可能なため、これらの情報をもとに照射
する加工光線の状態を好適に制御し、基板または電子部
品に対しても熱的なダメージをあたえることなく電子部
品を基板上に接続することが可能である。
[Operation] According to the present invention, by scanning and irradiating the processing light beam through the suction nozzle to the bonding position of the electronic component, processing such as soldering can be performed during the mounting process of the electronic component. In addition, when mounting electronic components, the processing light beam is sequentially scanned and irradiated onto each electrode section while the electrode section of the electronic component is in contact with the substrate electrode section. It is also possible to bond the two by reflowing, thereby eliminating the reflow process in a reflow oven. Additionally, when soldering electronic components using a processing beam, thermal damage may be caused to the board or electronic components. A recognition optical system that can recognize the peripheral area of the suction nozzle and a shape detection means that can detect the shape at the processing light irradiation position are installed coaxially with the processing light beam, and the light beam necessary for recognition and the light beam necessary for shape detection are connected to the mirror. It is possible to scan both the machining beam and the coaxial epi-illumination by the drive source, and the area around the machining beam irradiation position can always be recognized and the shape can be detected, so the state of the irradiated machining beam can be suitably controlled based on this information. However, it is also possible to connect electronic components onto the substrate without causing thermal damage to the substrate or electronic components.

【0012】さらに、弱耐熱性電子部品や、洗浄不可能
な電子部品に対しても、その特性を損なうことなく、安
定して基板上に半田付けすることが可能である。
Furthermore, it is possible to stably solder electronic components that are weakly heat resistant or cannot be cleaned onto a substrate without impairing their characteristics.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の第1実施例について図1から
図18に基づいて説明する。図1は、本発明による電子
部品接続装置のヘッド部の斜視図で、図2は、電子部品
接続装置全体の斜視図である。以下に、装置の構成を説
明する。本体フレーム46上には、XYロボット42が
設置されており、そのXYロボット上には電子部品を移
載して基板上に供給して接続するヘッド部49が係止さ
れている。部品移載装置51は部品収納部50に収納さ
れている電子部品を前記XYロボット42の可動範囲内
に移載する。基板41は、基板搬送部48により基板予
熱部45及び部品接続位置44に搬送される。電子部品
接続装置全体の操作は、装置前面に設けられた操作パネ
ル47によって行う。本実施例は、電子部品を接続する
ための加熱熱源YAGレーザーを用いた例で、YAGレ
ーザーは、レーザー電源54及びレーザー光学系53に
よって発生し、光ファイバー1を通じてヘッド部49ま
で伝送される構成である。52は、フラックス塗布部で
ある。
Embodiment A first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 18. FIG. 1 is a perspective view of a head portion of an electronic component connecting device according to the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of the entire electronic component connecting device. The configuration of the device will be explained below. An XY robot 42 is installed on the main body frame 46, and a head portion 49 that transfers electronic components, supplies them onto a board, and connects them is locked onto the XY robot. The component transfer device 51 transfers the electronic components stored in the component storage section 50 into the movable range of the XY robot 42 . The board 41 is transported by the board transport section 48 to the board preheating section 45 and the component connection position 44 . The entire electronic component connecting device is operated using an operation panel 47 provided on the front of the device. This embodiment is an example using a YAG laser as a heating heat source for connecting electronic components. be. 52 is a flux application section.

【0014】次に、図3により、部品移載装置51,基
板搬送部48,基板予熱部45及びフラックス塗布部5
2の詳細な構成を説明する。部品移載装置51は、電子
部品40を高精度に位置規正する部品規正爪60を有し
、前記部品規正部59は、レール57上を移載モータ5
8によって移動し、電子部品40を移載する。基板搬送
部48は、プーリ63と搬送ベルト73を備えた一対の
搬送レール74からなり、搬送ベルト73の作動によっ
て基板41を移動させる。基板予熱部45は、基板予熱
ボックス75と、エアドライヤ61aと、エアドライヤ
61aから発生する温風を基板予熱ボックス75に供給
するダクトホース64aとから構成され、前記エアドラ
イヤ61aから発生する温風の熱量を制御するため、電
源電圧を好適な状態に調節するスライダック62aが直
列に配置されている。
Next, as shown in FIG.
2 will be explained in detail. The component transfer device 51 has a component regulating claw 60 that regulates the position of the electronic component 40 with high precision, and the component regulating section 59 moves the transfer motor 5 on the rail 57.
8 and transfer the electronic component 40. The substrate transport section 48 is composed of a pair of transport rails 74 having a pulley 63 and a transport belt 73, and moves the substrate 41 by the operation of the transport belt 73. The substrate preheating section 45 includes a substrate preheating box 75, an air dryer 61a, and a duct hose 64a that supplies hot air generated from the air dryer 61a to the substrate preheating box 75. For control, a slider 62a is arranged in series to adjust the power supply voltage to a suitable state.

【0015】一方、部品接続位置44には、基板規正シ
リンダー65が設けられており、基板41を高精度に位
置規正する。部品接続位置44では、基板の温度低下を
防ぐために、エアドライヤ61b,61c,61dから
の温風が、ダクトホース64b,64c,64dによっ
て導かれている。またエアドライヤ61b,61c,6
1dが発生する温風の熱量を制御するために、基板予熱
部45のスライダック62aと同様に、スライダック6
2b,62c,62dが配置されている。
On the other hand, a board regulating cylinder 65 is provided at the component connection position 44 to regulate the position of the board 41 with high precision. At the component connection position 44, hot air from air dryers 61b, 61c, and 61d is guided by duct hoses 64b, 64c, and 64d in order to prevent the temperature of the board from decreasing. Also, air dryers 61b, 61c, 6
In order to control the amount of heat of the hot air generated by the slider 1d, the slider 6 is used in the same manner as the slider 62a of the substrate preheating section 45.
2b, 62c, and 62d are arranged.

【0016】フラックス塗布部52は、比重計66と汚
れ検出センサー67を備え、フラックス71をフラック
スブロック70の凹部に流し込んだ後、フラックス塗布
上下シリンダー69により汲み上げ、先端ノズル23に
より把持されている電子部品40の電極部に下からフラ
ックスを塗布する。
The flux application section 52 is equipped with a hydrometer 66 and a dirt detection sensor 67, and after pouring flux 71 into the recess of the flux block 70, it is pumped up by the upper and lower flux application cylinders 69, and the flux 71 is pumped up by the upper and lower flux application cylinders 69, and the flux 71 is pumped up by the upper and lower flux application cylinders 69, and the flux 71 is pumped up by the upper and lower flux application cylinders 69. Flux is applied to the electrode portion of the component 40 from below.

【0017】次に、図1によりヘッド部49の構成を説
明する。ヘッド部49は、図2のXYロボット42のX
軸架台10上にLMガイド9及びヘッドフレーム13を
介して設置されており、LMガイド9上をX軸方向に摺
動し、その駆動は、X軸モータ(図示せず)に連結され
たボールネジ8により行われる。ヘッド部49は、大別
すると、レーザー光線を走査する走査光学部27と、電
子部品を把持して移載する把持部32とにわけることが
でき、ともにヘッドフレーム13に接続されている。前
記部品移載装置51から移載された電子部品40は、把
持部32の先端ノズル23により吸引把持されるが、こ
の先端ノズル23は、圧縮ばね39とノズルホルダー2
2を介して、上下方向にクッション可能な状態でノズル
21に係止されている。このノズル21は、透光板38
中央に設けられた穴に挿入固定されており、この透光板
38は、対向して配置されているもう一枚の透光板36
とともに透光板ホルダー20に固定されている。この透
光板ホルダー20の外周には、多数の通気孔19が設け
られており、これら通気孔19は、さらには、インナー
ホルダー18の通気孔17およびアウターホルダー15
のポート16と十分な気密性を保った状態で接続されて
いるために、アウターホルダー15のポート16からの
真空吸着を行うと、先端ノズル23の部品吸着面にも負
圧が発生して部品を吸着把持することができる。また、
逆にアウターホルダー15のポート16から圧縮エアー
を供給すると、先端ノズル23における部品の吸着状態
を解除できることは言うまでもない。なお、インナーホ
ルダー18は、クロスローラーベアリング34とともに
、アウターホルダー15に対して回転自在な状態で係止
されており、その回転方向の駆動はアウターホルダー1
5上部の溝部に対して摺動可能な状態で接しているカム
フォロワー12,プーリ33、及びタイミングベルト6
を介して図示しないモータから伝えられる。一方、上下
方向に対しては、アウターホルダー15自体も、ボール
ネジ30及びカップリング29を介してノズル上下モー
タ28の駆動により移動可能である。
Next, the structure of the head section 49 will be explained with reference to FIG. The head section 49 is the XY robot 42 shown in FIG.
It is installed on the shaft mount 10 via the LM guide 9 and the head frame 13, and slides on the LM guide 9 in the X-axis direction, and is driven by a ball screw connected to an X-axis motor (not shown). 8. The head section 49 can be roughly divided into a scanning optical section 27 that scans a laser beam, and a gripping section 32 that grips and transfers electronic components, both of which are connected to the head frame 13. The electronic component 40 transferred from the component transfer device 51 is sucked and gripped by the tip nozzle 23 of the gripping section 32.
2, it is locked to the nozzle 21 in a state where it can be cushioned in the vertical direction. This nozzle 21 is connected to a transparent plate 38
This transparent plate 38 is inserted and fixed into a hole provided in the center, and this transparent plate 38 is connected to another transparent plate 36 arranged oppositely.
It is also fixed to the transparent plate holder 20. A large number of ventilation holes 19 are provided on the outer periphery of the transparent plate holder 20, and these ventilation holes 19 are further divided into the ventilation holes 17 of the inner holder 18 and the outer holder 15.
Since it is connected to the port 16 of the outer holder 15 with sufficient airtightness, when vacuum suction is performed from the port 16 of the outer holder 15, negative pressure is also generated on the component suction surface of the tip nozzle 23, and the component It can be gripped by suction. Also,
On the contrary, it goes without saying that if compressed air is supplied from the port 16 of the outer holder 15, the adsorption state of the components at the tip nozzle 23 can be released. In addition, the inner holder 18 is rotatably locked to the outer holder 15 together with the cross roller bearing 34, and the drive in the rotational direction is driven by the outer holder 1.
5 The cam follower 12, pulley 33, and timing belt 6 that are in slidable contact with the groove in the upper part.
The signal is transmitted from a motor (not shown) via the motor. On the other hand, in the vertical direction, the outer holder 15 itself is also movable by driving the nozzle vertical motor 28 via the ball screw 30 and the coupling 29.

【0018】次に、走査光学部27について説明する。 レーザー光学系53から光ファイバー1により伝送され
てきたレーザー光は、走査光学部27のコリメーターレ
ンズ系2に導かれ、半田付けに最適な約1〜3ミリの大
きさにコリメートせれた後に、ダイクロイックミラー3
により反射されてガルバノメータ24によりX方向に揺
動可能なミラー25、及びガルバノメータ11によりY
方向に揺動可能なミラー26に導かれて順次反射される
。次に、レーザー光は、fθレンズ31の働きにより基
板41表面においてテレセントリックに合焦する状態で
照射される。また、前記ダイクロイックミラー3は、レ
ーザー光は反射するが、可視光線を透過する性質を持つ
ために、ダイクロイックミラー3によって反射されたレ
ーザー光と光軸が一致し、かつ基板41上のレーザー照
射点の像をCCD素子上に結ぶようにCCDカメラ4を
配設することにより、ガルバノメータ24及び11が如
何にレーザー光を走査しても基板41上のレーザー照射
点を認識することができる。さらには、このCCDカメ
ラ4とダイクロイックミラー3とをむすぶ光軸上にハー
フミラー5を設け、このハーフミラー5をはさんでCC
Dカメラ4と反対側に測温センサー7が、ハーフミラー
5によって反射された光線と光軸が一致し、かつ基板4
1上のレーザー照射点の温度が測定可能な位置関係に配
置されているため、ガルバノメータ24及び11が如何
にレーザーを走査しても基板41上のレーザー照射点で
の温度を測定することができる。
Next, the scanning optical section 27 will be explained. The laser beam transmitted by the optical fiber 1 from the laser optical system 53 is guided to the collimator lens system 2 of the scanning optical section 27, and after being collimated to a size of approximately 1 to 3 mm, which is optimal for soldering, the laser beam is mirror 3
mirror 25 that can be reflected in the X direction by the galvanometer 24, and Y by the galvanometer 11.
The light is guided to a mirror 26 that can be swung in different directions, and is sequentially reflected. Next, the laser beam is irradiated with telecentric focus on the surface of the substrate 41 by the action of the fθ lens 31. Further, since the dichroic mirror 3 has a property of reflecting laser light but transmitting visible light, the optical axis of the dichroic mirror 3 coincides with the laser light reflected by the dichroic mirror 3, and the laser irradiation point on the substrate 41 By arranging the CCD camera 4 so as to focus the image on the CCD element, the laser irradiation point on the substrate 41 can be recognized no matter how the galvanometers 24 and 11 scan the laser beam. Furthermore, a half mirror 5 is provided on the optical axis connecting the CCD camera 4 and the dichroic mirror 3, and the CC
A temperature sensor 7 is located on the opposite side of the D camera 4, and the optical axis of the light beam reflected by the half mirror 5 coincides with the substrate 4.
Since the galvanometers 24 and 11 are arranged in a positional relationship that allows the temperature of the laser irradiation point on the substrate 41 to be measured, the temperature at the laser irradiation point on the substrate 41 can be measured no matter how the galvanometers 24 and 11 scan the laser. .

【0019】また、透光板38の周辺部には、走査光学
部27により走査されて電子部品40の電極部に照射さ
れたレーザー光の反射光を検出し、その反射光の当たっ
た点の位置情報を提供することのできる形状検出手段3
7が設けられている。以上の説明のうち、レーザー光の
照射経路の概要を簡略化して示した図が図4である。
Further, the peripheral part of the transparent plate 38 is scanned by the scanning optical part 27 to detect the reflected light of the laser light irradiated to the electrode part of the electronic component 40, and to detect the point where the reflected light hit. Shape detection means 3 capable of providing position information
7 is provided. Of the above explanations, FIG. 4 is a diagram showing a simplified outline of the laser beam irradiation path.

【0020】次に、上記部品接続装置の動作について説
明する。図1〜図4において、部品収納部50に収納さ
れた電子部品40は、移載手段(図示せず)により部品
移載装置51上の部品規正部59に移載される。この部
品規正部59上では、部品規正爪60が電子部品40を
位置規正し、同時に部品規制部59自体がレール57上
を移載モータ58の駆動により移動する。部品収納部5
0内に収納された電子部品40は、逐次、位置規正され
た状態でXYロボット42の可動範囲内に移載される。 つぎに、XYロボット42上に係合されたヘッド部49
を、位置規正が完了され移載されてきた電子部品40の
上方の所定位置に対向位置させ、ノズル上下モータ28
の駆動をボールネジ30に伝達し、アウターホルダー1
5を下降させると同時に、アウターホルダー15のポー
ト16に接続されている図示されない真空ポンプを動作
させ、電子部品を先端ノズル23に吸着させる。次に、
電子部品40を吸着した先端ノズル23をアウターホル
ダー15ごと再び上昇させ、この電子部品40が、フラ
ックス塗布部52のフラックスブロック70の上方の所
定位置に対向位置するように、XYロボット42を移動
させる。フラックス塗布部52では比重計66、汚れ検
出センサ67と液位センサ68とによって、比重,汚れ
具合及び液位を管理されたフラックス71中にあらかじ
め沈みこませてあったフラックスブロック70を、フラ
ックス塗布上下シリンダ69によって上下させ、その凹
部にフラックス71を汲み上げてその上方に対向位置し
ている電子部品40の電極部に塗布する。フラックスを
塗布後、再びフラックスブロック70をフラックス塗布
上下シリンダ69により下降させてフラックス71中に
沈みこませ、一連のフラックス塗布動作を終了する。
Next, the operation of the above component connecting device will be explained. 1 to 4, the electronic component 40 stored in the component storage section 50 is transferred to the component regulating section 59 on the component transfer device 51 by a transfer means (not shown). On this component regulating section 59, a component regulating claw 60 regulates the position of the electronic component 40, and at the same time, the component regulating section 59 itself moves on the rail 57 by the drive of the transfer motor 58. Parts storage section 5
The electronic components 40 housed in the XY robot 42 are sequentially transferred within the movable range of the XY robot 42 with their positions regulated. Next, the head part 49 engaged on the XY robot 42
are placed opposite to a predetermined position above the electronic component 40 that has been transferred after position adjustment, and the nozzle vertical motor 28
The drive of the outer holder 1 is transmitted to the ball screw 30.
5 is lowered, a vacuum pump (not shown) connected to the port 16 of the outer holder 15 is operated, and the electronic component is sucked into the tip nozzle 23. next,
The tip nozzle 23 that has absorbed the electronic component 40 is raised again along with the outer holder 15, and the XY robot 42 is moved so that the electronic component 40 is located at a predetermined position above and opposite to the flux block 70 of the flux application section 52. . In the flux application section 52, a flux block 70, which has been submerged in advance in a flux 71 whose specific gravity, degree of contamination, and liquid level are controlled by a hydrometer 66, a dirt detection sensor 67, and a liquid level sensor 68, is coated with flux. It is moved up and down by the upper and lower cylinders 69, and the flux 71 is pumped up into the recessed part and applied to the electrode part of the electronic component 40 located above the recessed part. After applying the flux, the flux block 70 is lowered again by the flux application upper and lower cylinders 69 to sink into the flux 71, thereby completing the series of flux application operations.

【0021】ここで、フラックス塗布の必要性について
述べる。フラックスを塗布するのは、基板及び電子部品
の電極部を清浄化し、また、電極部に付着している酸化
膜を除去するため、そして、半田付け時に半田の表面張
力を低下させて電極部の隅々にまで、溶融した半田が広
がるようにするためである。供給された基板に、クリー
ム半田があらかじめ塗布されている場合には、そのクリ
ーム半田自体がフラックスを含有しているので、フラッ
クス塗布工程は、不要である。
[0021] Here, the necessity of flux application will be described. Flux is applied to clean the electrodes of circuit boards and electronic components, to remove oxide films adhering to the electrodes, and to reduce the surface tension of the solder during soldering. This is to ensure that the molten solder spreads to every corner. If the supplied board is coated with cream solder in advance, the cream solder itself contains flux, so the flux coating step is not necessary.

【0022】つぎに、電極部にフラックスを塗布された
電子部品40は、つぎに部品認識カメラ43によりその
位置を認識させた後に、基板搬送部48上の部品接続位
置44において基板規正シリンダ65により位置規正さ
れている基板41の部品接続位置上方の所定位置までX
Yロボット42により移動させられる。
Next, the electronic component 40 whose electrode part has been coated with flux has its position recognized by the component recognition camera 43, and then is moved by the board regulating cylinder 65 at the component connection position 44 on the board transport section 48. X to a predetermined position above the component connection position of the board 41 whose position has been regulated
It is moved by the Y robot 42.

【0023】このとき、基板41は上流の基板予熱部4
5によってすでに部品接続に好適な温度にまで予熱され
てから部品接続位置に搬送されており、この部品接続位
置に待機しているときも、エアドライヤ61b,61c
,61dからの温風により予熱され続けているので、予
熱効果を損なうことはない。
At this time, the substrate 41 is placed in the upstream substrate preheating section 4.
The air dryers 61b and 61c have already been preheated to a temperature suitable for component connection by the air dryers 61b and 61c before being transported to the component connection position, and while waiting at this component connection position.
, 61d, the preheating effect is not impaired.

【0024】この部品接続装置は、クリーム半田塗布・
電子部品装着・リフローからなる通常の実装工程では、
熱的に破壊されたり、電気的な特性を損なってしまうお
それのある電子部品の後付けに適用されるために、それ
ら通常の実装工程の後ろに設置される。そのために、こ
の部品接続装置に供給されてくる基板には、すでに多く
の電子部品が半田付けされており、この装置の基板予熱
部において基板が高温になりすぎると、すでに一括リフ
ロー半田付けされている電子部品の半田結合部が溶融し
てしまい、電子部品の欠落を発生してしまうおそれがあ
る。そこで、エアドライヤ61aの発生する温風の熱量
を、スライダック62aにより好適な量に調整して基板
予熱ボックス75に供給できる構成になっている。また
、部品接続位置44に温風を供給しているエアドライヤ
61b,61c,61dについても、同じ理由からスラ
イダック62b,62c,62dを配置し、予熱効果を
保持している。
[0024] This component connecting device uses cream solder coating and
In the normal mounting process consisting of electronic component mounting and reflow,
It is installed after the normal mounting process because it is applied to the retrofitting of electronic components that may be thermally destroyed or have their electrical characteristics damaged. For this reason, many electronic components are already soldered on the board supplied to this component connection device, and if the board gets too hot in the board preheating section of this device, it will be removed from the board that has already been reflow soldered all at once. There is a risk that the solder joints of the electronic components that are present may melt, causing the electronic components to become missing. Therefore, the heat amount of the hot air generated by the air dryer 61a is adjusted to a suitable amount by the slide duck 62a, and is then supplied to the substrate preheating box 75. Further, for the air dryers 61b, 61c, and 61d that supply hot air to the component connection position 44, slide ducks 62b, 62c, and 62d are arranged for the same reason to maintain the preheating effect.

【0025】また、図5に示すように、部品認識カメラ
43によりその位置を認識した部品の電極部に対して、
レーザー光をヘッド部49の走査光学部27により順次
走査して照射することにより、電子部品の電極部を半田
付けに最適な温度にまで予熱して、部品接続位置44に
待機している基板41上に移載することができる。この
とき電子部品電極部の温度測定は、前記走査光学系に設
けられた測温センサ7により監視することができること
は、いうまでもない。さらには、図5の中に示すように
、電子部品40を基板41上の部品接続位置上方に対向
位置させ、正規な装着位置に対してX軸方向にΔX、Y
軸方向にΔY、Z軸方向にΔZ、θ方向にΔθだけオフ
セットさせた状態でヘッド部49の走査光学部27より
レーザー光を走査して照射することにより、同一視野内
において電子部品40の電極部と基板41の電極部とを
ともに半田付けに好適な温度状態になるまで、測温セン
サー7により監視しながら予熱することができる。予熱
時に与える熱量のコントロールは、レーザー光の出力を
一定にしたままで、ガルバノメータ24,11による走
査速度および、レーザー光出力のON/OFFタイミン
グを制御する方式と、もう一方は、ガルバノメータ24
,11の走査速度を一定にしたままでレーザー光の出力
及びON/OFFタイミングを制御する方式の二つが考
えられる。
Furthermore, as shown in FIG. 5, for the electrode portion of the component whose position has been recognized by the component recognition camera 43,
By sequentially scanning and irradiating the laser beam with the scanning optical section 27 of the head section 49, the electrode section of the electronic component is preheated to the optimum temperature for soldering, and the board 41 waiting at the component connection position 44 is heated. It can be transferred above. It goes without saying that the temperature measurement of the electronic component electrode section at this time can be monitored by the temperature sensor 7 provided in the scanning optical system. Furthermore, as shown in FIG. 5, the electronic component 40 is positioned facing above the component connection position on the board 41, and ΔX and Y in the X-axis direction with respect to the normal mounting position.
By scanning and irradiating the laser beam from the scanning optical section 27 of the head section 49 with an offset of ΔY in the axial direction, ΔZ in the Z-axis direction, and Δθ in the θ direction, the electrodes of the electronic component 40 can be detected within the same field of view. It is possible to preheat while monitoring with the temperature sensor 7 until both the electrode portion and the electrode portion of the substrate 41 reach a temperature state suitable for soldering. The amount of heat given during preheating can be controlled by controlling the scanning speed of the galvanometers 24 and 11 and the ON/OFF timing of the laser light output while keeping the laser light output constant;
, 11 are kept constant while controlling the output and ON/OFF timing of the laser beam.

【0026】続いて、電子部品電極部及び、基板電極部
とが所定の予熱温度に達した後に、ΔX,ΔY,ΔZ,
Δθの諸オフセット値をゼロに再設定して、基板41上
の正規の位置に電子部品40を装着し、引き続いてレー
ザー光を走査して照射することにより、すべての電極部
において半田付けが行われる。
Subsequently, after the electronic component electrode section and the substrate electrode section reach a predetermined preheating temperature, ΔX, ΔY, ΔZ,
The various offset values of Δθ are reset to zero, the electronic component 40 is mounted on the regular position on the board 41, and then the laser beam is scanned and irradiated to perform soldering on all the electrode parts. be exposed.

【0027】このとき、走査光学部27に設置されてい
るCCDカメラ4は、図6に示すように、透光板36、
及び38を通して同一認識視野内に、基板電極部81と
電子部品電極部80とを捉えることができるために、高
精度に電子部品40を基板41に対して位置決めするこ
とができる。
At this time, as shown in FIG. 6, the CCD camera 4 installed in the scanning optical section 27
Since the substrate electrode portion 81 and the electronic component electrode portion 80 can be captured within the same recognition field of view through the electronic device 38 and 38, the electronic component 40 can be positioned with respect to the substrate 41 with high precision.

【0028】つぎに、本部品接続装置における走査光学
系及び認識光学系の、データ処理方法について述べる。 図7は、ヘッド部49が部品接続位置44上方に待機し
ている状態を示しており、このとき基板規正シリンダ6
5により位置規正されている基板41に設けられている
基板マーク79を、ヘッド部49の走査光学部27に設
置されているCCDカメラ4により認識するが、この認
識画面を図8に示す。画面のなかに引かれたクロスライ
ン82の交点は、レーザー光の照射位置であり、走査光
学系の画面中心である。さらに、同じ基板マーク79が
、基板認識カメラ78の視野の中央に入るように、XY
ロボット42によりヘッド部49を移動し、この基板認
識カメラ78により再び基板マーク79を認識し、図9
認識画面を得ることができる。以上、得られた図8及び
図9の認識画面情報およびXYロボットの位置情報に間
するNCデータによって、ガルバノメータ24,11の
位置を常時補正することができる。次に、先に述べた部
品認識カメラ43上方にこのままヘッド部49を移動し
、先端ノズル23により把持されている電子部品40を
認識し、図10左の画像を得ることができる。この状態
のままで、インアーホルダー18を図示しないモータの
駆動によりθ方向に所定量回転させ、この状態において
も電子部品40を認識することにより図10右の画像を
得ることができる。この2つの画像情報から、インナー
ホルダー18及び先端ノズル23の回転中心位置を計算
により求めることができる。この回転中心位置に対して
、さきに計算により求めたガルバノメータ24,11の
補正量を加えることにより、XYロボットを駆動するN
Cデータと、走査光学系との位置補正を高精度によりお
こなくことができる。
Next, the data processing method of the scanning optical system and recognition optical system in this component connecting device will be described. FIG. 7 shows a state in which the head portion 49 is waiting above the component connection position 44, and at this time, the board regulating cylinder 6
The board mark 79 provided on the board 41 whose position has been regulated by 5 is recognized by the CCD camera 4 installed in the scanning optical section 27 of the head section 49, and this recognition screen is shown in FIG. The intersection of the cross lines 82 drawn in the screen is the irradiation position of the laser beam, and is the center of the screen of the scanning optical system. Furthermore, the XY
The head part 49 is moved by the robot 42, and the board mark 79 is recognized again by the board recognition camera 78, and the image shown in FIG.
You can get the recognition screen. As described above, the positions of the galvanometers 24 and 11 can be constantly corrected using the obtained recognition screen information of FIGS. 8 and 9 and the NC data between the XY robot position information. Next, the head section 49 is moved above the component recognition camera 43 mentioned above, the electronic component 40 held by the tip nozzle 23 is recognized, and the image shown on the left in FIG. 10 can be obtained. In this state, the inner holder 18 is rotated by a predetermined amount in the θ direction by a motor (not shown), and the image shown on the right in FIG. 10 can be obtained by recognizing the electronic component 40 even in this state. From these two image information, the rotational center positions of the inner holder 18 and the tip nozzle 23 can be calculated. By adding the correction amounts of the galvanometers 24 and 11 calculated earlier to this rotation center position, the N
Positional correction between the C data and the scanning optical system can be performed with high precision.

【0029】つぎに、電子部品ごとの装着位置情報や、
レーザ光による接続条件であるパーツデータのうち、と
くに、レーザー光照射条件の教示方法について図11〜
図14に基づいて説明する。
Next, the installation position information for each electronic component,
Of the part data that is the connection condition by laser beam, especially the method of teaching the laser beam irradiation condition is shown in Figures 11 to 11.
This will be explained based on FIG. 14.

【0030】この教示作業は、前述の操作パネル47に
より行う。はじめに、データの書き込みを行う状態を設
定し、次に、レーザー光による予熱、及びレーザー光に
よる接続の2つについても設定を行う。実際に電子部品
を接続する場合には、前述のとおり、電子部品を先端ノ
ズルにより把持し、つぎにフラックスをその電極部に塗
布し、基板と電子部品を高精度に位置決めしたのちにレ
ーザー光により予熱,接続を実施するが、教示の場合に
ついては、電子部品を把持しても、またしなくても教示
が行えるようになっており、レーザー予熱についても使
用するか、しないかを選択できるようになっている。こ
の図11のフローにより、レーザー光照射開始位置及び
照射終了位置、そしてこの2点間をレーザー走査する速
度、そしてレーザー光出力や繰り返し実行数等を入力し
さえすれば、図13から図15に示すようなレーザー光
照射条件を自由に設定することができる。
This teaching work is performed using the aforementioned operation panel 47. First, the state for writing data is set, and then the settings for preheating using laser light and connection using laser light are also set. When actually connecting electronic components, as mentioned above, the electronic components are gripped by the tip nozzle, flux is applied to the electrodes, the board and electronic components are positioned with high precision, and then laser light is applied to the electronic components. Preheating and connection are performed, but in the case of teaching, teaching can be performed with or without gripping the electronic component, and it is also possible to choose whether or not to use laser preheating. It has become. According to the flow shown in FIG. 11, as long as you input the laser beam irradiation start position and irradiation end position, the speed of laser scanning between these two points, the laser beam output, the number of repetitions, etc., you can change from FIG. 13 to FIG. 15. The laser light irradiation conditions as shown can be freely set.

【0031】本出願人は、さきに出願済みの特許明細書
(特願平3−37198)において、すべての基板電極
部の予備半田をレーザー光により再溶融させた後に電子
部品の電極部を装着し、半田付けを行う電子部品接続方
法(図16にフロー図を示す)を考案しているが、本発
明による電子部品接続装置においても同様に適用するこ
とができる。また、先の発明においては、基板電極部の
半田溶融をレーザー光などのエネルギーを供給する時間
により管理していたが、本発明による電子部品接続装置
においては、前述の測温センサ7により、レーザー光の
照射位置の温度を常時監視しながらレーザー光照射条件
を管理することができるために、必要最低限のエネルギ
ー供給により半田付けを行うことができ、基板及び電子
部品双方に過剰な熱衝撃を加えることもなく、接続時間
自体をも大幅に短縮することができるようになっている
[0031] In the previously filed patent specification (Japanese Patent Application No. 3-37198), the present applicant claims that after re-melting the preliminary solder of all board electrode parts with a laser beam, the electrode parts of electronic parts are attached. However, an electronic component connecting method using soldering (a flow diagram is shown in FIG. 16) has been devised, but it can be similarly applied to the electronic component connecting apparatus according to the present invention. Further, in the previous invention, the solder melting of the board electrode part was managed by the time for supplying energy such as a laser beam, but in the electronic component connecting device according to the present invention, the temperature sensor 7 described above controls the melting of the solder by the laser beam Since the laser light irradiation conditions can be controlled while constantly monitoring the temperature at the light irradiation position, soldering can be performed with the minimum necessary energy supply, avoiding excessive thermal shock to both the board and electronic components. This allows the connection time itself to be significantly shortened without adding anything.

【0032】さらには、半田付けのために照射されたレ
ーザー光のうち、照射位置にて反射された光をインナー
ホルダー18に設置されている前述の形状検出手段37
の検出面にてとらえ、その反射光の当たった位置の情報
と、ガルバノメータ24,11により揺動されるミラー
25,26の位置情報とから、レーザー光が照射されて
いる位置で反射された角度を計算することができる。さ
らに、順次レーザー光を走査しつつ、周辺部分でのレー
ザー光の反射情報を検出することにより、レーザー光照
射位置での形状を計算して求めることができる。そして
、この形状検出手段37からの情報をもとに、予備半田
部分の再溶融の状況や、電子部品の電極部に形成される
フィレットの形成状況などを検出しつつ、レーザー光の
照射条件を制御することが可能である。
Furthermore, out of the laser light irradiated for soldering, the light reflected at the irradiation position is detected by the shape detecting means 37 installed in the inner holder 18.
The angle at which the laser beam is reflected at the irradiated position is calculated from the information about the position of the reflected light detected by the detection surface of the laser beam and the position information of the mirrors 25 and 26 that are swung by the galvanometers 24 and 11. can be calculated. Furthermore, by sequentially scanning the laser beam and detecting the reflection information of the laser beam at the peripheral portion, the shape at the laser beam irradiation position can be calculated and determined. Based on the information from the shape detection means 37, the laser beam irradiation conditions are determined while detecting the remelting status of the preliminary solder part and the formation status of the fillet formed on the electrode part of the electronic component. It is possible to control.

【0033】また、先の発明においては、図17に示す
ように、レーザー光を出射光学部83及びシリンドリカ
ルレンズ84を介して、線状にして照射し、複数の接続
部を同時に加熱して半田付けを実施していたが、本発明
の部品接続装置によれば、図18に示すように、走査光
学部27により、レーザー光を高速に、かつ複数回にわ
たって照射することで疑似的に線状の光を照射したのと
同じ状態をつくりだして、半田付けを行うことができる
Further, in the previous invention, as shown in FIG. 17, a laser beam is irradiated in a linear manner through an output optical section 83 and a cylindrical lens 84, and a plurality of connection parts are simultaneously heated and soldered. However, according to the component connecting device of the present invention, as shown in FIG. It is possible to perform soldering by creating the same condition as when irradiated with light.

【0034】また、予備半田部が、あらかじめ一括リフ
ローによって形成されている場合においても、リフロー
以前にクリーム半田中に含まれていたフラックス成分が
、リフロー工程により蒸発され、かつ半田が凝固してし
まっているので、本発明の部品接続装置においてレーザ
ー光を走査して照射し、再溶融させたのちに電子部品を
装着して半田付けを実施しても半田ボールを発生するこ
とがない。
[0034] Furthermore, even if the preliminary solder portion is formed in advance by batch reflow, the flux component contained in the cream solder before reflow is evaporated during the reflow process, and the solder is solidified. Therefore, in the component connecting device of the present invention, even if electronic components are mounted and soldered after scanning and irradiating with a laser beam to remelt the components, solder balls will not be generated.

【0035】上記実施例では、基板予熱部45において
基板41を予熱する熱源として、エアドライヤを用いた
が、図19に示すようにキセノンランプ,紫外線ランプ
,赤外線ランプのような光線照射手段85や、図20に
示すヒータ86を内蔵したヒートブロック87を熱源と
し、ヒータ駆動手段88により基板41に対して前記ヒ
ートブロック87を好適的な位置に位置決めして基板4
1を予熱する方式であっても、同じ効果を得ることがで
きる。
In the above embodiment, an air dryer was used as a heat source for preheating the substrate 41 in the substrate preheating section 45, but as shown in FIG. A heat block 87 having a built-in heater 86 shown in FIG. 20 is used as a heat source, and a heater driving means 88 positions the heat block 87 at a suitable position with respect to the substrate 41.
The same effect can be obtained even with a method of preheating 1.

【0036】以上、第一実施例について説明したが、第
一実施例に示した以外の、より高速にフラックスを塗布
する手段の構成及び動作を以下に第2実施例として図2
1をもとに説明する。フラックス71が満たされたフラ
ックス槽92の中に、気泡発生ブロック91を沈ませ、
これにホース90を介して空気を送り込むと、フラック
ス槽92のなかのフラックス71が発泡し、液面上にフ
ラックス泡89が発生する。あらかじめ所定の位置に位
置決めされて供給された電子部品40を先端ノズル23
により把持し、このフラックス泡89中を移動させれば
、電子部品40の電極部にフラックス71を塗布するこ
とができる。この方法によれば、フラックス塗布部52
上方の所定位置においてヘッド部49を対向位置させて
停止する必要もなく、より高速にフラックスを塗布する
ことができる。
The first embodiment has been described above, and the structure and operation of a means for applying flux at a higher speed other than that shown in the first embodiment will be described below as a second embodiment as shown in FIG.
The explanation will be based on 1. The bubble generating block 91 is submerged in a flux tank 92 filled with flux 71,
When air is sent into this via the hose 90, the flux 71 in the flux tank 92 foams, and flux bubbles 89 are generated on the liquid surface. The electronic component 40, which has been previously positioned at a predetermined position and supplied, is inserted into the tip nozzle 23.
The flux 71 can be applied to the electrode portion of the electronic component 40 by gripping it and moving it through the flux bubbles 89. According to this method, the flux application portion 52
There is no need for the head portion 49 to be opposed to the head portion 49 at a predetermined position above and stopped, and flux can be applied at a higher speed.

【0037】しかしながら、電子部品40の電極部のみ
ならず、電極部の周辺部分にまでフラックスが塗布され
てしまうため、電子部品を後付けしたのちに洗浄が必要
となるので、洗浄不可能な電子部品に対しては適用でき
ないが、洗浄可能な弱耐熱部品の後付け時のフラックス
塗布手段としては、高速に塗布できるという利点を活か
し、部品接続時間の短縮を図ることができる。
However, since the flux is applied not only to the electrode part of the electronic component 40 but also to the peripheral part of the electrode part, cleaning is required after the electronic component is retrofitted. However, as a means for applying flux when retrofitting washable weakly heat-resistant parts, it is possible to take advantage of the advantage of high-speed application and shorten the time required to connect parts.

【0038】以上に述べたフラックス塗布手段は、いず
れも電子部品40の電極部にフラックス71を塗布する
ものであったが、第3実施例として、基板41の電極部
にフラックス71を塗布する方法について述べる。
The flux application means described above all apply the flux 71 to the electrode portions of the electronic component 40, but as a third embodiment, a method of applying flux 71 to the electrode portions of the substrate 41 is described. Let's talk about.

【0039】図22において、容器に充填されたフラッ
クス71は、ホース94を介して筆93に供給される。 前記筆93の先端は、多数の毛細管により形成されてい
るため、毛細管現象により、適度なフラックスが、間断
なく供給され続ける。筆93は、駆動手段(図示せず)
によって3次元方向に任意に移動可能な状態で把持され
ているので、基板41上の任意の部位にフラックスを塗
布することができる。この方法によれば、ディスペンサ
を用いるより少量の、必要な量のフラックスを安定して
基板の予備半田部にあたえることができる。
In FIG. 22, flux 71 filled in a container is supplied to a brush 93 via a hose 94. Since the tip of the brush 93 is formed by a large number of capillaries, an appropriate amount of flux is continuously supplied due to capillary action. The brush 93 is a driving means (not shown)
Since the substrate 41 is held in a state where it can be moved arbitrarily in three-dimensional directions, flux can be applied to any part on the substrate 41. According to this method, it is possible to stably apply the required amount of flux to the pre-soldered portion of the board in a smaller amount than when using a dispenser.

【0040】[0040]

【発明の効果】本発明によれば、弱耐熱性電子部品や、
洗浄不可能な電子部品を含む多種類の電子部品を、その
特性を損なうことなく、自動機により安定して基板上に
半田付けすることができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, weak heat-resistant electronic components,
Various types of electronic components, including electronic components that cannot be cleaned, can be stably soldered onto a board by an automatic machine without damaging their characteristics.

【0041】また、電子部品の装着と本固定を1工程で
おこなって生産性を向上できるために、工場の面積生産
性の向上にも貢献することができる。
[0041] Furthermore, since the mounting and final fixing of electronic components can be performed in one process, productivity can be improved, which can also contribute to an improvement in the area productivity of the factory.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の部品接続装置のヘッド部の斜視図FIG. 1 is a perspective view of the head portion of the component connecting device of the present invention.

【図
2】部品接続装置全体の斜視図
[Figure 2] Perspective view of the entire component connecting device

【図3】図2の電子部品接続装置の要部の詳細な構成を
示す斜視図
FIG. 3 is a perspective view showing the detailed configuration of the main parts of the electronic component connecting device shown in FIG. 2;

【図4】光学系の概要を示した斜視図[Figure 4] Perspective view showing an overview of the optical system

【図5】電子部品接続装置の動作を説明する斜視図[Fig. 5] A perspective view illustrating the operation of the electronic component connecting device.

【図
6】電子部品を基板に対向位置させた状態における基板
と電子部品の位置関係を示す図
[Figure 6] A diagram showing the positional relationship between the board and electronic components when the electronic components are positioned opposite to the board.

【図7】電子部品接続装置ヘッド部を、位置決めした基
板に対向させている図
[Figure 7] A diagram showing the head of the electronic component connecting device facing the positioned board.

【図8】走査光学系により取り込まれる画像の図[Figure 8] Illustration of an image captured by the scanning optical system

【図9
】基板認識光学系により取り込まれる画像の図
[Figure 9
] Diagram of image captured by board recognition optical system

【図10
】部品認識カメラにより取り込まれる画像の図
[Figure 10
】Illustration of the image captured by the parts recognition camera

【図11
】接続条件の教示方法を説明するフロー図
[Figure 11
]Flow diagram explaining how to teach connection conditions

【図12】レ
ーザー光出力の与え方を説明する図
[Figure 12] Diagram explaining how to give laser light output

【図13】レーザー
照射の一例を示す図
[Figure 13] Diagram showing an example of laser irradiation

【図14】レーザー照射の一例を示
す図
[Figure 14] Diagram showing an example of laser irradiation

【図15】レーザー照射の一例を示す図[Figure 15] Diagram showing an example of laser irradiation

【図16】
先願の電子部品接続の方法を示すフロー図
[Figure 16]
Flow diagram showing the method of connecting electronic components in the prior application

【図17】シ
リンドリカルレンズを用いた電子部品接続方法を示す図
[Figure 17] Diagram showing a method of connecting electronic components using a cylindrical lens

【図18】本願の電子部品接続装置により、光線を高速
に往復させて疑似的に線状光として照射する方法を示し
た図
FIG. 18 is a diagram showing a method of reciprocating a light beam at high speed and irradiating it as a pseudo linear light using the electronic component connecting device of the present application.

【図19】基板予熱の熱源として光線照射手段を示した
[Figure 19] Diagram showing light irradiation means as a heat source for substrate preheating

【図20】基板予熱の熱源としてヒートブロックを示し
た図
[Figure 20] Diagram showing a heat block as a heat source for substrate preheating

【図21】本願の第2実施例として、フラックス塗布例
を示した図
[Fig. 21] A diagram showing an example of flux application as a second embodiment of the present application.

【図22】本願の第3実施例として、フラックス塗布例
を示した図
[Fig. 22] A diagram showing an example of flux application as a third embodiment of the present application.

【図23】手作業により弱耐熱部品を基板に接続するフ
ローを示した図
[Figure 23] Diagram showing the flow of manually connecting weak heat-resistant parts to the board

【図24】低温半田付けにより弱耐熱部品を基板に接続
するフローを示した図
[Figure 24] Diagram showing the flow of connecting weak heat-resistant components to a board by low-temperature soldering

【図25】手作業により、洗浄不可能な電子部品を基板
に接続するフローを示した図
[Figure 25] Diagram showing the flow of manually connecting electronic components that cannot be cleaned to a board

【図26】手作業により電子部品を基板に接続する方法
を示した図
[Figure 26] Diagram showing how to manually connect electronic components to a board

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1    光ファイバー 2    コリメーターレンズ系 3    ダイクロイックミラー 4    CCDカメラ 5    ハーフミラー 6    ダイミングベルト 7    測温センサー 8    ボールネジ 9    LMガイド 10  X軸架台 11  ガルバノメータ 12  カムフォロワー 13  ヘッドフレーム 14  LMガイド 15  アウターホルダー 16  ポート 17  通気孔 18  インナーホルダー 19  通気孔 20  透光板ホルダー 21  ノズル 22  ノズルホルダー 23  先端ノズル 24  ガルバノメータ 25  ミラー 26  ミラー 27  走査光学部 28  ノズル上下モータ 29  カップリング 30  ボールネジ 31  fθレンズ 32  把持部 33  プーリ 34  クロスローラーベアリング 35  環状溝 36  透光板 37  形状検出手段 38  透光板 39  圧縮バネ 40  電子部品 41  基板 42  XYロボット 43  部品認識カメラ 44  部品接続位置 45  基板予熱部 46  本体フレーム 47  操作パネル 48  基板搬送部 49  ヘッド部 50  部品収納部 51  部品移載装置 52  フラックス塗布部 53  レーザー光学系 54  レーザー電源 55  プーリ 56  プーリ 57  レール 58  移載モータ 59  部品規正部 60  部品規正爪 61  エアドライヤ 62  スライダック 63  プーリ 64  ダクトホース 65  基板規正シリンダー 66  比重計 67  汚れ検出センサー 68  液位センサ 69  フラックス塗布部上下シリンダー70  フラ
ックスブロック 71  フラックス 72  カバー 73  搬送ベルト 74  搬送レール 75  基板予熱ボックス 76  ブラケット 77  形状検出手段 78  基板認識カメラ 79  基板マーク 80  電子部品電極部 81  基板電極部 82  クロスライン 83  出射光学部 84  シリンドリカルレンズ 85  光線照射手段 86  ヒータ 87  ヒートブロック 88  ヒータ駆動手段 89  フラックス泡 90  ホース 91  気泡発生ブロック 92  フラックス槽 93  筆 94  ホース 95  半田 96  複合モジュール部品 97  水晶発振子 98  半田ごて 99  半田ボール
1 Optical fiber 2 Collimator lens system 3 Dichroic mirror 4 CCD camera 5 Half mirror 6 Dimming belt 7 Temperature sensor 8 Ball screw 9 LM guide 10 X-axis mount 11 Galvanometer 12 Cam follower 13 Head frame 14 LM guide 15 Outer holder 16 Port 17 Ventilation hole 18 Inner holder 19 Ventilation hole 20 Transparent plate holder 21 Nozzle 22 Nozzle holder 23 Tip nozzle 24 Galvanometer 25 Mirror 26 Mirror 27 Scanning optical section 28 Nozzle up and down motor 29 Coupling 30 Ball screw 31 fθ lens 32 Grip section 33 Pulley 34 Cross Roller bearing 35 Annular groove 36 Transparent plate 37 Shape detection means 38 Transparent plate 39 Compression spring 40 Electronic components 41 Board 42 XY robot 43 Component recognition camera 44 Component connection position 45 Board preheating section 46 Main frame 47 Operation panel 48 Board transport section 49 Head section 50 Component storage section 51 Component transfer device 52 Flux application section 53 Laser optical system 54 Laser power source 55 Pulley 56 Pulley 57 Rail 58 Transfer motor 59 Component regulation section 60 Component regulation claw 61 Air dryer 62 Slide duck 63 Pulley 64 Duct hose 65 Board regulating cylinder 66 Hydrometer 67 Dirt detection sensor 68 Liquid level sensor 69 Flux application section upper and lower cylinders 70 Flux block 71 Flux 72 Cover 73 Transport belt 74 Transport rail 75 Board preheating box 76 Bracket 77 Shape detection means 78 Board recognition camera 79 Board Mark 80 Electronic component electrode section 81 Board electrode section 82 Cross line 83 Output optical section 84 Cylindrical lens 85 Light irradiation means 86 Heater 87 Heat block 88 Heater driving means 89 Flux foam 90 Hose 91 Air bubble generation block 92 Flux tank 93 Brush 94 Hose 95 Solder 96 Composite module parts 97 Crystal oscillator 98 Soldering iron 99 Solder ball

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  透光材からなる部品を吸着可能な吸着
ノズルと、前記吸着ノズルを通して加工光線を照射する
加工光線照射手段とを備え基板上に前記吸着ノズルの部
品を接合部材を介して装着可能に設けられた電子部品接
続装置において、前記透光材からなる吸着ノズルを通し
て加工光線を走査し照射する加工光線照射手段を設けた
ことを特徴とする電子部品接続装置。
1. A suction nozzle capable of suctioning a component made of a translucent material, and processing light irradiation means for irradiating a processing light beam through the suction nozzle, and mounting the component of the suction nozzle on a substrate via a bonding member. What is claimed is: 1. An electronic component connecting device, characterized in that the electronic component connecting device is provided with processing light irradiation means for scanning and irradiating a processing light beam through the suction nozzle made of the light-transmitting material.
【請求項2】  吸着ノズルの軸心上に加工光線走査手
段を設けた請求項1記載の電子部品接続装置。
2. The electronic component connecting device according to claim 1, further comprising processing beam scanning means provided on the axis of the suction nozzle.
【請求項3】  加工光線を加工光線照射手段から光フ
ァイバーにより導き可能に設けられた請求項1記載の電
子部品接続装置。
3. The electronic component connecting device according to claim 1, wherein the processing light beam is guided from the processing light irradiation means by an optical fiber.
【請求項4】  加工光線走査手段が、加工光線を反射
する鏡を振る機構であることを特徴とする請求項1記載
の電子部品接続装置。
4. The electronic component connecting device according to claim 1, wherein the processing beam scanning means is a mechanism for shaking a mirror that reflects the processing beam.
【請求項5】  加工光線照射位置周辺が認識可能であ
るよう認識部を設け、かつ加工光線の光軸途中に、加工
光線は反射可能で、かつ可視光線を透過可能なダイクロ
イックミラーを設けたことを特徴とする請求項1記載の
電子部品接続装置。
[Claim 5] A recognition unit is provided so that the vicinity of the processing light irradiation position can be recognized, and a dichroic mirror is provided in the middle of the optical axis of the processing light, which can reflect the processing light and transmit visible light. The electronic component connecting device according to claim 1, characterized in that:
【請求項6】  加工光線と同軸落射で走査可能な認識
光学系により、吸着ノズルが電子部品を把持したままで
電子部品の位置認識が可能であり、基板上の装着位置に
対して電子部品を同一認識視野内にて相対的に位置ぎめ
して装着し、加工光線をその接触部に走査して照射可能
な請求項1記載の電子部品接続装置。
[Claim 6] A recognition optical system capable of scanning by coaxial epi-illumination with the processing light beam makes it possible to recognize the position of the electronic component while the suction nozzle is gripping the electronic component, and to position the electronic component relative to the mounting position on the board. The electronic component connecting device according to claim 1, wherein the electronic component connecting device is capable of being mounted while being positioned relatively within the same recognition field of view, and capable of scanning and irradiating the contact portion with the processing light beam.
【請求項7】  加工光線の照射が、電子部品をあらか
じめ予備半田処理などの表面処理を施された基板の電極
部上に密着対向させて位置ぎめし、加工光線を順次走査
可能に設けられたことを特徴とする請求項1記載の電子
部品装置。
[Claim 7] The processing light beam is irradiated by positioning the electronic component in close contact with and facing the electrode portion of the substrate, which has been previously subjected to surface treatment such as preliminary soldering, and is provided so that the processing light beam can be sequentially scanned. The electronic component device according to claim 1, characterized in that:
【請求項8】  加工光線の照射が、電子部品をあらか
じめ表面処理された基板の電極部の上方に位置させ、加
工光線を電子部品電極部または基板電極部に走査して照
射して予熱したのち、電子部品を基板電極部に密着させ
、ひきつづき加工光線を照射して接続するよう構成され
たことを特徴とする請求項1記載の電子部品接続装置。
8. The irradiation with the processing light is performed after the electronic component is positioned above the electrode portion of the substrate whose surface has been previously treated, and the processing light is scanned and irradiated onto the electronic component electrode portion or the substrate electrode portion to preheat it. 2. The electronic component connecting device according to claim 1, wherein the electronic component connecting device is configured to bring the electronic component into close contact with the substrate electrode portion and to connect the electronic component by successively irradiating the processing light beam.
【請求項9】  装着前の加工光線照射により、すべて
の基板電極部の予備半田を溶融させた後に、吸着ノズル
により把持された電子部品を装着して接続するよう構成
されたことを特徴とする請求項7から8記載の電子部品
接続装置。
9. The device is characterized in that the electronic component gripped by the suction nozzle is mounted and connected after the preliminary solder of all the board electrode parts is melted by processing light irradiation before mounting. The electronic component connecting device according to claim 7 or 8.
【請求項10】  加工光線と同軸で加工光線照射位置
での温度を検出できる温度検出手段を配設したことを特
徴とする請求項1記載の電子部品接続装置。
10. The electronic component connecting device according to claim 1, further comprising temperature detection means coaxial with the processing light beam and capable of detecting the temperature at the processing light irradiation position.
【請求項11】  装着前の加工光線照射により基板電
極部の予備半田が溶融したことを温度検出手段により検
出した後に、吸着ノズルにより把持された電子部品を装
着して装着後加工光線照射を開始し、すべての接合部分
において半田のフィレットが形成されたことを温度検出
情報をもとに判断して装着後加工光線照射を終了し、電
子部品を基板上に接続するよう構成されたことを特徴と
する請求項10記載の電子部品接続装置。
11. After the temperature detection means detects that the preliminary solder on the substrate electrode portion has melted due to the processing light irradiation before mounting, the electronic component gripped by the suction nozzle is mounted, and the processing light irradiation is started after mounting. The electronic component is characterized in that it is configured to determine based on temperature detection information that solder fillets have been formed in all joint parts, and to terminate processing light irradiation after installation and connect the electronic component to the board. The electronic component connecting device according to claim 10.
【請求項12】  加工光線と同軸で加工光線照射位置
での形状を検出できる形状検出手段を配設したことを特
徴とする請求項1記載の電子部品接続装置。
12. The electronic component connecting device according to claim 1, further comprising shape detection means coaxial with the processing light beam and capable of detecting the shape at the processing light irradiation position.
【請求項13】  装着前の加工光線照射により基板電
極部の予備半田が溶融したことを上記温度検出手段によ
り検出した後に、吸着ノズルにより把持された電子部品
を装着して装着後加工光線照射を開始し、すべての接続
部分において半田のフィレットが形成されたことを上記
温度検出手段により検出した温度情報と、上記加工光線
照射位置での形状を検出する形状検出手段により検出し
た形状の情報をもとに装着後加工光線照射を終了し、電
子部品を基板上に接続することを特徴とする請求項1記
載の電子部品接続装置。
13. After the temperature detecting means detects that the preliminary solder on the substrate electrode portion has melted due to the processing light irradiation before mounting, the electronic component gripped by the suction nozzle is mounted, and the processing light irradiation is performed after mounting. The temperature information detected by the temperature detection means and the shape information detected by the shape detection means that detects the shape at the processing light irradiation position are also collected. 2. The electronic component connecting device according to claim 1, wherein the processing light irradiation is terminated after the electronic component is mounted on the board, and the electronic component is connected onto the board.
【請求項14】  電子部品を基板電極部に接続する工
程において、基板単体および電子部品を、それぞれ予熱
しておく手段と、電子部品もしくは、基板電極部に、フ
ラックスを塗布する手段とを有することを特徴とする請
求項1記載の電子部品接続装置。
14. In the step of connecting the electronic component to the substrate electrode section, the method includes means for preheating the substrate alone and the electronic component, and means for applying flux to the electronic component or the substrate electrode section. The electronic component connecting device according to claim 1, characterized in that:
JP3086966A 1991-04-18 1991-04-18 Electronic component connection device Expired - Lifetime JPH07109934B2 (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5938951A (en) * 1993-06-17 1999-08-17 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forschung E.V. Method and apparatus for the bonding of a contact element
CN106825818A (en) * 2016-12-23 2017-06-13 中源智人科技(深圳)股份有限公司 A kind of equipment with laser scolding tin and pin function

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