JPH04315344A - 符号誤り監視装置 - Google Patents
符号誤り監視装置Info
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- JPH04315344A JPH04315344A JP3108156A JP10815691A JPH04315344A JP H04315344 A JPH04315344 A JP H04315344A JP 3108156 A JP3108156 A JP 3108156A JP 10815691 A JP10815691 A JP 10815691A JP H04315344 A JPH04315344 A JP H04315344A
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 9
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 description 1
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- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はディジタル回線の品質監
視に関するもので、特に、ディジタル回線の符号誤り品
質の監視装置に関する。
視に関するもので、特に、ディジタル回線の符号誤り品
質の監視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】通信サービスの品質に与える符号誤りの
影響をサービス提供状態で測定・監視する従来技術は以
下のようである。即ち、ディジタル回線の符号誤り検査
出力を利用して、ある一定の監視期間において、単位時
間中に符号誤りが発生した数を計数し予め定められたし
きい値と比較して品質劣化を判定することが良く行われ
る。例えば監視期間を1時間、単位時間長を1秒として
その1秒間に1ビットでも誤りが発生すれば誤った区間
とし、符号誤り発生秒と呼び、この符号誤り発生秒(E
S)の発生割合を時間率(%ES)で評価している。従
来技術を用いた場合、監視期間内の符号誤り発生単位時
間数が同一であれば、符号誤り発生の集中度合、即ちバ
ースト性の如何に関わらず同一の品質評価結果(監視結
果)が得られてしまう。上記従来技術は64kb/s等
の速度で提供されている回線サービスの監視に適用され
ている。
影響をサービス提供状態で測定・監視する従来技術は以
下のようである。即ち、ディジタル回線の符号誤り検査
出力を利用して、ある一定の監視期間において、単位時
間中に符号誤りが発生した数を計数し予め定められたし
きい値と比較して品質劣化を判定することが良く行われ
る。例えば監視期間を1時間、単位時間長を1秒として
その1秒間に1ビットでも誤りが発生すれば誤った区間
とし、符号誤り発生秒と呼び、この符号誤り発生秒(E
S)の発生割合を時間率(%ES)で評価している。従
来技術を用いた場合、監視期間内の符号誤り発生単位時
間数が同一であれば、符号誤り発生の集中度合、即ちバ
ースト性の如何に関わらず同一の品質評価結果(監視結
果)が得られてしまう。上記従来技術は64kb/s等
の速度で提供されている回線サービスの監視に適用され
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来技術は品
質劣化が符号誤りの集中性、あるいはエラーフリー期間
の連続性に依存するサービスの場合、適確に品質劣化を
監視することができないとう欠点があった。一例として
広く普及しているファクシミリサービスの場合、100
ms以上の符号誤りが連続して発生すると3ライン以上
の走査線の欠損又は前ライン置換が生じ、受信画の主観
評価値が大幅に劣化することが知られている。又、エラ
ーフリー期間が5秒以下の場合、ファクシミリ末端間の
伝送制御手順(ネゴシェーション)が正常に行えずその
結果、通信時間が増大したり、通信不完了が発生する場
合がある。従来技術では符号誤りの発生継続時間(以下
バースト符号誤り継続時間と呼ぶ)あるいはエラーフリ
ー期間を監視することができないために、上記のような
バースト符号誤りによる品質劣化を検出することができ
ないという欠点があった。
質劣化が符号誤りの集中性、あるいはエラーフリー期間
の連続性に依存するサービスの場合、適確に品質劣化を
監視することができないとう欠点があった。一例として
広く普及しているファクシミリサービスの場合、100
ms以上の符号誤りが連続して発生すると3ライン以上
の走査線の欠損又は前ライン置換が生じ、受信画の主観
評価値が大幅に劣化することが知られている。又、エラ
ーフリー期間が5秒以下の場合、ファクシミリ末端間の
伝送制御手順(ネゴシェーション)が正常に行えずその
結果、通信時間が増大したり、通信不完了が発生する場
合がある。従来技術では符号誤りの発生継続時間(以下
バースト符号誤り継続時間と呼ぶ)あるいはエラーフリ
ー期間を監視することができないために、上記のような
バースト符号誤りによる品質劣化を検出することができ
ないという欠点があった。
【0004】本発明は、以上の課題を解決し、バースト
符号誤り継続時間及びエラーフリー期間を測定してバー
スト符号誤りに伴う品質劣化検出を可能とする符号誤り
監視装置を提供することを目的とする。
符号誤り継続時間及びエラーフリー期間を測定してバー
スト符号誤りに伴う品質劣化検出を可能とする符号誤り
監視装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明による符号誤り監視装置は、ディジタル伝送
路において集中して発生する符号誤り、即ちバースト符
号誤りの継続時間と2つのバースト符号誤りの間の符号
誤りのない期間、即ちエラーフリー期間を測定し、バー
スト符号誤りに伴う通信サービスの品質劣化を監視でき
るようにするものである。
に、本発明による符号誤り監視装置は、ディジタル伝送
路において集中して発生する符号誤り、即ちバースト符
号誤りの継続時間と2つのバースト符号誤りの間の符号
誤りのない期間、即ちエラーフリー期間を測定し、バー
スト符号誤りに伴う通信サービスの品質劣化を監視でき
るようにするものである。
【0006】さらに詳細すれば、次の通りである。本発
明の符号誤り監視装置は、符号誤り検査符号を含む信号
を伝送するディジタル伝送装置に接続され、このディジ
タル伝送装置において実施されるディジタル回線の符号
誤り検査の結果即ち符号誤り検査ブロック毎の符号誤り
発生有無の判定(符号誤り検出/不検出)結果を用いて
バースト符号誤り継続時間とエラーフリー期間の両項目
を測定・監視する。両項目についは予め品質劣化判定し
きい値(符号誤り継続時間についてはRd ブロックと
し、エラーフリー期間についてはRf ブロックと示す
。)を設定する。Rd ,Rf は各々前述のファクシ
ミリの例のように500ms,5秒に対応するように定
める。
明の符号誤り監視装置は、符号誤り検査符号を含む信号
を伝送するディジタル伝送装置に接続され、このディジ
タル伝送装置において実施されるディジタル回線の符号
誤り検査の結果即ち符号誤り検査ブロック毎の符号誤り
発生有無の判定(符号誤り検出/不検出)結果を用いて
バースト符号誤り継続時間とエラーフリー期間の両項目
を測定・監視する。両項目についは予め品質劣化判定し
きい値(符号誤り継続時間についてはRd ブロックと
し、エラーフリー期間についてはRf ブロックと示す
。)を設定する。Rd ,Rf は各々前述のファクシ
ミリの例のように500ms,5秒に対応するように定
める。
【0007】次に本発明では符号誤り発生検出以後、R
d ブロックだけ符号誤り不発生ブロックが連続するま
でのブロック数を計数し、当該計数ブロック数からRd
ブロックだけさかのぼった時点でバースト符号誤りが
終了したものとみなしてバースト符号誤り継続時間を測
定するとともに、Rd ブロック差引いた時点からエラ
ーフリー期間が開始されたものとみなし、次の符号誤り
発生ブロック(エラーフリー期間終了)までの間の符号
誤り不発生ブロック数を計数してエラーフリー期間を測
定し、前者の測定結果がRdブロック以上、後者の測定
結果がRf ブロック以下である場合バースト符号誤り
による品質劣化が発生したと判定することを特徴とする
。本発明によって測定されたバースト符号誤り継続時間
は各継続期間について先頭の符号誤り検出ブロックで始
まり末尾の符号誤り検出ブロックで終わる。又、本発明
ではRd ブロックだけ符号誤りが連続不発生となるま
でバースト符号誤りの終了の確認を留保している。即ち
、高々Rd −1ブロック符号誤り連続不発生でもバー
スト符号誤りは継続しているものとみなす。なお、バー
スト符号誤り継続時間以外の時間帯はエラーフリー期間
となる。
d ブロックだけ符号誤り不発生ブロックが連続するま
でのブロック数を計数し、当該計数ブロック数からRd
ブロックだけさかのぼった時点でバースト符号誤りが
終了したものとみなしてバースト符号誤り継続時間を測
定するとともに、Rd ブロック差引いた時点からエラ
ーフリー期間が開始されたものとみなし、次の符号誤り
発生ブロック(エラーフリー期間終了)までの間の符号
誤り不発生ブロック数を計数してエラーフリー期間を測
定し、前者の測定結果がRdブロック以上、後者の測定
結果がRf ブロック以下である場合バースト符号誤り
による品質劣化が発生したと判定することを特徴とする
。本発明によって測定されたバースト符号誤り継続時間
は各継続期間について先頭の符号誤り検出ブロックで始
まり末尾の符号誤り検出ブロックで終わる。又、本発明
ではRd ブロックだけ符号誤りが連続不発生となるま
でバースト符号誤りの終了の確認を留保している。即ち
、高々Rd −1ブロック符号誤り連続不発生でもバー
スト符号誤りは継続しているものとみなす。なお、バー
スト符号誤り継続時間以外の時間帯はエラーフリー期間
となる。
【0008】
【実施例】図1は本発明実施例による符号誤り監視装置
のブロック構成図である。この装置は、符号誤り検査符
号を含む信号を伝送するディジタル伝送装置1に接続さ
れる。バースト符号誤りの開始時刻からバースト符号誤
り終了後Rdブロック符号だけ誤り不発生ブロックが連
続する時刻までの時間(以下T0 と示す)を計測する
手段としてS−Rフリップフロップ2,ANDゲート3
,リセット計数器4を備え、T0 からRd を差引い
てバースト符号誤り継続時間(以下Td と示す)を計
測する手段として遅延回路5,ANDゲート6,パルス
幅計測器7を備え、エラーフリー期間(以下Tf と示
す)を計測する手段として反転ゲート8,パルス幅計測
器9を備え、Td 及びTf が各々のしきい値Rd
及びRf を超えるか否かを識別する手段としてバース
ト符号誤り継続時間しきい回路10及びエラーフリー期
間しきい回路11を備える。
のブロック構成図である。この装置は、符号誤り検査符
号を含む信号を伝送するディジタル伝送装置1に接続さ
れる。バースト符号誤りの開始時刻からバースト符号誤
り終了後Rdブロック符号だけ誤り不発生ブロックが連
続する時刻までの時間(以下T0 と示す)を計測する
手段としてS−Rフリップフロップ2,ANDゲート3
,リセット計数器4を備え、T0 からRd を差引い
てバースト符号誤り継続時間(以下Td と示す)を計
測する手段として遅延回路5,ANDゲート6,パルス
幅計測器7を備え、エラーフリー期間(以下Tf と示
す)を計測する手段として反転ゲート8,パルス幅計測
器9を備え、Td 及びTf が各々のしきい値Rd
及びRf を超えるか否かを識別する手段としてバース
ト符号誤り継続時間しきい回路10及びエラーフリー期
間しきい回路11を備える。
【0009】図1においてディジタル伝送装置1はブロ
ック毎の符号誤り検査の結果、符号誤りを検出した場合
には信号線1aに検出パルスを出力し、符号誤りが検出
されなかった場合には信号線1bに不検出パルスを出力
する。信号線1aの検出パルスはS−Rフリップフロッ
プ2のS端子に入力されQ出力を“1”にセットすると
ともにリセット計数器4の計数値を“0”にリセットす
る。S−Rフリップフロップ2のQ出力の信号線2aの
パルスと信号線bの不検出パルスはANDゲート3に入
力され、両者の論理積がとられる。ANDゲート3の出
力信号線3aのパルスはリセット計数器4の計数入力と
なる。リセット計数器4はRd 段で構成され、信号線
1aの検出パルス発生以後、信号線1bの不検出パルス
が連続してRd 回発生した場合出力信号線4aにパル
スを発生する。信号線4aのパルスはS−Rフリップフ
ロップ2のR端子に入力されそのQ出力を“0”とする
。Q出力は(十分長い期間符号誤りが検出されない状態
から)初めて検出パルスが発生した時点に“0”から“
1”に変化し、以後不検出パルスがRd 回連続するま
で“1”に保たれる。“1”に保たれている時間が前述
のT0 である。Q出力信号線2aのパルスは遅延回路
5及びANDゲート6に入力される。遅延回路5は信号
線2aのパルスにRd ブロックの固定遅延を加える。 遅延回路5の出力信号線5aのパルスはANDゲート6
に入力される。ANDゲート6は信号線2aのパルスと
、同パルスにRd ブロックの遅延を加えたパルスの論
理積をとる。従って、ANDゲート6の出力信号線6a
には信号線2aのパルスから先端部のRdブロックを差
引いたパルスが出力される。信号線6aのパルスの幅は
前述のTd すなわちバースト符号誤り継続時間となる
。信号線6aのパルスはパルス幅計測器7に入力され、
その出力信号線7aにはTd の計測結果が出力される
。計測結果はバースト符号誤り継続時間しきい回路10
に入力され、しきい値(Rd )との大小関係が比較さ
れ、その判定結果は出力線10aに出力される。又、信
号線6aのパルスは反転ゲート8に入力され、反転ゲー
ト8の出力信号線8aには前述の定義の如くエラーフリ
ー期間を表すパルスが出力される。信号線8aのパルス
はパルス幅計測器9に入力され、その出力線9aにはエ
ラーフリー期間Tf の計測結果が出力される。この計
測結果はエラーフリー期間しきい値回路11に入力され
、しきい値(Rf )との大小関係が比較され、その判
定結果は出力線11aに出力される。出力線10aと1
1aに得られた比較結果から、符号誤り発生の集中性に
依存するサービ品質劣化を検出することができる。具体
的には、Td がRd 以上、Tf がRf 以下であ
れば、上記のサービス品質劣化が発生していることがわ
かる。これらの2条件のうち、何れかが発生したらサー
ビス品質劣化とするか、両方が発生した時にサービス品
質劣化とするかは通信品質基準の決め方によって自由に
選択することができる。
ック毎の符号誤り検査の結果、符号誤りを検出した場合
には信号線1aに検出パルスを出力し、符号誤りが検出
されなかった場合には信号線1bに不検出パルスを出力
する。信号線1aの検出パルスはS−Rフリップフロッ
プ2のS端子に入力されQ出力を“1”にセットすると
ともにリセット計数器4の計数値を“0”にリセットす
る。S−Rフリップフロップ2のQ出力の信号線2aの
パルスと信号線bの不検出パルスはANDゲート3に入
力され、両者の論理積がとられる。ANDゲート3の出
力信号線3aのパルスはリセット計数器4の計数入力と
なる。リセット計数器4はRd 段で構成され、信号線
1aの検出パルス発生以後、信号線1bの不検出パルス
が連続してRd 回発生した場合出力信号線4aにパル
スを発生する。信号線4aのパルスはS−Rフリップフ
ロップ2のR端子に入力されそのQ出力を“0”とする
。Q出力は(十分長い期間符号誤りが検出されない状態
から)初めて検出パルスが発生した時点に“0”から“
1”に変化し、以後不検出パルスがRd 回連続するま
で“1”に保たれる。“1”に保たれている時間が前述
のT0 である。Q出力信号線2aのパルスは遅延回路
5及びANDゲート6に入力される。遅延回路5は信号
線2aのパルスにRd ブロックの固定遅延を加える。 遅延回路5の出力信号線5aのパルスはANDゲート6
に入力される。ANDゲート6は信号線2aのパルスと
、同パルスにRd ブロックの遅延を加えたパルスの論
理積をとる。従って、ANDゲート6の出力信号線6a
には信号線2aのパルスから先端部のRdブロックを差
引いたパルスが出力される。信号線6aのパルスの幅は
前述のTd すなわちバースト符号誤り継続時間となる
。信号線6aのパルスはパルス幅計測器7に入力され、
その出力信号線7aにはTd の計測結果が出力される
。計測結果はバースト符号誤り継続時間しきい回路10
に入力され、しきい値(Rd )との大小関係が比較さ
れ、その判定結果は出力線10aに出力される。又、信
号線6aのパルスは反転ゲート8に入力され、反転ゲー
ト8の出力信号線8aには前述の定義の如くエラーフリ
ー期間を表すパルスが出力される。信号線8aのパルス
はパルス幅計測器9に入力され、その出力線9aにはエ
ラーフリー期間Tf の計測結果が出力される。この計
測結果はエラーフリー期間しきい値回路11に入力され
、しきい値(Rf )との大小関係が比較され、その判
定結果は出力線11aに出力される。出力線10aと1
1aに得られた比較結果から、符号誤り発生の集中性に
依存するサービ品質劣化を検出することができる。具体
的には、Td がRd 以上、Tf がRf 以下であ
れば、上記のサービス品質劣化が発生していることがわ
かる。これらの2条件のうち、何れかが発生したらサー
ビス品質劣化とするか、両方が発生した時にサービス品
質劣化とするかは通信品質基準の決め方によって自由に
選択することができる。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の符号誤り
監視装置はバースト符号誤り継続時間の品質劣化のしき
い値(Rd ブロック)だけ、符号誤り不検出ブロック
が連続することを検出してバースト符号誤り継続時間及
びエラーフリー期間を測定・監視することにより、符号
誤り発生の集中性に依存するサービス品質劣化を検出で
きるという効果がある。
監視装置はバースト符号誤り継続時間の品質劣化のしき
い値(Rd ブロック)だけ、符号誤り不検出ブロック
が連続することを検出してバースト符号誤り継続時間及
びエラーフリー期間を測定・監視することにより、符号
誤り発生の集中性に依存するサービス品質劣化を検出で
きるという効果がある。
【図1】本発明実施例による符号誤り監視装置のブロッ
ク構成図である。
ク構成図である。
1 ディジタル伝送装置
2 S−Rフリップフロップ
3,6 ANDゲート
4 リセット計数器
5 遅延回路
7,9 パルス幅計測器
8 反転ゲート
10 バースト符号誤り継続時間しきい回路11
エラーフリー期間しきい回路
エラーフリー期間しきい回路
Claims (1)
- 【請求項1】 ディジタル回線の符号誤り品質を監視
する符号誤り監視装置において、符号誤り検査符号を含
む信号を伝送するディジタル伝送装置に接続されて符号
誤り発生検出時刻からバースト符号誤りの発生を判定す
るしきい時間だけ連続してエラーフリーとなる時刻まで
の時間を計測する計測手段を備え、該計測手段の出力を
用いて前記ディジタル伝送装置に接続されたディジタル
回線のバースト符号誤り継続時間及びエラーフリー期間
を測定し、各々が予め設定されたしきい値を超えるか否
かを監視することを特徴とする符号誤り監視装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3108156A JPH04315344A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 符号誤り監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3108156A JPH04315344A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 符号誤り監視装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04315344A true JPH04315344A (ja) | 1992-11-06 |
Family
ID=14477374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3108156A Pending JPH04315344A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 符号誤り監視装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04315344A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8737726B2 (en) | 2011-01-28 | 2014-05-27 | Panasonic Corporation | Image data processing device, method, program and integrated circuit |
US9025872B2 (en) | 2011-08-29 | 2015-05-05 | Panasonic Intellectual Property Corporation Of America | Image processing device, image processing method, program, and integrated circuit |
US9058342B2 (en) | 2010-08-04 | 2015-06-16 | Panasonic Intellectual Property Corporation Of America | Image classification device, method, program, recording media with program thereon, and integrated circuit |
-
1991
- 1991-04-15 JP JP3108156A patent/JPH04315344A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9058342B2 (en) | 2010-08-04 | 2015-06-16 | Panasonic Intellectual Property Corporation Of America | Image classification device, method, program, recording media with program thereon, and integrated circuit |
US8737726B2 (en) | 2011-01-28 | 2014-05-27 | Panasonic Corporation | Image data processing device, method, program and integrated circuit |
US9025872B2 (en) | 2011-08-29 | 2015-05-05 | Panasonic Intellectual Property Corporation Of America | Image processing device, image processing method, program, and integrated circuit |
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